CN214473737U - 一种二极管测试工装及系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 94
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 230000036544 posture Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000000396 iron Nutrition 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开一种二极管测试工装及系统,涉及二极管性能测试技术领域,以在保证测试设备准确稳定测试二极管性能的前提下,使得测试设备的适用范围比较广。所述二极管测试工装包括底座以及设在底座上的两个定位组件。每个定位组件包括位于底座上的至少一个导电定位结构。每个导电定位结构包括引脚定位部以及设在引脚定位部上的电极定位部。引脚定位部具有多个夹紧力可调的引脚夹持空间,至少两个引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同。所述二极管测试系统包括上述二极管测试工装。本实用新型提供的二极管测试工装用于二极管性能测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及二极管性能测试技术领域,尤其涉及一种二极管测试工装及系统。
背景技术
在光伏组件中,接线盒可以将光伏组件所产生的电流传导至外部线路。该接线盒内可以设置旁路二极管,以避免光伏组件发生热斑效应。当光伏组件的功率、电流等电学性能参数比较高的情况下,光伏组件内的接线盒中二极管的可靠性风险在增加,因此对二极管进行相应的测试是非常有必要。
相关技术中,可以将二极管的引脚以焊接的方式连接到测试设备的连接线上。但是二极管的引脚与连接线的焊接质量难以保证,导致通电过程中容易出现接触不良所导致的局部过热问题,使得测试设备无法准确稳定测试激光性能。并且测试设备无法兼容各种类型二极管的测试,导致测试设备的适用范围比较窄。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种二极管测试工装及系统,以在保证测试设备准确稳定测试二极管性能的前提下,使得测试设备的适用范围比较广。
第一方面,本实用新型提供一种二极管测试工装,包括底座以及位于所述底座上的两个定位组件。每个定位组件包括位于底座上的至少一个导电定位结构。每个导电定位结构包括引脚定位部以及设在引脚定位部上的电极定位部。引脚定位部具有多个夹紧力可调的引脚夹持空间,至少两个引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同。
采用上述技术方案的情况下,两个定位组件所包括的导电定位结构均包括引脚定位部以及设在引脚定位部上电极定位部。基于此,当将测试设备的每个电极被电极定位部固定,二极管的每个引脚通过引脚定位部固定时,测试设备的每个电极与二极管的相应引脚电连接在一起,从而保证测试设备可以对二极管进行性能测试。同时,由于引脚定位部具有夹紧力可调的引脚夹持空间,因此,可以调控引脚夹持空间对于二极管的引脚夹持力大小,使得引脚定位部可以牢靠的固定二极管相应的引脚,降低出现接触不良所导致的局部过热问题。不仅如此,引脚定位部具有的至少两个引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同,使得该引脚定位部可以固定多种型号的二极管,因此,本实用新型提供的二极管测试工装可以保证测试设备兼容多种类型的二极管性能测试。
在一种可能的实现方式中,上述引脚定位部包括:距离调节件以及设在距离调节件上的两个导电块。至少一个导电块设置电极定位部。多个引脚夹持空间均位于两个导电块之间。该距离调节件用于调节两个导电块之间的距离。
采用上述技术方案的情况下,两个导电块设在距离调节件,使得距离调节件可以调节两个导电块之间的距离。而多个引脚夹持空间均位于两个导电块之间,使得距离调节件调节两个导电块之间距离的时候,可以调整每个引脚夹持对于引脚的夹紧力,保证每个导电块与引脚紧密接触。同时,由于至少一个导电块设置电极定位部,因此,每个导电块与引脚紧密接触的情况下,测试设备的电极可以可靠的与引脚通过至少一个导电块电连接,进而降低因为接触不良所导致的局部过热程度。
在一种可能的实现方式中,两个导电块沿着远离所述底座的高度方向分布。
在一种可能的实现方式中,每个导电块临近另一导电块的表面具有多个与引脚轮廓匹配的凹槽,每个凹槽的侧壁具有至少一个开口。两个导电块具有的相应凹槽构成相应引脚夹持空间。每个导电块具有的至少两个凹槽的尺寸参数不同。
采用上述技术方案的情况下,两个导电块具有的相应凹槽构成相应引脚夹持空间。此时,每个导电块所具有的凹槽可以作为引脚夹持空间的一部分,对相应引脚进行限位。同时,由于至少两个凹槽的径向参数不同,因此,两个导电块所具有的相应凹槽构成的引脚夹持空间可以夹持不同径向参数的引脚。
在一种可能的实现方式中,每个凹槽均为弧形槽,各个弧形槽的径向参数不同。
采用上述技术方案的情况下,两个导电块所具有的相应凹槽所形成的引脚夹持空间的截面呈现圆形,使得引脚夹持空间的轮廓形状与引脚轮廓匹配,从而保证引脚夹持空间夹持引脚的情况下,引脚的表面可以充分与引脚夹持空间的内壁接触,从而提高引脚定位部与引脚的接触可靠性,保证测试设备可以准确稳定的对二极管进行性能测试。
在一种可能的实现方式中,上述距离调节件为螺纹杆。该螺纹杆与每个导电块螺纹连接。此时,每个导电块和螺纹杆均可以构成丝杆螺母机构。当螺纹杆转动时,导电块可以沿着螺纹杆的杆延伸方向移动,进而使得螺纹杆达到调节两个导电块之间距离的目的。
在一种可能的实现方式中,上述螺纹杆的螺纹方向恒定,如两个导电块均具有螺纹方向相反的螺纹孔。螺纹孔与螺纹杆螺纹配合。
采用上述技术方案的情况下,两个导电块均具有螺纹方向相反的螺纹孔,使得螺纹杆的螺纹方向恒定时,如果螺纹杆转动,两个导电块之间的距离就会发生变化。基于此,可以根据引脚夹持空间所需要的夹紧力大小,调控螺纹杆的转动方向以及转动角度。
在一种可能的实现方式中,上述螺纹杆包括两个螺纹方向相反的螺纹段,两个导电块具有螺纹方向相同的螺纹孔。每个导电块具有的螺纹孔与所述螺纹杆所包括的相应螺纹段配合。
采用上述技术方案的情况下,上述螺纹杆包括两个螺纹方向相反的螺纹段,两个导电块具有的螺纹孔与所述螺纹杆所包括的不同螺纹段配合。基于此,当两个导电块具有螺纹方向相同的螺纹孔时,如果螺纹杆转动,螺纹杆所包括的不同螺纹段可以带动两个导电块向不同方向移动,使得两个导电块之间的距离发生变化。基于此,可以根据引脚夹持空间所需要的夹紧力大小,调控螺纹杆的转动方向以及转动角度。
在另一种可能的实现方式中,上述距离调节件包括导轨以及设在所述导轨上的两个滑块,每个导电块设在相应滑块上。
采用上述技术方案的情况下,两个导电块设在导轨所具有的滑块上。此时,可以通过控制两个滑块在导轨上的位置,调整两个导电块之间的距离,进而达到调节引脚夹持空间夹紧力的目的。
在一种可能的实现方式中,上述引脚定位部还包括设在两个导电块上的导向件。在该导向件的导向下,可以在距离调节件调节两个导向块之间的距离时,约束导电块的移动方向。
在一种可能的实现方式中,上述电极定位部包括开设在引脚定位部上的电极安装孔。此时,可以将电极插入电极安装孔内,使得电极与引脚定位部电连接。
在一种可能的实现方式中,每个定位组件还包括位于底座上的绝缘件,导电定位结构设在该绝缘件。
当采用上述技术方案的情况下,绝缘件可以实现底座与导电定位结构的电性隔离,防止发生人员触电危险。
在一种可能的实现方式中,至少一个定位组件还包括连接块。该连接块位于底座与导电定位结构之间。此时,可以利用连接块调整定位组件的高度,使得两个定位组件的高度相同,从而方便定位二极管引脚。
在一种可能的实现方式中,上述二极管测试工装还包括设在底座上的导向组件。该导向组件的导向方向与两个定位组件在底座上的分布方向相同。该导向组件用于调节两个所述定位组件之间的距离;至少一个定位组件设在导向组件上。
采用上述技术方案的情况下,可以利用导向组件调整两个定位组件之间的距离,以方便将二极管的引脚固定在引脚固定部上。
在一种可能的实现方式中,上述导向组件可以为导轨滑块组件,也可以为丝杆螺母组件。
当导向组件为导轨滑块组件时,导向组件包括直线滑动导轨以及位于该直线滑动导轨内的直线滑块。定位组件可以设在该直线滑块上。在直线滑块的带动下,定位组件可以沿着直线滑动导轨运动,进而调节两个定位组件之间的距离。
在一种可能的实现方式中,上述底座包括框架以及设在框架上的梁体。其中一个定位组件设在梁体上,另一个定位组件设在框架上。
第二方面,本实用新型还提供一种二极管性能测试系统,包括测试设备以及第一方面或第一方面任一可能的实现方式描述的二极管测试工装。
