CN213689715U - 一种探针排及测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种探针排及测试装置，涉及太阳能光伏技术领域。一种探针排，用于电池片的测试，所述探针排包括第一主体、第二主体和绝缘件；所述第一主体和所述第二主体相间隔地设置，所述绝缘件设置在所述第一主体和第二主体之间；其中，所述第一主体和所述第二主体均为导电体，并分别用于电流源和电压源电连接，所述第一主体的第一侧壁和所述第二主体的第二侧壁处于同一侧的侧壁构成探测平面，所述探测平面用于与所述电池片的待测试区域抵接，所述第一侧壁和所述第二侧壁处于相对所述探针排的同一侧。本申请的实施例具有测试更加稳定可靠的有益效果。

Description

一种探针排及测试装置

技术领域

本申请涉及太阳能光伏技术领域，特别是涉及一种探针排及测试装置。

背景技术

目前，随着太阳能光伏技术的发展，电池板的中电池片的结构结构越来越精细。以晶体硅电池片为例，为了降本增效，晶体硅电池片的电极越来越小，电极从条形变成了线形、点状随着晶体硅电也片电极越来越小，对于测试机构的接触要求越来越高。

在先技术中，电池片包括线形、点状的电极，相应的采用的测试装置也使用的是线状或者点状的探针结构。

但是，在进行电性能测试、EL(electroluminescent，译为电致发光，又称电场发光)缺陷测试时，具有线状或者点状的探针结构的测试装置，稳定较差，进而使测试部位的接触容易出现不良，电流电压的传输不均匀、EL 成像不均匀。

实用新型内容

本申请提供一种探针排及测试装置，旨在提升电池片的测试稳定性。

第一方面，本申请实施例提供了一种探针排，用于电池片的测试，所述探针排包括第一主体、第二主体和绝缘件；

所述第一主体和所述第二主体相间隔地设置，所述绝缘件设置在所述第一主体和第二主体之间；

其中，所述第一主体和所述第二主体均为导电体，并分别用于电流源和电压源电连接，所述第一主体的第一侧壁和所述第二主体的第二侧壁构成探测平面，所述探测平面用于与所述电池片的待测试区域抵接，所述第一侧壁和所述第二侧壁处于相对所述探针排的同一侧。

可选地，在所述探测平面上，所述第一侧壁和所述第二侧壁至少部分地相互交错，且交错位置相间隔地设置。

可选地，所述第一侧壁靠近所述第二侧壁的一侧设置有第一锯齿结构，所述第二侧壁靠近所述第一侧壁的一侧包括与所述第一锯齿结构匹配的第二锯齿结构，所述第一锯齿结构和所述第二锯齿结构相互交错设置，且，所述第一锯齿结构和所述第二锯齿结构之间具有间隙。

可选地，所述第一锯齿结构包括至少一个第一齿柱，所述第一齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形；

所述第二锯齿结构包括至少一个第二齿柱，所述第二齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形。

可选地，所述第一主体面向所述第二主体的一面设置有第一凹槽，所述第二主体面向所述第一主体的一面设置有第二凹槽，所述第一凹槽与所述第二凹槽配合形成容纳腔体，所述绝缘件处于所述容纳腔体内，所述第一锯齿结构和所述第二锯齿结构处于所述容纳腔体的槽底位置。

可选地，所述第一主体和所述第二主体的材质包括导电金属材质，或者具有导电性能的非金属材质。

所述第一主体相对的两侧壁分别设置有第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别用于所述电流源的两端连接；

所述第二主体相对的两侧分别设置有第三连接部和第四连接部，所述第三连接部和所述第四连接部分别用于所述电流源的两端连接。

可选地，所述探测平面的尺寸与所述待测试区域的尺寸的比值为第一预设比例值。

可选地，所述第一主体和所述第二主体的尺寸相同，或者所述第一主体的尺寸和所述第二主体的尺寸的比值为第二预设比例值。

第二方面，本申请实施例还提供了一种测试装置，包括如上述的探针排，所述测试装置包括至少一个探针排。

在本申请实施例中，第一主体和第二主体的间隔设置可以保证第一主体和第二主体是相互独立的，不会产生干扰，方便对电池片进行测试，测试可以包括电性能测试和EL缺陷测试中的至少一者。绝缘件的设置在保证第一主体和第二主体独立的同时，可以使第一主体和第二主体的相对位置更加稳定可靠。结缘结构作为夹层处于第一主体和第二主体之间。在第一主体和第二主体为导电体后，可以通过电流源和电压源的作用下对电池片进行测试，具体可以利用电流或者电压作用在电池片的电极上来测试。其中，EL缺陷测试就是通过在电池片的对应电极施加一定的电压，进而利用晶体硅的电致发光原理来进行，可以对发光后的电池片的光学成像进行分析后，判定电池片是否存在缺陷。探测平面的设置可以通过面接触的方式，对待测试区域进行测试，进而可以使测试更加稳定可靠，不容易出现失效的情况。进而可以使测试部位的接触更加良好，电流电压的传输更均匀、EL成像更均匀，更容易观测缺陷。本申请的实施例具有测试更加稳定可靠的有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请实施例中的一种探针排的结构示意图；

