CN211785814U - 返修变压器绕组匝数测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型适用于变压器检修技术领域，提供了一种返修变压器绕组匝数测量装置，包括基板及连接线束。连接线束用于卷绕在变压器待测相柱的外周；连接线束具有第一端和第二端，第一端与基板活动连接，第二端与基板活动连接或固定连接；基板用于穿过变压器相间间隙，基板上设有电性连通第一端和第二端的导通电路，以使连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈。本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置，与现有技术相比，通过设置能够伸入、穿过变压器相间间隙的基板以及至少一端与基板可拆卸连接的连接线束，使基板和连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈，避免连接线束穿过相间间隙，从而使得测试工作可以单人操作，省时省力。

Description

返修变压器绕组匝数测量装置

技术领域

本实用新型属于变压器检修技术领域，更具体地说，是涉及一种返修变压器绕组匝数测量装置。

背景技术

随着变压器检修业务的增多，检修单位面临许多非本单位生产的变压器的修理工作。为了能够测量出这些变压器的线圈匝数，必须利用在变压器铁心柱上绕制临时线圈，作为测量基准，再将变压器变比测试仪接入至被试线圈与临时线圈，利用被试线圈与临时线圈的匝数比计算出被试线圈的匝数。由于该工作需要在器身解体前进行，而变压器器身相间间隙通常在5-50mm之间，空间狭窄，在现有变压器线圈上绕临时线圈需要多人配合，一次穿一圈的方式进行，整个操作费时费力，而且如果相间间隙过于狭窄，临时线圈可能无法穿过相间间隙。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种返修变压器绕组匝数测量装置，旨在解决或者至少在一定程度上改善测量返修变压器绕组匝数时存在的操作费时费力、需要多人配合的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是，提供一种返修变压器绕组匝数测量装置，包括基板以及连接线束；其中

所述连接线束，用于卷绕在变压器待测相柱的外周；所述连接线束具有第一端和相对于所述第一端的第二端，所述第一端与所述基板活动连接，所述第二端与所述基板活动连接或固定连接；

所述基板，用于穿过变压器相间间隙，所述基板上设有电性连通所述第一端和所述第二端的导通电路，以使所述连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈；

所述基板上还设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z 接口和A接口，所述Z接口和所述A接口分别与所述测试线圈的两端电性连接；或者，所述连接线束上设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z接口和A接口，所述Z接口和所述A接口分别与所述测试线圈的两端电性连接。

作为本申请另一实施例，所述连接线束包括第一子线束、…、以及第n子线束；所述导通电路包括第一短接子电路、…、第n短接子电路以及第n+1短接子电路；其中n为大于等于1的正整数；

所述第一子线束用于与所述第一短接子电路和所述第二短接子电路电性连接，…，所述第n子线束用于与所述第n短接子电路和所述第n+1短接子电路电性连接；所述第一短接子电路还用于与所述A接口电性连接，所述第n+1短接子电路还用于与所述Z接口电性连接。

作为本申请另一实施例，n为正整数十。

作为本申请另一实施例，所述导通电路为设置于所述基板上的印刷电路；所述第一端连接有第一连接器，所述第一连接器设有用于与所述基板卡合的第一插槽，所述第一插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第一导电触点。

作为本申请另一实施例，所述第二端连接有第二连接器，所述第二连接器设有用于与所述基板卡合的第二插槽，所述第二插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第二导电触点。

作为本申请另一实施例，所述Z接口设置于所述第一连接器上，所述A接口设置于所述第二连接器上；所述第一插槽内设有电性连接所述Z接口和所述导通电路的第三导电触点，所述第二插槽内设有电性连接所述A接口和所述导通电路的第四导电触点。

作为本申请另一实施例，所述基板为环氧玻璃布板。

作为本申请另一实施例，所述基板的厚度小于等于5mm。

作为本申请另一实施例，所述导通电路为设置于所述基板上的印刷电路；所述第一端连接有第一连接器，所述第一连接器设有用于与所述基板卡合的第一插槽，所述第一插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第一导电触点，且所述基板为环氧玻璃布板。

