CN214173188U - 一种测量晶体厚度和直径的装置 - Google Patents

Abstract

一种测量晶体厚度和直径的装置，属于晶体生长领域。本实用新型包括包括底板、升降支架、支臂、千分表和标尺，底板一侧上表面配合安装有标尺，底板另一侧上表面安装有升降支架，升降支架的升降端安装有支臂，支臂上配合安装有千分表。本实用新型研发目的是为了解决晶体厚度和直径低成本、快速、精准测量的问题，本实用新型可以测量不同种类和尺寸的晶体，用途广泛，更具有实用性，千分表的表头可根据实际的测量使用情况，进行不同形状的更换，结构简单、设计巧妙、拆装方便、组装牢固，适于推广使用。

Description

一种测量晶体厚度和直径的装置

技术领域

本实用新型涉及一种测量晶体厚度和直径的装置，属于晶体生长领域。

背景技术

现有的测量晶体的主要手段是，在晶体加工后通过固定式的高精度测试设备来进行厚度、及测量或者使用巨大卡尺来测量，但随着行业发展和市场需求,客户对非常规尺寸晶体的需求越来越多，由于非常规尺寸晶棒大小、形状不一，固定的高精度测量千分表很难对其厚度进行测量，不停的拆装移动高精度测量千分表又会大大影响测量的稳定性和准确性，并且如果选择运用机器和设备测试的话，花费时间比较长，操作步骤也相对繁琐，增加了成本的同时，工作效率也没有相应提高。

因此，亟需提出一种能够快捷准确测量不同尺寸晶体的测量装置，以解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型研发目的是为了解决晶体厚度和直径低成本、快速、精准测量的问题，在下文中给出了关于本实用新型的简要概述，以便提供关于本实用新型的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本实用新型的穷举性概述。它并不是意图确定本实用新型的关键或重要部分，也不是意图限定本实用新型的范围。

本实用新型的技术方案：

一种测量晶体厚度和直径的装置，包括底板、升降支架、支臂、千分表和标尺，底板一侧上表面配合安装有标尺，底板另一侧上表面安装有升降支架，升降支架的升降端安装有支臂，支臂上配合安装有千分表。

本实用新型为了解决对晶体高度测量的问题，提出本实用新型的技术方案为：

一种测量晶体厚度和直径的装置，包括底板、升降支架、支臂、千分表和标尺，底板一侧上表面配合安装有标尺，底板另一侧上表面安装有升降支架，升降支架的升降端安装有支臂，支臂上配合安装有千分表。

优选的：所述千分表底部配合安装有特氟龙平面表头。

本实用新型为了解决测量不同规格晶体时，装置无需拆卸千分表即可对准测量的问题，其技术方案为：

一种测量晶体厚度和直径的装置，包括底板、升降支架、支臂、千分表和标尺，底板一侧上表面配合安装有标尺，底板另一侧上表面安装有升降支架，升降支架的升降端安装有支臂，支臂上配合安装有千分表。

优选的：所述千分表底部配合安装有特氟龙平面表头。

优选的：所述升降支架包括支架本体、手摇把手、丝杆和滑块，支架本体底部安装在底板上，手摇把手与丝杆顶部连接安装，丝杆通过轴承与支架本体顶部配合安装，滑块一端滑动套装在支架本体上，滑块另一端与丝杆螺纹配合安装，滑块上安装有支臂。

优选的：所述支臂包括支臂本体、横向丝杆、横向滑块、调节固定夹和转盘把手，支臂本体右端安装在滑块上，支臂本体上加工有滑槽，横向丝杆至于滑槽内部，横向丝杆通过轴承与支臂本体配合安装，横向丝杆左端贯穿支臂本体后与转盘把手连接安装，横向滑块滑动安装在滑槽内，并且与横向丝杆螺纹配合安装，千分表通过调节固定夹与横向滑块连接安装。