图2示出了本申请实施例中的探针排的局部放大示意图；

图3示出了本申请实施例中的探针排与电池片配合时的结构简图；

图4示出了本申请实施例中的一种探测平面的结构简图；

图5示出了本申请实施例中的又一种探测平面在不完全交错时的结构简图；

图6示出了本申请实施例中的又一种探测平面的结构简图；

图7示出了本申请实施例中的又一种探测平面的结构简图。

附图标记说明：

10、第一主体；11、第一锯齿结构；12、第一连接部；13、第二连接部； 20、第二主体；21、第二锯齿结构；22、第三连接部；23、第四连接部；30、绝缘件；40、电池片；41、待测试区域。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参见图1，本申请的实施例提供了一种探针排，用于电池片40的测试，所述探针排包括第一主体10、第二主体20和绝缘件30；

所述第一主体10和所述第二主体20相间隔地设置，所述绝缘件30设置在所述第一主体10和第二主体20之间；

其中，所述第一主体10和所述第二主体20均为导电体，并分别用于电流源和电压源电连接，所述第一主体10的第一侧壁和所述第二主体20的第二侧壁构成探测平面，所述探测平面用于与所述电池片40的待测试区域41 抵接，所述第一侧壁和所述第二侧壁处于相对所述探针排的同一侧。

在本申请实施例中，第一主体10和第二主体20的间隔设置可以保证第一主体10和第二主体20是相互独立的，不会产生干扰，方便对电池片40 进行测试，测试可以包括电性能测试和EL缺陷测试中的至少一者。绝缘件 30的设置在保证第一主体10和第二主体20独立的同时，可以使第一主体 10和第二主体20的相对位置更加稳定可靠。结缘结构作为夹层处于第一主体10和第二主体20之间。在第一主体10和第二主体20为导电体后，可以通过电流源和电压源的作用下对电池片40进行测试，具体可以利用电流或者电压作用在电池片40的电极上来测试。其中，EL缺陷测试就是通过在电池片40的对应电极施加一定的电压，进而利用晶体硅的电致发光原理来进行，可以对发光后的电池片40的光学成像进行分析后，判定电池片40是否存在缺陷。探测平面的设置可以通过面接触的方式，对待测试区域41进行测试，进而可以使测试更加稳定可靠，不容易出现失效的情况。进而可以使测试部位的接触更加良好，电流电压的传输更均匀、EL成像更均匀，更容易观测缺陷。本申请的实施例具有测试更加稳定可靠的有益效果。

需要说明的是，上述探测平面形成接触面的设计增强了接触的稳定性。可以根据需要将第一主体10、第二主体20和绝缘件30固定在一起，形成一体化结构，进而可以使探针排的结构稳固，方便耐用，满足批量生产中的检测需求。

可选地，在本申请的实施例中，在所述探测平面上，所述第一主体10 和所述第二主体20至少部分地相互交错，且交错位置相间隔地设置。

在本申请实施例中，上述结构中相互交错的设置可以保证探针排上的电流、电压信号相互独立。并且可以使第一主体10和第二主体20均可以与待测试区域41进行充分的接触，比如充分地接触电池片40的电极。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一侧壁靠近所述第二侧壁的一侧设置有第一锯齿结构11，所述第二侧壁靠近所述第一侧壁的一侧包括与所述第一锯齿结构匹配的第二锯齿结构21，所述第一锯齿结构11和所述第二锯齿结构21相互交错设置，且，所述第一锯齿结构11和所述第二锯齿结构21 之间具有间隙。

在本申请实施例中，上述结构中第一锯齿结构11和第二锯齿结构21的设置，可以在保证探针排上的电流、电压信号相互独立的同时，降低第一主体10和第二主体20的加工难度，满足批量生产的要求。第一锯齿结构11 和第二锯齿结构21的锯齿形状可以根据需要选择，不限于附图上的锯齿形状。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一锯齿结构11包括至少一个第一齿柱，所述第一齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形；

所述第二锯齿结构21包括至少一个第二齿柱，所述第二齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形。

