CN213957613U - Tof模组测试台 - Google Patents

Abstract

本申请提供TOF模组测试台，TOF模组测试台应用于TOF模组的测试，其包括：测试台组件，其包括：测试台以及PIN针组件，其中，TOF模组固定在测试台上，PIN针组件设置于测试台内并与TOF模组连接；测试固定组件，其用于将TOF模组固定在测试台上；PCB板组件，其固定设置在远离安装孔的一侧，并与PIN针组件固定连接。本申请能够避免了测试TOF模组时需要复杂的安装、浪费时间和人力、物力成本，避免对TOF模组的损害。

Description

TOF模组测试台

技术领域

本申请涉及图像领域，尤其涉及TOF模组测试台。

背景技术

TOF模组主要包括光源、光学透镜、感光芯片和计算单元等元器件。在使用TOF模组前，需进行烧录软件和标定测试等工作。而一般传统的测试方法是把TOF模组焊接在PCB板上进行，等烧录和标定测试完后再取下TOF模组。

这样安装和拆卸的工作比较复杂和麻烦，涉及到的设备也比较多，如果操作不慎，极其容易损坏相关的设备和TOF模组。

鉴于传统的TOF小模组烧录和标定比较复杂，而且容易损坏，造成大量的时间和人力物力成本浪费。

实用新型内容

本申请提供一种TOF模组测试台，能够在解决现在测试TOF模组时需要将 TOF模组在PCB板进行焊接才能进行测试而导致安装和拆卸TOF模组比较麻烦、人力和物力成本高以及容易损坏TOF模组的问题。

根据本申请的第一方面，本申请提供一种TOF模组测试台，TOF模组测试台应用于TOF模组的测试，其包括：测试台组件，其包括：测试台以及PIN针组件，其中，TOF模组固定在测试台上，PIN针组件设置于测试台内并与TOF 模组连接；测试固定组件，其用于将TOF模组固定在测试台上；PCB板组件，其固定设置在远离安装孔的一侧，并与PIN针组件固定连接。

优选地，测试台包括设置于靠近测试固定组件一侧的安装孔以及设置于靠近PCB板组件一侧的凹槽，PIN针组件固定于凹槽内。

优选地，PIN针组件包括：POGO PIN针；中板，POGO PIN针设置在中板内并伸出中板；顶板，顶板设置并固定在中板靠近凹槽的一侧，其中，POGO PIN 针穿过顶板与TOF模组连接；底板，底板设置并固定在中板远离凹槽的一侧，其中，POGO PIN针穿过底板与PCB板组件连接。

优选地，测试固定组件包括：设置于靠近安装孔一侧并与测试台滑动连接的测试盖板，测试盖板包括对应安装孔设置以用于安装TOF模组使用的取模组孔、用于测试TOF模组的测试模组孔以及设置于靠近测试台一侧的盖板凸点，测试台还包括匹配盖板凸点的形状设置的凹点；其中，取模组孔的两侧分别设置一排盖板凸点，测试台安装孔的两侧对应每排盖板凸点设置有一排盖板凹点，每排盖板凹点的数量少于盖板凸点的数量，测试盖板通过凸点和凹点的组合可沿着凹点和凸点的方向相对测试台移动以使得在安装TOF模组时取模组孔和安装孔对齐，测试TOF模组时测试模组孔的位置与安装孔对齐。

优选地，测试固定组件还包括用以控制测试盖板相对测试台滑动的滑动耳，其设置在测试盖板远离安装孔的一侧。

优选地，测试盖板还包括：设置在取模组孔靠近测试台一侧的第一滑槽、设置取模组孔与测试模组孔之间的斜坡滑槽以及设置在测试模组孔靠近测试台一侧的盖板滑槽，其中斜坡滑槽与第一滑槽连通，并且相对第一滑槽有设定的倾斜角度。

优选地，测试固定组件还包括弹性螺钉以及沿着凸点排列方向延伸的滑槽，测试台对应滑槽设置有插入孔，弹性螺钉穿过滑槽插入到插入孔内以对测试盖板进行限位固定，测试盖板可沿着滑槽的延伸方向相对测试台滑动。

优选地，测试台还包括设置在靠近PCB板组件一侧的插孔，PCB板组件包括PCB板、相对插孔设置的通孔以及设置在PCB板远离安装孔一侧的PIN针；其中，PCB板通过螺丝穿过通孔插入插孔内以固定在测试台上。

