CN213843450U - 一种测试针床以及电路板测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供了一种测试针床以及电路板测试系统，测试针床包括针床主体、多个接插件、托盘以及多个探针。针床主体上设有多个第一针孔。多个接插件插接于针床主体的侧面，每个接插件至少对应一个第一针孔，且接插件和与其对应的第一针孔的内部电连接。托盘设于针床主体的上方，托盘上设有与多个第一针孔一一对应设置的多个第二针孔。多个探针设于与装设在托盘上的电路板的触点对应的第一针孔和第二针孔内，且多个探针分别与对应的接插件电连接，以通过探针使接插件和电路板相导通。上述结构通过对探针的设置位置的调整，就能够灵活的对不同规格的电路板的电气性能进行检测，增加了产品的适用范围，以及产品的重复利用率。

Description

一种测试针床以及电路板测试系统

技术领域

本实用新型属于电路板测试技术领域，尤其涉及一种测试针床以及电路板测试系统。

背景技术

电路板测试是电子产品生产中很重要的环节，通过测试可以判断被测试对象是否满足设计需求，从而加快研发和降低电路板的出厂不良率，最终实现提高电路板的产品质量，为此，电路板的测试备受电子研发者的重视。目前，电路板常用的检测方式之一就是利用测试工装，测试工装的测试基本原理就是将电路板上的测试点通过工装的测试探针引出，并经过测试探针向不同的测试点提供相应的测试信号或电能，最后测试点上的信号经过探针将其传递到测试板卡上，判断该信号是否正常。但是，以上的这种针床测试工装都是一对一的，也就是说一种工装对应一种电路板。当电路板进行升级或者新产品研发后，新的电路板就不能使用上一次的工装进行测试。为此，测试工装不但不具备灵活性，还增加了设计成本和维护成本。

实用新型内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一种测试针床以及电路板测试系统，该测试针床能够灵活地检测不同规格的电路板。

本实用新型实施例提供了一种测试针床，用于测试电路板，所述测试针床包括：

针床主体，其上设有多个第一针孔；

多个接插件，其插接于所述针床主体的侧面，每个所述接插件至少对应一个所述第一针孔，且所述接插件和与其对应的所述第一针孔的内部电连接；

托盘，其设于所述针床主体的上方，所述托盘上设有与多个所述第一针孔一一对应设置的多个第二针孔；

多个探针，其设于与装设在所述托盘上的电路板的触点对应的所述第一针孔和第二针孔内，且多个所述探针分别与对应的所述接插件电连接，以通过所述探针使所述接插件和所述电路板相导通。

在一些实施例中，所述托盘以能够上下移动的方式设于所述针床主体的上方，所述探针设于所述第一针孔内，且所述探针的针头朝向或伸入对应的所述第二针孔内，当所述托盘向下运动时，所述探针的针头伸出所述第二针孔以与所述电路板上的触点相接触并导通。

在一些实施例中，所述测试针床还包括弹簧支柱，所述弹簧支柱的两端分别抵于所述托盘的下表面和所述针床主体的上表面，以通过所述弹簧支柱对所述托盘施加向上的作用力，使所述托盘复位。

在一些实施例中，多个所述第一针孔在所述针床主体上呈矩阵式排布，多个所述第一针孔的孔径相同，多个所述第二针孔的孔径相同，且所述第一针孔的孔径与所述第二针孔的孔径相同。

在一些实施例中，所述托盘和所述针床主体上分别设有对应设置的导向孔，相对应的所述导向孔内分别设有导向杆。

在一些实施例中，所述探针具有用于与所述接插件电连接的针体，以及连接于所述针体的一端的针头，所述针体为阶梯轴，其小径端连接所述针头。

在一些实施例中，多个所述第一针孔与多个所述接插件一一对应设置。

在一些实施例中，所述针床主体上相邻的所述第一针孔的间距均相同。

在一些实施例中，所述针床主体的形状和所述托盘的形状均为立方体状，所述针床主体上的导向孔的数量为四个，四个所述导向孔分别设于所述针床主体的四个顶角上。

本实用新型实施例还提供了一种电路板测试系统，包括上述的测试针床，还包括与所述测试针床的接插件电连接的测试机。

与现有技术相比，本实用新型实施例的有益效果在于：本实用新型通过针床主体上的多个第一针孔以及托盘上的多个第二针孔，当测试电路板时，在与电路板上的触点对应位置的第一针孔和第二针孔内设置探针，通过探针即可将接插件和电路板相导通，以对电路板进行测试，也就是，通过对探针的设置位置的调整，就能够灵活的对不同规格的电路板的电气性能进行检测，增加了产品的适用范围，以及产品的重复利用率，从而降低了检测成本。

