CN205562747U - 一种自动ic芯片测试治具 - Google Patents

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Abstract

本实用新型属于电子元器件测试治具领域,具体的是指一种自动IC芯片测试治具,包括底座,底座上设置有可滑动的IC放置盘,所述IC放置盘由安装至底座的直线模组驱动,所述IC放置盘上呈矩形阵列设置有多个IC固定槽,底座上方分别固定设置探针支架和吸嘴支架,所述探针支架上设置有可升降的探针固定板,所述探针固定板由固连至探针支架的第一气缸驱动,所述吸嘴固定板由固连至吸嘴支架的第二气缸驱动,所述吸嘴支架上设置有可升降的吸嘴固定板,所述探针固定板上设置有与IC固定槽一一对应的探针组,所述吸嘴固定板上设置有与IC固定槽一一对应的真空吸嘴,与现有技术相比,本实用新型的有益效果是,本装置可以实现多个IC同时进行检测和卸料,自动化操作,大大减少了人工成本且提高了检测效率。

Description

一种自动IC芯片测试治具
技术领域
本实用新型属于电子元器件测试治具领域,具体的是指一种自动IC芯片测试治具。
背景技术
随着电子信息化的快速发展,IC(集成电路元件)应用越来越多,应用范围也越来越广:如电脑及相关设备类有南北桥IC、显卡IC、网卡IC、打印机 IC等;在通讯类又有手机IC、无线网卡IC、GPS模块等;在网络类还有ADSL模块、集线器IC、路由器IC等。
为保证质量和减少返工,买来IC成品应用的厂家,在使用前都会先对这些IC进行测试判断其是否是良品,是良品才可安装连接在PCB上进行后续贴装。现有技术中,具代表性的IC测试使用的测试治具主要由多根探针、测试板和一压板机构构成,所述探针下端为与PCB板连接的焊端,上端为具有伸缩弹性的探针头;测试板是在一批需与IC连接的PCB板中任选出的一块,在测试板上IC连接位中的各个焊盘(焊盘数量较多,有十几个甚至几百个)上一一对应焊接上各探针的焊端,构成一探针阵列。检测时,将待测IC放置于探针阵列上,使其植球或焊盘的引脚与各探针的探针头对应接触;压板机构轻轻作用于待测IC与测试板间使两者相对靠近,从而使待测IC的引脚与测试板上的探针阵列的探针头可靠接触电连接,此时通上电看测试板输出的反应,即可顺利检测出待测物是否是良品。现有的IC测试治具基本能完成测试任务,但是在实际使用中发现它仍有以下不足之处:测试效率较低,一次只能测试一个IC,并且多采用手工测试,人工强度较大。
发明内容
本实用新型为了克服现有技术之不足,提出了一种人工操作少、测试效率较高的自动IC芯片测试治具。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的。
一种自动IC芯片测试治具,包括底座,底座上设置有可滑动的IC放置盘,所述IC放置盘由安装至底座的直线模组驱动,所述IC放置盘上呈矩形阵列设置有多个IC固定槽,底座上方分别固定设置有探针支架和吸嘴支架,所述探针支架上设置有可升降的探针固定板,所述探针固定板由固连至探针支架的第一气缸驱动,所述吸嘴固定板由固连至吸嘴支架的第二气缸驱动,所述吸嘴支架上设置有可升降的吸嘴固定板,所述探针固定板上设置有与IC固定槽一一对应的探针组,所述吸嘴固定板上设置有与IC固定槽一一对应的真空吸嘴。
更具体的,所述IC放置盘通过滑轨滑块结构连接至所述底座。
更具体的,所述IC放置盘固连至直线模组的滑块上。
更具体的,所述探针支架和吸嘴支架均包括垂直固连至底座的四根导柱和设置于导柱顶端的气缸安装板,所述探针固定板和吸嘴固定板均可滑动的套设于导柱上。
更具体的,还包括一控制器,控制器通过电磁阀与第一气缸和第二气缸连接,控制器还与直线模组连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是,本装置可以实现多个IC同时进行检测和卸料,自动化操作,大大减少了人工成本且提高了检测效率。
