CN213633700U - 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 - Google Patents
一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN213633700U CN213633700U CN202021884583.6U CN202021884583U CN213633700U CN 213633700 U CN213633700 U CN 213633700U CN 202021884583 U CN202021884583 U CN 202021884583U CN 213633700 U CN213633700 U CN 213633700U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- testing
- modules
- circuits
- switch control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Abstract
一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统是以量产测试数字类智能开关控制芯片产品为目标的高性能集成电路测试机，可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试，主要可测试运放等线性电路、功放类电路、马达驱动类电路、电源管理类电路、收音机类电路等各类模拟电路和数模类电路。系统由工控机、测试主机、DUT盒、测试终端接口、GPIB接口等几部分构成，测试盒可以放到最靠近测试区的位置，以达到最佳的测试效果，整个测试系统由不同的电源模块和信号模块组成，可以根据用户产品测试的实际需要选择合适的模块和数量，各模块在机架内插入槽位不受限制，插入后软件自动识别并加以控制，开机后可以通过软件查看系统的实际配置情况。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试，特别涉及一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统。
背景技术
智能开关集成电路芯片(integrated circuit chip,IC)的电性测试在半导体制作工艺(semiconductor process)的各阶段中都是相当重要的。每一个智能开关控制芯片都必须接受测试以确保其电性功能(electrical function)。
在集成电路芯片的测试过程中，使用的测试设备主要包括:测试机(AutomaticTest Equipment,ATE)及探针台(prober)。其中，测试机是用于晶圆和其他成品测试的一种专用设备，可以实现各种电性参数的测量，以检测集成电路芯片的电性功能。
实用新型内容
本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统。
本实用新型的的目的可以通过以下技术方案来实现：
一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统，包括：
一电源单元，是经过专门设计的专用电源；
一测试站，是测试机提供给用户的测试总线接口是测试机提供给用户的测试总线接口。
一测试终端接口，提供了TTL和GPIB两种测试终端接口。
一GPIB接口，主要用于测试系统校准校验、与探针台或分选机联机自动测试、控制专用仪器测试等。
进一步的，电源单元为测试机提供+5V、+12V、±15V、±24V、±55V等电源，电源开启时短时交流电流会达到25-30A，因此桥架上开关容量至少40A。
进一步的，测试站在同一个站中，用户可根据被测试产品的所需资源和测试机已配有的硬件资源，选择多个电路并行测试，当然实际的自动并行测试还需要有自动分选机的配合。
进一步的，测试终端接口信号的有效电平选择(高电平有效、低电平有效)和各信号间的时序设置可由测试系统软件任意设置，用户只要合理选择图中的5个时间参数(T1-T5)就能方便地达到你所需。
要的时序要求，设计完成后新命名就可供其他所有的测试程序选用。
进一步的，GPIB接口由插在工控机中的GPIB卡提供，一个接口最多可同时挂接16个设备。
本实用新型的有益效果是，解决了采用常规测试方法时，测试流程复杂，不够准确，时间太长等问题。
附图说明
图1为本实用新型一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统的一种实施例架构图。
图2为本实用新型测试站中DUT盒结构图。
图3、图4为本实用新型中测试终端接口高低电平有效时序图。
图5为本实用新型中的芯片测试步骤流程
具体实施方式
结合附图所示，本实用新型的技术方案作进一步的描述：
本实用新型一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统，包括：
电源单元，是经过专门设计的专用电源；
测试站，是测试机提供给用户的测试总线接口是测试机提供给用户的测试总线接口。
测试终端接口，提供了TTL和GPIB两种测试终端接口(如图2)。
GPIB接口，主要用于测试系统校准校验、与探针台或分选机联机自动测试、控制专用仪器测试等。
进一步的，电源单元为测试机提供+5V、+12V、±15V、±24V、±55V等电源，电源开启时短时交流电流会达到25-30A，因此桥架上开关容量至少40A。
进一步的，测试站在同一个站中，用户可根据被测试产品的所需资源和测试机已配有的硬件资源，选择多个电路并行测试，当然实际的自动并行测试还需要有自动分选机的配合。
进一步的，测试终端接口信号的有效电平选择(高电平有效、低电平有效)和各信号间的时序设置(如图3、图4)可由测试系统软件任意设置，用户只要合理选择图中的5个时间参数(T1-T5)就能方便地达到你所需要的时序要求，设计完成后新命名就可供其他所有的测试程序选用。
进一步的，GPIB接口由插在工控机中的GPIB卡提供，一个接口最多可同时挂接16个设备。
图5，其为本实用新型基于芯片测试的软件测试流程图，首先打开与测试系统相配套的软件，导入对应的测试程序，接着进行测试设置，把对应的测试参数设置好，然后运行程序得到MPA图，对其进行数据分析，得出芯片测试结果并对其校准。
