CN214748776U - 一种键盘功能测试机及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种键盘功能测试机，涉及可靠性测试设备领域，主要解决的技术问题是当前市面上的键盘功能测试机的打击头模组上的打击头对键盘按键施力大小固定，导致测试精度低的问题。本方案通过引入打击头和砝码分离的结构以解决上述问题。所述键盘功能测试机包括机架和设于所述机架上的工作台上的键盘功能测试模组。本实用新型解决了目前键盘功能测试机的针对不同按键无法施加不同大小作用力的问题，提高了键盘功能测试机的测试精度，此外本实用新型还通过引入两组打击头模组和双键盘放置位的旋转载具，提升了测试效率。

Description

一种键盘功能测试机及测试设备

技术领域

本实用新型涉及可靠性测试设备领域，尤其涉及一种键盘功能测试机及测试设备。

背景技术

键盘是用于操作设备运行的一种指令和数据输入装置，常需要在出厂前通过键盘功能测试机进行可靠性测试。测试的内容一般包括：测试键盘每个按键的功能、承受力度，以及记录该按键是否失效等。

然而现有的键盘功能测试机上的打击头的重量是确定的，施加于每个按键上的作用力是相同的。而根据用户使用习惯，用户往往会使用相对小的力敲击键盘上的字母键、数字键等按键，而用户往往会使用相对大的力敲击键盘上如空格(Space)、回车(Enter)等按键，这时使用相同的力测试键盘按键所得到的结果就无法保证其精确度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种键盘功能测试机及测试设备，使得所述键盘功能测试机可以针对不同按键施加不同作用力，提高了键盘测试的精确度。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种键盘功能测试机，其包括：

机架，所述机架包括一工作台；

设于所述工作台上的键盘功能测试模组，所述键盘功能测试模组包括移动模组和测试模组；

所述移动模组包括：用于带动所述测试模组在X轴方向移动的X轴移动平台；用于带动所述测试模组在Y轴方向移动的Y轴移动平台，所述Y轴移动平台与所述X轴移动平台相连接；用于带动所述测试模组在Z轴方向移动的Z轴移动平台，所述Z轴移动平台与Y轴移动平台相连接；

所述测试模组包括：至少一组打击头模组，所述打击头模组安装于所述X 轴移动平台上，每组打击头模组包括至少一个打击头组件；

所述打击头组件包括：

打击头连接杆，所述打击头连接杆包括第一孔位和第二孔位，所述第一孔位位于所述第二孔位的下方；

打击头，所述打击头穿设于所述第一孔位中，所述打击头可受驱沿所述第一孔位上下滑动，且所述打击头至少包括设于顶部且限位于所述第一孔位顶端的第一限位件；

砝码，所述砝码穿设于所述第二孔位中，所述砝码可受驱沿所述第二孔位上下滑动，且所述砝码至少包括设于顶部且限位于所述第二孔位顶端的第二限位件；

初始状态下，所述打击头的上端和所述砝码的下端具有间隔；

第一测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第一高度，且所述打击头的上端和所述砝码的下端具有间隔；

第二测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第二高度，且所述打击头的上端抵触所述砝码的下端。

优选的，前述的键盘功能测试机，其所述工作台上设有龙门架，所述龙门架上设有所述Z轴移动平台，所述Z轴移动平台的驱动端连接所述Y轴移动平台，所述Y轴移动平台的驱动端连接所述X轴移动平台；

所述X轴移动平台的驱动端滑动连接安装座，所述打击头连接杆设于所述安装座上。

优选的，前述的键盘功能测试机，其所述测试模组包括两组打击头模组，分别为第一打击头模组和第二打击头模组，所述第一打击头模组和第二打击头模组在X轴移动平台上可相对放置；所述第一打击头模组和第二打击头模组分别包括并排的六个打击头组件。

优选的，前述的键盘功能测试机，其所述打击头连接杆还包括第三孔位，所述第二孔位位于所述第三孔位的下方；

所述打击头组件还包括附加砝码，所述附加砝码穿设于所述第三孔位中，所述附加砝码可受驱沿所述第三孔位上下滑动，且所述附加砝码至少包括设于顶部且限位于所述第三孔位顶端的第三限位件；

初始状态下，所述砝码的上端和所述附加砝码的下端具有间隔；

第二测试状态下，所述砝码的上端和所述附加砝码的下端具有间隔；

第三测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第三高度，且所述打击头的上端抵触所述砝码的下端，且所述砝码的上端抵触所述附加砝码的下端。

