CN106124963B - 电压裕度的可靠性测试装置及测试方法 - Google Patents

电压裕度的可靠性测试装置及测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及电子产品测试技术。本发明解决了现有电压裕度可靠性测试方案中测试效率低、成本偏高的问题，提供了一种电压裕度的可靠性测试装置及测试方法，其技术方案可概括为：电压裕度的可靠性测试装置，其中，第一测试端通过第一I2C可调电阻与第二测试端连接，第二测试端通过第二I2C可调电阻与第三测试端连接，第三测试端与装置地线连接，时钟模块及用户交互模块分别与微控制器模块连接，微控制器模块通过I2C总线与第一I2C可调电阻的I2C接口及第二I2C可调电阻的I2C接口连接，电源模块为各模块供电。本发明的有益效果是：方便测试，适用于电压裕度的测试。

Description

电压裕度的可靠性测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及电子产品测试技术，特别涉及电子产品的电压裕度可靠性测试技术。
背景技术
随着电子技术的快速发展，电子产品规模越来越复杂，很多电子产品要求不断的降低单板功耗，解决产品小型化问题，这一原因直接会导致芯片厂家设计多种电压来降低单板功耗。由于大规模电子产品存在多种电压，而电压信号作为电子产品的核心部分，如果不能存在一定的裕度，在不同环境及温度等工作条件下则会直接影响设备的稳定性。因此，在电子产品的研发阶段，需要对主板上的各种电压进行裕度的可靠性测试，提升电子产品的质量和环境适应能力。
如图1所示，为目前传统的电压裕度可靠性测试方案的示意图，其包括待测试单板及万用表，待测试单板包括电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端、电阻一R1、电阻二R2及地线，其中，电压转换芯片的参考电压输出端分别与电阻二R2的一端及待测试单板的输出电压端连接，电阻二R2的另一端与待测试单板的输出电压端连接，待测试单板的输出电压端通过电阻一R1与地线连接，万用表的两端分别与待测试单板的输出电压端及地线连接，电压转换芯片的参考电压输出端输出的电压记为VFB，为一个固定值，待测试单板的输出电压端输出的电压记为VOUT，则满足关系式：VOUT＝VFB*(1+R2/R1)，其中电阻二R2为等效电阻，一般由2～3个固定电路串联，电阻一R1一般由1个固定电阻构成。具体测试时所采用的方法大概为以下几个步骤：
步骤1、测试工程师使用焊接设备将待测试单板上的等效电阻取掉；
步骤2、根据正常输出电压值，确定相应的可调电阻型号，并将可调电阻调整到正常输出电压对应的电阻值，然后通过飞线方式焊接到等效电阻的位置，即形成测试时的电阻二R2；
步骤3、进行电压裕度上偏测试，使用工具增加可调电阻的阻值，同时使用万用表观测输出电压VOUT，将输出电压VOUT上偏到正常电压的110％，然后测试电子产品的各种性能；
步骤4、进行电压裕度下偏测试，使用工具减小可调电阻的阻值，同时使用万用表观测输出电压VOUT，将输出电压VOUT下偏到正常电压的90％，然后测试电子产品的各种性能；
步骤5、完成电压裕度上下偏测试后，将可调电阻取掉，然后将原等效电阻焊接回待测试单板，并测试单板是否已经恢复正常。
其测试方案存在以下问题：1、测试效率低：整个测试过程中测试步骤较多，需要使用焊接设备多次焊接等效电阻以及通过飞线方式焊接可调电阻；2、测试成本高：若未能实时监测输出电压，上偏测试时，若输出电压较高，可能会损坏待测试电子产品的芯片，增加了测试成本。
发明内容
本发明的目的就是克服目前电压裕度可靠性测试方案中测试效率低、成本偏高的缺点，提供一种电压裕度的可靠性测试装置及测试方法。
本发明解决其技术问题，采用的技术方案是，电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，包括第一测试端、第二测试端、第三测试端、第一I2C可调电阻、第二I2C可调电阻、微控制器模块、时钟模块、用户交互模块、电源模块及装置地线，所述第一测试端通过第一I2C可调电阻与第二测试端连接，第二测试端通过第二I2C可调电阻与第三测试端连接，第三测试端与装置地线连接，时钟模块及用户交互模块分别与微控制器模块连接，微控制器模块通过I2C总线与第一I2C可调电阻的I2C接口及第二I2C可调电阻的I2C接口连接，电源模块为各模块供电，
所述第一测试端用于与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端连接；
所述第二测试端用于与待测试单板的输出电压端连接；
所述第三测试端用于与待测试单板的地线连接；
所述用户交互模块用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值，且接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值；
所述时钟模块用于提供各种所需的时钟信号；