本实用新型第二方面提供的二极管性能测试系统的有益效果可以参考第一方面或第一方面任一可能的实现方式提供的二极管测试工装的有益效果,此处不做赘述。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本实用新型的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1为本实用新型实施例提供的二极管测试系统的结构框图;
图2为本实用新型实施例提供的二极管测试工装的结构示意图;
图3为本实用新型实施例中底座的结构示意图;
图4为本实用新型实施例中定位组件在一种姿态的结构示意图;
图5为本实用新型实施例中定位组件在两种不同姿态的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
相关技术中,各种类型的二极管(直插二极管、贴片二极管等)的引脚直径也有所不同各不相同,使得二极管测试工装针对不同类型二极管兼容性不高。在测试过程中,可以将测试设备的电极引线与二极管的引脚焊接在一起,而二极管的引脚往往比较小,导致焊接难度比较大,无法保证焊接质量,因此,在通电过程中,无法保证测试设备的电极导线与引脚全面触面,容易造成接触不良而引起局部过热等问题。
针对上述问题,本实用新型实施例提供一种二极管测试系统,可用于测试光电二极管,也可以测试非光电二极管等。例如:光电二极管包括但不仅限于LED(全称为Light-Emitting Diode)二极管、OLED(全称为Organic Light-Emitting Diode)二极管等。非发光二极管包括但不仅限于压敏二极管、热敏二极管等。
图1示例出本实用新型实施例提供的二极管测试系统的结构框图。如图1所示,本实用新型实施例提供的二极管测试系统包括测试设备100以及二极管测试工装200。
如图1所示,上述测试设备100可以为各种可以实现二极管性能测试的装置,例如:ZT-4148二极管测试机,KDK TCT-2003二极管测试仪等。
如图1所示,上述二极管测试工装200可以兼容多种类型二极管300性能测试,并保证测试设备100的电极与二极管300的引脚在通电状态全面接触,进而降低通电过程出现接触不良所导致的局部过热问题,使得测试设备100准确稳定测试二极管300性能。
图2示例出本实用新型实施例提供的二极管测试工装的结构示意图。如图2所示,本实用新型实施例提供的二极管测试工装200包括底座210以及位于底座210上的两个定位组件220。如图2所示,每个定位组件220包括位于底座210上的导电定位结构221。鉴于相关技术中,如果需要同时测试多个二极管(例如3个)的性能,需要多次焊接,使得测试工作效率比较低。基于此,如图4和图5所示,每个定位组件220包括的导电定位结构221数量可以根据实际需要设定,但至少为一个。例如:每个定位组件220包括的导电定位结构221的数量为3个。此时,可以利用该二极管测试工装200同时测试3个二极管的性能,从而提高测试效率。
如图2所示,上述底座210作为二极管测试工装200的基础,用于对两个定位组件220进行支撑,其实现结构多种多样。图3示例出本实用新型实施例中底座210的结构示意图。如图3所示,该底座210包括框架211以及设在框架211上的梁体212。其中一个定位组件220设在梁体212上,另一个定位组件220设在框架211上。
示例性的,如图3所示,上述框架211包括第一水平梁211A1、第二水平梁211A2、第一竖直梁211B1、第二竖直梁211B2、梁体212以及角件组件211C等部件组成。
如图3所示,第一水平梁211A1连接第一竖直梁211B1的第一端和第二竖直梁211B2的第一端,第二水平梁211A2连接第一竖直梁211B1的第二端和第二竖直梁211B2的第二端。此时,第一水平梁211A1、第二水平梁211A2、第一竖直梁211B1、第二竖直梁211B2构成矩形框架211。角件组件211C可以由四个角铁组成,每个角铁位于矩形框架211的一个角,用以对矩形框架进行定位。
如图3所示,为了提高框架211的稳定性,梁体212可以采用螺钉固定的方式设在第一竖直梁211B1和第二竖直梁211B2的中间(当然也可以设在第一竖直梁211B1和第二竖直梁211B2),提高框架211的结构稳定性。其中一个定位组件220可以设在该梁体212上,另一个定位组件220可以根据需要设在第一水平梁211A1或第二水平梁211A2上,当然也可以设在第一竖直梁211B1或第二竖直梁211B2上。
