CN213657760U - 数显框架支距测量尺 - Google Patents

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吕肖晗
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Xiangyang Lianjie Electromechanical Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及铁路测量仪器技术领域,尤其涉及一种数显框架支距测量尺,包括磁栅尺带、磁栅读数头,所述磁栅读数头通过滑块套接于与所述磁栅尺带外,所述磁栅尺带的一端设置有平板状的绝缘底板,所述绝缘底部的靠近所述磁栅读数头的一侧设置有用于抵触道岔直基本轨工作边的两个固定测头,所述滑块的底部设置有用于抵触另一钢轨外侧的滑动测量板,所述绝缘底板的底面与所述滑块的底面位于同一平面,所述磁栅读数头包括磁头、用于数据处理的电路板、显示屏,本实用新型结构科学,将绝缘底板和滑块分别搭在两个基本轨上,固定测头抵触道岔直基本轨的工作边,通过固定测头和滑动测量板可快速测量支距,并计算得到框架,其使用磁栅尺,测量更为准确。

Description

数显框架支距测量尺
技术领域
本实用新型涉及铁路测量仪器技术领域,特别是涉及一种数显框架支距测量尺。
背景技术
随着我国铁路交通事业的快速发展,我国的铁路里程已达到了13万公里。当列车由一轨道转至另一轨道或进入维修车场、工厂的轨道时,在轨道上必须有特殊的布置,以引导车轮轮缘顺利进入所指定的轨道,此布置即称为道岔,道岔的构造主要包括一组转辙器、一个岔心、两根护轨及一排岔枕,其中转辙器包括两根基本轨、两根尖轨、各种连接件及道岔转换设备组成,连接件包括滑床板、限位器、轨撑及道岔拉杆等。其中,从一基本轨的侧面(不含基本轨的钢轨宽度)至另一个基本轨相同的一侧(含一个基本轨的钢轨宽度)的距离定义为支距,从一基本轨的侧面(不含基本轨的钢轨宽度)至另一个基本轨相对的一侧(不含一个基本轨的钢轨宽度)的距离定义为框架,在施工和检修时,需要测量该支距和框架。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,而提供一种数显框架支距测量尺,其结构科学,将其搭在两个基本轨上,通过固定测头和滑动测量板可以快速测量支距,并计算得到框架,并且使用磁栅尺进行测量,测量更为准确。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种数显框架支距测量尺,其包括磁栅尺带、磁栅读数头,所述磁栅读数头通过滑块套接于与所述磁栅尺带外,所述磁栅尺带的一端设置有T字型的绝缘底板,所述绝缘底板的靠近所述磁栅读数头的一侧设置有用于抵触道岔直基本轨工作边的两个固定测头,所述滑块的底部设置有用于抵触另一钢轨外侧的滑动测量板,所述绝缘底板的底面与所述滑块的底面位于同一平面,所述磁栅读数头包括磁头、用于数据处理的电路板、显示屏。
优选的,所述磁栅尺带的顶面和侧面分别设置有滑槽,所述滑块沿所述滑槽与所述磁栅尺带滑动连接,磁栅尺带和滑块贴合更为紧密,测量更为精准。
优选的,所述两个固定测头为直径为25mm的圆柱体,通过该圆柱体的侧面抵触钢轨的侧面。
优选的,所述两个固定测头工作边的母线所构成的平面与所述磁栅尺带的长度方向垂直。
优选的,所述磁栅尺带的另一端设置有护套,所述护套固定套接于所述磁栅尺带的外部。
优选的,所述绝缘底板的中部设置有用于限制所述滑块位置的挡块。
本实用新型的有益效果是:一种数显框架支距测量尺,其包括磁栅尺带、磁栅读数头,所述磁栅读数头通过滑块套接于与所述磁栅尺带外,所述磁栅尺带的一端设置有平板状的绝缘底板,所述绝缘底板的靠近所述磁栅读数头的一侧设置有用于抵触道岔直基本轨工作边的两个固定测头,所述滑块的底部设置有用于抵触另一钢轨外侧的滑动测量板,所述绝缘底板的底面与所述滑块的底面位于同一平面,所述磁栅读数头包括磁头、用于数据处理的电路板、显示屏,本实用新型结构科学,将绝缘底板和滑块分别搭在两个基本轨上,固定测头抵触道岔直基本轨工作边,通过固定测头和滑动测量板可以快速测量支距,并计算得到框架,并且使用磁栅尺进行测量,测量更为准确。
附图说明
图1是本实用新型的数显框架支距测量尺的结构示意图。
图2是本实用新型的数显框架支距测量尺靠近固定测头一端的局部放大图。
图3是磁栅尺带的截面示意图。
附图标记说明:
1——磁栅尺带 11——滑槽
2——磁栅读数头 3——滑块
4——绝缘底板 41——挡块
5——固定测头 6——滑动测量板
7——护套。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细的说明,并不是把本实用新型的实施范围限制于此。
如图1至图3所示,本实施例的数显框架支距测量尺,其包括磁栅尺带 1、磁栅读数头2,所述磁栅读数头2通过滑块3套接于与所述磁栅尺带1外。所述磁栅尺带1的一端设置有平板状的绝缘底板4,所述绝缘底板4的靠近所述磁栅读数头2的一侧设置有用于抵触道岔直基本轨工作边的两个固定测头5,所述滑块3的底部设置有用于抵触另一钢轨外侧的滑动测量板6,该外侧是指相对固定测头5而沿朝外的一侧。所述绝缘底板4的底面与所述滑块3的底面位于同一平面,所述磁栅读数头2包括磁头、用于数据处理的电路板、显示屏,磁栅读数头2通过测头可以测量其相对磁栅尺带1移动的距离,测得支距后,利用电路板进行计算,得到框架的数据。
本实施例的绝缘底板4大致为T字形,其向外延伸的两端处底面设置有固定测头5,另一端沿磁栅尺带1的方向延伸,通过该处与磁栅尺带固定连接。
进一步的,所述磁栅尺带1的顶面和侧面分别设置有滑槽11,其截面图如图3所示。所述滑块3沿所述滑槽11与所述磁栅尺带1滑动连接,可以防止滑动块3晃动。
进一步的,所述两个固定测头5为直径为25mm的圆柱体。
进一步的,所述两个固定测头5工作边的母线所构成的平面与所述磁栅尺带1的长度方向垂直。
进一步的,所述磁栅尺带1的另一端设置有护套7,所述护套7固定套接于所述磁栅尺带1的外部,用于保护磁栅尺带1,避免损坏。
进一步的,所述绝缘底板4的中部设置有用于限制所述滑块3位置的挡块41,当滑动块3向固定测头5移动至终点时,滑动块3抵触该挡块41。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (6)

