CN214150940U - Mini LED多通道并联测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种Mini LED多通道并联测试系统，包括多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置单元、多通道光参数测试单元、Mini LED并联测试控制单元4四个部分，多通道并联SMU源测试量单元包括多个并行的SMU源测试量功能块，Handler应加信号配置单元包括多组信号配置线组，多个并行的SMU源测试量功能块与多组信号配置线组一一对应连接，多通道光参数测试单元3包括多个可并行运作的光测功能块。该Mini LED多通道并联测试系统，结构灵活扩展性强，结合并联测试控制单元实现多通道Mini LED基础电学、光学、电光学等物理参量并行测试的特点，保证被测Mini LED系统、高效、安全的测试分级分类。

Description

Mini LED多通道并联测试系统

技术领域

本实用新型涉及Mini LED测试系统，尤其适用于多通道Mini LED、Micro LED等产品相关基础电学、光学及电光学相关物料量的检测及相关产品的分级分类的测试系统。

背景技术

随着近年来三代半导体在材料及工艺技术等领域的发展，尤其是近年来LED在内饰氛围车灯、家居照明、景观装饰、户外及室内广告宣传领域普及化越来越高。因受单体LED电性能、光性能、画质分辨率等局限，近年来N合一Mini LED材料的研发及制造成为行业发展的一个新风向。一款高性能符合市场应用的Mini LED多通道并联测试机构的研发显得极为迫切。

通常一颗Mini LED是由多组RGB材料封装而成，以其高度集成化来实现高分辨率的画质呈现。基于实际工程应用的需要，近年来诸多LED制造厂商在关注发光效率提高、正向电压电流控制、LED材料雪崩击穿特性测试、材料热阻及材料PIN脚间爬电等电光学特性的高速、高效率测定。同时LED制造商期望材料在各阶段都能实现基础电、光项目高效准确测定，特别是高密度封装的Mini LED材料PIN脚间爬电测定，以保证实际工程应用的需求。同时在LED研究及研发阶段LED材料相关电学特性均能反映能带结构、掺杂浓度、材料厚度、杂质扩散等诸多重要信息，为LED材料、工艺提供有效把关和有力佐证。而市场上主流3通道以上并联测试机构受电性、控制方式的局限导致测试稳定性差、材料特性误判严重。

因此，有必要研发出一种能实现N通道Mini LED并联测试机构实现电学、光学、电光学等物理参量并行测试是现有技术中需要解决的技术问题。

发明内容

本实用新型克服了现有技术的不足，本实用新型提供一种Mini LED多通道并联测试机构，其结构灵活扩展性强，实现N通道Mini LED基础电学、光学、电光学等物理参量并行测试的特点，保证被测Mini LED系统、高效、安全的测试分级分类。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种Mini LED多通道并联测试系统，其包括,多通道并联SMU源测试量单元，所述多通道并联SMU源测试量单元包括多个并行的SMU源测试量功能块，所述SMU源测试量功能块用于进行同步或异步并行电应加；Handler应加信号配置单元，所述Handler应加信号配置单元包括多组信号配置线组，所述多个并行的SMU源测试量功能块与所述多组信号配置线组一一对应连接，所述Handler应加信号配置单元用于实现测试通道配置；多通道光参数测试单元，所述多通道光参数测试单元包括多个可并行运作的光测功能块；Mini LED并联测试控制单元，所述Mini LED并联测试控制单元与所述多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置功能模块、多通道光参数测试单元连接，所述Mini LED并联测试控制单元用于对所述多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置单元、多通道光参数测试单元进行多通道并联同步、异步应加测试，并根据测试相关结果对材料进行有效的分级分类。

优选的，所述多通道并联SMU源测试量单元包括两个站别的SMU测试单元，每个站别包括6个独立SMU源测量单元。

优选的，所述多通道光参数测试单元包括两个法线位光谱仪，所述光谱仪用于在Mini LED多通道并行控制单元的调度下实现多法线位、多通道光电多参量的并联同步、异步测试。

优选的，所述Handler应加信号配置单元包括多达6组信号配置线组。

优选的，所述信号配置线组包括SIG-Force信号线、SIG-Sense线、SIG-Guard信号线及开关阵列。

优选的，所述Mini LED并联测试控制单元为FPGA控制器。

本实用新型解决了背景技术中存在的缺陷，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型的Mini LED多通道并联测试系统，其结构灵活扩展性强，结合并联测试控制单元实现N通道Mini LED基础电学、光学、电光学等物理参量并行测试的特点，保证被测Mini LED系统、高效、安全的测试分级分类。

2、因相关多通道并联SMU源测试量单元、多通道光参数测试单元、Handler应加信号配置单元采用独立可配置的硬件资源结构可以有效根据Mini LED材料的Chip结构及特定测试条件下的实际需求进行相关硬件资源的调度实现快速、高效的Mini LED材料多通道并联测试。

3、通道对多通道并联SMU源测试量单元相关硬件结构的优化进行N合一Mini LED特性测试时，硬件上通过档级阻尼调节技术有效实现加电环的高响应高随动性，在LAYOUT方面通过使用与负载同梯级GUARD技术实现小信号精确应加。通过Over-shooot防护功能，负载端出现不同状态响应在无防护状态下极易造成LED材料两端出现过压情况的发生，导致材料特性变化或烧毁。通过全时域端负载保护技术与应加方向控制技术可有效避免相关情况发生。

附图说明

图1本实用新型实施例Mini LED多通道并联测试系统的结构示意图。

具体实施方式

现在结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1所示，一种Mini LED多通道并联测试系统，该Mini LED多通道并联测试系统包括多通道并联SMU源测试量单元1、Handler应加信号配置单元2、多通道光参数测试单元3、Mini LED并联测试控制单元4四个部分，多通道并联SMU源测试量单元1包括多个并行的SMU源测试量功能块，Handler应加信号配置单元2包括多组信号配置线组，多个并行的SMU源测试量功能块与多组信号配置线组一一对应连接，多通道光参数测试单元3包括多个可并行运作的光测功能块。多通道并联SMU源测试量单元1、Handler应加信号配置单元2、多通道光参数测试单元3与Mini LED并联测试控制单元4通信连接。SMU源测试量功能块1用于进行同步或异步并行电应加，Handler应加信号配置单2用于实现测试通道配置，Mini LED并联测试控制单元用于对所述多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置单元、多通道光参数测试单元进行多通道并联同步、异步应加测试，并根据测试相关结果对材料进行有效的分级分类。

作为本专利的一个具体实施例，多通道并联SMU源测试量单元1基础配置两个站别ST1、ST2，其中ST1包括Test_Board1~3（SMU1~SMU6）合计6个独立SMU源测量单元，ST2包括Test_Board4~6（SMU7~SMU12）合计6个独立SMU源测量单元，总共合计12个可并行SMU源测试量功能块，SMU源测试量功能块可以进行任意多通道的硬件资源进行同步或异步并行电应加及测试。Mini LED多通道并联测试机构通过其主控Mini LED并联测试控制单元对设定测试项目的解析，在特定测试项目下选定多通道并行SMU源测试量单元1中ST1、ST2两个站别的SMU测试单元，其任意6通道以上硬件资源进行同步、异步并行电应加及测试。

Handler应加信号配置单元2包括多达6组SIG-Force、SIG-Sense、SIG-Guard信号配置线组及开关阵列在Mini LED多通道并行控制单元的调度下实现测试通道配置、ON/OFF模式下的快速应加、测试探针与材料接触焊盘导通阻抗、测试电信号分配、测试通道配置选择及在Mini LED材料进行快速应加及快速检测。多参量的并联同步、异步测试测量与相关Mini LED材料的分级分类。

多通道光参数测试单元3包括两个法线位光谱仪，在Mini LED多通道并行控制单元4的调度下实现多法线位、多通道光电结合。以上资源均由Mini LED并联测试控制单元4根据测试需求进行有效划拨分配。

本实用新型一个较佳实施例中，所述多通道并联SMU源测试量单元1根据测试需要进行本项目产品实现N合一Mini LED进料方向属性判断，通过多通道测试结构独有IFMV、VFMI及光特性相结合的方式实现材料进料方向在不对材料高度应加情况下的快速判别。多SMU同步应加，通过测试仪同步及异步控制单元控制实现针对产品特性的差异化应加。通过对实际应加有效控制实现对测试材料Mini LED测试及保护。

本实用新型一个较佳实施例中，Handler应加信号配置单元2包括多组信号配置线组，每组信号配置线组包括SIG-Force信号线、SIG-Sense信号线、SIG-Guard线及开关阵列，在Mini LED多通道并行控制单元4的调度下实现测试通道配置、ON/OFF模式下的快速应加、测试探针与材料接触焊盘导通阻抗、测试电信号分配、测试通道配置选择及在Mini LED材料进行快速应加及快速检测。

本实用新型一个较佳实施例中，Mini LED并联测试控制单元4采用FPGA控制器，Mini LED并联测试控制单元4通过对测试需求解析，调度N通道并联SMU源测试量单元、N通道光参数测试单元、Handler应加信号配置单元相关资源进行多通道硬件资源进行调度实现最大12Chip的应加及测试。

本实用新型提供一种Mini LED多通道并联测试系统，结构灵活扩展性强，结合并联测试控制单元实现多通道Mini LED基础电学、光学、电光学等物理参量并行测试的特点，保证被测Mini LED系统、高效、安全的测试分级分类。

Claims (6)

1.一种Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：其包括

多通道并联SMU源测试量单元，所述多通道并联SMU源测试量单元包括多个并行的SMU源测试量功能块，所述SMU源测试量功能块用于进行同步或异步并行电应加测试；

Handler应加信号配置单元，所述Handler应加信号配置单元包括多组信号配置线组，所述多个并行的SMU源测试量功能块与所述多组信号配置线组一一对应连接，所述Handler应加信号配置单元用于实现测试通道配置；

多通道光参数测试单元，所述多通道光参数测试单元包括多个可并行运作的光测功能块；

Mini LED并联测试控制单元，所述Mini LED并联测试控制单元与所述多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置功能模块、多通道光参数测试单元连接，所述MiniLED并联测试控制单元用于对所述多通道并联SMU源测试量单元、Handler应加信号配置单元、多通道光参数测试单元进行多通道并联同步、异步应加测试，并根据测试相关结果对材料进行有效的分级分类。

2.根据权利要求1所述的Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：所述多通道并联SMU源测试量单元包括两个站别（ST1、ST2）的SMU测试单元，每个站别包括6个独立SMU源测量单元。

3.根据权利要求1所述的Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：所述多通道光参数测试单元包括两个法线位光谱仪，所述光谱仪用于在Mini LED多通道并行控制单元的调度下实现多法线位、多通道光电多参量的并联同步、异步测试。

4.根据权利要求1所述的Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：所述Handler应加信号配置单元包括多达6组信号配置线组。

5.根据权利要求4所述的Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：所述信号配置线组包括SIG-Force信号线、SIG-Sense线、SIG-Guard信号线及开关阵列。

6.根据权利要求1所述的Mini LED多通道并联测试系统，其特征在于：所述Mini LED并联测试控制单元为FPGA控制器。

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