优选地，测试盖板还包括：用于滑动盖板时观测TOF模组状态的观察孔，其设置在安装孔和测试模组孔之间。

优选地，测试孔的尺寸小于TOF模组的外延。

本申请的有益效果在于：本发明的TOF模组测试台通过设置测试台组件、测试固定组件以及PCB板组件，将PCB板组件与测试台组件固定连接后，测试固定组件将TOF模组固定在测试台组件上进行测试，测试完成后，可将TOF模组从测试台组件上取下，这样就无须复杂的安装和拆卸工作就能够实现TOF模组的测试，并且避免了对TOF模组的损害，节省了大量的时间和人力物力成本。

附图说明

图1是本申请的TOF模组测试台的爆炸图；

图2是本申请的TOF模组测试台的另一角度的爆炸图；

图3是本申请的TOF模组测试台的俯视图；

图4是图3的A-A方向的截面示意图；

图5是图3的B-B方向的截面示意图；

图6是本申请的测试盖板相对TOF模组滑动的示意图；

图7是本申请的测试盖板相对测试平台的示意图。

附图说明：测试固定组件1测试盖板11取模组孔111测试模组孔112观察孔113盖板凸点114第一滑槽115斜坡滑槽116盖板滑槽117弹性螺钉12 滑槽13滑动耳14测试台组件2测试台21安装孔211凹槽212插孔213凹点214PIN针组件22POGO PIN针221中板222顶板223底板224PCB板组件3PCB板31通孔32PIN针33。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。

请参阅图1至图7，本申请提出一种TOF模组测试台，TOF模组测试台应用于TOF模组的测试，其包括：测试固定组件1、测试台组件2以及PCB板组件3。

测试台组件2，其包括：测试台21以及PIN针组件22，其中，TOF模组固定在测试台21上，PIN针组件22设置于测试台21内并与TOF模组连接；测试固定组件1，其用于将TOF模组固定在测试台21上；PCB板组件3，其固定设置在远离安装孔211的一侧，并与PIN针组件22固定连接。

测试固定组件1包括：测试盖板11、弹性螺钉12、滑槽13以及滑动耳14。测试盖板11设置于靠近安装孔211一侧，并通过弹性螺钉12穿过滑槽13与测试台21滑动连接，滑动耳14设置在测试盖板11远离安装孔211的一侧，滑动耳14用以控制测试盖板11相对测试台21滑动。

测试盖板11包括对应安装孔211设置以用于安装TOF模组使用的取模组孔 111、用于测试TOF模组的测试模组孔112、观察孔113以及设置于靠近测试台 21一侧的盖板凸点114。

观察孔113设置在安装孔211和测试模组孔112之间。本实施例中，通过设置两个观察孔113，能够在滑动盖板时观测TOF模组的状态。

取模组孔111的两侧分别设置一排盖板凸点114，滑槽13沿着凸点排列方向延伸。本实施例中，盖板凸点114为具有弹性的凸点。

测试台21包括：设置于靠近测试固定组件1一侧的安装孔211、设置于靠近PCB板组件3一侧的凹槽212、设置在靠近PCB板组件3一侧的插孔213以及匹配盖板凸点114的形状设置的凹点214。

PIN针组件22固定于凹槽212内。PIN针组件22包括：POGO PIN针221、中板222、顶板223以及底板224；POGO PIN针221设置在中板222内并伸出中板222；顶板223设置并固定在中板222靠近凹槽212的一侧，其中，POGO PIN针221穿过顶板223与TOF模组连接；底板224设置并固定在中板222远离凹槽212的一侧，其中，POGO PIN针221穿过底板224与PCB板组件3连接。

本实施例中，中板222的材质为导热硅脂，可以根据测试台21高度相应调节高度，然后与POGO PIN一体成型，不需要打孔，由POGO PIN直接穿过。而顶板223和底板224相应的进行打孔，POGO PIN穿过顶板223和底板224 的通孔32，这样就行形成了PIN针组件22。

PCB板组件3包括PCB板31、相对插孔213设置的通孔32以及设置在PCB 板31远离安装孔211一侧的PIN针33。

下面结合图1至图7来说明本申请的固定方式。

首先，将POGO PIN针221预装在顶板223、中板222和底板224内，顶板 223和底板224由PCB板31钻孔而成，中板222的材质主要是导热硅脂组成，可根据测试实际的要求调整中板222的高度，并且不需打孔，由POGO PIN针 221直接穿过，从而形成PIN针组件22。将PIN针组件22装在测试台21底部的凹槽212内，测试台21的大小和形状根据TOF模组和PIN针组件22的结构尺寸加工而成。

而PCB板31则是已经布好走线和焊盘，PCB板31通过螺丝穿过通孔32 插入插孔213内以固定在测试台21上。具体是：测试台21靠近PCB板组件3 的一侧设有四个插孔213，用四颗螺丝把PCB板31和PIN针组件22固定在测试台21上，POGO PIN针221和PCB板31弹性接触。PCB板31上PIN针33，可通过排线和外部相连用于测试，这样整个就形成了一个小模组测试台21。

测试盖板11对位到测试台21上，测试盖板11固定在测试台21的具体方式是：测试台21对应滑槽13设置有插入孔，弹性螺钉12穿过滑槽13插入到插入孔内以对测试盖板11进行限位固定，测试盖板11可沿着滑槽13的延伸方向相对测试台21滑动。盖板滑动时可以准确到位，装设弹性螺钉12的位置也有凹槽，定位好后，测试盖板11不会随意滑动。这样就能够使得测试盖板11 用适当的力延着箭头方向可滑动测试盖板11。

滑动盖板的两个滑动耳14，用于滑动时手捏着有支撑力，滑动起来方便省力。

测试台21的安装孔211的两侧对应每排盖板凸点114设置有一排盖板凹点 214，每排盖板凹点214的数量少于盖板凸点114的数量。测试盖板11上对应安装孔211设有用于安装TOF模组使用的取模组孔111、用于测试TOF模组的测试模组孔112，测试盖板11上还设有观察孔113，用于滑动测试盖板11时，能看到TOF模组的状态。其中，观察孔113设置在取模组孔111和测试模组孔112之间。

测试盖板11通过凸点和凹点214的组合可沿着凹点214和凸点的方向相对测试台21移动以使得在安装TOF模组时取模组孔111和安装孔211对齐，测试 TOF模组时测试模组孔112的位置与安装孔211对齐。

具体是，测试台21靠近测试盖板11的一侧设有六个凹点214，每三个凹点 214沿着测试盖板11相对测试台21滑动的方向设置在安装孔211的一侧。测试盖板11在靠近测试台21一侧对应测试台21上的六个凹点214设置具有弹性的四个凸点，该每两个凸点排布在安装孔211的一侧。将凸点沿着滑槽13的方向依次标号为第一凸点、第二凸点，将凹点214也相对凸点依次标记为第一凹点、第二凹点、第三凹点，当第一凸点和第二凸点分别插入第一凹点和第二凹点时，测试盖板11的取模组孔111与测试台21的安装孔211对准，这样可以装配TOF 模组，当第一凸点和第二凸点分别插入第二凹点和第三凹点的时候，测试盖板 11的测试模组孔112与测试台21的TOF模组对准，这样可以测试TOF模组。

下面详述通过本申请的TOF模组测试台测试TOF模组的过程。

装配TOF模组时，先把测试盖板11滑动到一边，亦即是，将第一凸点和第二凸点分别对准第一凹点和第二凹点，这样测试盖板11的取模组孔111对准测试台21的放TOF模组的安装孔211的位置，然后再把TOF模组放在测试台21 的测试模组孔112内，注意TOF模组有方向性，由于TOF模组体积很小，需要用摄子小心取放。

用手拿住滑动耳14，小心滑动，控制测试盖板11沿着滑槽13方向移动，刚好测试模组孔112对准TOF模组，同时第一凸点和第二凸点分别对准第二凹点和第三凹点。由于测试模组孔112尺寸比TOF模组外延稍小一点，能压住TOF 模组，两个小开孔尺寸要比玻璃大一点，TOF模组内部的发光器和小镜头，有一定的角度，这样组装好后就可以进行测试了。

烧录和测试完后，再滑动测试盖板11，移动到测试盖板11上取出孔对准 TOF模组时，同时将第一凸点和第二凸点分别对准分别对准第一凹点和第二凹点，用摄子取出TOF模组，这样整个过程就完成。

进一步地，由于TOF模组上面有两个小玻璃片，在整个装配测试过程中不能划伤玻璃，所以为了避免划伤玻璃，在测试盖板11上面设置有凹槽212，具体是设置在所述取模组孔111靠近所述测试台21一侧的第一滑槽115、设置所述取模组孔111与测试模组孔112之间的斜坡滑槽116以及设置在所述测试模组孔112靠近所述测试台21一侧的盖板滑槽117，其中所述斜坡滑槽116与所述第一滑槽115连通，并且相对所述第一滑槽115有设定的倾斜角度。通过设置第一滑槽115、斜坡滑槽116和盖板滑槽117，当测试盖板11相对测试台21滑动时，因为第一滑槽115、斜坡滑槽116和盖板滑槽117相对测试台21底面产生的空隙，使得测试盖板11在滑动过程中，TOF模组上的玻璃不会接触到测试台21的底面，这样就不会划伤玻璃片。

