CN213274108U - 激光检测装置 - Google Patents

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谢卫锋
孙杰
尹建刚
高云峰
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Abstract

本实用新型涉及一种激光检测装置,包括:机架;载料机构,设于所述机架上并用于承载待测工件;以及检测机构,包括激光测距仪,所述激光测距仪用于发出激光以检测所述待测工件;其中,所述载料机构包括底板、限位组件及抵推组件,所述限位组件固定连接于所述底板并用于对所述待测工件限位,所述抵推组件设于所述机架且能相对于所述底板滑动,以使所述抵推组件抵推固定所述待测工件。上述激光检测装置,通过限位组件能够对工件的局部进行初步限位,并通过抵推组件抵紧工件,以使工件能够固定于底板且位置不挪动,便于将待测工件定位,避免待测工件位置挪动而影响测量结果。

Description

激光检测装置
技术领域
本实用新型涉及激光检测技术领域,特别是涉及一种激光检测装置。
背景技术
传统的激光检测装置,工件直接放置于载具上进行检测,激光检测过程中,工件位置容易挪动,而影响对工件的测量结果。
实用新型内容
基于此,有必要针对载具上的工件易挪动的问题,提供一种激光检测装置。
一种激光检测装置,包括:
机架;
载料机构,设于所述机架上并用于承载待测工件;以及
检测机构,包括激光测距仪,所述激光测距仪用于发出激光以检测所述待测工件;
其中,所述载料机构包括底板、限位组件及抵推组件,所述限位组件固定连接于所述底板并用于对所述待测工件限位,所述抵推组件设于所述机架且能相对于所述底板滑动,以使所述抵推组件抵推固定所述待测工件。
上述激光检测装置,通过限位组件能够对工件的局部进行初步限位,并通过抵推组件抵紧工件,以使工件能够固定于底板且位置不挪动,便于将待测工件定位,避免待测工件位置挪动而影响测量结果。
在其中一个实施例中,所述限位组件包括多个限位柱,多个所述限位柱凸设于所述底板且间隔设置。
在其中一个实施例中,所述限位组件还包括第一缓冲件,所述第一缓冲件套设于所述限位柱外周。
在其中一个实施例中,所述抵推组件包括抵推驱动件、抵推块及导向件,所述抵推块固定连接于所述导向件,所述抵推驱动件与所述抵推块连接并用于驱使所述抵推块相对于所述底板滑动,所述导向件设于所述机架并用于对所述抵推块导向。
在其中一个实施例中,所述导向件包括转接块及导轨,所述导轨固定连接于所述机架,所述转接块滑动连接于所述导轨且与所述抵推块固定连接,所述抵推块相对于所述底板滑动时,所述转接块能够相对于所述导轨滑动。
在其中一个实施例中,所述底板上设置导槽,所述抵推驱动件驱使所述抵推块滑动时,所述抵推块在所述导槽内滑动。
在其中一个实施例中,所述抵推组件包括抵推块、调节手柄及凸轮,所述凸轮与所述抵推块转动连接,所述调节手柄与所述凸轮固定连接,通过操纵所述调节手柄驱使所述凸轮转动,同时带动所述抵推块相对于所述底板运动。
在其中一个实施例中,所述凸轮包括互相连接的偏心轮及轮轴,所述调节手柄与所述轮轴固定连接,所述抵推块上设有凹槽,所述偏心轮转动设于所述凹槽内,操纵所述调节手柄驱使所述偏心轮转动,并带动所述抵推块运动。
在其中一个实施例中,所述检测机构还包括第一移动平台及第二移动平台,所述第二移动平台连接于所述机架,所述激光测距仪连接于所述第一移动平台,所述第一移动平台与所述第二移动平台连接并用于带动所述激光测距仪沿两个不同的方向移动。
在其中一个实施例中,还包括视觉对位机构,所述视觉对位机构设于所述第一移动平台并用于扫描标记所述待测工件。
附图说明
图1为一实施例中激光检测装置的轴测图;
图2为一实施例中激光检测装置的轴测图;
图3为图2所示激光检测装置中载具的轴测图;
图4为图2所示激光检测装置中检测机构的轴测图;
图5为一实施例中检测机构的结构示意图。
附图标记:
100、机架;101、防护罩;102、脚杯;200、载料机构;210、底板;221、限位柱;222、第一缓冲件;230、抵推组件;231、抵推块;231a、凹槽;232、抵推驱动件;232a、安装部;232b、输出部;233、导向件;233a、转接块;233b、导轨;234、调节手柄;235、凸轮;300、检测机构;310、激光测距仪;320、第一移动平台;321、第一滑块;322、第一滑轨;330、第二移动平台;331、第二滑块;332、第二滑轨;340、安装架;400、视觉对位机构;500、控制器; 60、待测工件;61、第一侧;62、第二侧;63、第三侧;64、第四侧。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进,因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
参阅图1,图1示出了一实施例中激光检测装置的示意图,上述激光检测装置用于对待测工件60进行测量,以确定待测工件60的实际尺寸与预设尺寸误差是否在预设范围内。
在具体实施方式中,例如,待测工件60为手机壳体,手机壳体上凸设有闪光灯,需要通过激光检测闪光灯的顶面与手机壳体的顶面之间的间距,从而确定每个手机壳体上的闪光灯是否有加工误差。待测工件60也可以为陶瓷外壳、玻璃片或其他样品。
请参考图1及图2,上述激光检测装置包括机架100、载料机构200及检测机构300,载料机构200设于机架100上并用于承载待测工件60,检测机构300 设于机架100上并用于测量待测工件60。
具体在一实施例中,上述激光检测装置还包括防护罩101,防护罩101罩设于机架100上,且载料机构200及检测机构300均位于防护罩101内,避免外部光线干扰检测结果,同时避免灰尘或腐蚀液滴落于各机构,防止各机构受外部因素干扰而损坏。
该实施例中,防护罩101呈两面开口结构,以方便待测工件60从防护罩101 开口处上料及下料。
如图2所示一实施例中,上述激光检测装置还包括脚杯102及脚轮(图未示),脚杯102设于机架100底部并用于支撑机架100,脚轮设于机架100底部。
该实施例中,脚杯102可折叠地连接于机架100底部,当机架100需要挪动位置时,脚杯102可以折叠收拢并脱离于地面,施加外力推动机架100,脚轮能够在地面滑动,方便机架100挪动且节省人力。
请参考图2,载料机构200设于机架100上并用于承载待测工件60。
在一些实施例中,载料机构200的数量为一。在其他实施中,载料机构200 的数量还可以至少为二,多个载料机构200并排间隔设置于机架100,便于检测机构300依次对多个载料机构200上的待测工件60进行检测,提高检测效率。
具体地,请结合参考图3,载料机构200包括底板210、限位组件及抵推组件230,限位组件固定连接于底板210并用于对待测工件60限位,抵推组件230 设于机架100且能相对于底板210滑动,以使抵推组件230抵推固定待测工件 60。
可以理解的是,若未设置限位组件,待测工件60放置于底板210上时极易滑落。当待测工件60放置于底板210上时,通过限位组件能够对工件的局部进行初步限位,此时,待测工件60位置可以挪动;再通过抵推组件230抵紧工件,以使工件能够固定于底板210且位置不挪动。结构设计简单合理,且便于将待测工件60定位,避免待测工件60位置挪动而影响测量结果。
在一些实施例中,限位组件包括多个限位柱221,多个限位柱221凸设于底板210且间隔设置。该实施例中,由于限位柱221凸出于底板210,限位柱221 能够对待测工件60进行限位,以防止待测工件60从底板210上滑落。
例如,如图3所示一实施例中,待测工件60呈长方形,待测工件60包括第一侧61、第二侧62、第三侧63及第四侧64,第一侧61及第三侧63相对,第二侧62及第四侧64相对。待测工件60的第一侧61及第二侧62分别至少设有一限位柱221,待测工件60的第三侧63及第四侧64分别至少设有一抵推组件230。