优选的，前述的键盘功能测试机，其所述打击头、所述砝码和所述附加砝码的表面光滑，所述第一孔位、第二孔位和第三孔位内部嵌设有滚珠衬套。

优选的，前述的键盘功能测试机，其还包括：

旋转设置于所述工作台上的旋转键盘载具，所述旋转键盘载具上有两个测试键盘放置位，所述的两个测试键盘放置位关于所述旋转键盘载具的中轴线对称；

所述工作台上设有旋转驱动件，所述旋转驱动件驱动连接所述旋转键盘载具。

本实用新型的目的与其解决的技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本实用新型提出的一种测试设备，其包括：

上述任一所述的键盘功能测试机。

借由上述技术方案，本实用新型提出的键盘功能测试机至少具有以下优点：

本实用新型技术方案中，所述键盘功能测试机通过采取打击头和砝码分离的结构，可以根据用户使用习惯，针对不同按键，利用单独打击头的重力或打击头加上砝码的重力，对键盘按键施加不同大小的作用力，以提高测试精确度，并可实现对每个按键进行3点或5点测试。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本实用新型实施例提供的键盘功能测试机整体结构示意图。

图2为本实用新型实施例提供的键盘功能测试模组示意图。

图3为本实用新型实施例提供的打击头模组示意图。

图4为本实用新型实施例提供的打击头组件在第一测试状态下的示意图。

图5为本实用新型实施例提供的打击头组件在第二测试状态下的示意图。

图6为本实用新型实施例提供的旋转键盘载具的示意图。

上述图中，1、机架；2、工作台；31、X轴移动平台；32、Y轴移动平台； 33、Z轴移动平台；411、第一打击头模组；412、第二打击头模组；5、打击头组件；51、打击头连接杆；511、第一孔位；512、第二孔位；52、打击头； 521、第一限位件；53、砝码；531、第二限位件；6、龙门架；7、安装座；8、旋转键盘载具；81、第一键盘测试位；82、第二键盘测试位。

具体实施方式

为使得本实用新型的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

实施例一

本实用新型实施例提供了一种键盘功能测试机，请参考图1，图1为本实用新型实施例提供的键盘功能测试机整体结构示意图。键盘功能测试机包括：机架1，包括下方支撑结构、电动控制设备与按钮等。机架上设有一工作台2，工作台上安装有键盘功能测试模组。

移动模组包括X轴移动平台31，X轴移动平台31包括驱动电机、滑轨与皮带，通过驱动电机带动皮带在滑轨上沿X轴方向移动；Y轴移动平台32，Y 轴移动平台32包括驱动电机、滑轨与丝杆，通过驱动电机带动丝杆在滑轨上沿Y轴方向移动；Z轴移动平台33，Z轴移动平台33包括驱动电机、滑轨与丝杆，通过驱动电机带动丝杆在滑轨上沿Z轴方向移动。工作台2上设有龙门架6，龙门架6上设置Z轴移动平台33，Z轴移动平台33的驱动端连接Y 轴移动平台32，Y轴移动平台32的驱动端连接X轴移动平台31，通过键盘功能测试机内部程序控制电机以控制移动模组的移动。

测试模组包括两组打击头模组，分别为第一打击头模组411和第二打击头模组412，每组打击头模组上包含有6个打击头组件5。两组打击头模组均安装在X轴移动平台31上。通过使用两组移动模组，可以同时实现对键盘两侧的敲击测试，大幅提升了测试效率。

此外在工作台2上还旋转设置有一个旋转键盘载具8，工作台2上设有旋转驱动件，旋转驱动件驱动连接旋转键盘载具8。

下面针对键盘功能测试模组做更详细的具体阐述。

请参考图2，图2为本实用新型实施例提供的键盘功能测试模组示意图。 X轴移动平台31的皮带上连接有安装座7，打击头组件5安装在安装座7上。打击头组件5通过移动模组的驱动电机带动，实现在不同位置、高度上的移动。请参考图3，图3为本实用新型实施例提供的打击头模组示意图。一个打击头模组具备如图3的6个打击头组件5，6个打击头组件5初始状态下并排设置，但每个打击头组件5的安装座7均能够可在X轴移动模组上被独立驱动。

下面对打击头组件5的结构做更详细的具体阐述。

请参考图4和图5，图4为本实用新型实施例提供的打击头组件在第一测试状态下的示意图，图5为本实用新型实施例提供的打击头组件在第二测试状态下的示意图。

每个打击头组件均包括：打击头连接杆51，打击头连接杆51上包括第一孔位511和第二孔位512，第二孔位512在第一孔位511的正上方，且其间留有空隙，一般情况下，空隙至少为2mm；每个打击头组件还包括：打击头52 和砝码53。打击头52包括第一限位件521，砝码53包括第二限位件531。