本申请的有益效果在于：本发明采用自主研发的集成TOF芯片采集深度等数据，并选用体积较小、功耗较小、容量较小的国产八位单片机来进行数据处理，将激光发射器、TOF图像传感器、数据处理模块以及隔离组件集成到一个小小的模组里，并将单片机与TOF图像传感器的数据线相连，将TOF模组里和数据处理单元有机地结合到一起，减少了不必要的额外电路连接，因此也不需要装额外的cpu、ddr、flash和电源芯片，在减小模组体积的同时，也降低了功耗和成本，另外，通过设置挡板能够减少激光发射器发出的调制光在模组内反射到TOF图像传感器而造成测量的误差，提升了测量的准确性。

本领域技术人员可以理解，上述实施方式中各种方法的全部或部分步骤可以通过程序来指令相关硬件完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器、随机存取存储器、磁盘或光盘等。

以上内容是结合具体的实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换。

Claims (10)

1.一种TOF模组测试台，其特征在于，所述TOF模组测试台应用于TOF模组的测试，其包括：

测试台组件，其包括：测试台以及PIN针组件，其中，所述TOF模组固定在所述测试台上，所述PIN针组件设置于所述测试台内并与所述TOF模组连接；

测试固定组件，其用于将所述TOF模组固定在所述测试台上；

PCB板组件，所述测试台包括设置于靠近所述测试固定组件一侧的安装孔，所述PCB板组件固定设置在远离所述安装孔的一侧，并与所述PIN针组件固定连接。

2.如权利要求1所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试台还包括设置于靠近所述PCB板组件一侧的凹槽，所述PIN针组件固定于所述凹槽内。

3.如权利要求2所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述PIN针组件包括：

POGO PIN针；

中板，所述POGO PIN针设置在中板内并伸出所述中板；

顶板，所述顶板设置并固定在所述中板靠近所述凹槽的一侧，其中，POGO PIN针穿过所述顶板与所述TOF模组连接；

底板，所述底板设置并固定在所述中板远离所述凹槽的一侧，其中，POGO PIN针穿过所述底板与所述PCB板组件连接。

4.如权利要求2所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试固定组件包括：设置于靠近所述安装孔一侧并与所述测试台滑动连接的测试盖板，所述测试盖板包括对应所述安装孔设置以用于安装所述TOF模组使用的取模组孔、用于测试所述TOF模组的测试模组孔以及设置于靠近所述测试台一侧的盖板凸点，所述测试台还包括匹配所述盖板凸点的形状设置的凹点；

其中，所述取模组孔的两侧分别设置一排盖板凸点，所述测试台安装孔的两侧对应每排所述盖板凸点设置有一排盖板凹点，每排所述盖板凹点的数量少于所述盖板凸点的数量，所述测试盖板通过所述凸点和凹点的组合可沿着所述凹点和凸点的方向相对所述测试台移动以使得在安装所述TOF模组时所述取模组孔和安装孔对齐，测试所述TOF模组时所述测试模组孔的位置与所述安装孔对齐。

5.如权利要求4所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试固定组件还包括用以控制所述测试盖板相对所述测试台滑动的滑动耳，其设置在所述测试盖板远离所述安装孔的一侧。

6.如权利要求4所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试盖板还包括：设置在所述取模组孔靠近所述测试台一侧的第一滑槽、设置所述取模组孔与测试模组孔之间的斜坡滑槽以及设置在所述测试模组孔靠近所述测试台一侧的盖板滑槽，其中所述斜坡滑槽与所述第一滑槽连通，并且相对所述第一滑槽有设定的倾斜角度。

7.如权利要求4所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试固定组件还包括弹性螺钉以及沿着所述凸点排列方向延伸的滑槽，所述测试台对应所述滑槽设置有插入孔，所述弹性螺钉穿过所述滑槽插入到所述插入孔内以对所述测试盖板进行限位固定，所述测试盖板可沿着所述滑槽的延伸方向相对所述测试台滑动。

8.如权利要求1所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试台还包括设置在靠近所述PCB板组件一侧的插孔，所述PCB板组件包括PCB板、相对所述插孔设置的通孔以及设置在所述PCB板远离所述安装孔一侧的PIN针；其中，所述PCB板通过螺丝穿过所述通孔插入所述插孔内以固定在所述测试台上。

9.如权利要求4所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试盖板还包括：用于滑动盖板时观测所述TOF模组状态的观察孔，其设置在所述安装孔和测试模组孔之间。

10.如权利要求4所述的TOF模组测试台，其特征在于，所述测试模组孔的尺寸小于所述TOF模组的外延。

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