如图2和图3所示,当上述底座210的各个部件材质可以为金属材质等导电材质,也可以为其它绝缘材质。当底座210的各个部件材质为导电材质时,如果底座210与导电定位结构221直接接触,在通电情况下,底座210与导电定位结构221导通,容易出现触电危险。基于此,如图2所示,上述每个定位组件220还包括位于底座210上的绝缘件221C。导电定位结构221设在该绝缘件221C。绝缘件221C可以为垫片状结构,也可以为块状结构,只要保证导电定位结构221不与底座210直接接触即可。绝缘件221C的材质可以由聚四氟乙烯加工而成,当然,也可以选择其它材料加工绝缘件221C。
在一种示例中,如图2所示,为了平衡两个定位组件220的高度差异,至少一个定位组件220还包括连接块222。该连接块222位于底座210与导电定位结构221之间。此时,可以利用连接块222调整定位组件220的安装面高度,使得两个定位组件220的安装面高度相同,从而方便定位二极管引脚。
在实际应用中,如图2所示,当其中一个定位组件220设在该梁体212上,另一个定位组件220位于第一水平梁211A1上,两个定位组件220的安装面存在一起的高度差。此时,可以将连接块222设在第一水平梁211A1上,对导电定位结构221进行支撑。该连接块222的材质可以为金属等导电材质,也可以塑料等非金属材质。当定位组件220既包括连接块222,又包括绝缘件221C时,可以将绝缘件221C设在导电定位结构221与连接块222之间。此时,如果底座210的各个部件材质为导电材质,绝缘件221C可以避免导电定位结构221与连接块222直接接触,进而实现底座210与导电定位结构221的电性隔离,防止发生人员触电危险。
在一种示例中,如图2所示,上述二极管测试工装200还包括设在底座210上的导向组件230。导向组件230可以为丝杆螺母组件,也可以为导轨滑块组件。
如图2所示,该导向组件230的导向方向与两个定位组件220在底座210上的分布方向(图2的箭头方向)相同。该导向组件230用于调节两个所述定位组件220之间的距离。此处至少一个定位组件220设在导向组件230上,设置方式可以为式可以为螺钉固定,也可以为其它方式固定方式,此处不做详细说明。
如图2所示,当导向组件230为丝杆螺母组件时,可以将定位组件220设在螺母上,通过控制丝杆转动,使得螺母沿着丝杆移动。当然,也可以采用在丝杆上设置电动螺母,并将定位组件220设在该电动螺母上。
如图2所示,当导向组件230为导轨滑块组件,该导向组件230包括直线滑动导轨231以及位于该直线滑动导轨231内的直线滑块232。其中一个定位组件220可以设在该直线滑块232上,直线滑动导轨231的延伸方向为两个定位组件220的分布方向延伸。此时,在直线滑块232的带动下,定位组件220可以沿着直线滑动导轨231运动,进而调节两个定位组件220之间的距离。
在实际应用中,如图2所示,其中一个定位组件220可以通过各种方式设在该直线滑块232上。例如:当定位组件220包括连接块222时,可以将该连接块222的部分部位固定在直线滑块232上,使得设在连接块222上的导电定位结构221间接的固定在直线滑块232上。
以图3所示的底座210为例,如图2和图3所示,上述导轨滑块组件为两个时,其中一个导向滑块组件位于第一竖直梁211B1上,另一个导向滑块组件位于第二竖直梁211B2上。此时,其中一个定位组件220(定义为滑动式定位组件)以非接触的方式位于第一水平梁211A1上,另一个定位组件220(固定式定位组件)固定的设在梁体212上。其中,该滑动式定位组件包括连接块,连接块222的一端固定在一个导向滑块组件所包括的直线滑块232上,连接块222的另一端固定在另一个导向滑块组件所包括的直线滑块232上,使得滑动式定位组件以非接触方式位于底座210上方,保证底座210不会阻碍滑动式定位组件的移动。
如图2和图3所示,当需要利用定位组件220固定二极管的引脚时,可以调整直线滑块232在直线滑动导轨231的位置,使得该直线滑块232位于第一竖直梁211B1的第一端和第二竖直梁211B2的第一端,以保证滑动式定位组件和固定式定位组件之间的距离最大,使得利用固定式定位组件定位测试设备的电极和二极管的引脚时,具有足够的操作空间。当固定式定位组件定位测试设备的电极和二极管的引脚完毕,可以控制直线滑块232向靠近固定式定位组件的方向移动,使得滑动式定位组件逐渐靠近固定式定位组件。在这个过程中,滑动式定位组件也在逐渐靠近被固定式定位组件定位一个引脚的二极管,然后将二极管的另一引脚和测试设备的另一电极定位到滑动式定位组件上。