附图说明
图1为本实用新型的前视图。
图2为本实用新型的左视图。
具体实施方式
下面结合附图给出本实用新型较佳实施例,以详细说明本实用新型的技术方案。
如图1,一种自动IC芯片测试治具的实施例,包括底座1,底座1上设置有可滑动的IC放置盘2,所述IC放置盘2由安装至底座1的直线模组20驱动,所述IC放置盘2上呈矩形阵列设置有多个IC固定槽,底座1上方分别固定设置探针支架和吸嘴支架,所述探针支架上设置有可升降的探针固定板4,所述探针固定板4由固连至探针支架的第一气缸3驱动,所述吸嘴固定板7由固连至吸嘴支架的第二气缸6驱动,所述吸嘴支架上设置有可升降的吸嘴固定板7,所述探针固定板4上设置有与IC固定槽一一对应的探针组5,所述吸嘴固定板7上设置有与IC固定槽一一对应的真空吸嘴8,所述IC放置盘2通过滑轨滑块结构连接至所述底座1,所述IC放置盘2固连至直线模组20的滑块上,所述探针支架和吸嘴支架均包括垂直固连至底座1的四根导柱和设置于导柱顶端的气缸安装板,所述探针固定板4和吸嘴固定板7均滑动的套设于导柱上,还包括一控制器,控制器通过电磁阀与第一气缸3和第二气缸6连接,控制器还与直线模组20连接。
工作原理:
操作人员将待测IC放置于IC放置盘2的多个IC固定槽内,由于固定槽方向一致,IC一旦置入,其管脚即被固定在固定槽内,填满后,IC放置盘2滑动至探针支架的下方,随后第一气缸3驱动探针固定板4下压,使探针组5与多个IC 接触进行测试,测试完毕后,IC放置盘移动至吸嘴支架的下方,此时吸嘴固定板7下压,使真空吸嘴8接触IC进行吸附以便进行卸料。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种自动IC芯片测试治具,其特征在于,包括底座,底座上设置有可滑动的IC放置盘,IC放置盘由安装至底座的直线模组驱动,IC放置盘上呈矩形阵列设置有多个IC固定槽,底座上方分别固定设置有探针支架和吸嘴支架,探针支架上设置有可升降的探针固定板,探针固定板由固连至探针支架的第一气缸驱动,吸嘴支架上设置有可升降的吸嘴固定板,吸嘴固定板由固连至吸嘴支架的第二气缸驱动,探针固定板上设置有与IC固定槽一一对应的探针组,吸嘴固定板上设置有与IC固定槽一一对应的真空吸嘴。
2.根据权利要求1所述的自动IC芯片测试治具,其特征在于,IC放置盘通过滑轨滑块结构连接至底座。
3.根据权利要求2所述的自动IC芯片测试治具,其特征在于, IC放置盘固连至直线模组的滑块上。
4.根据权利要求3所述的自动IC芯片测试治具,其特征在于, 探针支架和吸嘴支架均包括垂直固连至底座的四根导柱和设置于导柱顶端的气缸安装板,探针固定板和吸嘴固定板均可滑动的套设于导柱上。
5.根据权利要求4所述的自动IC芯片测试治具,其特征在于, 还包括一控制器,控制器通过电磁阀与第一气缸和第二气缸连接,控制器还与直线模组连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109317424A (zh) * 2018-10-10 2019-02-12 唐兴云 一种芯片批量快速检测装置
CN109579761A (zh) * 2018-12-17 2019-04-05 江西合力泰科技有限公司 一种指纹大板ic测试治具

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109317424A (zh) * 2018-10-10 2019-02-12 唐兴云 一种芯片批量快速检测装置
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