所述微控制器模块用于通过I2C总线根据用户输入的参数调整第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻的阻值，使根据I2C总线从第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻采集到的电压数据与用户输入的参数相对应，并时刻将采集到的电压数据转换为输出电压值发送给用户交互模块。
具体的，所述参数还包括参考电压值，所述参考电压值对应于待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端的参考电压值。
进一步的，所述用户交互模块包括显示单元及输入单元，所述显示单元及输入单元分别与微控制器模块连接，
所述显示单元用于接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值；
所述输入单元用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值。
具体的，所述微控制器模块在采集到的电压数据作为上偏电压大于正常电压的110％时，控制显示单元提示用户。
再进一步的，所述提示为显示闪烁并变换所显示字体的颜色或直接显示电压偏高信息。
具体的，用户交互模块还包括报警单元，所述报警单元与微控制器模块连接，
所述微控制器模块在采集到的电压数据作为上偏电压大于正常电压的110％时，控制报警单元发出报警信息。
再进一步的，所述报警单元为声光报警单元。
具体的，所述微控制器模块将采集到的电压数据转换为输出电压值是指：微控制器模块通过I2C总线从第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻采集到输出电压的模拟信号，将其转换为数字信号，再将其转换为输出电压值。
电压裕度的可靠性测试方法，采用上述电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、将电压裕度的可靠性测试装置的第一测试端、第二测试端及第三测试端分别与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端及待测试单板的地线一一对应连接；
步骤2、电压裕度的可靠性测试装置接收到输入的参数，其至少包括期望输出电压值，自动调节第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻，使所显示的输出电压值与期望输出电压值相同，然后测试该待测试单板所在电子产品的各种性能，重复本步骤直至测试完成。
具体的，所述期望输出电压值为期望输出上偏电压值或期望输出下偏电压值。
本发明的有益效果是，通过上述电压裕度的可靠性测试装置及测试方法，可以自动调节输出电压值，不需要人工调整可调电阻，且不再需要多次焊接等效电阻及通过飞线方式焊接可调电阻，方便测试，提高了测试效率，另外，由于加入提示或报警机制，在输出电压超过上偏电压时，提示用户或发出报警信息，用户可尽快切断电压裕度的可靠性测试装置与待测试单板之间的连接，避免损坏待测试电子产品的芯片，减少测试成本。
附图说明
图1是目前传统的电压裕度可靠性测试方案的示意图；
图2是本发明实施例中电压裕度的可靠性测试装置在测试时的系统框图；
其中，R1为电阻一，R2为电阻二，R3为第一I2C可调电阻，R4为第二I2C可调电阻。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，详细描述本发明的技术方案。
本发明的电压裕度的可靠性测试装置，包括第一测试端、第二测试端、第三测试端、第一I2C可调电阻、第二I2C可调电阻、微控制器模块、时钟模块、用户交互模块、电源模块及装置地线，第一测试端通过第一I2C可调电阻与第二测试端连接，第二测试端通过第二I2C可调电阻与第三测试端连接，第三测试端与装置地线连接，时钟模块及用户交互模块分别与微控制器模块连接，微控制器模块通过I2C总线与第一I2C可调电阻的I2C接口及第二I2C可调电阻的I2C接口连接，电源模块为各模块供电，其中，第一测试端用于与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端连接；第二测试端用于与待测试单板的输出电压端连接；第三测试端用于与待测试单板的地线连接；用户交互模块用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值，且接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值；时钟模块用于提供各种所需的时钟信号；微控制器模块用于通过I2C总线根据用户输入的参数调整第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻的阻值，使根据I2C总线从第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻采集到的电压数据与用户输入的参数相对应，并时刻将采集到的电压数据转换为输出电压值发送给用户交互模块。
