CN214845524U - 一种用于检测显示装置的测试装置和测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于检测显示装置的测试装置和测试系统，所述测试装置包括设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板，其中：所述主控基板，与测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的控制信号至所述测试基板；所述显示驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的显示信号至所述测试基板；所述测试基板，与待检测显示装置电连接，根据所述控制信号和/或所述显示信号向所述待检测显示装置输出检测信号、从所述待检测显示装置获取对应的检测反馈信号并传输至所述主控基板。本实用新型提供的实施例能够解决现有技术中存在待检测设备与测试设备信号连线过多、走线复杂的问题，具有实际应用价值。

Description

一种用于检测显示装置的测试装置和测试系统

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，特别是涉及一种用于检测显示装置的测试装置和测试系统。

背景技术

在显示装置的屏幕生产测试过程中，由于检测项目较多，包括：温度检测、触控检测、电性能检测、显示检测等，导致显示屏测试控制系统的整体结构较为复杂，由于受检测设备的整体结构空间限制，导致检测系统与受检测设备之间的信号基板连线过多,走线复杂。

实用新型内容

为了解决上述问题至少之一，本实用新型第一方面提供一种用于检测显示装置的测试装置，包括设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板，其中：

所述主控基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的控制信号至所述测试基板；

所述显示驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的显示信号至所述测试基板；

所述测试基板，与待检测显示装置电连接，根据所述控制信号和/或所述显示信号向所述待检测显示装置输出检测信号、从所述待检测显示装置获取对应的检测反馈信号并传输至所述主控基板。

在一些具体的实施例中，所述检测信号包括与所述控制信号和/或所述显示信号对应的时序信号和通信信号。

在一些具体的实施例中，所述测试装置还包括触控装置，所述触控装置包括触控驱动基板和由所述触控驱动基板驱动的第一压电组件，其中：

所述触控驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据所述测试基板的触控检测信号驱动所述第一压电组件对所述待检测显示装置进行压力检测。

在一些具体的实施例中，所述测试基板通过SPI总线与所述触控装置进行通信。

在一些具体的实施例中，所述触控装置还包括由所述触控驱动基板驱动的第二压电组件，用于根据所述测试基板的触控校准检测信号驱动所述第二压电组件对所述待检测显示装置进行压力校准。

在一些具体的实施例中，所述测试装置还包括与所述测试基板电连接的温度传感器，用于根据所述测试基板的测温检测信号对所述待检测显示装置进行温度检测，并将检测的温度检测反馈信号传输至所述主控基板。

在一些具体的实施例中，所述测试基板通过I²C总线与所述温度传感器进行通信。

在一些具体的实施例中，所述温度传感器为MLX90614。

在一些具体的实施例中，

所述测试基板为所述主控基板、显示驱动基板供电；

和/或

所述测试基板与所述待检测显示装置为探针压接连接。

本实用新型第二方面提供一种用于检测显示装置的测试系统，包括第一方面所述测试装置、以及与所述测试装置电连接的控制设备，其中

所述控制设备，用于向所述测试装置的主控基板发送测试指令，并从所述主控基板获取检测反馈信号。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型针对目前现有的问题，制定一种用于检测显示装置的测试装置和测试系统，通过设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板在确保测试装置与待检测显示装置的相对位置不变的情况下，根据不同的检测项目将检测指令分别划分在不同基板上，从而简化检测信号线的走线布局，有效弥补了现有技术中的问题，降低检测装置的结构复杂度、降低生产成本提高生产效率，具有实际的应用价值。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本实用新型的一个实施例所述测试装置的结构框图；

图2示出本实用新型的一个实施例所述测试装置的结构示意图；

图3示出本实用新型的一个实施例所述测试系统的结构框图；

图4示出本实用新型的另一个实施例所述测试装置的结构框图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本实用新型，下面结合优选实施例和附图对本实用新型做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本实用新型的保护范围。

如图1所示，本实用新型的一个实施例提供了一种用于检测显示装置的测试装置，包括设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板，其中：所述主控基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的控制信号至所述测试基板；所述显示驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的显示信号至所述测试基板；所述测试基板，与待检测显示装置电连接，根据所述控制信号和/或所述显示信号向所述待检测显示装置输出检测信号、从所述待检测显示装置获取对应的检测反馈信号并传输至所述主控基板。

