CN214953627U - 一种线材测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种线材测试机构，旨在提供一种简单便捷、能够快速装夹定位及测试效率高的线材测试机构。本实用新型包括测试模组，所述测试模组包括线槽板及转接板，所述线槽板上开有若干个线材卡槽，所述线槽板设置在所述转接板上，所述转接板上设置有与若干个所述线材卡槽一一配合的若干个铜PAD位，所述转接板上设置有若干个铜柱。本实用新型应用于线材测试的技术领域。

Description

一种线材测试机构

技术领域

本实用新型涉及一种线材测试机构。

背景技术

目前几乎所有的消费类电子产品，必须使用各种规格的排线（排线：链接电子零部件间的导线）将各个电子部件链接成一个整体。作为各电子部件间的链接载体；排线的各项性能参数的测试需求也越来越多；其中DCR（DCR：即direct current resistance，直流电源通过导体时的电阻值）电性能测试目前并没有一种简便的方法，能同时准确快速对排线所有导线进行DCR检测。因排线的线芯为圆柱面，测试时探针扎在线芯时容易扎偏，需多次装夹排线才能完成测试情况；从而导致测试效率低，无法满足测试需求。因此目前需要研发出一种简单便捷、能够快速装夹定位及测试效率高的线材测试机构。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种简单便捷、能够快速装夹定位及测试效率高的线材测试机构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括测试模组，所述测试模组包括线槽板及转接板，所述线槽板上开有若干个线材卡槽，所述线槽板设置在所述转接板上，所述转接板上设置有与若干个所述线材卡槽一一配合的若干个铜PAD位，所述转接板上设置有若干个铜柱。

进一步，所述测试模组还包括垫板，所述转接板设置在所述垫板上，若干个所述铜柱依次穿过所述垫板、所述转接板及所述线槽板。

进一步，所述垫板上开有若干个针孔，若干个所述针孔与若干个所述线材卡槽一一对应连通。

进一步，所述铜柱焊接在所述转接板上。

进一步，所述转接板为PCB板。

进一步，所述的线材测试机构还包括测试机箱，所述测试机箱中设置有载板、上针板及下针板，所述测试模组设置在所述载板上，所述上针板位于所述测试模组的上方，所述下针板位于所述测试模组的下方，所述上针板及所述下针板均设置有至少一组探针。

进一步，所述上针板及所述下针板均设置有两组探针，测试时，所述上针板的两组探针均与线材的线芯相接触，所述下针板的一组探针与线材的线芯一一对应相接触，所述下针板的另一组探针与若干个所述铜柱一一对应相接触。

进一步，所述载板上设置有排线压紧组件。

本实用新型的有益效果是：相对于现有技术的不足，在本实用新型中，能够快速准确定位排线，并通过二次转接，将单纯的圆柱面下针转换为能圆柱面和平面下针；并能同时从上下两个方向分别下两组探针，从而实现一次装夹，就能同时对排线所有导线进行DCR参数测试的测试需求，测试时，将排线线头按照对应顺序放置到若干个所述线材卡槽中，此时排线的线头与所述铜PAD位相接触，通过此接触，将排线的线头信号导通至所述铜柱，使得探针能够同时对排线的线芯及所述铜柱进行下针测试，从而实现原本的单纯圆柱面下针转换为圆柱面和平面下针，因此，通过所述线槽板、所述转接板、所述铜PAD位及所述铜柱的设置使得排线能够易于装夹定位，并能够提高测试效率，使得本实用新型具有简单便捷、能够快速装夹定位及测试效率高的优点。

附图说明

图1是测试模组的立体结构示意图；

图2是测试模组的分解图；

图3是测试模组的平面结构示意图；

图4是测试模组另一视角的平面结构示意图；

图5是本实用新型的立体结构示意图；

图6是本实用新型另一视角的立体结构示意图；

图7是图6的A部分的局部放大示意图。

具体实施方式

如图1至图7所示，在本实施例中，本实用新型包括测试模组1，所述测试模组1包括线槽板2及转接板3，所述线槽板2上开有若干个线材卡槽4，所述线槽板2设置在所述转接板3上，所述转接板3上设置有与若干个所述线材卡槽4一一配合的若干个铜PAD位5，所述转接板3上设置有若干个铜柱6。相对于现有技术的不足，在本实用新型中，测试时，将排线线头按照对应顺序放置到若干个所述线材卡槽4中，此时排线的线头与所述铜PAD位5相接触，通过此接触，将排线的线头信号导通至所述铜柱6，使得探针能够同时对排线的线芯及所述铜柱6进行下针测试，从而实现原本的单纯圆柱面下针转换为圆柱面和平面下针，因此，通过所述线槽板2、所述转接板3、所述铜PAD位5及所述铜柱6的设置使得排线能够易于装夹定位，并能够提高测试效率，使得本实用新型具有简单便捷、能够快速装夹定位及测试效率高的优点。