本发明电压裕度的可靠性测试方法，采用上述电压裕度的可靠性测试装置，首先将电压裕度的可靠性测试装置的第一测试端、第二测试端及第三测试端分别与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端及待测试单板的地线一一对应连接，然后在电压裕度的可靠性测试装置接收到输入的参数时，参数至少包括期望输出电压值，自动调节第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻，使所显示的输出电压值与期望输出电压值相同，然后测试该待测试单板所在电子产品的各种性能，重复本步骤直至测试完成。
实施例
本发明实施例中电压裕度的可靠性测试装置在测试时的系统框图参见图2，其中，R1为电阻一，R2为电阻二，R3为第一I2C可调电阻，R4为第二I2C可调电阻。可见，本例中的电压裕度的可靠性测试装置，其包括第一测试端、第二测试端、第三测试端、第一I2C可调电阻R3、第二I2C可调电阻R4、微控制器模块、时钟模块、用户交互模块、电源模块及装置地线，所述第一测试端通过第一I2C可调电阻R3与第二测试端连接，第二测试端通过第二I2C可调电阻R4与第三测试端连接，第三测试端与装置地线连接，时钟模块及用户交互模块分别与微控制器模块连接，微控制器模块通过I2C总线与第一I2C可调电阻R3的I2C接口及第二I2C可调电阻R4的I2C接口连接，电源模块为各模块供电，其中，第一测试端用于与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端连接；第二测试端用于与待测试单板的输出电压端连接；第三测试端用于与待测试单板的地线连接。
用户交互模块用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值，且接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值。参数还可以包括参考电压值(无参考电压值时，可以由微控制器模块通过I2C总线从第一I2C可调电阻R3处获取，即从第一测试端处获取)，参考电压值对应于待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端的参考电压值。
本例中，用户交互模块可以包括显示单元及输入单元，显示单元及输入单元分别与微控制器模块连接，其中，显示单元用于接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值，微控制器模块还可以在采集到的电压数据作为上偏电压大于正常电压的110％时，控制显示单元提示用户，例如采用显示闪烁并变换所显示字体的颜色或直接显示电压偏高信息等方式提示用户；输入单元用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值，可以为键盘单元等输入单元。用户交互模块还可以包括报警单元，报警单元与微控制器模块连接，微控制器模块将采集到的电压数据作为上偏电压，如果上偏电压大于正常电压的110％时，控制报警单元发出报警信息，该报警单元可以为声光报警单元。而整个用户交互模块可以采用触摸屏模块，触摸屏模块即包含了输入及显示，甚至能达到发出报警信息的功能。
时钟模块用于提供各种所需的时钟信号。
微控制器模块用于通过I2C总线根据用户输入的参数调整第一I2C可调电阻R3及第二I2C可调电阻R4的阻值，使根据I2C总线从第一I2C可调电阻R3及第二I2C可调电阻R4采集到的电压数据与用户输入的参数相对应，并时刻将采集到的电压数据转换为输出电压值发送给用户交互模块。这里，微控制器模块将采集到的电压数据转换为输出电压值可以为：微控制器模块通过I2C总线从第一I2C可调电阻R3及第二I2C可调电阻R4采集到输出电压的模拟信号，将其转换为数字信号，再将其转换为输出电压值。
本发明中，建议在电子产品的单板设计时，分别在其待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端及地线处分别预留出测试端。而本发明的基本工作原理为：电压转换芯片的参考电压输出端输出的电压记为VFB，待测试单板的输出电压端的输出电压值VOUT满足关系：VOUT＝VFB*(1+(R2//R3)/(R1//R4))，通过动态调节第一I2C可调电阻R3及第二I2C可调电阻R4，从而可以输出需要的电压值。
使用时，包括以下几个步骤：
步骤1、将电压裕度的可靠性测试装置的第一测试端、第二测试端及第三测试端分别与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端及待测试单板的地线一一对应连接；
步骤2、电压裕度的可靠性测试装置接收到输入的参数，其至少包括期望输出电压值，自动调节第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻，使所显示的输出电压值与期望输出电压值相同，然后测试该待测试单板所在电子产品的各种性能，重复本步骤直至测试完成。
本例中，上述期望输出电压值可以为期望输出上偏电压值或期望输出下偏电压值。