在本实施例中，通过将主控基板、测试基板和显示驱动基板设置在一个平面内，从而在确保测试装置与待检测显示装置的相对位置不变的情况下，将接收的数据信号通过主控基板传输至测试基板、将接收的显示信号通过显示驱动基板传输至测试基板，从而简化检测信号线的走线布局，能够弥补现有技术中因检测信号线过多导致的走线复杂的问题，有效降低检测装置的结构复杂度、降低生产成本提高生产效率，具有实际的应用价值。

在一个具体的示例中，如图3所示为测试系统，包括测试装置和控制设备，所述控制设备可以为能够发送测试指令的计算机、移动终端、测试终端等设备，与所述测试装置电连接，用于向所述测试装置的主控基板发送测试指令，并从所述主控基板获取检测反馈信号，从而完成对待检测显示装置的测试。

如图1和图2所示，所述测试装置包括主控基板、显示驱动基板和测试基板，其中三者设置在一个平面内，即保持现有测试装置与待检测显示装置的相对位置关系。

同时，主控基板接收控制设备发送的数据指令生成数据指令对应的控制信号，例如开启信号或关闭信号，分别对应打开待检测显示装置或关闭待检测显示装置；其中显示驱动基板接收控制设备发送的显示指令生成对应的显示信号，例如显示不同图像的信号。即将控制设备输出数据指令的数据线设置在主控基板上，从而利用主控基板分流部分布线，解决现有技术中因信号线过多导致的布线复杂问题。

并且，测试基板根据接收的控制信号进一步生成适于待检测显示基板接收的检测信号，例如，主控基板发送的开启信号或关闭信号，测试基板根据该开启信号生成打开所述待检测显示基板的开启时序信号和开启通信信号，使得所述待检测显示基板按照开启时序信号和开启通信信号启动；同理，测试基板根据该关闭信号生成关闭所述待检测显示基板的关闭时序信号和关闭通信信号，使得所述待检测显示基板按照关闭时序信号和关闭通信信号关闭。

与测试基板根据控制信号生成检测信号相类似，测试基板根据显示信号进一步生成适于待检测显示基板接收的检测信号，使得所述待检测显示基板按照该检测信号的时序信号和通信信号进行显示，具体实施过程同前述实施例，在此不再赘述。即将控制设备输出显示指令的数据线设置在显示驱动基板上，从而利用显示驱动基板分流部分布线，解决现有技术中因信号线过多导致的布线复杂问题。

值得说明的是，本实施例可以为仅通过主控基板生成控制信号，也可以仅通过显示驱动基板生成显示信号，也可以同时通过主控基板和显示驱动基板生成控制信号和显示信号，在此不再赘述。同时，本领域技术人员应当理解，在确保测试基板和待检测显示基板的相对位置保持不变的基础上，可以适当调整主控基板和显示驱动基板的位置。

在本实施例中，通过将数据指令和显示指令分别设置在不同的主控基板和显示驱动基板上，能够将传输数据指令的信号线和传输显示指令的信号线分别布局在不同的基板上，从而解决现有技术中因检测信号线过多导致的走线复杂问题。

在一个可选的实施例中，如图4所示，所述测试装置还包括触控装置，所述触控装置包括触控驱动基板和由所述触控驱动基板驱动的第一压电组件，其中：所述触控驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据所述测试基板的触控检测信号驱动所述第一压电组件对所述待检测显示装置进行压力检测。

在本实施例中，测试基板通过SPI总线电连接所述触控装置并与其进行通信，所述触控装置的触控驱动基板接收测试基板的触控检测信号后驱动用于压力检测的第一压电组件对待检测显示装置进行检测，例如将预设的压力值施加在所述待检测显示装置上，或者触控不同位置检测待检测显示装置对触控指令的反应。

考虑到各测试装置的个体差异性，仅使用预设压力值控制第一压电组件对待检测显示装置施加压力易存在错误导致损毁待检测显示装置的问题，在一个可选的实施例中，所述触控装置还包括由所述触控驱动基板驱动的第二压电组件，用于根据所述测试基板的触控校准检测信号驱动所述第一压电组件对所述待检测显示装置进行压力校准。