在本申请实施例中，上述结构可以使第一主体10和第二主体20具有更多的配合方式，可以根据需要设置第一锯齿结构11和第二锯齿结构21对应的交错方式。实现相互交错的设置后，可以保证探针排上的电流、电压信号相互独立。并且可以使第一主体10和第二主体20均可以与待测试区域41 进行充分的接触，比如充分地接触电池片40的电极。

需要说明的是，第一齿柱和第二齿柱均处于探测平面上，所述第一齿柱与所述第二齿柱相互交错地设置，且有间隙。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一主体10和所述第二主体20的材质包括导电金属材质，或者具有导电性能的非金属材质。其中，以常用的铜为例，所述第一主体10为第一铜片，所述第二主体20为第二铜片，所述绝缘件30为设置于所述第一铜片和所述第二铜片之间的绝缘板。

在本申请实施例中，第一铜片和第二铜片的设置可以具有更加优良的导电性能，且加工难度较低。也可以根据需要设置为不锈钢片，或者导电性能满足实际需求的其他金属片。绝缘板的设置可以更好地对第一主体10和第二主体20进行分隔。绝缘板可以采用塑料板或其中可以绝缘的板状结构，绝缘板在绝缘的同时可以对第一主体10和第二主体20形成支撑，使整个探针排的稳定性更高。也可以根据需要将绝缘板设置为一层橡胶层，具体根据实际应用场景来设置。

需要说明的是，第一主体10和第二主体20的长度根据需要进行选定，具体需要根据实际的待测试区域41进行选用，以旋转更佳的探针排。并且，第一主体10和第二主体20不一定为片状结构，也可以是半椭圆、半棱柱或异形结构，只要可以实现对电池片40的测试即可，本申请不作限制。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一主体10相对的两侧分别设置有第一连接部12和第二连接部13，所述第一连接部12和所述第二连接部 13分别用于所述电流源的两端连接；

所述第二主体20相对的两侧分别设置有第三连接部22和第四连接部 23，所述第三连接部22和所述第四连接部23分别用于所述电流源的两端连接。

在本申请实施例中，上述结构中第一主体10中的第一连接部12和第二连接部13用于和电流源连接，第二主体20中的第三连接部22和第四连接部23用于和电压源连接，其中，第一连接部12、第二连接部13、第三连接部22和第四连接部23可以设置为耳板结构，具体设置位置可以根据需要选用。可以在耳板结构上设置通孔，以方便导线的连接。具体连接时，可以采用螺栓对导线进行固定，或者直接通过锡焊将导线固定连接。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一主体10面向所述第二主体20 的一面设置有第一凹槽，所述第二主体20面向所述第一主体10的一面设置有第二凹槽，所述第一凹槽与所述第二凹槽配合形成容纳腔体，所述绝缘件 30处于所述容纳腔体内，所述第一锯齿结构11和所述第二锯齿结构21处于所述容纳腔体的槽底位置。

在本申请实施例中，上述结构可以使第一主体10、第二主体20和绝缘件30的连接更加紧密，第一锯齿结构11和第二锯齿在相互交错后，可以保证探测平面的稳定；同时，第一锯齿结构11和第二锯齿可以作为容纳腔体的槽底，进而节省探针排的体积。

可选地，在本申请的实施例中，所述探测平面的尺寸与所述待测试区域 41的尺寸的比值为第一预设比例值。

在本申请实施例中，上述结构可以使探针排更好地与待测试区域41进行适配。第一预设比例值的具体预设比例可以为1:1、1:9、1:8等，探测平面可以等于待测试区域41的面积，或者略小于待测试区域41的面积，以使测试稳定性搞好。具体预设比例也可以根据需要设置为其他比例。

可选地，在本申请的实施例中，所述第一主体10和所述第二主体20的尺寸相同，或者所述第一主体10的尺寸和所述第二主体20的尺寸的比值为第二预设比例值。

在本申请实施例中，上述结构可以根据需要对第一主体10和第二主体 20的相对尺寸进行调节，以满足更多工况的要求。比如第一主体10和第二主体20可以相当于电阻，在阻值要求不同时，可以根据需要调整尺寸来改变。也可以根据需要将第一主体10和第二主体20分别采用不同的材质。尺寸的改变可以为长、宽、高中的至少一者。第二预设比例值的具体预设比例可以为1:1、1:9、1:8、1:2等，此处的比例为体积的比例，并不一定为长、宽、高中的任一者的比例。

