CN214011317U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括框架，所述框架正面与背面的底部均固定连接有挡板，所述框架的内部滑动连接有测试装置本体，所述测试装置本体的顶部通过轴承活动连接有螺杆，所述螺杆的顶端贯穿框架并延伸至框架的顶部，所述螺杆的顶端固定连接有转轮。本实用新型通过框架与挡板对测试装置本体进行防护，能够避免外部灰尘与测试装置本体接触，通过转轮带动螺杆旋转并通过表面的螺纹向上移动，螺杆在移动过程中对测试装置本体进行牵引，能够便于使用者对测试装置本体进行启闭，解决了现有的测试装置防护效果较差，不具备在日常收纳过程中对灰尘进行阻挡的效果，粘黏在检测端的灰尘容易对集成电路测试造成影响的问题。

Description

一种集成电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体为一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。

集成电路在生产完毕后需要通过测试装置对其运行情况进行检测，但是现有的测试装置防护效果较差，不具备在日常收纳过程中对灰尘进行阻挡的效果，粘黏在检测端的灰尘容易对集成电路的测试造成影响。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试装置，具备提高防护效果的优点，解决了现有的测试装置防护效果较差，不具备在日常收纳过程中对灰尘进行阻挡的效果，粘黏在检测端的灰尘容易对集成电路的测试造成影响的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括框架，所述框架正面与背面的底部均固定连接有挡板，所述框架的内部滑动连接有测试装置本体，所述测试装置本体的顶部通过轴承活动连接有螺杆，所述螺杆的顶端贯穿框架并延伸至框架的顶部，所述螺杆的顶端固定连接有转轮，所述螺杆与框架螺纹连接。

作为本实用新型优选的，所述框架的左侧与右侧均开设有滑槽，所述测试装置本体的左侧与右侧均固定连接有位于滑槽内部的滑块，所述滑块与滑槽滑动连接。

作为本实用新型优选的，所述框架的顶部固定连接有套设在螺杆表面的套管，所述套管与螺杆螺纹连接。

作为本实用新型优选的，所述框架的顶部固定连接有支撑框，所述螺杆表面的顶部与底部均固定连接有位于支撑框两侧的延伸环，所述延伸环的内侧与支撑框的表面接触。

作为本实用新型优选的，所述测试装置本体的底部固定连接有位于框架内部的连接框，所述连接框的内部固定连接有散热扇，所述框架内壁的顶部固定连接有按压器，所述按压器与散热扇电性连接。

作为本实用新型优选的，所述述连接框的底部通过磁铁吸附有滤网，所述滤网的孔径小于一毫米。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过框架与挡板对测试装置本体进行防护，能够避免外部灰尘与测试装置本体接触，通过转轮带动螺杆旋转并通过表面的螺纹向上移动，螺杆在移动过程中对测试装置本体进行牵引，能够便于使用者对测试装置本体进行启闭，解决了现有的测试装置防护效果较差，不具备在日常收纳过程中对灰尘进行阻挡的效果，粘黏在检测端的灰尘容易对集成电路的测试造成影响的问题。

2、本实用新型通过设置滑块与滑槽，能够对测试装置本体进行导向，可以提高测试装置本体的稳定性，避免测试装置本体出现倾斜。

3、本实用新型通过设置套管，能够提高螺杆与框架的接触面积，增加螺纹啮合距离。

4、本实用新型通过设置支撑框与延伸环，能够对螺杆与测试装置本体的连接处进行支撑，避免测试装置本体与螺杆的连接处因承重过高出现松动。

5、本实用新型通过设置连接框、散热扇与按压器，能够提高测试装置本体的散热效果，增加测试装置本体的运行稳定性，同时可以将散热扇的启闭与测试装置本体是否运行进行联动，节省使用者额外启动散热扇的操作步骤。

6、本实用新型通过设置滤网，能够对外部灰尘进行过滤，避免灰尘粘黏在散热扇的表面。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型主视结构剖面示意图；

图3为本实用新型局部结构俯视剖面示意图；

图4为本实用新型图1中A处放大结构示意图。

图中：1、框架；2、挡板；3、测试装置本体；4、螺杆；5、转轮；6、滑槽；7、滑块；8、套管；9、支撑框；10、延伸环；11、连接框；12、散热扇；13、按压器；14、滤网。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1至图4所示，本实用新型提供的一种集成电路测试装置，包括框架1，框架1正面与背面的底部均固定连接有挡板2，框架1的内部滑动连接有测试装置本体3，测试装置本体3的顶部通过轴承活动连接有螺杆4，螺杆4的顶端贯穿框架1并延伸至框架1的顶部，螺杆4的顶端固定连接有转轮5，螺杆4与框架1螺纹连接。