Claims (10)

1.电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，包括第一测试端、第二测试端、第三测试端、第一I2C可调电阻、第二I2C可调电阻、微控制器模块、时钟模块、用户交互模块、电源模块及装置地线，所述第一测试端通过第一I2C可调电阻与第二测试端连接，第二测试端通过第二I2C可调电阻与第三测试端连接，第三测试端与装置地线连接，时钟模块及用户交互模块分别与微控制器模块连接，微控制器模块通过I2C总线与第一I2C可调电阻的I2C接口及第二I2C可调电阻的I2C接口连接，电源模块为各模块供电，
所述第一测试端用于与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端连接；
所述第二测试端用于与待测试单板的输出电压端连接；
所述第三测试端用于与待测试单板的地线连接；
所述用户交互模块用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值，且接收并显示微控制器模块传输来的输出电压值；
所述时钟模块用于提供各种所需的时钟信号；
所述微控制器模块用于通过I2C总线根据用户输入的参数调整第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻的阻值，使根据I2C总线从第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻采集到的电压数据与用户输入的参数相对应，并时刻将采集到的电压数据转换为输出电压值发送给用户交互模块。
2.如权利要求1所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述参数还包括参考电压值，所述参考电压值对应于待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端的参考电压值。
3.如权利要求1所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述用户交互模块包括显示单元及输入单元，所述显示单元及输入单元分别与微控制器模块连接，
所述显示单元用于接收并显示微控制器模块传输来的当前待测试单板的输出电压端的输出电压值；
所述输入单元用于用户输入参数，并将其传输给微控制器模块，参数至少包括期望输出电压值。
4.如权利要求3所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述微控制器模块将采集到的电压作为上偏电压，当上偏电压大于正常电压的110％时，控制显示单元提示用户。
5.如权利要求4所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述提示为显示闪烁并变换所显示字体的颜色或直接显示电压偏高信息。
6.如权利要求3所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，用户交互模块还包括报警单元，所述报警单元与微控制器模块连接，
所述微控制器模块将采集到的电压数据作为上偏电压，且其大于正常电压的110％时，控制报警单元发出报警信息。
7.如权利要求6所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述报警单元为声光报警单元。
8.如权利要求1所述的电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，所述微控制器模块将采集到的电压数据转换为输出电压值是指：微控制器模块通过I2C总线从第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻采集到输出电压的模拟信号，将其转换为数字信号，再将其转换为输出电压值。
9.电压裕度的可靠性测试方法，采用如权利要求1-8任一项所述电压裕度的可靠性测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、将电压裕度的可靠性测试装置的第一测试端、第二测试端及第三测试端分别与待测试单板的电压转换芯片的参考电压输出端、待测试单板的输出电压端及待测试单板的地线一一对应连接；
步骤2、电压裕度的可靠性测试装置接收到输入的参数，其至少包括期望输出电压值，自动调节第一I2C可调电阻及第二I2C可调电阻，使所显示的输出电压值与期望输出电压值相同，然后测试该待测试单板所在电子产品的各种性能，重复本步骤直至测试完成。
10.如权利要求9所述的电压裕度的可靠性测试方法，其特征在于，所述期望输出电压值为期望输出上偏电压值或期望输出下偏电压值。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107843786B (zh) * 2017-10-31 2020-09-15 迈普通信技术股份有限公司 一种电压容限自动测试系统及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101320057A (zh) * 2007-06-08 2008-12-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN101470653A (zh) * 2007-12-28 2009-07-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN101996120A (zh) * 2009-08-18 2011-03-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN102540051A (zh) * 2010-12-22 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置和电压裕度测试方法
JP5436734B1 (ja) * 2013-06-26 2014-03-05 三菱電機株式会社 電圧監視制御装置および電圧監視制御方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8055477B2 (en) * 2008-11-20 2011-11-08 International Business Machines Corporation Identifying deterministic performance boost capability of a computer system
US9417676B2 (en) * 2011-12-29 2016-08-16 Intel Corporation Individual core voltage margining
US9317353B2 (en) * 2013-12-26 2016-04-19 Intel Corporation Method, apparatus and system for performing voltage margining

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101320057A (zh) * 2007-06-08 2008-12-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN101470653A (zh) * 2007-12-28 2009-07-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN101996120A (zh) * 2009-08-18 2011-03-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置
CN102540051A (zh) * 2010-12-22 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压裕度测试装置和电压裕度测试方法
JP5436734B1 (ja) * 2013-06-26 2014-03-05 三菱電機株式会社 電圧監視制御装置および電圧監視制御方法

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