CN213658944U - 一种电测治具及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了一种电测治具及系统，涉及治具领域。该电测治具包括连接件和自动控制模组。连接件在自动控制模组的控制下，使待测产品中走线层断线、断点及走线层之间的电路连接状态改变，从而可以测试待测产品的走线层中断线、断点之间的开路和短路，还能测试待测产品的走线层之间是否短路。此外本实用新型还提出了一种电测系统，包括待测产品、传输端子、上位机和至少一个的电测治具。用户通过操作上位机发送不同指令给电测治具，电测治具收到指令后控制相应的待测产品的内部电路通断，从而同时测试待测产品的开路和短路。这样使得待测产品中不同测试区域可以分开测试，并实现多治具同时测试，从而达到提升测试速度的目的。

Description

一种电测治具及系统

技术领域

本实用新型涉及治具领域，具体而言，涉及一种电测治具及系统。

背景技术

电测治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的辅助设备，针对每一形式需要相对应的功能电测治具。

传统电测治具内部电路及连接引脚定义在治具制作时已确定，测试时不可改变内部电路连通情况、不可改变治具连接引脚定义，测试时仅可针对接触产品某一区内固定导通线路做开路、短路测试，对于产品中的断线、断点无法做开路、短路测试，也无法测试两层走线层间短路状态。例如：Miniled BP产品第二层走线层在LED灯区及集成电路(Integrated Circuit，IC)区均为断线状态，传统电测治具，由于不可改变电路并且连接引脚定义不可变，因此传统治具只可测试第一层走线层平面内部分断线开路、短路，不可测试第二层走线层内LED灯区间开路、短路，也不可测试第二层走线层与第一层走线层两层走线间短路状态。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电测治具及系统，以改善上述测试时不可改变待测产品内部电路连通情况的问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供一种电测治具，其包括连接件和自动控制模组。连接件，其分别与自动控制模组及待测产品连接。自动控制模组，其与连接件的一端相连，并通过连接件的另一端与待测产品的断线和断点以及走线层相连，以用于控制待测产品的走线层中的断线和断点以及走线层之间的连接。

上述实现过程中，连接件一端与自动控制模组相连，另一端与待测产品相连，将自动控制模组与待测产品连接起来。连接件在自动控制模组的控制下，使待测产品中走线层断线、断点及走线层之间的电路连接状态改变，从而可以测试待测产品的走线层中断线、断点之间的开路和短路，还能测试待测产品的走线层之间是否短路。

在本实用新型的一些实施例中，上述连接件具有导电功能。

在本实用新型的一些实施例中，上述自动控制模组包括开关器件和控制器件。开关器件，其输入端及输出端分别与不同的连接件相连，以使不同的连接件之间连通，控制器件，其与开关器件相连，用于控制开关器件的输入端及输出端连通。

上述实现过程中，控制器件控制多个开关器件，以适应不同的待测产品，通过控制开关器件的输入输出端的通断，以改变待测产品中的电路连接状态，从而达到测试电路中的开路和短路的目的。

在本实用新型的一些实施例中，上述开关器件为继电器或微型开关。

上述实现过程中，继电器有多个触点，一个继电器可以与多个连接件相连，可以大大节约开关器件的数量，从而节约成本，同时也可以简化电路。微型开关的价格便宜，也可以达到节约成本的目的。

在本实用新型的一些实施例中，上述继电器的常开或者常闭引脚连接到连接件。

在本实用新型的一些实施例中，上述控制器件包括自动控制器和/或手动控制器。

上述实现过程中，控制器件有自动控制器和手动控制器，既可以单独设置自动控制器或是单独设置手动控制器，也可以同时设置自动控制器和手动控制器，以适用于不同应用场景，从而使该电测治具使用范围更广。

在本实用新型的一些实施例中，上述自动控制器为单片机、可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller，PLC)或具有控制功能的电路模块。

上述实现过程中，PLC和单片机都具有价格便宜，使用方便的特点；具有控制功能的电路模块具有更加稳定的控制效果。通过单片机、PLC或具有控制功能的电路模块对开关器件的控制，使得待测产品中的电路连接可控制，改善了测试时不可改变待测产品内部电路连通情况的问题。