在本实施例中，通过设置的第二压电组件校准预设置的压力值，从而进一步提高测试装置的精确性和实用性。

考虑到待检测显示装置的温度性能，如图4所示，在一个可选的实施例中，所述测试装置，还包括与所述测试基板电连接的温度传感器，用于根据所述测试基板的测温检测信号对所述待检测显示装置进行温度检测，并将检测的温度检测反馈信号传输至所述主控基板。

在本实施例中，所述测试基板通过I²C总线与所述温度传感器进行通信。具体的，所述温度传感器为MLX90614，当温度传感器接收到测温检测信号后对待检测显示装置进行测温，并将感测的温度信号反馈至测试基板，经测试基板将温度检测反馈信号传输至主控基板以便于反馈至控制设备，从而完成对待检测显示装置的温度检测。

在一个可选的实施例中，所述测试基板为所述主控基板、显示驱动基板供电，从而确保主控基板和显示驱动基板与待检测显示装置之间的物理隔离，避免在启动或关闭所述待检测装置时的瞬间干扰。

在一个可选的实施例中，所述测试基板与所述待检测显示装置为探针压接连接，能够进一步提高待检测显示装置与测试装置的电连接的稳定性。

本实用新型的另一个实施例提供了一种用于检测显示装置的测试系统，包括上述测试装置、以及与所述测试装置电连接的控制设备，其中所述控制设备，用于向所述测试装置的主控基板发送测试指令，并从所述主控基板获取检测反馈信号。

在本实施例中，所述测试系统通过设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板在确保测试装置与待检测显示装置的相对位置不变的情况下，根据不同的检测项目将检测指令分别划分在不同基板上，从而简化检测信号线的走线布局，有效弥补了现有技术中的问题，降低检测装置的结构复杂度、降低生产成本提高生产效率，具有实际的应用价值。具体实施方式同前述实施例，在此不再赘述。

可以理解地，上述示例仅是为了更好地理解本实用新型实施例的技术方案而列举的示例，不作为对本实用新型实施例的唯一限制。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。

Claims (10)

1.一种用于检测显示装置的测试装置，其特征在于，包括设置在一个平面内的主控基板、测试基板和显示驱动基板，其中：

所述主控基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的控制信号至所述测试基板；

所述显示驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据接收的外部指令生成对应的显示信号至所述测试基板；

所述测试基板，与待检测显示装置电连接，根据所述控制信号和/或所述显示信号向所述待检测显示装置输出检测信号、从所述待检测显示装置获取对应的检测反馈信号并传输至所述主控基板。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述检测信号包括与所述控制信号和/或所述显示信号对应的时序信号和通信信号。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括触控装置，所述触控装置包括触控驱动基板和由所述触控驱动基板驱动的第一压电组件，其中：

所述触控驱动基板，与所述测试基板电连接，用于根据所述测试基板的触控检测信号驱动所述第一压电组件对所述待检测显示装置进行压力检测。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试基板通过SPI总线与所述触控装置进行通信。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述触控装置还包括由所述触控驱动基板驱动的第二压电组件，用于根据所述测试基板的触控校准检测信号驱动所述第二压电组件对所述待检测显示装置进行压力校准。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括与所述测试基板电连接的温度传感器，用于根据所述测试基板的测温检测信号对所述待检测显示装置进行温度检测，并将检测的温度检测反馈信号传输至所述主控基板。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试基板通过I²C总线与所述温度传感器进行通信。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述温度传感器为MLX90614。

9.根据权利要求1-7中任一项所述的测试装置，其特征在于，

所述测试基板为所述主控基板、显示驱动基板供电；

和/或

所述测试基板与所述待检测显示装置为探针压接连接。

10.一种用于检测显示装置的测试系统，其特征在于，包括权利要求1-9中任一项所述测试装置、以及与所述测试装置电连接的控制设备，其中

所述控制设备，用于向所述测试装置的主控基板发送测试指令，并从所述主控基板获取检测反馈信号。

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