参考图2，框架1的左侧与右侧均开设有滑槽6，测试装置本体3的左侧与右侧均固定连接有位于滑槽6内部的滑块7，滑块7与滑槽6滑动连接。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置滑块7与滑槽6，能够对测试装置本体3进行导向，可以提高测试装置本体3的稳定性，避免测试装置本体3出现倾斜。

参考图4，框架1的顶部固定连接有套设在螺杆4表面的套管8，套管8与螺杆4螺纹连接。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置套管8，能够提高螺杆4与框架1的接触面积，增加螺纹啮合距离。

参考图4，框架1的顶部固定连接有支撑框9，螺杆4表面的顶部与底部均固定连接有位于支撑框9两侧的延伸环10，延伸环10的内侧与支撑框9的表面接触。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置支撑框9与延伸环10，能够对螺杆4与测试装置本体3的连接处进行支撑，避免测试装置本体3与螺杆4的连接处因承重过高出现松动。

参考图2，测试装置本体3的底部固定连接有位于框架1内部的连接框11，连接框11的内部固定连接有散热扇12，框架1内壁的顶部固定连接有按压器13，按压器13与散热扇12电性连接。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置连接框11、散热扇12与按压器13，能够提高测试装置本体3的散热效果，增加测试装置本体3的运行稳定性，同时可以将散热扇12的启闭与测试装置本体3是否运行进行联动，节省使用者额外启动散热扇12的操作步骤。

参考图2，连接框11的底部通过磁铁吸附有滤网14，滤网14的孔径小于一毫米。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置滤网14，能够对外部灰尘进行过滤，避免灰尘粘黏在散热扇12的表面。

本实用新型的工作原理及使用流程：使用时，使用者通过框架1与挡板2对测试装置本体3进行防护，避免外部灰尘与测试装置本体3接触，当需要对测试装置本体3进行使用时，首先转动转轮5，转轮5带动螺杆4旋转并通过表面的螺纹向上移动，螺杆4在移动过程中对测试装置本体3进行牵引，使测试装置本体3上升，当测试装置本体3与挡板2脱离接触时，完成对测试装置本体3的伸展，同时按压器13遭受挤压并控制散热扇12运动，散热扇12对使用过程中的测试装置本体3进行持续散热，从而达到提高测试装置本体3运行稳定性的效果。

综上所述：该集成电路测试装置，通过框架1与挡板2对测试装置本体3进行防护，能够避免外部灰尘与测试装置本体3接触，通过转轮5带动螺杆4旋转并通过表面的螺纹向上移动，螺杆4在移动过程中对测试装置本体3进行牵引，能够便于使用者对测试装置本体3进行启闭，解决了现有的测试装置防护效果较差，不具备在日常收纳过程中对灰尘进行阻挡的效果，粘黏在检测端的灰尘容易对集成电路的测试造成影响的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种集成电路测试装置，包括框架(1)，其特征在于：所述框架(1)正面与背面的底部均固定连接有挡板(2)，所述框架(1)的内部滑动连接有测试装置本体(3)，所述测试装置本体(3)的顶部通过轴承活动连接有螺杆(4)，所述螺杆(4)的顶端贯穿框架(1)并延伸至框架(1)的顶部，所述螺杆(4)的顶端固定连接有转轮(5)，所述螺杆(4)与框架(1)螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(1)的左侧与右侧均开设有滑槽(6)，所述测试装置本体(3)的左侧与右侧均固定连接有位于滑槽(6)内部的滑块(7)，所述滑块(7)与滑槽(6)滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(1)的顶部固定连接有套设在螺杆(4)表面的套管(8)，所述套管(8)与螺杆(4)螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(1)的顶部固定连接有支撑框(9)，所述螺杆(4)表面的顶部与底部均固定连接有位于支撑框(9)两侧的延伸环(10)，所述延伸环(10)的内侧与支撑框(9)的表面接触。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试装置本体(3)的底部固定连接有位于框架(1)内部的连接框(11)，所述连接框(11)的内部固定连接有散热扇(12)，所述框架(1)内壁的顶部固定连接有按压器(13)，所述按压器(13)与散热扇(12)电性连接。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述连接框(11)的底部通过磁铁吸附有滤网(14)，所述滤网(14)的孔径小于一毫米。

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