1.数显框架支距测量尺,其特征在于:包括磁栅尺带(1)、磁栅读数头(2),所述磁栅读数头(2)通过滑块(3)套接于与所述磁栅尺带(1)外,所述磁栅尺带(1)的一端设置有T字型的绝缘底板(4),所述绝缘底板(4)的靠近所述磁栅读数头(2)的一侧设置有用于抵触道岔直基本轨工作边的两个固定测头(5),所述滑块(3)的底部设置有用于抵触另一钢轨外侧的滑动测量板(6),所述绝缘底板(4)的底面与所述滑块(3)的底面位于同一平面,所述磁栅读数头(2)包括磁头、用于数据处理的电路板、显示屏。
2.根据权利要求1所述的数显框架支距测量尺,其特征在于:所述磁栅尺带(1)的顶面和侧面分别设置有滑槽(11),所述滑块(3)沿所述滑槽(11)与所述磁栅尺带(1)滑动连接。
3.根据权利要求1所述的数显框架支距测量尺,其特征在于:所述两个固定测头(5)为直径为25mm的圆柱体。
4.根据权利要求3所述的数显框架支距测量尺,其特征在于:所述两个固定测头(5)工作边的母线所构成的平面与所述磁栅尺带(1)的长度方向垂直。
5.根据权利要求1所述的数显框架支距测量尺,其特征在于:所述磁栅尺带(1)的另一端设置有护套(7),所述护套(7)固定套接于所述磁栅尺带(1)的外部。
6.根据权利要求1所述的数显框架支距测量尺,其特征在于:所述绝缘底板(4)的中部设置有用于限制所述滑块(3)位置的挡块(41)。
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