作为本申请另一实施例，所述导通电路为设置于所述基板上的印刷电路；所述第一端连接有第一连接器，所述第一连接器设有用于与所述基板卡合的第一插槽，所述第一插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第一导电触点，且所述基板为环氧玻璃布板，所述基板的厚度小于等于5mm。

本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置，与现有技术相比，与现有技术相比，通过设置能够伸入、穿过变压器相间间隙的基板以及至少一端与基板可拆卸连接的连接线束，使基板和连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈，避免连接线束穿过相间间隙，从而使得测试工作可以单人操作，省时省力。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的返修变压器绕组匝数测量装置在基板与连接线束分解状态时的示意图；

图2为本实用新型实施例提供的返修变压器绕组匝数测量装置的电路原理示意图；

图3为图1中第一连接器的示意图。

图中：1、基板；11、导通电路；2、连接线束；3、第一连接器；31、插槽； 4、第二连接器；Z、Z接口；A、A接口。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，术语“长度”、“宽度”、“高度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。此外，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参见图1至图2，现对本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的实施例进行说明。所述的返修变压器绕组匝数测量装置，通常用于和变压器变比测试仪配合使用，包括基板1以及连接线束2。

连接线束2用于卷绕在变压器待测相柱(或者说待测绕阻线圈)的外周，连接线束2一般是卷绕了待测相柱一圈，以避免连接线束2穿过相间间隙。连接线束2可以是单股线，也可是多芯线束组，连接线束2具有第一端和相对于第一端的第二端。

基板1通常比较薄，其能够伸入、穿过变压器相间间隙。基板1可以是pcb 板(印刷电路板)或者类似的其他板体。

连接线束2和基板的物理(结构)连接关系是：连接线束2的第一端与基板1活动连接，连接线束2的第二端与基板1活动连接或固定连接，这样可以保证连接线束2的至少一端是与基板1可拆卸连接的，这样在基板1在伸入、穿过变压器相间间隙后，连接线束2的第一端再与基板1连接上，当然基板1 应该足够长，这样连接线束2的第一端和第二端与基板1的连接位置必然在相间间隙外部，如此可以保证较粗的连接线束2不需要穿过变压器相间间隙，连接线束2与基板1的物理连接和电性连接都可以在相间间隙外进行操作，无需多人配合，单人即可操作，省时省力。

基板1上设有连通连接线束2的第一端和连接线束2的第二端的导通电路 11，这样，连接线束2的主体在卷绕待测相柱后，连接线束2的两端通过导通电路11实现电性连接，以使连接线束2形成卷绕待测相柱的测试线圈。所谓测试线圈，就是卷绕待测相柱的绕组线圈，测试线圈也具有输入端和输出端。导通电路11可以是印制于基板1上的印制电路或者通过设置连接导线实现。

基板1上还设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z接口以及A接口，Z接口和A接口分别与测试线圈的输入端和输出端电性连接；或者是，连接线束2上设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z接口和A接口，所述Z接口和所述A接口分别与测试线圈的输入端和输出端电性连接。Z接口和A接口可以是线束接头或者是接线端子等常规的接口结构，通过Z接口和A接口使得连接线束2(即测试线圈)能够与变压器变比测试仪的输出线路电性连接。

以测试返修变压器的A相绕组匝数为例，使用本实用新型实施例提供的返修变压器绕组匝数测量装置时，可将基板1插入至AB相间间隙，然后使连接线束2卷绕A相相柱之后物理连接基板1和连接线束2，并实现连接线束2两端的电性连接。变压器变比测试仪的一次线路电性连接A相线圈的两端(变压器变比测试仪置于单相测量模式)，变压器变比测试仪的二次线路电性连接Z接口和A接口。如果连接线束2是十芯线束，即卷绕A相相柱10匝，那么变压器变比测试仪测试结果的10倍便是A相绕组线圈的匝数。测试返修变压器的C 相绕组匝数的过程与测试返修变压器的A相绕组匝数的过程相同。