初始状态下，打击头52穿过第一孔位511，底端露出第一孔位511，上端被第一限位件521卡位于第一孔位511上部；砝码53穿过第二孔位512，底端露出第二孔位512，上端被第一限位件531卡位于第二孔位512上部。此外，打击头52的上端与砝码53的下端之间留有空隙，两者不接触。打击头 52的质量为80gf，砝码53的质量为20gf。打击头连接杆51连接在安装座7 上。

下面对打击头组件5的工作方式做更详细的具体阐述。

请参考图4，图4为本实用新型实施例提供的打击头组件在第一测试状态下的示意图。第一测试状态一般时用于测试键盘上的一倍键，例如字母、数字等按键。根据用户习惯，用户在敲击此类按键时往往会使用较小的力去敲击，因此测试时也需要使用较小的力测试。

测试时，程序控制X轴移动平台31与Y轴移动平台32在驱动电机驱动下带动对应打击头组件5至待测试按键位置后，Z轴移动平台33在驱动电机驱动下缓慢下落，带动对应打击头组件5缓慢下落直到接触到待测试按键，此时驱动电机继续驱动Z轴移动平台33下落，打击头52抵触待测试按键不再下降，打击头连接杆51继续下降并带动砝码53继续下降。

当打击头52的第一限位件521与打击头连接杆51的第一孔位511不再接触，打击头52的全部重力施加于待测试按键，而打击头52的上端又与砝码53的下端有空隙时，Z轴移动平台停止下降。此时，打击头52的重量全部由待测试按键承受，而砝码的重量未施加于待测试按键。系统接收测试反馈结果后，程序控制Z轴移动平台33上升，打击头连接杆51的第一孔位511 抵触到打击头52的第一限位件521后带动打击头52一起上升，回到初始状态，完成本次测试。

请参考图5，图5为本实用新型实施例提供的打击头组件在第二测试状态下的示意图。第二测试状态一般时用于测试键盘上的特殊键，例如空格 (Space)、回车(Enter)等按键。根据用户习惯，用户在敲击此类按键时往往会使用较大的力去敲击，因此测试时也需要使用较大的力测试。

测试时，程序控制X轴移动平台31与Y轴移动平台32在驱动电机驱动下带动对应打击头组件5至待测试按键位置后，Z轴移动平台33在驱动电机驱动下缓慢下落，带动对应打击头组件5缓慢下落直到接触到待测试按键，此时驱动电机继续驱动Z轴移动平台33下落，打击头52抵触待测试按键不再下降，打击头连接杆51继续下降并带动砝码53继续下降。

当打击头52的第一限位件521与打击头连接杆51的第一孔位511不再接触，打击头52的全部重力施加于待测试按键，且打击头52的上端与砝码 53的下端抵触，砝码53的第二限位件531与打击头连接杆51的第二孔位512 不再接触，砝码53的全部重力施加于打击头52时，Z轴移动平台停止下降。

此时，打击头52的重量和砝码53的重量叠加，全部由待测试按键承受。系统接收测试反馈结果后，程序控制Z轴移动平台33上升，打击头连接杆51 的第二孔位512抵触到砝码53的第二限位件531后带动砝码53一起上升，打击头连接杆51的第一孔位511抵触到打击头52的第一限位件521后带动打击头52一起上升，回到初始状态，完成本次测试。

下面针对旋转键盘载具8做更详细的具体阐述。

请参考图6，图6为本实用新型实施例提供的旋转键盘载具的示意图。的旋转键盘载具8旋转设置于工作台2上，旋转键盘载具8上有两个测试键盘放置位，分别为第一键盘测试位81和第二键盘测试位82，两个键盘测试位对称放置。在工作台2上设有旋转驱动件，旋转驱动件驱动连接旋转键盘载具8。

当第一键盘测试位81处于测试位置时，测试人员可手动在第二键盘测试位82取出已测试完毕的键盘并放入待测试键盘。当前键盘测试完毕后，系统会自动检测并驱动旋转驱动件，驱动旋转键盘载具8旋转180°使第二键盘测试位82切换至测试位置，以对第二键盘测试位82上的待测试键盘进行测试，此时测试人员可手动在第一键盘测试位81取出已测试完毕的键盘并放入待测试键盘，如此往复工作。此方法节省了人工取放测试键盘的时间，能有效提高键盘功能测试机的测试效率。

