CN214177311U - 一种高效率的awg测试系统 - Google Patents

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何褀昌
蓝文超
熊小敏
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Abstract

本实用新型公开了一种高效率的AWG测试系统,包括:可调光源、偏振控制器、三台功率计、光开关机箱、AWG、分支器和电脑,光开关机箱内部装有二十四个1×2光开关,共有二十四个输入端和四十八个输出端;可调光源与偏振控制器连接;偏振控制器与AWG输入端连接;分支器一端有四十八个连接头,另一端是四条十二芯带纤,连接头与光开关机箱内的光开关的输出端连接,带纤与AWG输出端连接;功率计与光开关机箱内的光开关的输入端连接连接;电脑与可调光源、偏振控制器、三台功率计、以及光开关机箱内的光开关电连接,用于对整个测试系统控制。采用上述技术方案,可以实现把两次通道的信号统一处理,便于统一分析数据,提升测试效率。

Description

一种高效率的AWG测试系统
技术领域
本实用新型涉及阵列波导光栅产品光学性能参数测试相关技术领域,特别涉及一种高效率的AWG测试系统。
背景技术
现代通信容量的急剧增加,光纤网络单通道的传输容量已日趋饱和,解决这一问题的密集波分复用(DWDM)技术已成为数据传输的高效手段,同时高效的数据传输要求高性能的光器件,这也对光器件的测试提出了更高的要求。阵列波导光栅(AWG)具有信道串扰小,插入损耗低,长期稳定,便于集成,易于光纤耦合等优点,因此,AWG是DWDM系统中最具有应用前景的波分复用/解复用器,在光通信中起着重要的作用。
现有基于扫描波长法测试阵列波导光栅(AWG)产品光学性能参数的测试系统,该系统可以用于AWG产品生产环节中的半成品和成品测试,并可以同时测试插入损耗,偏振相关损耗,峰值波长,中心波长,带宽和串扰等多种AWG产品光学性能参数。参考说明书附图图1所示,现有该种测试系统使用3台8通道功率计,共24通道,分支器与AWG仅能实现24通道连接,一次最多测试24通道,而常规AWG有48通道,一个48通道AWG产品需分两次测试,系统测试一次24通道需要5分钟左右,1个产品需要10分钟,造成测试效率低,两次测试得出两个测试数据表,不便于统一分析数据。
实用新型内容
为了克服现有的技术缺陷,解决现有现有AWG测试效率低的技术问题,本实用新型的目的在于提供一种高效率的AWG测试系统以解决上述技术问题。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案如下:
根据本实用新型的一个方面,设计出一种高效率的AWG测试系统,包括:可调光源、偏振控制器、三台功率计、光开关机箱、AWG、分支器和电脑,所述光开关机箱内部装有二十四个1×2光开关,共有二十四个输入端和四十八个输出端;
所述可调光源与所述偏振控制器连接;
所述偏振控制器与AWG输入端连接;
所述分支器一端有四十八个连接头,另一端是四条十二芯带纤,所述连接头与所述光开关机箱内的光开关的输出端连接,所述带纤与AWG输出端连接;
所述功率计与光开关机箱内的光开关的输入端连接;
所述电脑与可调光源、偏振控制器、三台功率计、以及光开关机箱内光开关电连接,用于对整个测试系统控制。
采用上述技术方案,通过光开关机箱内的二十四个1×2光开关,可以形成二十四个输入端和四十八个输出端,分别对应与功率计上的通道口连接、分支器连接,可以实现把两次通道的信号统一处理,便于统一分析数据,提升测试效率。
为了更好的解决上述技术缺陷,本实用新型还具有更佳的技术方案:
在一些实施方式中,所述功率计与所述光开关机内的光开关通过二十四条双头跳线连接。
在一些实施方式中,所述功率计与所述光开关机内的光开关通过二十四条双头跳线连接。
在一些实施方式中,所述偏振控制器输出与AWG通过一条单头跳线连接。
附图说明
图1为现有的AWG测试系统的结构示意图;
图2为本实用新型提供的一种实施方式的高效率的AWG测试系统的结构示意图;
图3为高效率的AWG测试系统的光信号传递方向示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚、明确,以下参照附图对本实用新型进一步详细说明。
参考图2、图3所示,本实用新型提供的一种高效率的AWG测试系统,包括:可调光源101、偏振控制器102、功率计103、光开关机箱104、AWG105、分支器106和电脑107。
可调光源101为系统的信号输出光源,波长包含c-band波段。
偏振控制器102用于对光信号的偏振特性分析。
功率计设有3台,每个功率计有八个通道,用于接收光功率。
光开关机箱104内部装有二十四个1×2光开关,共有二十四个输入端和四十八个输出端。
分支器106一端有四十八个连接头,另一端是四条十二芯带纤。
可调光源101的输出端与偏振控制器102输入端通过双头跳线连接。
偏振控制器102输出端与AWG105输入端通过单头跳线连接。
AWG105输入端与分支器106上的四条十二芯带纤连接。
分支器106上的四十八个连接头与光开关机箱104内四十八个输出端连接。
光开关机箱104内有二十四个输入端与三台功率计103上的二十四个通道通过双头跳线连接。
电脑107与可调光源101、偏振控制器102、三台功率计103、以及光开关机箱104内的光开关电连接,用于对整个测试系统控制。
本高效率的AWG测试系统的原理:电脑107控制可调光源101发出光信号,并进入偏振控制器102,通过电脑107调整偏振控制器102内置波片来选择不同的偏振态,不同偏振态的光信号再进入AWG,从AWG输出端输出48个不同的波长,AWG前24个通道的短波长经分支器107进入光开关机箱104内的1~24输出通道,AWG后24通道的长波长经分支器107进入光开关机箱内的25~48输出通道,测试时,电脑107控制光开关机箱104内光开关先切换到输出端的1~24通道,功率计103先接收光开关机箱104内前24通道的信号并反馈给电脑107,再切换到光开关机箱104内的25~48通道,功率计103再接收后24通道的信号并反馈给电脑107,最后电脑107通过其上的程序把两次24通道的信号统一处理分析,得出48通道的测试数据,可以提升测试效率。
以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种高效率的AWG测试系统,其特征在于,包括:可调光源、偏振控制器、三台功率计、光开关机箱、AWG、分支器和电脑,所述光开关机箱内部装有二十四个1×2光开关,共有二十四个输入端和四十八个输出端;
所述可调光源与所述偏振控制器连接;
所述偏振控制器与AWG输入端连接;
所述分支器一端有四十八个连接头,另一端是四条十二芯带纤,所述连接头与所述光开关机箱内的光开关的输出端连接,所述带纤与AWG输出端连接;
所述功率计与光开关机箱内的光开关的输入端连接;
所述电脑与可调光源、偏振控制器、三台功率计、以及光开关机箱内光开关电连接,用于对整个测试系统控制。
2.根据权利要求1所述的一种高效率的AWG测试系统,其特征在于,所述功率计与所述光开关机内的光开关通过二十四条双头跳线连接。
3.根据权利要求1所述的一种高效率的AWG测试系统,其特征在于,所述可调光源机与所述偏振控制器通过一条双头跳线连接。
4.根据权利要求1所述的一种高效率的AWG测试系统,其特征在于,所述偏振控制器输出与AWG通过一条单头跳线连接。
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