这里需要理解的是，通常变压器的各相绕组匝数相同，所以一般只需要测试A相绕组匝数或者C相绕组匝数即可。如果用户确实需要测试三柱变压器的 B相绕组线圈的匝数，那么可以利用两套本实用新型实施例提供的返修变压器绕组匝数测量装置组成串联的测试线圈进行测试，即两个基板1分别插入至AB 相间间隙和BC相间间隙，其中第一套装置的连接线束2的第二端与本套装置的基板1电性连接，连接线束2的第一端则与第二套装置的基板1电性连接，同理第二套装置的连接线束2的第二端与本套装置的基板1电性连接，连接线束 2的第一端则与第一套装置的基板1电性连接。这样两个连接线束2各自卷绕B 相相柱的半周，两个连接线束2就形成了一个串联的整圈测试线圈，其应用原理和测试过程与测试返修变压器的A相绕组匝数的原理和过程相同，本领域技术人员参考以上测试返修变压器的A相绕组匝数的原理和过程即可无创造性地、无困难地进行返修变压器的B相绕组匝数测试。

本实用新型实施例提供的返修变压器绕组匝数测量装置，与现有技术相比，通过设置能够伸入、穿过变压器相间间隙的基板以及至少一端与基板可拆卸连接的连接线束，使基板和连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈，避免连接线束穿过相间间隙，从而使得测试工作可以单人操作，省时省力。

请参见图1和图2，作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，连接线束2包括第一子线束、…、第n子线束；所述导通电路11包括互相独立的第一短接子电路、…、第n短接子电路、第n+1短接子电路；其中n为大于等于1的正整数。当n大于2时，连接线束2就是常规的多芯线束结构。

下面以n为10进行介绍。连接线束2为10芯线束，导通电路11包括11 个相对独立的短接子电路。

第一短接子电路的一端与A接口电性连接，第一短接子电路的另一端则与第一子线束的第一端电性连接；第一子线束的第二端与第二短接子电路的一端电性连接，第二短接子电路的另一端与第二子线束的第一端电性连接；第二子线束的第二端与第三短接子电路的一端电性连接，第三短接子电路的另一端与第三子线束的第一端电性连接；…；第九子线束的第二端与第十短接子电路的一端电性连接，第十短接子电路的另一端与第十子线束的第一端电性连接；第十子线束的第二端与第十一短接子电路的一端电性连接，第十一短接子电路的另一端与Z接口电性连接。以此形成了十匝测试线圈。

作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，n为正整数十，这样变压器变比测试仪测试结果的10倍便是待测相绕组线圈的匝数，以便于操作者计算。

请参见图1至图3，作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，导通电路11为设置于基板1上的印刷电路。

连接线束2的第一端连接有第一连接器3，第一连接器3设有用于与基板1 卡合的第一插槽31，第一插槽31内部设有第一导电触点，第一导电触点与连接线束2的第一端电性连接，同时当基板1卡合在第一插槽31内后，第一导电触点又与导通电路11接触导电。第一连接器3结构不限，其是第一插槽31和第一导电触点的载体。第一连接器3和基板1的卡合、电性连接关系同计算机主板上的条形卡槽和内存条的插接、电性连接关系相同或类似。

当连接线束2为多芯线束结构时，导通电路11包括多个短接子电路，各短接子电路也分别是印制于基板1上的印刷电路。第一导电触点具有多个，各第一导电触点分别用于电性连接对应的短接子电路和对应的子线束的第一端。

请参见图1至图3，作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，连接线束2的第二端同样与基板1可拆卸连接。

连接线束2的第二端连接有第二连接器4，第二连接器4设有用于与基板1 卡合的第二插槽，第二插槽内部设有第二导电触点，第二导电触点与连接线束 2的第二端电性连接，同时当基板1卡合在第二插槽内后，第二导电触点又与导通电路11接触导电。第二连接器4结构不限，其是第二插槽和第二导电触点的载体。第二连接器4和基板1的卡合、电性连接关系同计算机主板上的条形卡槽和内存条的插接、电性连接关系相同或类似。

