CN105203849A - 一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 - Google Patents
一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105203849A CN105203849A CN201510608017.XA CN201510608017A CN105203849A CN 105203849 A CN105203849 A CN 105203849A CN 201510608017 A CN201510608017 A CN 201510608017A CN 105203849 A CN105203849 A CN 105203849A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- film
- bar shaped
- conductive metal
- metal film
- shaped conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
Description
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510608017.XA CN105203849A (zh) | 2015-09-21 | 2015-09-21 | 一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510608017.XA CN105203849A (zh) | 2015-09-21 | 2015-09-21 | 一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105203849A true CN105203849A (zh) | 2015-12-30 |
Family
ID=54951632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510608017.XA Pending CN105203849A (zh) | 2015-09-21 | 2015-09-21 | 一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105203849A (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106018964A (zh) * | 2016-05-16 | 2016-10-12 | 云南瑞博检测技术股份有限公司 | 一种用于薄膜材料及微纳结构的电学参数检测平台 |
CN107543487A (zh) * | 2016-06-27 | 2018-01-05 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 一种原位膜厚监测方法及装置 |
CN108802496A (zh) * | 2018-06-11 | 2018-11-13 | 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 | 一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法 |
CN111679102A (zh) * | 2020-06-12 | 2020-09-18 | 国网山东省电力公司电力科学研究院 | 长形均匀电阻六端接线高精度测量方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101241153A (zh) * | 2008-03-07 | 2008-08-13 | 华中科技大学 | 薄膜电阻率自动测量仪 |
CN102297877A (zh) * | 2011-05-27 | 2011-12-28 | 上海大学 | 一种薄膜热电性能参数的测量装置和方法 |
CN102520249A (zh) * | 2011-12-16 | 2012-06-27 | 华中科技大学 | 一种测定半导体薄膜膜厚方向电导率的方法 |
CN103063923A (zh) * | 2012-12-25 | 2013-04-24 | 广州鹿山新材料股份有限公司 | 一种光伏组件封装用eva胶膜的体积电阻率测试方法 |
CN103163442A (zh) * | 2013-03-22 | 2013-06-19 | 无锡中星微电子有限公司 | 一种晶圆测试方法 |
CN104422824A (zh) * | 2013-09-05 | 2015-03-18 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种金属薄膜电阻率的测量方法 |
-
2015
- 2015-09-21 CN CN201510608017.XA patent/CN105203849A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101241153A (zh) * | 2008-03-07 | 2008-08-13 | 华中科技大学 | 薄膜电阻率自动测量仪 |
CN102297877A (zh) * | 2011-05-27 | 2011-12-28 | 上海大学 | 一种薄膜热电性能参数的测量装置和方法 |
CN102520249A (zh) * | 2011-12-16 | 2012-06-27 | 华中科技大学 | 一种测定半导体薄膜膜厚方向电导率的方法 |
CN103063923A (zh) * | 2012-12-25 | 2013-04-24 | 广州鹿山新材料股份有限公司 | 一种光伏组件封装用eva胶膜的体积电阻率测试方法 |
CN103163442A (zh) * | 2013-03-22 | 2013-06-19 | 无锡中星微电子有限公司 | 一种晶圆测试方法 |
CN104422824A (zh) * | 2013-09-05 | 2015-03-18 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种金属薄膜电阻率的测量方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106018964A (zh) * | 2016-05-16 | 2016-10-12 | 云南瑞博检测技术股份有限公司 | 一种用于薄膜材料及微纳结构的电学参数检测平台 |
CN106018964B (zh) * | 2016-05-16 | 2019-02-12 | 云南瑞博检测技术股份有限公司 | 一种用于薄膜材料及微纳结构的电学参数检测平台 |
CN107543487A (zh) * | 2016-06-27 | 2018-01-05 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 一种原位膜厚监测方法及装置 |
CN108802496A (zh) * | 2018-06-11 | 2018-11-13 | 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 | 一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法 |
CN111679102A (zh) * | 2020-06-12 | 2020-09-18 | 国网山东省电力公司电力科学研究院 | 长形均匀电阻六端接线高精度测量方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105203849A (zh) | 一种精确测定薄膜材料膜厚方向电阻率的方法及其装置 | |
US9335287B2 (en) | Specification device for water status of soil, and method for same | |
US2215213A (en) | Electrode for measuring electrolytic effects | |
CN107284604B (zh) | 一种海气界面水边界层温度剖面精细测量浮标 | |
CN103792392A (zh) | 原子力显微镜测量纳米薄膜材料电阻分布的装置及方法 | |
CN101159225A (zh) | 导电基板上液膜厚度的测量方法 | |
CN101696991A (zh) | 一种探针接触电阻的检测方法及其检测装置 | |
CN102520249A (zh) | 一种测定半导体薄膜膜厚方向电导率的方法 | |
CN102243274B (zh) | 一种测算Pb-Sn-Al层状复合材料界面电阻率的方法 | |
CN106501615A (zh) | 一种mems电极式低电导率传感器及其测量方法 | |
Mezzera et al. | A 7-parameter platform for smart and wireless networks monitoring on-line water quality | |
JP2007309797A (ja) | 抵抗測定装置及び抵抗測定方法 | |
CN103698357A (zh) | 一种基于mems双加热器的热导率和热扩散系数传感器 | |
CN109612921B (zh) | 一种腐蚀监测传感器及其制备方法 | |
JP2007311204A (ja) | 燃料電池電流分布測定装置、積層燃料電池電流分布測定装置、および燃料電池電流分布測定方法 | |
CN105606901B (zh) | 一种带有过滤装置的mems海水电导率传感器 | |
CN102735713A (zh) | 高精度海水盐度测量仪 | |
CN110023769B (zh) | 测量非饱和土壤电阻率各向异性的电阻率测量单元 | |
Rustomji et al. | Thin-film electrochemical sensor electrode for rapid evaluation of electrolytic conductivity, cyclic voltammetry, and temperature measurements | |
CN207379496U (zh) | 一种用于监测的高精度摆锤电阻式测斜装置 | |
CN109870610A (zh) | 一种温湿偏置盐污染环境的usb长期安全性检测方法 | |
CN211318600U (zh) | 研究固体电极氧化膜对液固接触电阻影响的装置 | |
CN107764884A (zh) | 高通量电化学检测装置及高通量电化学检测方法 | |
CN207408489U (zh) | 电路板测试设备 | |
CN103163375B (zh) | 一种固液导体接触电阻测量方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Jiu Xiangshui Inventor after: Zhang Xin Inventor after: Tong Hao Inventor after: Wang Yuanbing Inventor after: Cai Yingrui Inventor after: Liu Changjiang Inventor after: Peng Chengdan Inventor after: Lian Xiaokang Inventor after: Wu Yanxiong Inventor after: Zhang Wei Inventor before: Wang Yuanbing Inventor before: Yang Junyou Inventor before: Tong Hao Inventor before: Cai Yingrui Inventor before: Lian Xiaokang Inventor before: Wu Yanxiong Inventor before: Zhang Wei Inventor before: Zhang Xin |
|
COR | Change of bibliographic data | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20151230 |
|
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |