CN214951803U - 检验检测用一米平面光栅摄谱仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了检验检测用一米平面光栅摄谱仪，包括基台、机体、第一聚光镜、控制面板和第二聚光镜，基台顶端的一侧设有机体，机体内部的中心位置处设有置物槽，置物槽的两端皆延伸至机体的外部，置物槽底部的中心位置处设有置物架，机体一侧的基台顶端设有第一聚光镜，第一聚光镜远离机体一侧的基台顶端设有遮光结构，遮光结构远离第一聚光镜一侧的基台顶端设有第二聚光镜，第二聚光镜远离遮光结构一侧的基台顶端安装有CCD光电传感器。本实用新型不仅降低了摄谱仪使用时工作人员的劳动强度，提高了摄谱仪使用时的便捷性，而且确保了摄谱仪使用时的检测精度。

Description

检验检测用一米平面光栅摄谱仪

技术领域

本实用新型涉及光谱信息检测技术领域，具体为检验检测用一米平面光栅摄谱仪。

背景技术

光栅摄谱仪是一种利用光学光谱的色散原理而设计的光学仪器，主要用来检测光谱信息，目前光栅摄谱仪由准光物镜、平面光栅、暗箱物镜及传感装置组成，其是由狭缝发出的光束经过准光物镜，变为平行光束射入平面光栅，平面光棚进入的单束“白光”色散为多束单色光，再经过暗箱物镜成像于焦平面上，这样一个由“白光”照明的狭缝经过分光系统而变为若干个单色的狭缝像，传感装置放在焦平面处对各个检测点的光谱进行分析。

现今市场上的此类摄谱仪采用感光板识别最终得到的光谱，再由工作人员根据光谱信息进行描绘与刻画，最终得到对应元素的谱线特征图，此种方式工作人员劳动强度高，且检测效率较低，并且工作人员根据光谱信息进行描绘与刻画容易产生误差，导致最终得到对应元素的谱线特征图精确性低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供检验检测用一米平面光栅摄谱仪，以解决上述背景技术中提出摄谱仪采用感光板识别最终得到的光谱，再由工作人员根据光谱信息进行描绘与刻画获得对应元素的谱线特征图时，效率低以及精确性低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：检验检测用一米平面光栅摄谱仪，包括基台、机体、第一聚光镜、控制面板和第二聚光镜，所述基台顶端的一侧设有机体，所述机体内部的中心位置处设有置物槽，所述置物槽的两端皆延伸至机体的外部，所述置物槽底部的中心位置处设有置物架，所述机体一侧的基台顶端设有第一聚光镜，所述第一聚光镜远离机体一侧的基台顶端设有遮光结构，所述遮光结构远离第一聚光镜一侧的基台顶端设有第二聚光镜，所述第二聚光镜远离遮光结构一侧的基台顶端安装有CCD光电传感器，所述CCD光电传感器远离第二聚光镜一侧的基台顶端设有高密度光栅，所述高密度光栅远离CCD光电传感器一侧的基台顶端设有平面镜，所述平面镜外侧的基台顶端固定有机框，所述机框顶部的一侧设有第一凹面镜，所述第一凹面镜一侧的机框顶部设有第二凹面镜，所述机框一侧的外壁上安装有控制面板，所述控制面板内部单片机的输入端与CCD光电传感器的输出端电性连接。

可选的，所述基台底端的两侧皆设有支腿，所述支腿之间的内壁上固定有横板，以便对螺母进行安置处理。

可选的，所述遮光结构的内部依次设有旋柄、上遮光板、螺纹杆以及下遮光板，所述第一聚光镜远离机体一侧的基台顶端设有下遮光板，所述下遮光板的上方设有上遮光板，以便进行遮光处理。

可选的，所述上遮光板顶部的两侧皆螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的底端贯穿上遮光板并与下遮光板的顶端转动连接，所述螺纹杆的顶端安装有旋柄，以便调节上遮光板与下遮光板之间的间距。

可选的，所述横板的下方设有承载板，所述承载板底端的拐角位置处皆安装有万向轮，以便于进行滑行处理。

可选的，所述横板顶部的两侧皆设有螺母，所述螺母的底端贯穿至横板的外部，所述螺母的内部螺纹连接有丝杆，所述丝杆的底端延伸至螺母的外部并与承载板的顶端转动连接，所述丝杆的顶端延伸至螺母的外部并安装有手轮，以便带动承载板进行升降处理。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该检验检测用一米平面光栅摄谱仪不仅降低了摄谱仪使用时工作人员的劳动强度，提高了摄谱仪使用时的便捷性，而且确保了摄谱仪使用时的检测精度；