图4和图5示例出本实用新型实施例中定位组件在两种不同姿态的结构示意图。如图2~图5所示,每个导电定位结构221包括引脚定位部221A以及设在引脚定位部221A上的电极定位部221B。引脚定位部221A具有多个夹紧力可调的引脚夹持空间,至少两个引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同。此处引脚径向参数可以为引脚的直径、半径等,但不仅限于此。
如图2~图5所示,上述至少一个导电块221A1设置电极定位部221B。该电极定位部221B可以包括开设在引脚定位部221A上的电极安装孔。此时,可以将测试设备的电极插入电极安装孔内,使得电极与引脚定位部221A电连接。为了保证测试设备的电极可以与电机安装部充分接触,电极安装孔可以为螺纹孔,使得测试设备的电极可以以螺纹连接的方式安装在电极安装孔内。
如图2~图5所示,在测试二极管的性能时,测试设备的正极可以通过其中一个定位组件220与二极管的正极引脚电连接在一起,测试设备的负极可以通过另一个定位组件220与二极管的负极引脚电连接在一起。基于此,导电定位结构221所包括的电极定位部221B定位的电极和引脚定位部221A定位的二极管引脚极性相同。
如图2~图5所示,基于上述分析可知,测试设备的电极可以被电极定位部221B固定,引脚定位部221A可以定位二极管的引脚,使得测试设备可以通过二极管测试工装200的电极与二极管的相应引脚电连接。同时,由于引脚定位部221A具有多个夹紧力可调的引脚夹持空间,因此,可以调控引脚夹持空间对于二极管的引脚夹持力大小,使得引脚定位部221A可以牢靠的固定二极管相应的引脚,降低出现接触不良所导致的局部过热问题。不仅如此,引脚定位部221A具有的至少两个引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同,使得该引脚定位部221A可以固定多种型号的二极管,因此,本实用新型实施例提供的二极管测试工装200可以保证测试设备兼容多种类型的二极管性能测试。
在一种示例中,如图2~图5所示,上述引脚定位部221A包括:距离调节件221A2以及设在距离调节件221A2上的两个导电块221A1。导电块221A1可以主要以铜、铁等导电材质加工而成。多个引脚夹持空间均位于两个导电块221A1之间。至少一个导电块221A1设置电极定位部221B。基于此,距离调节件221A2可以调节两个导电块221A1之间的距离。而多个引脚夹持空间均位于两个导电块221A1之间,使得在测试二极管的性能时,可以先利用距离调节件221A2增加两个导电块221A1之间的距离,以方便二极管的引脚伸入两个导电块221A1之间,接着利用距离调节件221A2缩小两个导电块221A1之间的距离,使得两个导电块221A1夹紧位于两个导电块221A1之间的二极管引脚。在需要取出二极管的引脚时,可以利用距离调节件221A2增加两个导电块221A1之间的距离,使得二极管的引脚可以方便的从两个导电块221A1之间的区域移除。同时,距离调节件221A2可以通过调节两个导电块221A1之间距离,调整每个引脚夹持对于引脚的夹紧力,保证每个导电块221A1与引脚紧密接触。而且,由于至少一个导电块221A1设置电极定位部221B,因此,每个导电块221A1与引脚紧密(全面)接触的情况下,测试设备的电极可以可靠的与引脚通过至少一个导电块221A1电连接,进而降低因为接触不良所导致的局部过热程度。
在实际应用中,如图2~图5所示,两个导电块221A1的分布方向与引脚夹持空间夹持引脚的方向有关。例如:当两个导电块221A1位于绝缘件221C之上,可以将其中一个导电块221A1通过螺钉固定在绝缘垫上,另一个导电块221A1位于该导电件上方。两个导电块221A1沿着远离底座210的高度方向分布,引脚夹持空间可以沿着水平方向延伸(如图2箭头方向)。此时,当二极管的引脚被引脚夹持空间夹持时,二极管的引脚也沿着水平方向延伸。并且,电极定位部221B可以以电极安装孔的形式开设在每个导电块221A1上。为了减少测试测试的电极干扰引脚定位部221A定位二极管的引脚,可以将电极安装孔开设在该定位组件所含有的导电块221A1远离另一定位组件含有的导电块221A1的一侧。