最后应说明的是：
本领域技术人员可以参考本文内容，实施该方法，实现其应用，特别需要指出的是，所有类似的替换和改动对本领域技术人员来说是显而易见的，它们都被视为包括在本实用新型内。本实用新型的方法及应用己经通过较佳的实施例进行了描述，相关人员明显能在不脱离本实用新型内容、精神和范围内对本文制各方法和应用进行改动或适当变更与组合，来实现和应用本实用新型技术。
以上实施例仅用以说明而非限制本实用新型的技术方案，尽管参照上述实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本实用新型进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型的精神和范围，而所附权利要求意在涵盖落入本实用新型精神和范围中的这些修改或者等同替换。
Claims (1)
1.一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统，其特征在于，包括：
电源单元：为测试机提供+5V、+12V、±15V、±24V、±55V的电源，电源开启时短时交流电流会达到25-30A，桥架上开关容量至少40A；
测试站：用于测试机提供给用户的测试总线接口；
测试终端接口，提供了TTL和GPIB两种测试终端接口；
GPIB接口：用于测试系统校准校验、与探针台或分选机联机自动测试、控制专用仪器测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021884583.6U CN213633700U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021884583.6U CN213633700U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN213633700U true CN213633700U (zh) | 2021-07-06 |
Family
ID=76646552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202021884583.6U Active CN213633700U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN213633700U (zh) |
-
2021
- 2021-05-11 CN CN202021884583.6U patent/CN213633700U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI277749B (en) | Low cost test for IC's or electrical modules using standard reconfigurable logic devices | |
| US7036062B2 (en) | Single board DFT integrated circuit tester | |
| CN102520332B (zh) | 晶圆测试装置及方法 | |
| EP2220509B1 (en) | Semiconductor device test system | |
| US10451653B2 (en) | Controlling a per-pin measurement unit | |
| WO2007089937A2 (en) | High-speed capacitor leakage measurement systems and methods | |
| CN115932540B (zh) | 一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法 | |
| CN103267940B (zh) | 多模块平行测试系统 | |
| JPH0526985A (ja) | 半導体集積回路の測定方法 | |
| US7768283B1 (en) | Universal socketless test fixture | |
| CN102662092A (zh) | 晶圆测试装置及方法 | |
| CN213633700U (zh) | 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统 | |
| CN112014604A (zh) | 一种晶圆测试装置、测试系统及测试方法 | |
| CN109727882B (zh) | 半导体功率器件的并行测试设备 | |
| CN116183985A (zh) | 用于晶圆测试的探针卡、测试系统及测试方法 | |
| CN115032520A (zh) | 一种用于测试电源管理芯片的自动化远程测控系统 | |
| CN105118795A (zh) | 一种晶片测试方法 | |
| CN111693754B (zh) | 通信模组pin脚电压检测装置、设备及方法 | |
| US6693434B2 (en) | Automated system for estimating ring oscillator reliability and testing AC response and method of operation thereof | |
| US6753688B2 (en) | Interconnect package cluster probe short removal apparatus and method | |
| US5968193A (en) | Dual site loadboard tester | |
| CN106526459B (zh) | 高性能射频遥控自动化测试系统及其方法 | |
| CN218675203U (zh) | 一种特种应用pcba电性能测试系统 | |
| CN212459794U (zh) | 一种具有通道测试功能的探针卡 | |
| KR101336345B1 (ko) | 반도체 테스트 시스템에서의 모듈 단위 테스트 이벤트 신호 제어 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |