CN213457179U - 触摸按键功能测试装置 - Google Patents

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China
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testing
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Inventor
蒋小强
康腾飞
肖思良
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Dongguan Xianghua Jianqiang Photoelectric Technology Co ltd
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Dongguan Xianghua Jianqiang Photoelectric Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型公开一种触摸按键功能测试装置,包括测试机,测试机上设有测试底座、测试上座以及驱动测试上座上下活动的驱动机构;该测试底座位于测试上座的下方,测试底座上设有测试PCB板,测试PCB板上设有与触摸屏上的pin脚对应的触点;该测试上座的下表面设有压板,压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,凸面和前述触点均与测试机内的测试系统电连接;通过在压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,在测试时,通过凸面与触摸板上的按键接触,从而模拟真实触摸情况,可以避免因为单按键感应量不足或者超感应导致的触摸过于灵敏或不灵敏等情况,提高触摸测试的准确性,从而保证客户使用稳定性。

Description

触摸按键功能测试装置
技术领域
本实用新型涉及触摸按键测试装置领域技术,尤其是指一种触摸按键功能测试装置。
背景技术
触摸屏广泛应用在手机、电脑等产品上。在触摸屏的生产过程中,必须对触摸屏进行测试。传统测试中,通过测试触摸屏pin银线到内部触摸按键的开短路,当按键较多或者引线距离较远会出现触摸感应量不一的现象,传统的探针测试无法准确测试出各按键的容抗、容值,不能完全保证测试准确性,在终端使用上会有触摸感应不灵敏或触摸失效等现象。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种触摸按键功能测试装置,其能提高触摸屏测试的准确性,从而保证客户使用的稳定性。
为实现上述目的,本实用新型采用如下之技术方案:
一种触摸按键功能测试装置,包括测试机,测试机上设有测试底座、测试上座以及驱动测试上座上下活动的驱动机构;该测试底座位于测试上座的下方,测试底座上设有测试PCB板,测试PCB板上设有与触摸屏上的pin脚对应的触点;该测试上座的下表面设有压板,压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,凸面和前述触点均与测试机内的测试系统电连接。
作为一种优选方案,所述凸面凸出的厚度为2.5~3.0mm。
作为一种优选方案,所述测试机上设有开关按钮。
作为一种优选方案,还包括主机和用于显示结果的显示屏,主机与测试机连接。
本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,由上述技术方案可知,其主要是通过在压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,在测试时,通过凸面与触摸板上的按键接触,从而模拟真实触摸情况,可以避免因为单按键感应量不足或者超感应导致的触摸过于灵敏或不灵敏等情况,提高触摸测试的准确性,从而保证客户使用稳定性。
为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效,下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。
附图说明
图1是本实用新型之实施例的部分结构示意图;
图2是本实用新型之实施例的部分结构示意图。
附图标识说明:
10、测试机 11、测试底座
12、测试上座 13、测试PCB板
14、压板 15、凸面
16、开关按钮 20、主机
30、显示屏 40、触摸屏。
具体实施方式
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的位置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以视具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参照图1至图2所示,其显示出了本实用新型之实施例的具体结构,包括测试机10,测试机10上设有测试底座11、测试上座12以及驱动测试上座12上下活动的驱动机构(图中未示),在本实施例中,还包括主机20和用于显示结果的显示屏30,主机20与测试机10连接。
该测试底座11位于测试上座12的下方,测试底座11上设有测试PCB板13,测试PCB板13上设有与触摸屏40上的pin脚对应的触点;该测试上座12的下表面设有压板14,压板14的下表面设有与待测试触摸屏40上的按键一一对应的凸面15,凸面15和前述触点均与测试机10内的测试系统电连接,在本实施例中,该凸面15凸出的厚度为2.5~3.0mm,另外,该测试机10上设有开关按钮16。测试时,将触摸屏40放置在测试底座11上,使触摸屏40上的pin脚与测试PCB板13的触点对应导接,然后通过驱动机构驱动测试上座12向下活动,让凸面15与触摸屏40上的按键对应接触,从而模拟真实的触摸情况。
综上所述,本实用新型通过在压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,在测试时,通过凸面与触摸板上的按键接触,从而模拟真实触摸情况,可以避免因为单按键感应量不足或者超感应导致的触摸过于灵敏或不灵敏等情况,提高触摸测试的准确性,从而保证客户使用稳定性。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型的技术范围作任何限制,故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (4)

1.一种触摸按键功能测试装置,其特征在于:包括测试机,测试机上设有测试底座、测试上座以及驱动测试上座上下活动的驱动机构;该测试底座位于测试上座的下方,测试底座上设有测试PCB板,测试PCB板上设有与触摸屏上的pin脚对应的触点;该测试上座的下表面设有压板,压板的下表面设有与待测试触摸屏上的按键一一对应的凸面,凸面和前述触点均与测试机内的测试系统电连接。
2.根据权利要求1所述的触摸按键功能测试装置,其特征在于:所述凸面凸出的厚度为2.5~3.0mm。
3.根据权利要求1所述的触摸按键功能测试装置,其特征在于:所述测试机上设有开关按钮。
4.根据权利要求1所述的触摸按键功能测试装置,其特征在于:还包括主机和用于显示结果的显示屏,主机与测试机连接。
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