附图说明

在不一定按比例绘制的附图中，相同的附图标记可以在不同的视图中描述相似的部件。具有字母后缀或不同字母后缀的相同附图标记可以表示相似部件的不同实例。附图大体上通过举例而不是限制的方式示出各种实施例，并且与说明书以及权利要求书一起用于对所公开的实施例进行说明。在适当的时候，在所有附图中使用相同的附图标记指代同一或相似的部分。这样的实施例是例证性的，而并非旨在作为本装置或方法的穷尽或排他实施例。

图1为本实用新型实施例测试针床的结构示意图；

图2为本实用新型实施例测试针床的探针的结构示意图。

图中的附图标记所表示的构件：

1-针床主体；11-第一针孔；2-接插件；3-托盘；31-第二针孔；4-探针；41-针体；42-针头；5-弹簧支柱；6-导向孔。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好的理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作详细说明。下面结合附图和具体实施例对本实用新型的实施例作进一步详细描述，但不作为对本实用新型的限定。

本实用新型中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素，并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

在本实用新型中，当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时，该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件，也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。

本实用新型使用的所有术语(包括技术术语或者科学术语)与本实用新型所属领域的普通技术人员理解的含义相同，除非另外特别定义。还应当理解，在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

本实用新型实施例提供了一种测试针床，测试针床用于测试电路板，具体来说，该测试针床可与测试机连接以检测电路板上的元器件的焊接状态及电路板上的线路是否存在短路、断路等问题，从而保证电路板的测试效率和产品品质。测试针床包括针床主体1、多个接插件2、托盘3以及多个探针4，如图1和图2所示。针床主体1上设有多个第一针孔11。多个接插件2插接于针床主体1的侧面，每个接插件2至少对应一个第一针孔11，且接插件2和与其对应的第一针孔11的内部电连接。具体地，第一针孔11可与接插件2一一对应设置，或多个第一针孔11对应一个接插件2设置，即该一个插接件2同时能够与其对应的多个第一针孔11内分别电连接。如图1所示，托盘3设于针床主体1的上方，托盘3上设有与多个第一针孔11一一对应设置的多个第二针孔31。多个探针4设于与装设在托盘3上的电路板的触点对应的第一针孔11和第二针孔31内，且多个探针4分别与对应的接插件2电连接，以通过探针4使接插件2和电路板相导通。

可以理解的是，上述多个第一针孔11贯通至针床主体1的上表面，第二针孔31贯通托盘3的相对两个表面，使探针4能够同时插入第二针孔31和第一针孔11，并置于第一针孔11的孔底上。

可以理解的是，第一针孔11的孔底和/或孔壁可设有电连接片，每个电连接片都连接有与其对应的接插件2，可在第一针孔11或第二针孔31外做标记以指示出与该第一针孔11内的电连接片对应连接的接插件2，当用户将探针4插入第一针孔11内时，探针4与该第一针孔11内的电连接片接触以与相对应的接插件2相连接，在进行测试时，将电路板放置在托盘3上，对应电路板上的触点调整探针4的设置位置，使得探针4的两端分别接触电路板上的触点以及第一针孔11内的电连接片，实现通过探针4将接插件2和电路板相导通，以检测该电路板的电气性能。

本实用新型通过针床主体1上的多个第一针孔11以及托盘3上的多个第二针孔31，当测试电路板时，在与电路板上的触点对应位置的第一针孔11和第二针孔31内设置探针4，通过探针4即可将接插件2和电路板相导通，以对电路板进行测试，也就是，通过对探针4的设置位置的调整，就能够灵活的对不同规格的电路板的电气性能进行检测，增加了产品的适用范围，以及产品的重复利用率，从而降低了检测成本。

在一些实施例中，结合图1和图2，托盘3以能够上下移动的方式设于针床主体1的上方，探针4设于第一针孔内，且探针的针头42朝向或伸入对应的第二针孔31内，当托盘3向下运动时，探针4的针头42伸出第二针孔31以与电路板上的触点相接触并导通。

可以理解的是，当将电路板置于托盘3上后，电路板上的触点与探针4的针头42并未接触，也就是，接插件2和电路板之间并未导通，此时，对托盘3施加作用力使其下降时，托盘3相对靠近针床主体1，使得探针4的针头42能够伸出托盘3上的第二针孔31以接触到电路板上的触点，实现导通接插件2和电路板。

可以理解的是，上述托盘3与针床主体1之间可设置弹性件，以在能够调节托盘3和针床主体1之间的距离的同时，还能够当施加在托盘3上的作用力撤销后使托盘3复位。另外，也可以在托盘3的底部设置气缸伸缩杆，通过电控气缸伸缩杆实现准确地控制托盘3与针床主体1之间的相对距离，且采用气缸伸缩杆便于用户反复进行操作和测试。

在一些实施例中，如图1所示，测试针床还包括弹簧支柱5，弹簧支柱5的两端分别抵于托盘3的下表面和针床主体1的上表面，以通过弹簧支柱5对托盘3施加向上的作用力，使托盘3复位。

可以理解的是，弹簧支柱5可包括设于针床主体1的上表面的安装柱以及套设于安装柱外的弹簧，安装柱的顶端与接插件2的下表面间隔设置，弹簧的两端分别抵于针床主体1的上表面和托盘3的下表面，以使托盘3能够在外力作用下向下移动以靠近针床主体1，并在向下移动的过程中压缩弹簧，在外力撤销时，在弹簧的弹力作用下向上移动以远离针床主体1。

可以理解的是，上述弹簧支柱5的数量可为多个，且多个弹簧支柱5可围绕第一针孔11均匀布置，以使托盘3能够平稳运动。

在一些实施例中，如图1所示，多个第一针孔11在针床主体1上呈矩阵式排布，多个第一针孔11的孔径相同，且第一针孔11的孔径与第二针孔31的孔径相同。上述第一针孔11和第二针孔31的孔排布和孔径均相同的结构设计，既能够便于探针4依次插入第二针孔31和第一针孔11，还便于加工制造该测试针床。

在一些实施例中，托盘3和针床主体1上分别设有对应设置的导向孔6(如图1所示)，相对应的导向孔6内分别设有导向杆(图中未示出)。托盘3上的导向孔6可贯通托盘3的相对两侧面，导向杆的两端分别插入托盘3上的导向孔6和针床主体1上的导向孔6，以引导托盘3沿着导向杆进行上下移动，使得托盘3能够相对针床主体1稳定地运动。

在一些实施例中，如图2所示，探针4具有用于与接插件2电连接的针体41，以及连接于针体41的一端的针头42，针体41为阶梯轴，其小径端连接针头42。上述探针4的结构简单，且能够有效地减轻探针4的重量。

在一些实施例中，多个第一针孔11与多个接插件2一一对应设置，以便于用户使用和操作。

在一些实施例中，针床主体1上相邻的第一针孔11的间距均相同，优选地，上述间距可为2.54毫米，托盘3上相邻的第二针孔31的间距也为2.54毫米。

在一些实施例中，如图1所示，针床主体1的形状和托盘3的形状均为立方体状，针床主体1上的导向孔6的数量为四个，四个导向孔6分别设于针床主体1的四个顶角上。上述结构设计合理，且便于生产加工。另外，对应设置的四个导向孔6能够使托盘3相对针床主体1稳定地运动。