该实施例中,待测工件60放置于底板210上时,待测工件60的两侧均被限位柱221限位,不易滑落,再通过抵推组件230从另两侧抵推固定待测工件 60即可。
在其他实施例中,待测工件60可以呈圆形,多个限位柱221还可以沿待测工件60的外周呈弧形阵列排布。
在一些实施例中,限位柱221与底板210为一体成型结构,整体性好且机械强度高,限位柱221不易松动。在其他实施例中,限位柱221还可以可拆卸地连接于底板210上。例如,底板210上设置安装孔(图未示),限位柱221 卡接或螺接于安装孔以使限位柱221可拆卸,便于调节限位柱221数量及间距。
需要指出的是,限位柱221可以呈圆柱状、长方体状或其他不规则形状。在此,对限位柱221的形状不作限定。
为了防止待测工件60与限位柱221硬接触而受损,在一些实施例中,限位柱221为受压能轻微变形的弹性材料。
在其他实施例中,限位组件还包括第一缓冲件(图未示),第一缓冲件套设于限位柱221外周。该实施例中,第一缓冲件可以为硅胶套筒或橡胶套筒,待测工件60与限位柱221硬接触时能够起到缓冲作用,防止因碰撞而损坏待测工件60。
请参考图3,在一实施例中,抵推组件230包括抵推块231及抵推驱动件 232,抵推驱动件232与抵推块231连接并用于驱使抵推块231相对于底板210 滑动。
具体地,抵推驱动件232包括安装部232a及输出部232b,安装部232a固定安装于机架100,输出部232b与抵推块231固定连接,安装部232a能够驱使输出部232b伸缩运动,输出部232b带动抵推块231相对于底板210滑动。
在具体实施方式中,抵推驱动件232为气缸或丝杆组件。
进一步地,抵推组件230还包括导向件233,抵推块231固定连接于导向件 233,导向件233设于机架100并用于对抵推块231导向。
具体地,导向件233包括转接块233a及导轨233b,导轨233b固定连接于机架100,转接块233a滑动连接于导轨233b且与抵推块231固定连接。抵推块 231相对于底板210滑动时,转接块233a能够相对于导轨233b滑动,防止抵推块231位置发生偏移。
在一些实施例中,底板210上设置导槽(图未示),抵推驱动件232驱使抵推块231滑动时,抵推块231在导槽内滑动,防止抵推块231在滑动时位置发生偏移,而压损待测工件60。
在另一实施例中,请参考图4,抵推组件230包括抵推块231、调节手柄234 及凸轮235,凸轮235与抵推块231转动连接,调节手柄234与凸轮235固定连接。该实施例中,通过操纵调节手柄234驱使凸轮235转动,同时带动抵推块 231相对于底板210运动。
具体地,凸轮235包括互相连接的偏心轮及轮轴,调节手柄234与轮轴固定连接,抵推块231上设有凹槽231a,偏心轮转动设于凹槽231a内,操纵调节手柄234驱使偏心轮转动,并带动抵推块231运动。
请参考图5,检测机构300包括激光测距仪310,激光测距仪310用于发出激光并对待测工件60进行测量。
在一些实施例中,通过将待测工件60固定于载具上,移动激光测距仪310 并对待测工件60扫描,可以获得待测工件60的实际尺寸。在其他实施例中,载具可以转动,以使待测工件60转动,从而使待测工件60检测角度调节更灵活。
请继续参考图5,检测机构300还包括第一移动平台320及第二移动平台 330,激光测距仪310连接于第一移动平台320,第一移动平台320与第二移动平台330连接并用于带动激光测距仪310沿两个不同的方向移动。
该实施例中,检测机构300还包括安装架340,安装架340固定于机架100 上,第二移动平台330安装于安装架340上,以使第一移动平台320与机架100 间隔设置,使激光测距仪310能够检测载具上的待测工件60。
在一些实施例中,第一移动平台320包括第一驱动件(图未示)、第一滑块321及第一滑轨322,第一滑块321滑动设于第一滑轨322,第一驱动件用于驱使第一滑块321沿第一滑轨322滑动。该实施例中,激光测距仪310连接于第一滑块321,第一滑块321沿第一滑轨322滑动,第一滑块321带动激光测距仪310沿第一方向平移运动。
在具体实施方式中,第一驱动件为电机或气缸。
在一些实施例中,第二移动平台330包括第二驱动件(图未示)、第二滑块331及第二滑轨332,第二滑块331滑动设于第二滑轨332,第二驱动件用于驱使第二滑块331沿第二滑轨332滑动。该实施例中,由于第一滑轨322连接于第二滑块331上,激光测距仪310连接于第一滑块321,激光测距仪310能够沿第一方向及第二方向平移运动。
在具体实施方式中,第二驱动件为电机或气缸。
请参考图4及图1,上述激光检测装置还包括视觉对位机构400及控制器 500,视觉对位机构400设于第一移动平台320并用于扫描标记待测工件60。
在具体实施方式中,当激光测距仪310检测出待测工件60的尺寸不符合预设尺寸要求时,控制器500能够控制视觉对位机构400对该待测工件60进行扫描标记,以与其他合格工件区分开,并将不合格待测工件60输送至待处理区域。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种激光检测装置,其特征在于,包括:
机架;
载料机构,设于所述机架上并用于承载待测工件;以及
检测机构,包括激光测距仪,所述激光测距仪用于发出激光以检测所述待测工件;
其中,所述载料机构包括底板、限位组件及抵推组件,所述限位组件固定连接于所述底板并用于对所述待测工件限位,所述抵推组件设于所述机架且能相对于所述底板滑动,以使所述抵推组件抵推固定所述待测工件。
2.根据权利要求1所述的激光检测装置,其特征在于,所述限位组件包括多个限位柱,多个所述限位柱凸设于所述底板且间隔设置。
3.根据权利要求2所述的激光检测装置,其特征在于,所述限位组件还包括第一缓冲件,所述第一缓冲件套设于所述限位柱外周。
4.根据权利要求1所述的激光检测装置,其特征在于,所述抵推组件包括抵推驱动件、抵推块及导向件,所述抵推块固定连接于所述导向件,所述抵推驱动件与所述抵推块连接并用于驱使所述抵推块相对于所述底板滑动,所述导向件设于所述机架并用于对所述抵推块导向。
5.根据权利要求4所述的激光检测装置,其特征在于,所述导向件包括转接块及导轨,所述导轨固定连接于所述机架,所述转接块滑动连接于所述导轨且与所述抵推块固定连接,所述抵推块相对于所述底板滑动时,所述转接块能够相对于所述导轨滑动。
6.根据权利要求4所述的激光检测装置,其特征在于,所述底板上设置导槽,所述抵推驱动件驱使所述抵推块滑动时,所述抵推块在所述导槽内滑动。
7.根据权利要求1所述的激光检测装置,其特征在于,所述抵推组件包括抵推块、调节手柄及凸轮,所述凸轮与所述抵推块转动连接,所述调节手柄与所述凸轮固定连接,通过操纵所述调节手柄驱使所述凸轮转动,同时带动所述抵推块相对于所述底板运动。
8.根据权利要求7所述的激光检测装置,其特征在于,所述凸轮包括互相连接的偏心轮及轮轴,所述调节手柄与所述轮轴固定连接,所述抵推块上设有凹槽,所述偏心轮转动设于所述凹槽内,操纵所述调节手柄驱使所述偏心轮转动,并带动所述抵推块运动。
9.根据权利要求1所述的激光检测装置,其特征在于,所述检测机构还包括第一移动平台及第二移动平台,所述第二移动平台连接于所述机架,所述激光测距仪连接于所述第一移动平台,所述第一移动平台与所述第二移动平台连接并用于带动所述激光测距仪沿两个不同的方向移动。
10.根据权利要求9所述的激光检测装置,其特征在于,还包括视觉对位机构,所述视觉对位机构设于所述第一移动平台并用于扫描标记所述待测工件。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113639658A (zh) * 2021-08-06 2021-11-12 江苏创源电子有限公司 一种载具组件及检测装置

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