当连接线束2为多芯线束结构时，导通电路11包括多个短接子电路，各短接子电路也分别是印制于基板1上的印刷电路。第二导电触点具有多个，各第二导电触点分别用于电性连接对应的短接子电路和对应的子线束的第二端。

请参见图1，作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，基板1具有第一侧和相对于第一侧而言的第二侧，第一侧用于插入卡接至第一插槽内，第二侧用于插入卡接至第二插槽内。

请参见图1和图2，作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，Z接口设置于第一连接器3上，A接口设置于第二连接器 4上。第一插槽31内设有电性连接Z接口和导通电路11的第三导电触点，第二插槽内设有电性连接A接口和导通电路11的第四导电触点。这样A接口和Z 接口就分别设置于两个连接器上，便于变压器变比测试仪的输出线路与A接口和Z接口的连接。

作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，A接口可以是设置于第一连接器3上的接线端子，Z接口可以是设置于第二连接器4上的接线端子。

作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，A接口可以是设置于第一连接器3上的线束接头，Z接口可以是设置于第二连接器4上的线束接头。

作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，基板1为环氧玻璃布板，返修变压器通常都带油，在环氧玻璃布板上印刷铜皮结构(即导通电路11)，具备良好的耐油性能。

作为本实用新型提供的返修变压器绕组匝数测量装置的一种具体实施方式，基板的厚度小于等于5mm，以便于穿插相间间隙。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，包括基板以及连接线束；其中

所述连接线束，用于卷绕在变压器待测相柱的外周；所述连接线束具有第一端和相对于所述第一端的第二端，所述第一端与所述基板活动连接，所述第二端与所述基板活动连接或固定连接；

所述基板，用于穿过变压器相间间隙，所述基板上设有电性连通所述第一端和所述第二端的导通电路，以使所述连接线束形成卷绕待测相柱的测试线圈；

所述基板上还设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z接口和A接口，所述Z接口和所述A接口分别与所述测试线圈的两端电性连接；或者，所述连接线束上设有分别用于与变压器变比测试仪的输出线路电性连接的Z接口和A接口，所述Z接口和所述A接口分别与所述测试线圈的两端电性连接。

2.如权利要求1所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述连接线束包括第一子线束、…、以及第n子线束；所述导通电路包括第一短接子电路、…、第n短接子电路以及第n+1短接子电路；其中n为大于等于1的正整数；

所述第一子线束用于与所述第一短接子电路和所述第二短接子电路电性连接，…，所述第n子线束用于与所述第n短接子电路和所述第n+1短接子电路电性连接；所述第一短接子电路还用于与所述A接口电性连接，所述第n+1短接子电路还用于与所述Z接口电性连接。

3.如权利要求2所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，n为正整数十。

4.如权利要求1-3任一项所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述导通电路为设置于所述基板上的印刷电路；所述第一端连接有第一连接器，所述第一连接器设有用于与所述基板卡合的第一插槽，所述第一插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第一导电触点。

5.如权利要求4所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述第二端连接有第二连接器，所述第二连接器设有用于与所述基板卡合的第二插槽，所述第二插槽设有用于电性连接所述导通电路和所述第一端的第二导电触点。

6.如权利要求5所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述Z接口设置于所述第一连接器上，所述A接口设置于所述第二连接器上；所述第一插槽内设有电性连接所述Z接口和所述导通电路的第三导电触点，所述第二插槽内设有电性连接所述A接口和所述导通电路的第四导电触点。

7.如权利要求4所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述基板为环氧玻璃布板。

8.如权利要求7所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述基板的厚度小于等于5mm。

9.如权利要求1-3任一项所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述基板为环氧玻璃布板。

10.如权利要求9所述的返修变压器绕组匝数测量装置，其特征在于，所述基板的厚度小于等于5mm。

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