在一种示例中,如图2~图5所示,每个导电块221A1临近另一导电块221A1的表面具有多个与引脚轮廓匹配的凹槽C,每个凹槽C的侧壁具有至少一个开口。此处开口的数量也可以为两个,处在凹槽C的侧壁相对的两个部位。两个导电块221A1具有的相应凹槽C构成相应引脚夹持空间,每个导电块221A1具有的至少两个凹槽C的尺寸参数不同。
如图2~图5所示,当导电定位部定位二极管的引脚时,二极管的引脚以导电块221A1所具有的凹槽C的一端开口为入口,伸入该凹槽C内。此时,每个导电块221A1所具有的凹槽C可以作为引脚夹持空间的一部分,对相应引脚进行限位。同时,由于至少两个凹槽C的径向参数不同,因此,两个导电块221A1所具有的相应凹槽C构成的引脚夹持空间可以夹持不同径向参数的引脚。
示例性的,如图2~图5所示,当引脚定位部221A对二极管的引脚定位后,两个凹槽C围成的引脚夹持空间为通孔形式。当每个凹槽C均为弧形槽,各个弧形槽的径向(弧半径)参数不同。例如:当弧形槽为半圆弧槽,两个导电块221A1所具有的凹槽C围成的引脚夹持空间为圆形通孔形式,使得引脚夹持空间的轮廓形状与引脚轮廓匹配,从而保证引脚夹持空间夹持引脚的情况下,引脚的表面可以充分与引脚夹持空间的内壁接触,从而提高引脚定位部221A与引脚的接触可靠性,保证测试设备可以准确稳定的对二极管进行性能测试。
如图2~图5所示上述距离调节件221A2可以用于调节两个导电块221A1之间的距离,以使得多个引脚夹持空间的夹紧力可调。该距离调节件221A2可基于丝杆螺母调节或者导轨滑块原理调节夹紧力。当距离调节件221A2基于丝杆螺母调节夹紧力的时候,上述距离调节件221A2为螺纹杆。该螺纹杆可以为蝶形螺钉,或者其他螺纹杆。该螺纹杆与每个导电块221A1螺纹连接。此时,每个导电块221A1和螺纹杆均可以构成丝杆螺母机构。当螺纹杆转动时,导电块221A1可以沿着螺纹杆的杆延伸方向移动,进而使得螺纹杆达到调节两个导电块221A1之间距离的目的。
在一种示例中,如图2~图5所示,上述螺纹杆的螺纹方向恒定,如两个导电块221A1均具有螺纹方向相反的螺纹孔。螺纹孔与螺纹杆螺纹配合。当螺纹杆顺时针旋转时,两个导电块221A1之间的距离增加。当螺纹杆逆时针转动时,调整两个导电块221A1之间的距离。基于此,可以根据引脚夹持空间所需要的夹紧力大小,调控螺纹杆的转动方向以及转动角度。
在另一种示例中,如图2~图5所示,上述螺纹杆包括两个螺纹方向相反的螺纹段。两个导电块221A1具有螺纹方向相同的螺纹孔。每个导电块221A1具有的螺纹孔与所述螺纹杆所包括的相应螺纹段配合。此处两个导电块221A1具有的螺纹孔相应的螺纹段不同。基于此,两个导电块221A1具有的螺纹孔与螺纹杆所包括的不同螺纹段配合。当两个导电块221A1具有螺纹方向相同的螺纹孔时,如果螺纹杆转动,螺纹杆所包括的不同螺纹段可以带动两个导电块221A1向不同方向移动,使得两个导电块221A1之间的距离发生变化。基于此,可以根据引脚夹持空间所需要的夹紧力大小,调控螺纹杆的转动方向以及转动角度。
如图2~图5所示,当距离调节件221A2基于导轨滑块原理调节夹紧力,距离调节件221A2包括导轨以及设在所述导轨上的两个滑块,每个导电块221A1设在相应滑块上。此处两个导电块221A1相应的滑块不同。两个导电块221A1设在导轨所具有的滑块上。此时,可以通过控制两个滑块在导轨上的位置,调整两个导电块221A1之间的距离,进而达到调节引脚夹持空间夹紧力的目的。
需要说明的是,如图2~图5所示,引脚定位部221A还包括设在两个导电块221A1上的导向件221A3。该导向件221A3可以为定位销、定位柱等。导向件221A3可以对两个导电块221A1进行导向,使得距离调节件221A2调节两个导电件221A1之间的距离时,约束远离底座210的导电块221A1的移动方向。
在上述实施方式的描述中,具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种二极管测试工装,其特征在于,包括底座以及位于所述底座上的两个定位组件,每个所述定位组件包括位于所述底座上的至少一个导电定位结构,每个所述导电定位结构包括引脚定位部以及设在所述引脚定位部上的电极定位部,所述引脚定位部具有多个夹紧力可调的引脚夹持空间,至少两个所述引脚夹持空间所适配的引脚径向参数不同。