在本实施例中，所述测试模组1还包括垫板7，所述转接板3设置在所述垫板7上，若干个所述铜柱6依次穿过所述垫板7、所述转接板3及所述线槽板2。

在本实施例中，所述垫板7上开有若干个针孔8，若干个所述针孔8与若干个所述线材卡槽4一一对应连通。所述针孔8的设置能够便于探针通过所述针孔8对所述线材卡槽4中的线材进行测试。

在本实施例中，所述铜柱6焊接在所述转接板3上。

在本实施例中，所述转接板3为PCB板。

在本实施例中，所述的线材测试机构还包括测试机箱9，所述测试机箱9中设置有载板10、上针板11及下针板12，所述测试模组1设置在所述载板10上，所述上针板11位于所述测试模组1的上方，所述下针板12位于所述测试模组1的下方，所述上针板11及所述下针板12均设置有至少一组探针13。

在本实施例中，所述上针板11及所述下针板12均设置有两组探针13，测试时，所述上针板11的两组探针13均与线材的线芯相接触，所述下针板12的一组探针13与线材的线芯一一对应相接触，所述下针板12的另一组探针13与若干个所述铜柱6一一对应相接触。测试时，还能够通过所述上针板11的两组探针13及所述下针板12的两组探针13进行测试，具体为，所述下针板12的两组探针13，一组扎在排线的线芯、一组扎在所述铜柱6上；所述上针板11的两组探针13均扎在排线的线芯上，每一根排线导线通过上下各2组探针下针，即有平面下针也有圆柱面下针，从而保证设备可以通过探针读取到测试信号，从而判定排线的电阻值是否符合要求。

在本实施例中，所述载板10上设置有排线压紧组件15。将排线线头按照对应顺序放置到若干个所述线材卡槽4中，通过所述排线压紧组件15将排线进行压紧。

本实用新型的测试流程如下：

测试时，将排线线头按照对应顺序放置到若干个所述线材卡槽4中，此时排线的线头与所述铜PAD位5相接触，通过此接触，将排线的线头信号导通至所述铜柱6，使得探针能够同时对排线的线芯及所述铜柱6进行下针测试，从而实现原本的单纯圆柱面下针转换为圆柱面和平面下针；

测试时，还能够通过所述上针板11的两组探针13及所述下针板12的两组探针13进行测试，具体为，所述下针板12的两组探针13，一组扎在排线的线芯、一组扎在所述铜柱6上；所述上针板11的两组探针13均扎在排线的线芯上。

虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (8)

1.一种线材测试机构，其特征在于：其包括测试模组（1），所述测试模组（1）包括线槽板（2）及转接板（3），所述线槽板（2）上开有若干个线材卡槽（4），所述线槽板（2）设置在所述转接板（3）上，所述转接板（3）上设置有与若干个所述线材卡槽（4）一一配合的若干个铜PAD位（5），所述转接板（3）上设置有若干个铜柱（6）。

2.根据权利要求1所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述测试模组（1）还包括垫板（7），所述转接板（3）设置在所述垫板（7）上，若干个所述铜柱（6）依次穿过所述垫板（7）、所述转接板（3）及所述线槽板（2）。

3.根据权利要求2所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述垫板（7）上开有若干个针孔（8），若干个所述针孔（8）与若干个所述线材卡槽（4）一一对应连通。

4.根据权利要求1所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述铜柱（6）焊接在所述转接板（3）上。

5.根据权利要求1所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述转接板（3）为PCB板。

6.根据权利要求1-3任一项所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述的线材测试机构还包括测试机箱（9），所述测试机箱（9）中设置有载板（10）、上针板（11）及下针板（12），所述测试模组（1）设置在所述载板（10）上，所述上针板（11）位于所述测试模组（1）的上方，所述下针板（12）位于所述测试模组（1）的下方，所述上针板（11）及所述下针板（12）均设置有至少一组探针（13）。

7.根据权利要求6所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述上针板（11）及所述下针板（12）均设置有两组探针（13），测试时，所述上针板（11）的两组探针（13）均与线材的线芯相接触，所述下针板（12）的一组探针（13）与线材的线芯一一对应相接触，所述下针板（12）的另一组探针（13）与若干个所述铜柱（6）一一对应相接触。

8.根据权利要求7所述的一种线材测试机构，其特征在于：所述载板（10）上设置有排线压紧组件（15）。

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