实施例二

基于前述实施例，本实用新型实施例还提供了一种三段打击头组件，该三段打击头组件多包括一个附加砝码，其结构和前述实施例中提供的打击头组件类似。

三段打击头组件还包括一个附加砝码，其打击头连接杆还包括第三孔位，第三孔位位于其第二孔位的正上方；附加砝码穿设于第三孔位中，附加砝码可受驱沿所述第三孔位上下滑动，且附加砝码包括设于顶部且限位于第三孔位顶端的第三限位件。

初始状态下，其砝码的上端和附加砝码的下端具有间隔；

第一测试状态下和第二测试状态下，其砝码的上端和附加砝码的下端均具有间隔，砝码的上端和附加砝码的下端不抵触。

第三测试状态下，打击头沿所述第一孔位向上滑动至第三高度，且打击头的上端抵触砝码的下端，且砝码的上端抵触附加砝码的下端，具体工作工程与前述实施例相类似，在此不再重复。

实施例三

基于前述各个实施例，本实用新型实施例提出了一种测试设备，其包括前述实施例一提供的键盘功能测试机或前述实施例二提供的三段打击头组件。

以上所述，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种键盘功能测试机，其特征在于，包括：

机架，所述机架包括一工作台；

设于所述工作台上的键盘功能测试模组，所述键盘功能测试模组包括移动模组和测试模组；

所述移动模组包括：用于带动所述测试模组在X轴方向移动的X轴移动平台；用于带动所述测试模组在Y轴方向移动的Y轴移动平台，所述Y轴移动平台与所述X轴移动平台相连接；用于带动所述测试模组在Z轴方向移动的Z轴移动平台，所述Z轴移动平台与Y轴移动平台相连接；

所述测试模组包括：至少一组打击头模组，所述打击头模组安装于所述X轴移动平台上；每组打击头模组包括至少一个打击头组件；

所述打击头组件包括：

打击头连接杆，所述打击头连接杆包括第一孔位和第二孔位，所述第一孔位位于所述第二孔位的下方；

打击头，所述打击头穿设于所述第一孔位中，所述打击头可受驱沿所述第一孔位上下滑动，且所述打击头至少包括设于顶部且限位于所述第一孔位顶端的第一限位件；

砝码，所述砝码穿设于所述第二孔位中，所述砝码可受驱沿所述第二孔位上下滑动，且所述砝码至少包括设于顶部且限位于所述第二孔位顶端的第二限位件；

初始状态下，所述打击头的上端和所述砝码的下端具有间隔；

第一测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第一高度，且所述打击头的上端和所述砝码的下端具有间隔；

第二测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第二高度，且所述打击头的上端抵触所述砝码的下端。

2.根据权利要求1所述的键盘功能测试机，其特征在于，所述工作台上设有龙门架，所述龙门架上设有所述Z轴移动平台，所述Z轴移动平台的驱动端连接所述Y轴移动平台，所述Y轴移动平台的驱动端连接所述X轴移动平台；

所述X轴移动平台的驱动端滑动连接安装座，所述打击头连接杆设于所述安装座上。

3.根据权利要求2所述的键盘功能测试机，其特征在于，所述测试模组包括两组打击头模组，分别为第一打击头模组和第二打击头模组；所述第一打击头模组和第二打击头模组分别包括并排的六个打击头组件。

4.根据权利要求3所述的键盘功能测试机，其特征在于，所述打击头连接杆还包括第三孔位，所述第二孔位位于所述第三孔位的下方；

所述打击头组件还包括附加砝码，所述附加砝码穿设于所述第三孔位中，所述附加砝码可受驱沿所述第三孔位上下滑动，且所述附加砝码至少包括设于顶部且限位于所述第三孔位顶端的第三限位件；

初始状态下，所述砝码的上端和所述附加砝码的下端具有间隔；

第二测试状态下，所述砝码的上端和所述附加砝码的下端具有间隔；

第三测试状态下，所述打击头沿所述第一孔位向上滑动至第三高度，且所述打击头的上端抵触所述砝码的下端，且所述砝码的上端抵触所述附加砝码的下端。

5.根据权利要求4所述的键盘功能测试机，其特征在于，所述打击头、所述砝码和所述附加砝码的表面光滑，所述第一孔位、第二孔位和第三孔位内部嵌设有滚珠衬套。

6.根据权利要求1所述的键盘功能测试机，其特征在于，还包括：

旋转设置于所述工作台上的旋转键盘载具，所述旋转键盘载具上有两个测试键盘放置位，所述的两个测试键盘放置位关于所述旋转键盘载具的中轴线对称；

所述工作台上设有旋转驱动件，所述旋转驱动件驱动连接所述旋转键盘载具。

7.一种测试设备，其特征在于，包括：

如权利要求1-6任一项所述的键盘功能测试机。

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