CN213517378U - 电子装置外壳检测机构 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种电子装置外壳检测机构，其包括检测平台。检测平台具有外壳检测区域；以及模拟天线组件置放于外壳检测区域上，模拟天线组件包括模拟天线与基板，模拟天线设置于基板上，模拟天线用于模拟电子装置的内置天线。如此可以不用破坏电子装置的情况下，通过模拟天线组件模拟电子装置的天线射频去测试电子装置的外壳的回波损耗，而达到精确客观的测量结果。

Description

电子装置外壳检测机构

技术领域

本申请涉及检测机构的技术领域，尤其涉及一种电子装置外壳检测机构。

背景技术

于现有技术中，大多数的电子装置都具有通讯或网络等功能，所以大多数的电子装置都具有天线，天线已经是电子装置内不可或缺的配备。然，目前电子装置的天线大多数都是内置天线，由于电子装置的外壳会包覆住内置天线，电子装置的外壳会影响到内置天线发送的频率，所以电子装置在制造生产的过程中，将覆盖于天线上的电子装置的外壳要进行检测，以管控好材料的一致性，避免电子装置的外壳对于内置天线的射频性能影响过大。但目前来看，现有检测方式无法在不破坏电子装置情况下进行客观且精确的测试电子装置的外壳对于内置天线的射频性能的回波损耗。

实用新型内容

本申请实施例提供一种电子装置外壳检测机构，可以有效解决目前检测电子装置的天线时，需要破坏电子装置的整体结构，才能够达检测天线射频的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：提供了一种电子装置外壳检测机构，其包括：检测平台，其具有外壳检测区域；以及模拟天线组件，其置放于外壳检测区域上，模拟天线组件包括模拟天线与基板，模拟天线设置于基板上，模拟天线用于模拟电子装置的内置天线。

在本申请实施例中，电子装置外壳检测机构通过检测平台上设有模拟天线组件，模拟天线组件能够模拟电子装置的内置天线全频段作为测试。其中电子装置外壳置于模拟天线组件上，模拟天线组件模拟电子装置的天线频率，以用于测试电子装置外壳会对于模拟天线组件所发出的频率造成多大的影响。如此可以不用破坏电子装置的情况下，通过模拟天线组件模拟电子装置的天线射频去测试电子装置的外壳的回波损耗，而达到精确的测量结果。

在其中一个实施例中，还包括同轴电缆与网络测试仪，所述同轴电缆的一端连接所述基板上的所述模拟天线，所述同轴电缆的另一端连接所述网络测试仪。

在其中一个实施例中，所述检测平台具有盖体与盒体，所述外壳检测区域设于所述盖体上，所述同轴电缆位于所述盒体内，所述盖体的一侧与所述盒体的一侧互相枢转设置。

在其中一个实施例中，所述检测平台具有锁扣件，所述锁扣件设置于所述盖体的另一侧与所述盒体的另一侧，所述锁扣件将所述盖体与所述盒体锁住。

在其中一个实施例中，所述检测平台上开设有容置槽，所述容置槽位于所述外壳检测区域，所述模拟天线组件位于所述容置槽内。

在其中一个实施例中，所述容置槽的槽底具有开孔，所述基板位于所述容置槽的槽底，所述同轴电缆的一端穿过所述开孔，并连接所述基板上的所述模拟天线。

在其中一个实施例中，所述容置槽具有外壳容置区和位于所述外壳容置区两侧的取物区，所述取物区与所述外壳容置区连通，所述开孔开设于所述外壳容置区。

在其中一个实施例中，还包括固定块，所述固定块的一侧与所述检测平台互相枢转设置，并所述固定块位于所述容置槽的一侧以覆盖住所述容置槽。

在其中一个实施例中，所述基板为印刷电路板。

在其中一个实施例中，所述模拟天线为全频段的耦合双天线、微带贴片天线、缝隙天线、IFA天线、倒L天线、PIFA天线或陶瓷天线。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施方式及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请的电子装置外壳检测机构与手机外壳的分解图；

图2是本申请的电子装置外壳检测机构与手机外壳的立体图；

图3是本申请的电子装置外壳检测机构与手机外壳的检测动作图一；

图4是本申请的电子装置外壳检测机构与手机外壳的检测动作图二；

图5是本申请的模拟天线的示意图；

图6是本申请的模拟天线的另一示意图；以及

图7是本申请的模拟天线的再一示意图。

具体实施方式

以下将以图式揭露本申请的多个实施方式，为明确说明起见，许多实施上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实施上的细节不应用以限制本申请。也就是说，在本申请的部分实施方式中，这些实施上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示。在以下各实施例中，将以相同的标号表示相同或相似的组件。

请参阅图1与图2,是本申请的电子装置外壳检测机构的分解图与立体图。如图所示，本实施方式的电子装置外壳检测机构1，其包括检测平台11。检测平台11具有外壳检测区域111，以及模拟天线组件13置放于外壳检测区域111上，模拟天线组件13包括模拟天线131与基板133，模拟天线131设置于基板133上，模拟天线131用于模拟电子装置的内置天线，电子装置可为计算机或手机等行动装置或为使用者所需检测的电子装置。上述可依据使用者的需求调整基板133上的模拟天线131。

再者，检测平台11上开设有容置槽113，容置槽113位于外壳检测区域111，模拟天线组件13位于容置槽113内，其中容置槽113具有外壳容置区1131和位于外壳容置区1131两侧的取物区1133，取物区1133与外壳容置区1131连通，其中容置槽113的外壳容置区1131的区域大小与模拟天线组件13的尺寸大小相同。当模拟天线组件13置于容置槽113的外壳容置区1131内，模拟天线组件13受到外壳容置区1131的固定限位，使模拟天线组件13于检测过程中不容易偏移。另外，若要取出模拟天线组件13时，使用者可以通过取物区1133施力于模拟天线组件13的侧边取出。

于本实施方式中，电子装置外壳检测机构1还包括同轴电缆15与网络测试仪17，同轴电缆15的一端连接基板133上的模拟天线131，同轴电缆15的另一端连接网络测试仪17。其中网络测试仪17用于测量器件(如电子装置外壳)相对于网络的反射特性和传输特性。同轴电缆15用于辅助网络测试仪17发送信号与接收信号。更进一步来说，基板133位于容置槽113的槽底，容置槽113的槽底具有开孔1135，开孔1135开设于容置槽113的外壳容置区1131，同轴电缆15的一端穿过开孔1135，并连接基板133上的模拟天线131。

另外，电子装置外壳检测机构1还包括固定块19，固定块19的一侧与检测平台11互相枢转设置，并固定块19位于容置槽113的一侧，固定块19相对于检测平台11朝向容置槽113枢转以覆盖住容置槽113。

请参阅图3与图4，是本申请的电子装置外壳检测机构的检测动作图一与检测动作图二。如图所示，于本实施方式中，使用者将需要检测的电子装置外壳2置放于容置槽113的外壳容置区1131，其中电子装置外壳2的材质由玻璃、塑胶、陶瓷、金属、油漆、胶水与橡胶所组成群组中的一种或多种的组成，其并不限制受检测的电子装置外壳2的材质，任何材质皆可以进行检测。电子装置外壳2的尺寸大小与容置槽113的外壳容置区1131的区域大小相同，电子装置外壳2固定限位于容置槽113的外壳容置区1131内，使电子装置外壳2于检测过程中不容易偏移。电子装置外壳2位于基板133的模拟天线131的上方，将固定块19枢转往容置槽113移动，使固定块19固定于电子装置外壳2，电子装置外壳2压紧于模拟天线131上。

使用者通过网络测试仪17进行检测，打开网络分析仪的S11/S22端口，操作网络测试仪17选择回波损耗测试，其中回波损耗RL(Return Loss)指的是射频输入信号反射回来的功率与输入信号功率的比值。网络测试仪17通过同轴电缆15传递信号至模拟天线131上，模拟天线131再发出信号对电子装置外壳2进行检测。电子装置外壳2反射部分信号至模拟天线131，模拟天线131将接收到的反射信号通过同轴电缆15传递回网络测试仪17。网络测试仪17将发出的信号以及接收到的反射信号进行分析计算出比值，如此可以获得回波损耗。使用者也可利用网络测试仪17检测阻抗和驻波比等等其它数值。

另外，使用者于使用网络测试仪17检测电子装置外壳2前，使用者可以先对标准样品的电子装置外壳进行测试，如此可以检测出标准样品的电子装置外壳的回波损耗测试的数值，使用者再通过标准样品的电子装置外壳检测出的回波损耗数值设置出合理数值范围的上限值与下限值。当检测多个电子装置外壳2时，受检测的电子装置外壳2的回波损耗数值为合理数值范围内，则网络测试仪17自动判断为正常无差异，反之，受检测的电子装置外壳2的回波损耗数值为合理数值范围外，则网络测试仪17自动判断为异常有差异的情况。

请复参阅图1，检测平台11具有盖体115与盒体117，外壳检测区域111设于盖体115上，同轴电缆15位于盒体117内，盖体115的一侧与盒体117的一侧互相枢转设置。又，检测平台11具有锁扣件119，锁扣件119设置于盖体115的另一侧与盒体117的另一侧，锁扣件119将盖体115与盒体117锁住。于本实施方式中，使用者可将电子装置外壳检测机构1进行随身携带，检测平台11的盒体117内可依据使用者的需求收纳网络检测仪、备用的同轴电缆、模拟天线组件或需要受检测的电子装置壳体等等，如此更能方便使用者随时对于电子装置外壳2进行检测。锁扣件119则是固定盖体115与盒体117，避免使用者于检测过程中意外将盖体115与盒体117打开，影响检测电子装置外壳2的过程。

请参阅图5到图7，是本申请的模拟天线的示意图、另一示意图与再一示意图。如图所示，于本实施方式中，模拟天线组件13包括模拟天线131与基板133，模拟天线131设置于基板133上，基板133为印刷电路板，使用者依据需求印刷所需的模拟天线131于基板133上。以图5为例，模拟天线131具有两个大面积全频段的扇形天线，频率从500Mhz-8.5Ghz有全向的辐射性能，且集中于模拟天线131正上方的场型分布，模拟天线131能敏感的反馈距离最近介质对天线影响产生的变化，且无需区分电子装置外壳2的材质皆可检测。

电子装置外壳检测机构1并不限制模拟天线131的天线样式，模拟天线131可依据需要受检测的电子装置外壳所对应的电子装置内置天线型式进行设置，才能够准确检测到电子装置外壳对于内置天线讯号的影响。模拟天线131可为全频段的耦合双天线(如图5与图6)、微带贴片天线、缝隙天线、IFA天线(如图7)、倒L天线、PIFA天线或陶瓷天线等等。

综上所述，本申请提供一种电子装置外壳检测机构，其通过检测平台上设有模拟天线组件，模拟天线组件能够模拟电子装置的内置天线全频段作为测试。其中电子装置外壳置于模拟天线组件上，模拟天线组件模拟电子装置的天线频率，以用于测试电子装置外壳会对于模拟天线组件所发出的频率造成多大的影响。如此可以不用破坏电子装置的情况下，通过模拟天线组件模拟电子装置的天线射频去测试电子装置的外壳的回波损耗，而达到精确客观的测量结果。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施方式，但如前对象，应当理解本申请并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施方式的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文对象实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本申请的精神和范围，则都应在本申请所附权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子装置外壳检测机构，其特征在于，包括：

检测平台，其具有外壳检测区域；以及

模拟天线组件，其置放于所述外壳检测区域上，所述模拟天线组件包括模拟天线与基板，所述模拟天线设置于所述基板上，所述模拟天线用于模拟电子装置的内置天线。

2.如权利要求1所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，还包括同轴电缆与网络测试仪，所述同轴电缆的一端连接所述基板上的所述模拟天线，所述同轴电缆的另一端连接所述网络测试仪。

3.如权利要求2所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述检测平台具有盖体与盒体，所述外壳检测区域设于所述盖体上，所述同轴电缆位于所述盒体内，所述盖体的一侧与所述盒体的一侧互相枢转设置。

4.如权利要求3所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述检测平台具有锁扣件，所述锁扣件设置于所述盖体的另一侧与所述盒体的另一侧，所述锁扣件将所述盖体与所述盒体锁住。

5.如权利要求2所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述检测平台上开设有容置槽，所述容置槽位于所述外壳检测区域，所述模拟天线组件位于所述容置槽内。

6.如权利要求5所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述容置槽的槽底具有开孔，所述基板位于所述容置槽的槽底，所述同轴电缆的一端穿过所述开孔，并连接所述基板上的所述模拟天线。

7.如权利要求6所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述容置槽具有外壳容置区和位于所述外壳容置区两侧的取物区，所述取物区与所述外壳容置区连通，所述开孔开设于所述外壳容置区。

8.如权利要求5所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，还包括固定块，所述固定块的一侧与所述检测平台互相枢转设置，所述固定块位于所述容置槽的一侧以覆盖住所述容置槽。

9.如权利要求1所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述基板为印刷电路板。

10.如权利要求1所述的电子装置外壳检测机构，其特征在于，所述模拟天线为全频段的耦合双天线、微带贴片天线、缝隙天线、IFA天线、倒L天线、PIFA天线或陶瓷天线。

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