CN213457147U - 老化测试电路及老化测试平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种老化测试电路及老化测试平台，所述电路包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，待测一体板的直流电源输出端与电子负载连接，待测一体板的背光输出端与LED负载连接，控制模块分别与电子负载和LED负载连接；待测一体板，用于通过电子负载进行电源输出老化检测，以及通过LED负载进行背光输出老化检测；控制模块，用于向电子负载发送模式调整信号，以调整电子负载的负载模式；控制模块，还用于向LED负载发送LED调整信号，以调整LED负载的带载参数。本实用新型能够通过电子负载和LED负载对待测一体板进行综合老化测试，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路电子领域，尤其涉及老化测试电路及老化测试平台。
背景技术
目前，包含电源负载和背光负载的一体板在进行老化测试时，通常会出现测试平台无合适的灯条负载而无法进行背光老化测试的问题，还容易因测试接口的定义不一致而导致测试时需要手动跳线来测试一体板。而对于不同规格的一体板，还需要为每个规格的被测一体板选用合适的灯条负载，以在测试每一款一体板时，将选择的符合参数的灯条与一体板对接测试，测试前操作十分繁琐，测试效率较低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种老化测试电路及老化测试平台，旨在解决一体板老化测试时匹配合适的负载较为繁琐的问题。
为了实现上述目的，本实用新型提供一种老化测试电路，包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，所述待测一体板的直流电源输出端与所述电子负载连接，所述待测一体板的背光输出端与所述LED负载连接，所述控制模块分别与所述电子负载和所述LED负载连接；
所述待测一体板，用于通过所述电子负载进行电源输出老化检测，以及通过所述LED负载进行背光输出老化检测；
所述控制模块，用于向所述电子负载发送模式调整信号，以调整所述电子负载的负载模式；
所述控制模块，还用于向所述LED负载发送LED调整信号，以调整所述LED负载的带载参数。
可选地，所述控制模块与上位机连接，所述控制模块还用于根据上位机发送的老化设置参数对所述电子负载或所述LED负载进行调整。
可选地，所述控制模块包括主单片机、从单片机和光电隔离电路，所述主单片机与上位机连接，所述从单片机与所述电子负载或所述LED负载连接，所述主单片机通过所述光电隔离电路与所述从单片机连接。
可选地，所述控制模块还包括电压检测电路，所述电压检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；
所述控制模块，用于在检测到所述待测一体板输出的背光电压高于开启电压时，控制所述LED负载进行带载。
可选地，所述控制模块还包括电流检测电路，所述电流检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；
所述控制模块，还用于根据所述电压检测电路检测到的输出电压和电流检测电路检测到的输出电流发送至上位机以向用户进行显示。
可选地，所述控制模块还包括负载模式切换电路，所述负载模式切换电路的输入端与所述从单片机连接，所述负载模式切换电路的输出端与所述电子负载连接。
可选地，所述老化测试电路还包括与所述待测一体板连接的信号触发板，所述信号触发板通过RS485通讯接口与上位机连接；
所述信号触发板，用于根据上位机发送的通讯指令向所述待测一体板发送相应的背光控制信号，以使所述待测一体板根据所述背光控制信号在进行背光输出老化检测时调整背光。
可选地，所述LED负载为灯珠负载；
所述控制模块，用于向所述灯珠负载发送LED调整信号，以调整所述灯珠负载每个通道接入的灯珠数量以及每个通道之间的连接关系。
可选地，所述控制模块还包括负载供电模块，所述负载供电模块的输出端分别与所述电子负载和所述LED负载连接；
所述负载供电模块，用于为所述电子负载和所述LED负载供电。
此外，为实现上述目的，本实用新型还提供一种老化测试平台，所述老化测试平台包括与市电连接的老化测试电路，所述老化测试电路被配置为如上所述的老化测试电路。
本实用新型通过设置电子负载、LED负载和控制模块，能够通过电子负载对待测一体板的直流输出进行老化检测，并通过LED负载对待测一体板的背光输出进行老化检测。控制模块可以通过调整电子负载或LED负载的设置参数以匹配待测一体板，从而便于对各种不同规格类型的待测一体板进行老化检测，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型老化测试电路一实施例的模块示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
附图标号说明：
| 标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
| 10 | 待测一体板 | 44 | 电压检测电路 |