在本实用新型的一些实施例中，上述手动控制器为手动按压开关或拨动开关。

上述实现过程中，手动按压开关和拨动开关操作简单，便于操作。

第二方面，本申请实施例提供一种电测系统，其包括待测产品、传输端子、上位机和至少一个的电测治具。待测产品，其与电测治具的连接件连接，上位机，其通过传输端子与至少一个电测治具连接，以用于根据用户的操作向电测治具发送指令，电测治具，其用于根据指令对待测产品进行测试。

上述实现过程中，传输端子用于连接上位机与待测产品，在待测产品需要测试多个区域时，通过设置多个电测治具与多个待测产品相连，并将待测产品分别通过传输端子和上位机相连，用户通过操作上位机发送不同指令给电测治具，电测治具收到指令后控制相应的待测产品的内部电路通断，从而同时测试待测产品的开路和短路。这样使得待测产品中不同测试区域可以分开测试，并实现多治具同时测试，从而达到提升测试速度的目的。

在本实用新型的一些实施例中，上述待测产品为MiniLED。

上述实现过程中，通过上位机同时下发给电测治具不同的指令，以同时测试待测产品不同情况下MiniLED的内部电路的开路和短路。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型电测治具的示意图；

图2为本实用新型电测系统的示意图；

图3为实施例中部分灯区扎针及治具电路图；

图4为实施例中MiniLED电路总图。

图标：100-电测治具；101-连接件；102-开关器件；103-自动控制模组；104-控制器件；200-待测产品；300-传输端子；400-上位机。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的各个实施例及实施例中的各个特征可以相互组合。

请参考图1，图1为电测治具的示意图。该电测治具100，包括连接件101和自动控制模组103。

连接件101，其分别与自动控制模组103及待测产品200连接。

自动控制模组103，其与连接件101的一端相连，并通过连接件101的另一端与待测产品200的断线和断点以及走线层相连，以用于控制所述待测产品200的走线层中的断线和断点以及走线层之间的连接。

第一方面，连接件101将走线层中的断线点分别与自动控制模组103连接，这样就可以控制断线之间的通断，以测试走线层中的断线之间的开路和短路状态。

第二方面，连接件101将走线层中的断点分别与自动控制模组103连接，这样就可以控制断点之间的通断，以测试走线层中的断点之间的开路和短路状态。

第三方面，连接件101将不同走线层分别与自动控制模组103连接，这样就可以控制测试走线层之间的通断，以测试走线层之间短路状态。

上述实现过程中，连接件101一端与自动控制模组103相连，另一端与待测产品200相连，将自动控制模组103与待测产品200连接起来。连接件101在自动控制模组103的控制下，使待测产品200中走线层断线、断点及走线层之间的电路连接状态改变，从而可以测试待测产品200的走线层中断线、断点之间的开路和短路，还能测试待测产品200的走线层之间是否短路。

其中，连接件101具有导电功能。比如：上述连接件101为多个弹簧针。

其中，自动控制模组103包括开关器件102和控制器件104。

开关器件102，其输入端及输出端分别与不同的弹簧针相连，以使不同的所述弹簧针之间连通。待测产品200的测试点不同，需要连接的测试点就不同，从而与待测产品200相连的弹簧针的数量也不同，因此，控制弹簧针之间连通的开关器件102可以为多个，以适应不同的待测产品200。

控制器件104，其与开关器件102相连，以用于控制开关器件102的输入端及输出端连通。

上述实现过程中，控制器件104控制多个开关器件102，以适应不同的待测产品200，通过控制开关器件102的输入输出端的通断，以改变待测产品200中的电路连接状态，从而达到测试电路中的开路和短路的目的。

其中，开关器件102为继电器或微型开关。

上述实现过程中，继电器有多个触点，一个继电器可以与多个弹簧针相连，可以大大节约开关器件102的数量，从而节约成本，同时也可以简化电路。微型开关的价格便宜，也可以达到节约成本的目的。

其中，所述继电器的常开或者常闭引脚连接到所述连接件101。

其中，所述控制器件104包括自动控制器和/或手动控制器。可以单独使用自动控制器控制开关器件102，也可以单独使用手动控制器，还可以自动控制器件和手动控制器件同时控制。

上述实现过程中，控制器件104有自动控制器和手动控制器，既可以单独设置自动控制器或是单独设置手动控制器，也可以同时设置自动控制器和手动控制器，以适用于不同应用场景，从而使该电测治具使用范围更广。

其中，所述自动控制器为单片机、PLC或具有控制功能的电路模块。例如51系列单片机AT89C51，CPM1A-V1系列PLC。

上述实现过程中，PLC和单片机都具有价格便宜，使用方便的特点；具有控制功能的电路模块具有更加稳定的控制效果。通过单片机、PLC或具有控制功能的电路模块对开关器件102的控制，使得待测产品200中的电路连接可控制，改善了测试时不可改变待测产品内部电路连通情况的问题。

其中，所述手动控制器为手动按压开关或拨动开关。

上述实现过程中，手动按压开关和拨动开关操作简单，便于操作。

请参考图2，图2为电测系统示意图，包括待测产品200、传输端子300、上位机400和至少一个上述电测治具100。

所述待测产品200，其与电测治具100的连接件101连接。

所述上位机400，其通过所述传输端子300与所述至少一个电测治具100连接，以用于根据用户的操作向所述电测治具100发送指令。所述传输端子300可以是栅栏式接线端子、插拔式接线端子等。

所述电测治具100，其用于根据所述指令对所述待测产品200进行测试。

一方面，当只需要测试一个待测产品200时，待测产品200连接一个电测治具100，并通过传输端子300与上位机400相连。测试时，上位机400发送相应指令给电测治具100，电测治具100中的控制器件104在收到上位机400的指令后，根据指令信息控制开关器件102相应输入输出端的通断，从而实现将待测产品200的电路状态改变成需要测试的状态。

另一方面，当需要测试不同的测试区域时，可以通过分别连接不同的电测治具100并通过传输端子300与上位机400相连。上位机400根据需要分别发送不同的指令给对应的电测治具100，电测治具100控制待测产品200电路连接状态，从而可以实现多治具同时测试，以达到提升测试速度的目的。

上述实现过程中，传输端子300用于连接上位机400与待测产品200，在待测产品200需要测试多个区域时，通过设置多个电测治具100与多个待测产品200相连，并将待测产品200分别通过传输端子300和上位机400相连，用户通过操作上位机400发送不同指令给电测治具100，电测治具100收到指令后控制相应的待测产品200的内部电路通断，从而同时测试待测产品200的开路和短路。这样使得待测产品200中不同测试区域可以分开测试，并实现多治具同时测试，从而达到提升测试速度的目的。

其中，所述待测产品200为MiniLED。图2中，待测产品200为MiniLED，电测治具A控制待测产品A，以用于测试第一层走线层与第二层走线层之间的短路；电测治具B控制待测产品B，以用于测试走线层第二层走线层内LED灯区断线间开路；测治具C控制待测产品C以用于测试走线层第二层走线层内LED灯区断线间短路。

上述实现过程中，通过上位机400同时下发给电测治具100不同的指令，以同时测试待测产品200不同情况下MiniLED的内部电路的开路和短路。

请参看图3和图4，图3为部分灯区扎针及治具电路图，图4为MiniLED电路总图；图3和图4中设计的数字标号1-40为MiniLED产品电路中的芯片引脚。以Miniled BP产品第二走线层内一个灯区为例：引脚9和引脚10(LED4)之间为常开开关，由继电器K1控制；引脚1和引脚2(IC器件)为常闭开关，由继电器K2控制；引脚3和引脚4(LED1)、引脚5和引脚6(LED2)、引脚7和引脚8(LED3)三个LED灯区引脚间有三个联锁常闭开关，由继电器K3控制。

不同继电器工作状态下电路连通如下：

1.在初始治具电路状态下内部三个继电器不工作，第二走线层与第一走线层间默认开路，第二走线层面内走线为连通状态；

2.继电器K1、K2工作时，引脚9和引脚10之间常开开关闭合，引脚1和引脚2常闭开关断开，LED灯区内连通，第二走线层连通第一走线层至Bonding区；

3.继电器K3工作，继电器K1、K2不工作；LED灯区内断开状态，IC器件连通；

4.继电器K2、K3工作，LED灯区内断开状态、IC器件区之间断开状态。

不同继电器工作状态下，测试步骤如下：

1.测试第二走线层走线与第一走线层走线层间短路；继电器不工作，常开开关断开状态引脚9和引脚10之间为断开、常闭开关连通引脚1和引脚2连通，此时，第一走线层与第二走线层层间不连通；测试第二走线层平面内每个引脚与Bonding区引脚短路状态，可判断第二走线层和第一走线层层间是否短路；

2.测试第二走线层走线平面内LED灯区断线间开路：继电器K2工作，第一走线层和第二走线层断开，测试灯区内引脚3和引脚9之间的开路状态；

3.测试第二走线层走线平面内LED灯区断线间短路：继电器K2、K3工作，第二走线层面内灯区及IC间均为断开状态；测试引脚1和引脚4(引脚11和引脚14)、引脚3和引脚5(引脚13和引脚15)、引脚5和引脚7(引脚15和引脚17)、引脚7和引脚9(引脚17和引脚19)、引脚9和引脚10(引脚19和引脚20)之间的短路状态；

4.测试IC器件区线路开路状态：继电器K3工作，使灯区内三个常闭开关断开，LED灯区内断开，第一走线层和第二走线层之间为断开状态，IC器件连通，测试引脚1至引脚32之间的开路状态；

5.测试IC器件区线路短路状态；继电器K2、K3工作，第二走线层面内灯区及IC间均为断开状态；测试引脚1和引脚11、引脚11和引脚21、引脚21和引脚31、引脚31和引脚32之间的短路。

综上所述，本申请实施例提供的一种电测治具及系统，该电测治具100中的连接件101一端与自动控制模组103相连，另一端与待测产品200相连，将自动控制模组103与待测产品200连接起来。连接件101在自动控制模组103的控制下，使待测产品200中走线层的断线、断点及走线层之间的电路连接状态改变，从而可以测试待测产品200的走线层中断线、断点之间的开路和短路，还能测试待测产品200的走线层之间是否短路。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (10)

1.一种电测治具，其特征在于，包括连接件和自动控制模组；

所述连接件，其分别与自动控制模组及待测产品连接；

所述自动控制模组，其与连接件的一端相连，并通过连接件的另一端与待测产品的断线和断点以及走线层相连，以用于控制所述待测产品的走线层中的断线和断点以及走线层之间的连接。

2.根据权利要求1所述的电测治具，其特征在于，所述连接件具有导电功能。

3.根据权利要求2所述的电测治具，其特征在于，所述自动控制模组包括开关器件和控制器件；

所述开关器件，其输入端及输出端分别与不同的所述连接件相连，以使不同的所述连接件之间连通；

所述控制器件，其与所述开关器件相连，用于控制所述开关器件的输入端及输出端连通。

4.根据权利要求3所述的电测治具，其特征在于，所述开关器件为继电器或微型开关。

5.根据权利要求4所述的电测治具，其特征在于，所述继电器的常开或者常闭引脚连接到所述连接件。

6.根据权利要求3所述的电测治具，其特征在于，所述控制器件包括自动控制器和/或手动控制器。

7.根据权利要求6所述的电测治具，其特征在于，所述自动控制器为单片机、PLC或具有控制功能的电路模块。

8.根据权利要求6所述的电测治具，其特征在于，所述手动控制器为手动按压开关或拨动开关。

9.一种电测系统，其特征在于，包括待测产品、传输端子、上位机和至少一个如权利要求1-8中任意一项所述的电测治具；

所述待测产品，其与电测治具的连接件连接；

所述上位机，其通过所述传输端子与所述至少一个电测治具连接，以用于根据用户的操作向所述电测治具发送指令；

所述电测治具，其用于根据所述指令对所述待测产品进行测试。

10.根据权利要求9所述的电测系统，其特征在于，所述待测产品为MiniLED。

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