(1)通过平面镜将光线反射至第二凹面镜，再而经第二凹面镜反射至高密度光栅，随后经高密度光栅反射至第一凹面镜，并由第一凹面镜将其反射至CCD光电传感器，此时CCD光电传感器则会对光线信息传输至控制面板，经控制面板整理分析后并对其光谱信息进行显示，以达到自动检测识别的目的，提高检测识别的精确性和效率，并降低了摄谱仪使用时工作人员的劳动强度；

(2)通过手动旋转手轮，使其带动丝杆位于螺母的内部旋转并下移，并使得丝杆带动承载板向下移动，以使得承载板带动万向轮同步下移，当万向轮底端所在的平面低于支腿底端所在的平面时，即可推动摄谱仪进行短距离的移动处理，以便将摄谱仪输送至指定地点，从而提高了摄谱仪使用时的便捷性；

(3)通过旋转旋柄，使其带动螺纹杆位于上遮光板内部的螺纹孔进行旋转，以使得上遮光板位于螺纹杆的外壁进行滑移，此时上遮光板与下遮光板之间的间距则会发生变化，以便根据检测需求进行相应的调节，进而达到遮光的目的，从而确保了摄谱仪使用时的检测精度。

附图说明

图1为本实用新型一实施例提供的检验检测用一米平面光栅摄谱仪的正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型一实施例提供的图1中A处放大结构示意图；

图3为本实用新型一实施例提供的遮光结构放大结构示意图；

图4为本实用新型一实施例提供的上遮光板侧视剖面结构示意图。

图中：1、基台；2、置物架；3、置物槽；4、机体；5、第一聚光镜；6、遮光结构；601、旋柄；602、上遮光板；603、螺纹杆；604、下遮光板；7、第一凹面镜；8、第二凹面镜；9、平面镜；10、机框；11、控制面板；12、高密度光栅；13、CCD光电传感器；14、第二聚光镜；15、支腿；16、承载板；17、螺母；18、手轮；19、丝杆；20、横板；21、万向轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-图4，本实用新型提供的一种实施例：检验检测用一米平面光栅摄谱仪，包括基台1、机体4、第一聚光镜5、控制面板11和第二聚光镜14。基台1顶端的一侧设有机体4，基台1底端的两侧皆设有支腿15，支腿15之间的内壁上固定有横板20。

使用时，通过将横板20设置于两组支腿15的内壁上，横板20顶部的两侧皆设有螺母17，螺母17的底端贯穿至横板20的外部，横板20用于对螺母17进行安置处理。

横板20的下方设有承载板16，承载板16底端的拐角位置处皆安装有万向轮21。

使用时，通过承载板16带动万向轮21向下移动，以使得万向轮21底端所在的平面低于支腿15底端所在的平面，以达到便于滑行的目的。

螺母17的内部螺纹连接有丝杆19，丝杆19的底端延伸至螺母17的外部并与承载板16的顶端转动连接，丝杆19的顶端延伸至螺母17的外部并安装有手轮18。

使用时，通过旋转手轮18，使其带动丝杆19位于螺母17的内部旋转并滑移，以使得丝杆19带动承载板16进行升降处理。

机体4内部的中心位置处设有置物槽3，置物槽3的两端皆延伸至机体4的外部。

置物槽3底部的中心位置处设有置物架2，机体4一侧的基台1顶端设有第一聚光镜5，第一聚光镜5远离机体4一侧的基台1顶端设有遮光结构6，遮光结构6的内部依次设有旋柄601、上遮光板602、螺纹杆603以及下遮光板604，第一聚光镜5远离机体4一侧的基台1顶端设有下遮光板604，下遮光板604的上方设有上遮光板602，上遮光板602顶部的两侧皆螺纹连接有螺纹杆603，螺纹杆603的底端贯穿上遮光板602并与下遮光板604的顶端转动连接，螺纹杆603的顶端安装有旋柄601。

使用时，通过旋转旋柄601，使其带动螺纹杆603位于上遮光板602内部的螺纹孔进行旋转，以使得上遮光板602沿着螺纹杆603的外壁进行滑移，此时上遮光板602与下遮光板604之间的间距则会发生变化，以达到遮光的目的。

遮光结构6远离第一聚光镜5一侧的基台1顶端设有第二聚光镜14，第二聚光镜14远离遮光结构6一侧的基台1顶端安装有CCD光电传感器13，该CCD光电传感器13的型号例如可为CCD-M10。