| 20 | 电子负载 | 45 | 电流检测电路 |
| 30 | LED负载 | 46 | 负载模式切换电路 |
| 40 | 控制模块 | 47 | 负载供电模块 |
| 41 | 主单片机 | 50 | 上位机 |
| 42 | 从单片机 | 60 | 信号触发板 |
| 43 | 光电隔离电路 |
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。
本实用新型提供一种老化测试电路，应用于老化测试平台中，该老化测试平台可以对各种不同规格类型的一体板进行老化测试。
参见图1，在一实施例中，老化测试电路包括待测一体板10、电子负载20、LED负载30及控制模块40，待测一体板10的直流电源输出端与电子负载20连接，待测一体板10的背光输出端与LED负载30连接，控制模块40分别与电子负载20和LED负载30连接。
待测一体板10通常包含有电源负载和背光负载，在对待测一体板10的直流输出进行老化检测时，可以通过电子负载20进行老化检测。电子负载20可以设置不同的负载模式，例如CC(恒流模式)、CV(恒压模式)、CR(恒阻模式)、CP(恒定功率模式)和LED模式等，以模拟各种不同的负载。但电子负载20中的LED模式主要通过CC模式和软件算法进行结合来模拟LED的特性，并不能完全模拟出真实LED特性。因此，在对待测一体板10的背光输出进行老化检测时，可以采用LED负载30进行背光老化检测。LED负载30为真实的LED，可以完全展示出LED的特性，从而实现待测一体板10的背光测试。
可以理解的是，上述LED负载30可以为灯珠负载，灯珠负载可以包括多个灯珠通道，每个灯珠通道接入老化测试的灯珠数量可以通过控制模块40发送的LED调整信号进行设置，各个通道之间还可以设置为串联或并联。其中，灯珠负载可以为XM5113型老化LED负载。
控制模块40可以分别与电子负载20和LED负载30连接，在待测一体板10通过电子负载20进行老化测试时，控制模块40可以向电子负载20发送模式调整信号，以对电子负载20的负载模式进行调整。而在待测一体板10通过LED负载30进行老化测试时，控制模块40可以向LED负载30发送LED调整信号，以对LED负载30的带载参数进行调整。例如，根据待测一体板10的规格，控制模块40可以通过LED调整信号调整接入的LED的规格和数量，以适配该待测一体板10。对于不同负载指标参数的待测一体板10，通过发送LED调整信号即可将该LED负载30调整为合适的灯条负载，以实现待测一体板10的背光老化测试。
在本实施例中，通过设置电子负载20、LED负载30和控制模块40，能够通过电子负载20对待测一体板10的直流输出进行老化检测，并通过LED负载30对待测一体板10的背光输出进行老化检测。控制模块40可以通过调整电子负载20或LED负载30的设置参数以匹配待测一体板10，从而便于对各种不同规格类型的待测一体板10进行老化检测，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。
进一步地，上述控制模块40还与上位机50连接，上位机50可以向控制模块40发送用户设置的老化设置参数，控制模块40根据老化设置参数可以对电子负载20或LED负载30进行参数调整，以对待测一体板10的直流输出和背光输出进行老化检测。
上述控制模块40可以包括主单片机41、从单片机42和光电隔离电路43，主单片机41与上位机50连接，从单片机42与电子负载20或LED负载30连接，主单片机41通过光电隔离电路43与从单片机42连接。主单片机41可以与上位机50进行通讯，从单片机42则与电子负载20或LED负载30连接。主单片机41与从单片机42之间通过光电隔离电路43进行数据通讯，能够实现数据传输的基础上达到电气隔离的目的。具体地，主单片机41可以与两个从单片机42分别通过光电隔离电路43连接，两个从单片机42分别与电子负载20和LED负载30连接。
进一步地，控制模块40可以包括电压检测电路44和电流检测电路45，电压检测电路44的检测端与待测一体板10的背光输出端连接，电流检测电路45的检测端与待测一体板10的背光输出端连接。电压检测电路44可以检测待测一体板10输出的背光电压，电流检测电路45则可以检测待测一体板10在通过LED负载30进行老化测试时的测试电流。在待测一体板10通过LED负载30进行老化测试时，控制模块40还可以根据待测一体板10输出的背光电压判断是否满足带载条件。在背光电压高于预设的开启电压时，控制模块40才控制LED负载30开始拉载。
进一步地，上述老化测试电路还可以包括负载模式切换电路46以及开关驱动电路，负载模式切换电路46的输入端与从单片机42连接，负载模式切换电路46的输出端与电子负载20连接。控制模块40可以根据上位机50发送的参数设置指令向负载模式切换电路46发送模式切换信号，以对电子负载20的负载模式进行调整。负载模式切换电路46根据当前对应的负载模式即可控制电子负载20模拟对应的负载模式以实现老化测试。
上述老化测试电路还可以包括与待测一体板10连接的信号触发板60，信号触发板60可以通过RS485通讯接口与上位机50连接。上位机50可以通过与信号触发板60进行通讯发送背光控制指令，信号触发板60根据该指令即可将相应的背光控制信号发送至待测一体板10，以使待测一体板10在通过LED负载30进行老化测试时，根据背光控制信号调整背光输出。