本申请的实施例还提供了一种测试装置，包括如上述的探针排，所述测试装置包括至少一个探针排。

在本申请实施例中，具有上述探针排的测试装置，可以对电池片40的测试更加稳定可靠，测试更加准确。具体地，第一主体10和第二主体20的间隔设置可以保证第一主体10和第二主体20是相互独立的，不会产生干扰，方便对电池片40进行测试，测试可以包括电性能测试和EL缺陷测试中的至少一者。绝缘件30的设置在保证第一主体10和第二主体20独立的同时，可以使第一主体10和第二主体20的相对位置更加稳定可靠。结缘结构作为夹层处于第一主体10和第二主体20之间。在第一主体10和第二主体20为导电体后，可以通过电流源和电压源的作用下对电池片40进行测试，具体可以利用电流或者电压作用在电池片40的电极上来测试。其中，EL缺陷测试就是通过在电池片40的对应电极施加一定的电压，进而利用晶体硅的电致发光原理来进行，可以对发光后的电池片40的光学成像进行分析后，判定电池片40是否存在缺陷。探测平面的设置可以通过面接触的方式，对待测试区域41进行测试，进而可以使测试更加稳定可靠，不容易出现失效的情况。进而可以使测试部位的接触更加良好，电流电压的传输更均匀、EL 成像更均匀，更容易观测缺陷。本申请的实施例具有测试更加稳定可靠的有益效果。

可选地，在本申请的实施例中，所述测试装置包括所述电流源和所述电压源，所述电流源与所述电压源分别用于所述第一主体10和第二主体20电连接。

在本申请实施例中，电流源的设置用于提供电流，电压源的设置用于提供电压，具体根据需要进行连接，可以将电流源与第一主体10连接，将电压源与第二主体20连接；或者将电流源与第二主体20连接，将电压源与第一主体10连接。配合测试装置的其他部件对电池片40进行测试。

可选地，在本申请的实施例中，所述测试装置还包括处理器和显示结构，所述处理器与所述电流源及电压源连接，所述显示结构与所述处理器连接。

在本申请实施例中，处理器的设置用于对电流信号或者电压信号进行处理，显示结构的设置可以根据处理结果显示出相应的结果。晶体硅电致发光的图片可以通过投影组件，或者摄像组件拍摄后，传输至显示结构上，方便工作人员观察。也可以根据需要设置一定的自动判定算法，以提高测试效率。或者通过处理器将疑似位置进行标注，以缩减人工观察时间。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定都是本申请实施例所必须的。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本申请的保护之内。

Claims (10)

1.一种探针排，用于电池片的测试，其特征在于，所述探针排包括第一主体、第二主体和绝缘件；

所述第一主体和所述第二主体相间隔地设置，所述绝缘件设置在所述第一主体和第二主体之间；

其中，所述第一主体和所述第二主体均为导电体，并分别用于与电流源和电压源电连接，所述第一主体的第一侧壁和所述第二主体的第二侧壁构成探测平面，所述探测平面用于与所述电池片的待测试区域抵接，所述第一侧壁和所述第二侧壁处于相对所述探针排的同一侧。

2.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，在所述探测平面上，所述第一侧壁和所述第二侧壁至少部分地相互交错，且交错位置相间隔地设置。

3.根据权利要求2所述的探针排，其特征在于，所述第一侧壁靠近所述第二侧壁的一侧设置有第一锯齿结构，所述第二侧壁靠近所述第一侧壁的一侧包括与所述第一锯齿结构匹配的第二锯齿结构，所述第一锯齿结构和所述第二锯齿结构相互交错设置，且，所述第一锯齿结构和所述第二锯齿结构之间具有间隙。

4.根据权利要求3所述的探针排，其特征在于，所述第一锯齿结构包括至少一个第一齿柱，所述第一齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形；

所述第二锯齿结构包括至少一个第二齿柱，所述第二齿柱的形状包括方形、半圆形、半椭圆或梯形；

其中，所述第一齿柱与所述第二齿柱相互交错地设置，且有间隙。

5.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，所述第一主体面向所述第二主体的一面设置有第一凹槽，所述第二主体面向所述第一主体的一面设置有第二凹槽，所述第一凹槽与所述第二凹槽配合形成容纳腔体，所述绝缘件处于所述容纳腔体内。

6.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，所述第一主体和所述第二主体的材质包括导电金属材质，或者具有导电性能的非金属材质。

7.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，所述第一主体相对的两侧壁分别设置有第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别用于与所述电流源的两端连接；

所述第二主体相对的两侧分别设置有第三连接部和第四连接部，所述第三连接部和所述第四连接部分别用于所述电流源的两端连接。

8.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，所述探测平面的尺寸与所述待测试区域的尺寸的比值为第一预设比例值。

9.根据权利要求1所述的探针排，其特征在于，所述第一主体和所述第二主体的尺寸相同，或者所述第一主体的尺寸和所述第二主体的尺寸的比值为第二预设比例值。

10.一种测试装置，其特征在于，包括至少一个如权利要求1至9中任一项所述的探针排。

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