CCD光电传感器13远离第二聚光镜14一侧的基台1顶端设有高密度光栅12，高密度光栅12远离CCD光电传感器13一侧的基台1顶端设有平面镜9，平面镜9外侧的基台1顶端固定有机框10，机框10顶部的一侧设有第一凹面镜7。

第一凹面镜7一侧的机框10顶部设有第二凹面镜8，机框10一侧的外壁上安装有控制面板11，该控制面板11的型号例如可为GC-1，控制面板11内部单片机的输入端与CCD光电传感器13的输出端电性连接。

本申请实施例提供的检验检测用一米平面光栅摄谱仪在使用时，首先将一米平面工件放置于置物架2的顶部，再通电激活机体4内部的电极，使其对工件进行激发处理，此时光线则会依次经第一聚光镜5与第二聚光镜14射入至平面镜9的表面，以便进行后续检测工艺处理。

通过平面镜9并经第二凹面镜8将光线反射至高密度光栅12，再由高密度光栅12并经第一凹面镜7将其反射至CCD光电传感器13，以使得CCD光电传感器13将光线信息传输至控制面板11，经控制面板11整理分析后并对其光谱信息进行显示，以达到自动检测识别的目的。

之后通过旋转旋柄601，使其带动螺纹杆603位于上遮光板602内部的螺纹孔进行旋转，以使得上遮光板602位于螺纹杆603的外壁进行滑移，此时上遮光板602与下遮光板604之间的间距则会发生变化，以达到遮光的目的。

最后通过手动旋转手轮18，使其带动丝杆19位于螺母17的内部旋转并下移，并使得丝杆19带动承载板16向下移动，以使得承载板16带动万向轮21同步下移，当万向轮21底端所在的平面低于支腿15底端所在的平面时，即可推动摄谱仪进行短距离的移动处理，从而完成摄谱仪的使用。

最后应说明的是，以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解；其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (6)

1.一种检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于，包括基台(1)、机体(4)、第一聚光镜(5)、控制面板(11)和第二聚光镜(14)，所述基台(1)顶端的一侧设有机体(4)，所述机体(4)内部的中心位置处设有置物槽(3)，所述置物槽(3)底部的中心位置处设有置物架(2)，所述机体(4)一侧的基台(1)顶端设有第一聚光镜(5)，所述第一聚光镜(5)远离机体(4)一侧的基台(1)顶端设有遮光结构(6)，所述遮光结构(6)远离第一聚光镜(5)一侧的基台(1)顶端设有第二聚光镜(14)，所述第二聚光镜(14)远离遮光结构(6)一侧的基台(1)顶端安装有CCD光电传感器(13)，所述CCD光电传感器(13)远离第二聚光镜(14)一侧的基台(1)顶端设有高密度光栅(12)，所述高密度光栅(12)远离CCD光电传感器(13)一侧的基台(1)顶端设有平面镜(9)，所述平面镜(9)外侧的基台(1)顶端固定有机框(10)，所述机框(10)顶部的一侧设有第一凹面镜(7)，所述第一凹面镜(7)一侧的机框(10)顶部设有第二凹面镜(8)，所述机框(10)一侧的外壁上安装有控制面板(11)，所述控制面板(11)内部单片机的输入端与CCD光电传感器(13)的输出端电性连接。

2.根据权利要求1所述的检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于：所述基台(1)底端的两侧皆设有支腿(15)，所述支腿(15)之间的内壁上固定有横板(20)。

3.根据权利要求1所述的检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于：所述遮光结构(6)的内部依次设有旋柄(601)、上遮光板(602)、螺纹杆(603)以及下遮光板(604)，所述第一聚光镜(5)远离机体(4)一侧的基台(1)顶端设有下遮光板(604)，所述下遮光板(604)的上方设有上遮光板(602)。

4.根据权利要求3所述的检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于：所述上遮光板(602)顶部的两侧皆螺纹连接有螺纹杆(603)，所述螺纹杆(603)的底端贯穿上遮光板(602)并与下遮光板(604)的顶端转动连接，所述螺纹杆(603)的顶端安装有旋柄(601)。

5.根据权利要求2所述的检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于：所述横板(20)的下方设有承载板(16)，所述承载板(16)底端的拐角位置处皆安装有万向轮(21)。

6.根据权利要求5所述的检验检测用一米平面光栅摄谱仪，其特征在于：所述横板(20)顶部的两侧皆设有螺母(17)，所述螺母(17)的底端贯穿至横板(20)的外部，所述螺母(17)的内部螺纹连接有丝杆(19)，所述丝杆(19)的底端延伸至螺母(17)的外部并与承载板(16)的顶端转动连接，所述丝杆(19)的顶端延伸至螺母(17)的外部并安装有手轮(18)。

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