本实用新型实施例还提供了一种电路板测试系统，电路板测试系统包括上述的测试针床，还包括与测试针床的接插件2电连接的测试机(图中未示出)。通过针床主体1上的多个第一针孔11以及托盘3上的多个第二针孔31，当测试电路板时，在与电路板上的触点对应位置的第一针孔11和第二针孔31内设置探针4，通过探针4即可将接插件2和电路板相导通，再将接插件2与测试机相连接以对电路板进行测试，也就是，通过对探针4的设置位置的调整，就能够灵活的对不同规格的电路板的电气性能进行检测，增加了产品的适用范围，以及产品的重复利用率，从而降低了检测成本。

此外，尽管已经在本文中描述了示例性实施例，其范围包括任何和所有基于本实用新型的具有等同元件、修改、省略、组合(例如，各种实施例交叉的方案)、改编或改变的实施例。权利要求书中的元件将被基于权利要求中采用的语言宽泛地解释，并不限于在本说明书中或本申请的实施期间所描述的示例，其示例将被解释为非排他性的。因此，本说明书和示例旨在仅被认为是示例，真正的范围和精神由以下权利要求以及其等同物的全部范围所指示。

以上描述旨在是说明性的而不是限制性的。例如，上述示例(或其一个或更多方案)可以彼此组合使用。例如本领域普通技术人员在阅读上述描述时可以使用其它实施例。另外，在上述具体实施方式中，各种特征可以被分组在一起以简单化本实用新型。这不应解释为一种不要求保护的公开的特征对于任一权利要求是必要的意图。相反，本实用新型的主题可以少于特定的公开的实施例的全部特征。从而，以下权利要求书作为示例或实施例在此并入具体实施方式中，其中每个权利要求独立地作为单独的实施例，并且考虑这些实施例可以以各种组合或排列彼此组合。本实用新型的范围应参照所附权利要求以及这些权利要求赋权的等同形式的全部范围来确定。

以上实施例仅为本实用新型的示例性实施例，不用于限制本实用新型，本实用新型的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本实用新型的实质和保护范围内，对本实用新型做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试针床，用于测试电路板，其特征在于，所述测试针床包括：

针床主体，其上设有多个第一针孔；

多个接插件，其插接于所述针床主体的侧面，每个所述接插件至少对应一个所述第一针孔，且所述接插件和与其对应的所述第一针孔的内部电连接；

托盘，其设于所述针床主体的上方，所述托盘上设有与多个所述第一针孔一一对应设置的多个第二针孔；

多个探针，其设于与装设在所述托盘上的电路板的触点对应的所述第一针孔和第二针孔内，且多个所述探针分别与对应的所述接插件电连接，以通过所述探针使所述接插件和所述电路板相导通。

2.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述托盘以能够上下移动的方式设于所述针床主体的上方，所述探针设于所述第一针孔内，且所述探针的针头朝向或伸入对应的所述第二针孔内，当所述托盘向下运动时，所述探针的针头伸出所述第二针孔以与所述电路板上的触点相接触并导通。

3.根据权利要求2所述的测试针床，其特征在于，所述测试针床还包括弹簧支柱，所述弹簧支柱的两端分别抵于所述托盘的下表面和所述针床主体的上表面，以通过所述弹簧支柱对所述托盘施加向上的作用力，使所述托盘复位。

4.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，多个所述第一针孔在所述针床主体上呈矩阵式排布，多个所述第一针孔的孔径相同，多个所述第二针孔的孔径相同，且所述第一针孔的孔径与所述第二针孔的孔径相同。

5.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述托盘和所述针床主体上分别设有对应设置的导向孔，相对应的所述导向孔内分别设有导向杆。

6.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述探针具有用于与所述接插件电连接的针体，以及连接于所述针体的一端的针头，所述针体为阶梯轴，其小径端连接所述针头。

7.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，多个所述第一针孔与多个所述接插件一一对应设置。

8.根据权利要求4所述的测试针床，其特征在于，所述针床主体上相邻的所述第一针孔的间距均相同。

9.根据权利要求5所述的测试针床，其特征在于，所述针床主体的形状和所述托盘的形状均为立方体状，所述针床主体上的导向孔的数量为四个，四个所述导向孔分别设于所述针床主体的四个顶角上。

10.一种电路板测试系统，其特征在于，包括如权利要求1-9中任意一项所述的测试针床，还包括与所述测试针床的接插件电连接的测试机。

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