CN214041489U - 一种便于更换的半导体测试探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板和固定座，所述安装板底部固定安装有固定座，所述固定座下表面固定镶嵌有DC母插，所述DC母插内腔活动插接有DC公插，所述DC公插底部活动连接有探针，所述探针底部活动插接有伸缩探针，所述探针顶部固定连接有二号支撑弹簧。本实用新型探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接，且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针的安装更加的便捷，伸缩探针可进行伸缩，从而避免在测试的过程中，对探针施加的压力过大造成检测点的损坏，使用更加的安全。
Description
技术领域
本实用新型涉及机械设备技术领域，具体为一种便于更换的半导体测试探针。
背景技术
测试探针，K-50-QG无线路由器测试，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件，测试探针的种类有PCB探针、ICT功能测试探针(汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)、BGA 测试探针等。根据产地不同又分为美国QA探针、美国ECT探针、美国IDI探针等，德国INGUN探针，德国PTR探针等，韩国LEENON探针等。
但是，现有的半导体测试探针存在以下缺点：
现有的半导体测试探针在使用的过程中不便对探针快速的安装和拆卸，同时安装稳定较差，且在探针的压力过大时，容易对测试点造成损伤。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供便于更换的半导体测试探针，以解决上述背景技术中，现有的半导体测试探针在使用的过程中不便对探针快速的安装和拆卸，同时安装稳定较差，且在探针的压力过大时，容易对测试点造成损伤的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板和固定座，所述安装板底部固定安装有固定座，所述固定座下表面固定镶嵌有DC母插，所述DC母插内腔活动插接有DC公插，所述DC公插底部活动连接有探针，所述探针底部活动插接有伸缩探针，所述探针顶部固定连接有二号支撑弹簧，且二号支撑弹簧位于探针内腔，固定座可通过安装板进行快速的安装固定，探针顶部通过螺纹头与DC公插底部表面的内螺纹槽进行连接，可使对探针的安装更加的便捷，探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接，且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针的安装更加的便捷，同时通过一号支撑弹簧对限位球进行支撑，DC公插与DC母插插接后，可通过限位球和限位槽咬合在一起，从而提升对探针安装的稳定性，且探针内腔活动连接有伸缩探针，在进行测试时，下压探针，可使伸缩探针缩进探针内腔，撤去压力后，伸缩探针可在二号支撑弹簧的支撑作用下自动复位，从而避免在测试的过程中，对探针施加的压力过大造成检测点的损坏，使用更加的安全。
优选的，所述DC母插内壁两侧均开设有凹槽，所述凹槽内腔均固定安装有一号支撑弹簧，所述一号支撑弹簧另一端均固定连接有限位球，DC公插与 DC母插插接后，可通过限位球和限位槽咬合在一起，从而提升对探针安装的稳定性。
优选的，所述DC公插两侧壁均固定开设有限位槽，且限位槽和限位球相互配合，DC公插与DC母插插接后，可通过限位球和限位槽咬合在一起，从而提升对探针安装的稳定性。
优选的，所述探针顶部一体成型有螺纹头，探针顶部通过螺纹头可与DC 公插进行连接。
优选的，所述DC公插下表面固定开设有内螺纹槽，且内螺纹槽和螺纹头螺纹相连，探针顶部通过螺纹头可与DC公插进行连接。
优选的，所述伸缩探针底部一体成型有触针，且触针为锥形结构，可方便触针对测点进行测试。
本实用新型提供了便于更换的半导体测试探针，具备以下有益效果：
(1)、本实用新型固定座可通过安装板进行快速的安装固定，探针顶部通过螺纹头与DC公插底部表面的内螺纹槽进行连接，可使对探针的安装更加的便捷，探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接，且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针的安装更加的便捷，同时通过一号支撑弹簧对限位球进行支撑，DC公插与DC母插插接后，可通过限位球和限位槽咬合在一起，从而提升对探针安装的稳定性。
(2)、本实用新型在进行测试时，下压探针，可使伸缩探针缩进探针内腔，撤去压力后，伸缩探针可在二号支撑弹簧的支撑作用下自动复位，从而避免在测试的过程中，对探针施加的压力过大造成检测点的损坏，使用更加的安全。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的固定座结构示意图；
图3为本实用新型的探针和伸缩探针剖面结构示意图。
图中：1、安装板；101、固定座；2、DC母插；201、凹槽；202、一号支撑弹簧；203、限位球；204、DC公插；205、限位槽；3、探针；301、螺纹头； 302、内螺纹槽；4、伸缩探针；401、触针；402、二号支撑弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1-3所示，本实用新型提供技术方案：一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板1和固定座101，所述安装板1底部固定安装有固定座101，所述固定座101下表面固定镶嵌有DC母插2，所述DC母插2内腔活动插接有 DC公插204，所述DC公插204底部活动连接有探针3，所述探针3底部活动插接有伸缩探针4，所述探针3顶部固定连接有二号支撑弹簧402，且二号支撑弹簧402位于探针3内腔，固定座101可通过安装板1进行快速的安装固定，探针3顶部通过螺纹头301与DC公插204底部表面的内螺纹槽302进行连接，可使对探针3的安装更加的便捷，探针3顶部通过DC公插204与DC 母插2插接连接，且DC公插204与DC母插2可使探针3在使用时进行360 转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针3的安装更加的便捷，同时通过一号支撑弹簧202对限位球203进行支撑，DC公插204与DC母插2 插接后，可通过限位球203和限位槽205咬合在一起，从而提升对探针3安装的稳定性，且探针3内腔活动连接有伸缩探针4，在进行测试时，下压探针 3，可使伸缩探针4缩进探针3内腔，撤去压力后，伸缩探针4可在二号支撑弹簧402的支撑作用下自动复位，从而避免在测试的过程中，对探针3施加的压力过大造成检测点的损坏，使用更加的安全。