本实用新型为了解决测量不同规格晶体横向最大直径的问题，其技术方案为：

一种测量晶体厚度和直径的装置，包括底板、升降支架、支臂、千分表和标尺，底板一侧上表面配合安装有标尺，底板另一侧上表面安装有升降支架，升降支架的升降端安装有支臂，支臂上配合安装有千分表。

优选的：所述底板上表面设置有凸起，标尺一端设置有滑动安装槽，滑动安装槽与凸起啮合安装，并通过锁紧螺钉相对锁紧固定。

本实用新型具有以下有益效果：

1.本实用新型的一种测量晶体厚度和直径的装置，测量数据准确，无晶体划伤风险；

2.本实用新型的一种测量晶体厚度和直径的装置，操作简单，使用方便，轻巧便于携带；

3.本实用新型的一种测量晶体厚度和直径的装置，可以测量不同种类和尺寸的晶体，用途广泛，更具有实用性，千分表的表头可根据实际的测量使用情况，进行不同形状的更换；

4.本实用新型的一种测量晶体厚度和直径的装置，彻底改变了现有技术中使用固定高精度测量千分表对固定尺寸的晶体进行测量的局限；

5.本实用新型的一种测量晶体厚度和直径的装置结构简单、设计巧妙、拆装方便、成本低廉，适于推广使用。

附图说明

图1是一种测量晶体厚度和直径的装置的结构示意图；

图2是标尺的使用状态图；

图3是图2的侧视图；

图4是标尺的结构图；

图5是具体实施方式五的使用状态图；

图6是支臂的立体图；

图7是支臂的结构图；

图中0-待测量晶体，1-底板，2-升降支架，3-支臂，4-千分表，5-标尺，6-轴承，11-凸起，21-支架本体，22-手摇把手，23-丝杆，24-滑块，31-支臂本体，32-横向丝杆，33-横向滑块，34-调节固定夹，35-转盘把手，311-滑槽，41-特氟龙平面表头，51-滑动安装槽，52-锁紧螺钉。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

本实用新型所提到的连接分为固定连接和可拆卸连接，所述固定连接即为不可拆卸连接包括但不限于折边连接、铆钉连接、粘结连接和焊接连接等常规固定连接方式，所述可拆卸连接包括但不限于螺纹连接、卡扣连接、销钉连接和铰链连接等常规拆卸方式，未明确限定具体连接方式时，默认为总能在现有连接方式中找到至少一种连接方式能够实现该功能，本领域技术人员可根据需要自行选择。例如：固定连接选择焊接连接，可拆卸连接选择铰链连接。

具体实施方式一：结合图1-图7说明本实施方式，本实施方式的一种测量晶体厚度和直径的装置，包括底板1、升降支架2、支臂3、千分表4和标尺5，底板1一侧上表面配合安装有标尺，底板1另一侧上表面安装有升降支架2，升降支架2的升降端安装有支臂3，支臂3上配合安装有千分表4，使用时，待测量晶体0放置在底板1上，通过调节升降支架2，使千分表4表头与待测量晶体0顶部最高处接触安装，以便获取待测量晶体0的纵向高度，将两个标尺5分别卡装在待测量晶体0的左右两侧，以便获取待测量晶体0的横向宽度。

具体实施方式二：结合图1-图7说明本实施方式，基于具体实施方式一，本实施方式的一种测量晶体厚度和直径的装置，所述千分表4底部配合安装有特氟龙平面表头41，千分表4的表头的形状和大小可根据待批量测量晶体的具体形状进行选择，如平面、竖直、弧形等，本实施方式选择的特氟龙平面表头41，适用范围较为广泛。

具体实施方式三：结合图1-图7说明本实施方式，基于具体实施方式一，本实施方式的一种测量晶体厚度和直径的装置，所述升降支架2包括支架本体21、手摇把手22、丝杆23和滑块24，支架本体21底部安装在底板1上，手摇把手22与丝杆23顶部连接安装，丝杆23通过轴承6与支架本体21顶部配合安装，滑块24一端滑动套装在支架本体21上，滑块24另一端与丝杆23螺纹配合安装，滑块24上安装有支臂3，通过手动旋转手摇把手22，手摇把手22带动丝杆23旋转，丝杆23上的滑块24也随之沿着支架本体21向上或向下运动，以便千分表4与待测晶体0的配合精确测量。

具体实施方式四：结合图1-图7说明本实施方式，本实施方式的一种测量晶体厚度和直径的装置，所述底板1上表面设置有凸起11，标尺5一端设置有滑动安装槽51，滑动安装槽51与凸起11啮合安装，并通过锁紧螺钉52相对锁紧固定，凸起11使两个之间标尺5始终保持平行和相对固定安装，如图2所示，如此设置，使测量结果更加直观的同时，也避免了待测量晶体0在测量过程中发生窜动。

具体实施方式五：结合图1-图7说明本实施方式，本实施方式的一种测量晶体厚度和直径的装置，所述支臂3包括支臂本体31、横向丝杆32、横向滑块33、调节固定夹34和转盘把手35，支臂本体31右端安装在滑块24上，支臂本体31上加工有滑槽311，横向丝杆32至于滑槽311内部，横向丝杆32通过轴承6与支臂本体31配合安装，横向丝杆32左端贯穿支臂本体31后与转盘把手35连接安装，横向滑块33滑动安装在滑槽311内，并且与横向丝杆32螺纹配合安装，千分表4通过调节固定夹34与横向滑块33连接安装，需对千分表4进行水平方向位置的调整时，手动转动转盘把手35，转盘把手35带动横向丝杆32旋转，横向丝杆32上的横向滑块33亦随之在滑槽311内左右滑动，即带动千分表4调整至合适位置。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

在本发明的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

需要说明的是，在以上实施例中，只要不矛盾的技术方案都能够进行排列组合，本领域技术人员能够根据排列组合的数学知识穷尽所有可能，因此本发明不再对排列组合后的技术方案进行一一说明，但应该理解为排列组合后的技术方案已经被本发明所公开。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：包括底板(1)、升降支架(2)、支臂(3)、千分表(4)和标尺(5)，底板(1)一侧上表面配合安装有标尺(5)，底板(1)另一侧上表面安装有升降支架(2)，升降支架(2)的升降端安装有支臂(3)，支臂(3)上配合安装有千分表(4)。

2.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述千分表(4)底部配合安装有特氟龙平面表头(41)。

3.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述升降支架(2)包括支架本体(21)、手摇把手(22)、丝杆(23)和滑块(24)，支架本体(21)底部安装在底板(1)上，手摇把手(22)与丝杆(23)顶部连接安装，丝杆(23)通过轴承(6)与支架本体(21)顶部配合安装，滑块(24)一端滑动套装在支架本体(21)上，滑块(24)另一端与丝杆(23)螺纹配合安装，滑块(24)上安装有支臂(3)。

4.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述底板(1)上表面设置有凸起(11)，标尺(5)一端设置有滑动安装槽(51)，滑动安装槽(51)与凸起(11)啮合安装，并通过锁紧螺钉(52)相对锁紧固定。

5.根据权利要求3所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述支臂(3)包括支臂本体(31)、横向丝杆(32)、横向滑块(33)、调节固定夹(34)和转盘把手(35)，支臂本体(31)右端安装在滑块(24)上，支臂本体(31)上加工有滑槽(311)，横向丝杆(32)至于滑槽(311)内部，横向丝杆(32)通过轴承(6)与支臂本体(31)配合安装，横向丝杆(32)左端贯穿支臂本体(31)后与转盘把手(35)连接安装，横向滑块(33)滑动安装在滑槽(311)内，并且与横向丝杆(32)螺纹配合安装，千分表(4)通过调节固定夹(34)与横向滑块(33)连接安装。

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