CN213813115U - 一种霍普金森系统基准测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及动态力学性能测试材料技术领域，公开的一种霍普金森系统基准测量装置,包括固定基座组、测量高度尺、固定螺钉,固定基座组由金属板材加工制成直角型结构，直角型固定基座组直角长边大平面上设置若干固定螺钉台阶孔，与修正装配校验后的测量高度尺基座通过固定若干固定螺钉紧固连接。本实用新型测试定位准确，调整测量精准可靠，测试装备实现所需硬件资源通用性高。其结构及制造工艺简单，测量操作便捷。测试定位基准精准可靠，降低系统基准测量误差的产生。
Description
技术领域
本实用新型涉及动态力学性能测试材料技术领域，尤其涉及一种霍普金森系统基准测量装置。
背景技术
目前，霍普金森压杆测试系统是用来研究材料在高应变率加载下的动态力学性能的测试设备，在实验前设备杆系的基准状态是确保材料测试过程中提取应力应变数据波形平滑及有效验证的基本保证所进行的测量装置结构设计。
基准测量装置是基于系统导轨的基础面利用测量高度尺以及固定基座，以测试系统中的发射管轴线为基准进行调校验证杆系状态的测量应用。基准测量装置是霍普金森压杆测试系统中的基准测量技术，对杆系φ的水平基准高度L进行测量后控制误差范围为0.04/m以内，对杆系侧向基准测量不存在数据支持。
发明内容
为了解决现有技术中存在的问题，本实用新型目的是提供一种霍普金森系统基准测量装置，其结构形式合理、制造成本低廉且测试控制可靠。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种霍普金森系统基准测量装置，包括固定基座组、测量高度尺、固定螺钉,固定基座组由金属板材加工制成直角型结构，直角型固定基座组直角长边大平面上设置若干固定螺钉台阶孔，与修正装配校验后的测量高度尺基座通过固定若干固定螺钉紧固连接。测量高度尺基座上设置有立柱，立柱上设置有检测系统杆的调整移动座。
由于采用如上所述的技术方案，本实用新型具有如下优越性：
一种霍普金森系统基准测量装置,其结构及制造工艺简单，测量操作便捷。测试定位基准精准可靠，降低系统基准测量误差的产生
装置结构形式简单及检测方便，测试定位准确，调整测量精准可靠，测试装备实现所需硬件资源通用性高。
附图说明
图1为霍普金森系统基准测量装置的结构示意图。
图中，定基座组1、测量高度尺基座2、固定螺钉3、立柱4、调整移动座5、系统杆6。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
如图1所示，一种霍普金森系统基准测量装置，包括固定基座组1、测量高度尺基座2、固定螺钉3,固定基座组1由金属板材加工制成直角型结构，直角型固定基座组1直角长边大平面上设置若干固定螺钉3台阶孔，与修正装配校验后的测量高度尺基座2通过固定若干固定螺钉3紧固连接。测量高度尺基座2上设置有立柱4，立柱4上设置有垂直滑动的调整移动座5；用于检测系统杆6。
工作原理是：在测试系统装备的整体导轨面上，使用基准导轨水平工作面及侧向定位方式与固定基座组1的直角工作面及侧向贴合后，使用基座水平直线移动，以及配合测量高度尺进行杆体水平高度的测量。具体的实现操作是：使用金属板材加工制作，组对拼焊成直角型固定基座组1，直角型注意长D及宽H的比，制作准确度等级不低于2级，在直角长边大平面上制作若干固定螺钉3台阶孔与经改制修正装配校验后的测量高度尺基座2，进行固定紧固可靠成为基准测量装置总成。将装置总成的直角型固定基座组1放置系统的整体导轨平面上及侧向贴合，贴合水平移动总成和拉伸高度尺测量标高刀尺即可检测系统杆6杆径(φ)的水平基准高度(L)校验测量。
Claims (1)
1.一种霍普金森系统基准测量装置,其特征是：包括固定基座组（1）、测量高度尺基座（2）、固定螺钉（3）,所述固定基座组（1）由金属板材加工制成直角型结构，直角型结构的固定基座组（1）的直角长边大平面上设置有若干固定螺钉（3）的台阶孔，台阶孔与修正装配校验后的测量高度尺基座（2）通过固定若干固定螺钉（3）紧固连接；测量高度尺基座（2）上设置有立柱（4），立柱（4）上设置有检测系统杆（6）的调整移动座（5）。
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| CN202022867436.4U CN213813115U (zh) | 2020-12-04 | 2020-12-04 | 一种霍普金森系统基准测量装置 |
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Publications (1)
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| CN213813115U true CN213813115U (zh) | 2021-07-27 |
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Family Applications (1)
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| CN202022867436.4U Active CN213813115U (zh) | 2020-12-04 | 2020-12-04 | 一种霍普金森系统基准测量装置 |
Country Status (1)
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2020
- 2020-12-04 CN CN202022867436.4U patent/CN213813115U/zh active Active
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