优选的，所述DC母插2内壁两侧均开设有凹槽201，所述凹槽201内腔均固定安装有一号支撑弹簧202，所述一号支撑弹簧202另一端均固定连接有限位球203，DC公插204与DC母插2插接后，可通过限位球203和限位槽205 咬合在一起，从而提升对探针3安装的稳定性。
优选的，所述DC公插204两侧壁均固定开设有限位槽205，且限位槽205 和限位球203相互配合，DC公插204与DC母插2插接后，可通过限位球203 和限位槽205咬合在一起，从而提升对探针3安装的稳定性。
优选的，所述探针3顶部一体成型有螺纹头301，探针3顶部通过螺纹头 301可与DC公插204进行连接。
优选的，所述DC公插204下表面固定开设有内螺纹槽302，且内螺纹槽 302和螺纹头301螺纹相连，探针3顶部通过螺纹头301可与DC公插204进行连接。
优选的，所述伸缩探针4底部一体成型有触针401，且触针401为锥形结构，可方便触针401对测点进行测试。
需要说明的是，一种便于更换的半导体测试探针，在工作时，固定座101 可通过安装板1进行快速的安装固定，探针3顶部通过螺纹头301与DC公插 204底部表面的内螺纹槽302进行连接，可使对探针3的安装更加的便捷，探针3顶部通过DC公插204与DC母插2插接连接，且DC公插204与DC母插2 可使探针3在使用时进行360转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针3的安装更加的便捷，同时通过一号支撑弹簧202对限位球203进行支撑，DC公插204与DC母插2插接后，可通过限位球203和限位槽205咬合在一起，从而提升对探针3安装的稳定性，且探针3内腔活动连接有伸缩探针4，在进行测试时，下压探针3，可使伸缩探针4缩进探针3内腔，撤去压力后，伸缩探针4可在二号支撑弹簧402的支撑作用下自动复位，从而避免在测试的过程中，对探针3施加的压力过大造成检测点的损坏，使用更加的安全。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板(1)和固定座(101)，所述安装板(1)底部固定安装有固定座(101)，其特征在于：所述固定座(101)下表面固定镶嵌有DC母插(2)，所述DC母插(2)内腔活动插接有DC公插(204)，所述DC公插(204)底部活动连接有探针(3)，所述探针(3)底部活动插接有伸缩探针(4)，所述探针(3)顶部固定连接有二号支撑弹簧(402)，且二号支撑弹簧(402)位于探针(3)内腔。
2.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC母插(2)内壁两侧均开设有凹槽(201)，所述凹槽(201)内腔均固定安装有一号支撑弹簧(202)，所述一号支撑弹簧(202)另一端均固定连接有限位球(203)。
3.根据权利要求2所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC公插(204)两侧壁均固定开设有限位槽(205)，且限位槽(205)和限位球(203)相互配合。
4.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述探针(3)顶部一体成型有螺纹头(301)。
5.根据权利要求4所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC公插(204)下表面固定开设有内螺纹槽(302)，且内螺纹槽(302)和螺纹头(301)螺纹相连。
6.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述伸缩探针(4)底部一体成型有触针(401)，且触针(401)为锥形结构。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202022117359.0U CN214041489U (zh) | 2020-09-24 | 2020-09-24 | 一种便于更换的半导体测试探针 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202022117359.0U CN214041489U (zh) | 2020-09-24 | 2020-09-24 | 一种便于更换的半导体测试探针 |
Publications (1)
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|---|---|
| CN214041489U true CN214041489U (zh) | 2021-08-24 |
Family
ID=77350370
Family Applications (1)
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| CN202022117359.0U Active CN214041489U (zh) | 2020-09-24 | 2020-09-24 | 一种便于更换的半导体测试探针 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214041489U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023103199A1 (zh) * | 2021-12-07 | 2023-06-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种电接触探针装置 |
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2020
- 2020-09-24 CN CN202022117359.0U patent/CN214041489U/zh active Active
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023103199A1 (zh) * | 2021-12-07 | 2023-06-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种电接触探针装置 |
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