CN214041171U - 一种石英晶片检测台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种石英晶片检测台，包括工作台和检测台，所述工作台的内表面开设有滑道，所述滑道的内表面活动连接有第一滑块，所述第一滑块的一侧固定连接有底片，所述底片的上表面开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内表面开设有第二卡槽，所述第一卡槽内表面中部固定连接有横杆，所述第一卡槽的前表面固定连接有第二连接杆，所述第二连接杆的一端固定连接有拨块；通过设计的螺纹杆、连接块、第一连接杆、照明灯和底片，解决了石英晶片检测台在使用过程中，通过显微镜的设备对石英晶片进行检测，为了避免检测中设备的操作太过繁琐，影响设备的正常使用，降低设备工作效率的问题。
Description
技术领域
本实用新型属于石英晶体技术领域，具体涉及一种石英晶片检测台。
背景技术
低温石英常呈带尖顶的六方柱状晶体产出，柱面有横纹，类似于六方双锥状的尖顶实际上是由两个菱面体单形所形成的，石英集合体通常呈粒状、块状或晶簇、晶腺等，纯净的石英无色透明，玻璃光泽，贝壳状断口上具油脂光泽，无解理，受压或受热能产生电效应。
现有的石英晶片检测台在使用过程中，通过显微镜的设备对石英晶片进行检测，为了避免检测中设备的操作太过繁琐，影响设备的正常使用，降低设备工作效率的问题，为此我们提出一种石英晶片检测台。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种石英晶片检测台，以解决上述背景技术中提出的石英晶片检测台在使用过程中，通过显微镜的设备对石英晶片进行检测，为了避免检测中设备的操作太过繁琐，影响设备的正常使用，降低设备工作效率。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种石英晶片检测台，包括工作台和检测台，所述工作台的内表面开设有滑道，所述滑道的内表面活动连接有第一滑块，所述第一滑块的一侧固定连接有底片，所述底片的上表面开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内表面开设有第二卡槽，所述第一卡槽内表面中部固定连接有横杆，所述第一卡槽的前表面固定连接有第二连接杆，所述第二连接杆的一端固定连接有拨块。
优选的，所述检测台的下表面固定连接有第二连接块，所述第二连接块的一端固定连接有第二滑块，所述工作台的上表面开设有滑槽，所述工作台的内表面活动连接有限位杆，所述限位杆的内表面活动连接有卡块。
优选的，所述检测台的一侧活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹套接有第一连接块。
优选的，所述工作台的一侧设置有第一连接杆，所述第一连接杆的一端固定连接有照明灯。
优选的，所述第一连接块的内表面设置有内螺纹，所述第一连接块和检测台通过螺纹杆活动连接。
优选的，所述检测台和第二滑块通过第二连接块固定连接，所述第二连接块和滑槽通过第二滑块活动连接。
优选的，所述底片和拨块通过第二连接杆固定连接，所述底片和滑道通过第一滑块活动连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过设计的螺纹杆、连接块、第一连接杆、照明灯和底片，解决了石英晶片检测台在使用过程中，通过显微镜的设备对石英晶片进行检测，为了避免检测中设备的操作太过繁琐，影响设备的正常使用，降低设备工作效率的问题。
2、通过设计的连接块、第二滑块、限位杆、卡块和滑槽，解决了石英晶片检测台在使用前，需要将检测台固定在工作台的上表面，为了避免使用时对检测台的固定过于繁琐，影响设备的工作效率的问题，将检测台放置在工作台上表面后，通过限位杆和卡块之间的相互作用，用限位杆将检测台进行固定，便于设备的使用。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的底片俯视结构示意图；
图3为本实用新型的检测台结构示意图；
图4为本实用新型限位杆俯视的结构示意图。
图中：1、工作台；2、检测台；3、螺纹杆；4、连接块；5、第一连接杆； 6、照明灯；7、底片；8、第一卡槽；9、横杆；10、第二卡槽；11、第二连接杆；12、拨块；13、第一滑块；14、滑道；15、连接块；16、第二滑块；17、限位杆；18、卡块；19、滑槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种石英晶片检测台，包括工作台1和检测台2，工作台1的内表面开设有滑道14，滑道14的内表面活动连接有第一滑块13，第一滑块13的一侧固定连接有底片7，底片7的上表面开设有第一卡槽8，第一卡槽8的内表面开设有第二卡槽10，第一卡槽8内表面中部固定连接有横杆9，第一卡槽8的前表面固定连接有第二连接杆11，第二连接杆11的一端固定连接有拨块12。