2.根据权利要求1所述的二极管测试工装,其特征在于,所述引脚定位部包括:距离调节件以及设在所述距离调节件上的两个导电块;至少一个所述导电块设置电极定位部,多个所述引脚夹持空间位于两个导电块之间;所述距离调节件用于调节两个所述导电块之间的距离。
3.根据权利要求2所述的二极管测试工装,其特征在于,每个所述导电块临近另一所述导电块的表面具有多个与引脚轮廓匹配的凹槽,每个所述凹槽的侧壁具有相对的两个开口;
两个所述导电块具有的相应凹槽用于构成相应所述引脚夹持空间,每个所述导电块具有的至少两个凹槽的径向参数不同;每个所述凹槽均为弧形槽,各个所述弧形槽的尺寸参数不同。
4.根据权利要求2所述的二极管测试工装,其特征在于,所述距离调节件为螺纹杆,所述螺纹杆与每个所述导电块螺纹连接;其中,
所述螺纹杆的螺纹方向恒定,如两个所述导电块均具有螺纹方向相反的螺纹孔,所述螺纹孔与所述螺纹杆螺纹配合;或,
所述螺纹杆包括两个螺纹方向相反的螺纹段,两个所述导电块具有螺纹方向相同的螺纹孔,每个所述导电块具有的螺纹孔与所述螺纹杆所包括的相应螺纹段配合。
5.根据权利要求2所述的二极管测试工装,其特征在于,所述距离调节件包括导轨以及设在所述导轨上的两个滑块,每个所述导电块设在相应所述滑块上。
6.根据权利要求2所述的二极管测试工装,其特征在于,所述引脚定位部还包括设在两个所述导电块上的导向件;和/或,
所述电极定位部包括开设在每个所述导电块上的电极安装孔。
7.根据权利要求1~6任一项所述的二极管测试工装,其特征在于,上述电极定位部包括开设在引脚定位部上的电极安装孔;和/或,
每个所述定位组件还包括位于所述底座上的绝缘件,所述导电定位结构设在所述绝缘件;和/或,
至少一个所述定位组件还包括连接块,所述连接块位于所述底座与所述导电定位结构之间。
8.根据权利要求1~6任一项所述的二极管测试工装,其特征在于,所述二极管测试工装还包括设在所述底座上的导向组件,所述导向组件的导向方向与两个所述定位组件在底座上的分布方向相同;所述导向组件用于调节两个所述定位组件之间的距离;其中,
至少一个所述定位组件设在所述导向组件上;和/或,
所述导向组件为导轨滑块组件或者丝杆螺母组件。
9.根据权利要求1~6任一项所述的二极管测试工装,其特征在于,所述底座包括框架以及设在所述框架上的梁体,其中一个所述定位组件设在所述梁体上,另一个所述定位组件设在所述框架上。
10.一种二极管测试系统,其特征在于,包括测试设备以及权利要求1~9任一项所述二极管测试工装。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202023201256.9U CN214473737U (zh) | 2020-12-25 | 2020-12-25 | 一种二极管测试工装及系统 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202023201256.9U CN214473737U (zh) | 2020-12-25 | 2020-12-25 | 一种二极管测试工装及系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN214473737U true CN214473737U (zh) | 2021-10-22 |
Family
ID=78194870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202023201256.9U Active CN214473737U (zh) | 2020-12-25 | 2020-12-25 | 一种二极管测试工装及系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN214473737U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN118330417A (zh) * | 2024-05-13 | 2024-07-12 | 深圳优比康科技有限公司 | 一种增强型场效应管温升测试设备 |
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2020
- 2020-12-25 CN CN202023201256.9U patent/CN214473737U/zh active Active
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