进一步地，上述老化测试电路还可以包括负载供电模块47，负载供电模块47的输出端分别与电子负载20和LED负载30连接，以为电子负载20和LED负载30进行供电。
本实用新型还提供一种电子设备，该电子设备包括与市电连接的老化测试电路，该自锁式电源开关控制电路的结构可参照上述实施例，在此不再赘述。理所应当地，由于本实施例的老化测试平台采用了上述老化测试电路的技术方案，因此该老化测试平台具有上述老化测试电路所有的有益效果。
以上仅为本实用新型的可选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种老化测试电路，其特征在于，包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，所述待测一体板的直流电源输出端与所述电子负载连接，所述待测一体板的背光输出端与所述LED负载连接，所述控制模块分别与所述电子负载和所述LED负载连接；
所述待测一体板，用于通过所述电子负载进行电源输出老化检测，以及通过所述LED负载进行背光输出老化检测；
所述控制模块，用于向所述电子负载发送模式调整信号，以调整所述电子负载的负载模式；
所述控制模块，还用于向所述LED负载发送LED调整信号，以调整所述LED负载的带载参数。
2.如权利要求1所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块与上位机连接，所述控制模块还用于根据上位机发送的老化设置参数对所述电子负载或所述LED负载进行调整。
3.如权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块包括主单片机、从单片机和光电隔离电路，所述主单片机与上位机连接，所述从单片机与所述电子负载或所述LED负载连接，所述主单片机通过所述光电隔离电路与所述从单片机连接。
4.如权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括电压检测电路，所述电压检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；
所述控制模块，用于在检测到所述待测一体板输出的背光电压高于开启电压时，控制所述LED负载进行带载。
5.如权利要求4所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括电流检测电路，所述电流检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；
所述控制模块，还用于根据所述电压检测电路检测到的输出电压和电流检测电路检测到的输出电流发送至上位机以向用户进行显示。
6.如权利要求3所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括负载模式切换电路，所述负载模式切换电路的输入端与所述从单片机连接，所述负载模式切换电路的输出端与所述电子负载连接。
7.如权利要求1所述的老化测试电路，其特征在于，所述老化测试电路还包括与所述待测一体板连接的信号触发板，所述信号触发板通过RS485通讯接口与上位机连接；
所述信号触发板，用于根据上位机发送的通讯指令向所述待测一体板发送相应的背光控制信号，以使所述待测一体板根据所述背光控制信号在进行背光输出老化检测时调整背光。
8.如权利要求1～7中任一项所述的老化测试电路，其特征在于，所述LED负载为灯珠负载；
所述控制模块，用于向所述灯珠负载发送LED调整信号，以调整所述灯珠负载每个通道接入的灯珠数量以及每个通道之间的连接关系。
9.如权利要求1～7中任一项所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括负载供电模块，所述负载供电模块的输出端分别与所述电子负载和所述LED负载连接；
所述负载供电模块，用于为所述电子负载和所述LED负载供电。
10.一种老化测试平台，其特征在于，所述老化测试平台包括与市电连接的老化测试电路，所述老化测试电路被配置为如权利要求1～9任一项所述的老化测试电路。
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|---|---|---|---|---|
| CN113567780A (zh) * | 2021-07-14 | 2021-10-29 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种老化测试系统及方法 |
| CN114325345A (zh) * | 2022-01-04 | 2022-04-12 | 上海季丰电子股份有限公司 | 老化机和老化机的接口板 |
| CN115700392A (zh) * | 2022-10-28 | 2023-02-07 | 深圳市恒运昌真空技术有限公司 | 电源老化测试电路及方法 |
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