本实施方案中，设备使用过程中，移动拨块12通过第二连接杆11带动底片7移动，此时底片7带动第一滑块13在滑道14的内表面滑动，然后向底片7 的上表面放置需要检测的石英晶片，根据石英晶片的直径，选择第一卡槽8或者第二卡槽10或者横杆9将第一卡槽8隔出的卡槽，然后一动拨块12将底片7 移动到原来位置，然后通过设备对石英晶片进行检测，便于石英晶片的放置固定。
具体的，检测台2的下表面固定连接有第二连接块15，第二连接块15的一端固定连接有第二滑块16，工作台1的上表面开设有滑槽19，工作台1的内表面活动连接有限位杆17，限位杆17的内表面活动连接有卡块18。
本实施方案中，设备使用前，需要将检测台2放置到工作台1的上表面，将检测台2下表面的第二连接块15和第二滑块16卡进滑槽19的内部，然后移动检测台2带动第二连接块15和第二滑块16在滑槽19得到内表面滑动至另一端，再移动卡块18移动至检测台2的一侧，拧动卡块18,通过卡块18和限位杆 17之间的相互作用，将检测台2进行固定。
具体的，检测台2的一侧活动连接有螺纹杆3，螺纹杆3的外表面螺纹套接有第一连接块4。
本实施方案中，拧动螺纹杆3，通过其外表面的螺纹和第一连接块4内表面内螺纹的相互作用，控制第一连接块4和其上方显微镜的移动，便于对石英晶片的检测。
具体的，工作台1的一侧设置有第一连接杆5，第一连接杆5的一端固定连接有照明灯6。
本实施方案中，通过弯曲第一连接杆5控制照明灯6的位置，为设备工作提供一个稳定的照明光源，便于提高设备的工作效率。
具体的，第一连接块4的内表面设置有内螺纹，第一连接块4和检测台2 通过螺纹杆3活动连接。
本实施方案中，通过第一连接块4内表面的内螺纹和螺纹杆3之间的相互作用，调整显微镜的位置，方便对石英晶片进行检测。
具体的，检测台2和第二滑块16通过第二连接块15固定连接，第二连接块15和滑槽19通过第二滑块16活动连接。
本实施方案中，检测台2通过第二连接块15和第二滑块16，与工作台1之间进行连接，便于设备使用前的准备。
具体的，底片7和拨块12通过第二连接杆11固定连接，底片7和滑道14 通过第一滑块13活动连接。
本实施方案中，移动拨块12通过第二连接杆11带动底片7移动，底片7 带动第一滑块13在滑道14的内表面滑动，便于控制底片7的移动，来方便设备的正常工作。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种石英晶片检测台，包括工作台(1)和检测台(2)，其特征在于：所述工作台(1)的内表面开设有滑道(14)，所述滑道(14)的内表面活动连接有第一滑块(13)，所述第一滑块(13)的一侧固定连接有底片(7)，所述底片(7)的上表面开设有第一卡槽(8)，所述第一卡槽(8)的内表面开设有第二卡槽(10)，所述第一卡槽(8)内表面中部固定连接有横杆(9)，所述第一卡槽(8)的前表面固定连接有第二连接杆(11)，所述第二连接杆(11)的一端固定连接有拨块(12)。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述检测台(2)的下表面固定连接有第二连接块(15)，所述第二连接块(15)的一端固定连接有第二滑块(16)，所述工作台(1)的上表面开设有滑槽(19)，所述工作台(1)的内表面活动连接有限位杆(17)，所述限位杆(17)的内表面活动连接有卡块(18)。
3.根据权利要求1所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述检测台(2)的一侧活动连接有螺纹杆(3)，所述螺纹杆(3)的外表面螺纹套接有第一连接块(4)。
4.根据权利要求1所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述工作台(1)的一侧设置有第一连接杆(5)，所述第一连接杆(5)的一端固定连接有照明灯(6)。
5.根据权利要求3所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述第一连接块(4)的内表面设置有内螺纹，所述第一连接块(4)和检测台(2)通过螺纹杆(3)活动连接。
6.根据权利要求2所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述检测台(2)和第二滑块(16)通过第二连接块(15)固定连接，所述第二连接块(15) 和滑槽(19)通过第二滑块(16)活动连接。
7.根据权利要求1所述的一种石英晶片检测台，其特征在于：所述底片(7)和拨块(12)通过第二连接杆(11)固定连接，所述底片(7)和滑道(14)通过第一滑块(13)活动连接。
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