CN212931265U - 一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，包括可调式测量支架、水平设置在所述可调式测量支架的端部用于夹持结构件的测量探头组件、以及水平设置在所述可调式测量支架一侧用于测量所述结构件厚度的深度卡尺。本实用新型通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件，可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格，适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测，具有更广泛的适用性；同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺可在生产现场实现对结构件的实时厚度测量，无需拆卸送检，无需专用检测平台，便携性强，可调性较高。

Description

一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置

技术领域

本实用新型属于测量技术领域，尤其是涉及一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置。

背景技术

随着科学技术的发展，轻量高强的非金属材料不断被开发利用，炭基复合材料作为其中的佼佼者，应用越来越广泛；但是这类材料往往结构件形貌复杂，尺寸较大，且在机械加工过程中存在一定的弹性变形；因此，机加过程中实时掌握产品各区域厚度对机加过程意义重大，然而，常规的测厚仪或千分尺无法满足该类产品的厚度检测，给机械加工和质量检测带来的很大困扰。目前，该类产品多数依赖于三坐标测试法等方式进行产品形貌模拟来判定产品不同区域的厚度变化特征，该类方式需专机专检，且测量设备无法移动，不利于精益生产的时效性和实用性；同时部分大尺寸异形薄壁结构炭基复合材料产品机加过程的监测厚度，需要检测装置具备可手持便携能力、能满足大尺寸异形中空薄壁结构件的局部检测、能进行实时测量等条件以满足生产车间现场使用需求，现有技术无法满足生产实际要求。因此，设计一种用于检测异形薄壁中空结构件各区域厚度的装置显得尤为重要。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件，可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格，适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测，具有更广泛的适用性；同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺可在生产现场实现对结构件的实时厚度测量，无需拆卸送检，无需专用检测平台，便携性强，可调性较高。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：包括可调式测量支架、水平设置在所述可调式测量支架的端部用于夹持结构件的测量探头组件、以及水平设置在所述可调式测量支架一侧用于测量所述结构件厚度的深度卡尺；

所述可调式测量支架包括对称设置的支撑杆，两个所述支撑杆的一端通过多个调节杆连接，两个所述支撑杆的另一端设置有所述测量探头组件；所述测量探头组件包括水平设置在一个所述支撑杆上的固定探头和水平设置在另一个所述支撑杆上的伸缩探头，所述固定探头的中轴线和所述伸缩探头的中轴线均布设在同一水平面内；所述结构件夹持在所述固定探头和所述伸缩探头之间，所述固定探头和所述伸缩探头与所述结构件的接触面均为球面。

上述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述支撑杆上均开设有安装孔，所述固定探头和伸缩探头均为圆柱形结构，所述固定探头的直径与所述安装孔的内径相等，所述伸缩探头的直径小于所述安装孔的内径。

上述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述调节杆的数量为两个，每个所述调节杆均通过固定件固定在所述支撑杆上；所述调节杆上开设有与固定件配合的外螺纹。

上述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：两个所述调节杆中，靠近所述测量探头组件的调节杆的长度小于另一个所述调节杆的长度。

上述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述伸缩探头固定在所述支撑杆上的端部穿过该支撑杆。

上述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述深度卡尺水平设置在所述支撑杆上，所述深度卡尺的尺座与所述伸缩探头固定在所述支撑杆上的端部连接。

本实用新型与现有技术相比具有以下优点：

1、本实用新型通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件，可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格，适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测，具有更广泛的适用性；同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺可在生产现场实现对结构件的实时厚度测量，无需拆卸送检，无需专用检测平台，便携性强，可调性较高。

2、本实用新型中本测量装置作为生产现场尺寸测量的辅助工具，无需送检，通过固定探头和伸缩探头对结构件的厚度进行测量，使本测量装置不受结构件形状的限制，调整所述可调式测量支架的跨度尺寸，并配合深度卡尺就能完成结构件各区域的厚度检测。

3、本实用新型所述固定探头和所述伸缩探头与所述结构件的接触面均为球面，可保证对结构件的测量精度；同时所述固定探头的中轴线和所述伸缩探头的中轴线均布设在同一水平面内，使本测量装置在测量过程中不会因接触点错位而出现测量误差。

综上所述，本实用新型通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件，可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格，适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测，具有更广泛的适用性；同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺可在生产现场实现对结构件的实时厚度测量，无需拆卸送检，无需专用检测平台，便携性强，可调性较高。

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型的使用状态图。

附图标记说明:

1—支撑杆； 2—调节杆； 3—固定件；

4—固定探头； 5—伸缩探头； 6—深度卡尺；

7—结构件。

具体实施方式

如图1和图2所示，本实用新型包括可调式测量支架、水平设置在所述可调式测量支架的端部用于夹持结构件7的测量探头组件、以及水平设置在所述可调式测量支架一侧用于测量所述结构件7厚度的深度卡尺6；

所述可调式测量支架包括对称设置的支撑杆1，两个所述支撑杆1的一端通过多个调节杆2连接，两个所述支撑杆1的另一端设置有所述测量探头组件；所述测量探头组件包括水平设置在一个所述支撑杆1上的固定探头4和水平设置在另一个所述支撑杆1上的伸缩探头5，所述固定探头4的中轴线和所述伸缩探头5的中轴线均布设在同一水平面内；所述结构件7夹持在所述固定探头4和所述伸缩探头5之间，所述固定探头4和所述伸缩探头5与所述结构件7的接触面均为球面。

实际使用时，通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件，可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格，适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测，具有更广泛的适用性；同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺6可在生产现场实现对结构件7的实时厚度测量，无需拆卸送检，无需专用检测平台，便携性强，可调性较高。

其中，本测量装置作为生产现场尺寸测量的辅助工具，无需送检，通过固定探头4和伸缩探头5对结构件7的厚度进行测量，使本测量装置不受结构件7形状的限制，调整所述可调式测量支架的跨度尺寸，并配合深度卡尺6就能完成结构件7各区域的厚度检测，另外，所述固定探头4和所述伸缩探头5与所述结构件7的接触面均为球面，可保证对结构件7的测量精度；同时所述固定探头4的中轴线和所述伸缩探头5的中轴线均布设在同一水平面内，使本测量装置在测量过程中不会因接触点错位而出现测量误差。

需要说明的是，在测量过程中，为了保证测量结果的准确性，所述固定探头4和伸缩探头5均位于所述结构件7测量点的法线方向上。本测量装置可以通过转动所述可调式测量支架，找到测量点位的最小厚度值，即为结构件7测量点的真实厚度。当无产品测量时，固定探头4与伸缩探头5的接触面对接，所述伸缩探头5的另一端端部超出所述支撑杆1的外侧面的长度为h1，当所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端面与该支撑杆1远离另一个所述支撑杆1的外侧面平齐时，h1为0；当所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端部穿过该支撑杆1时，h1不为0。

如图1和图2所示，所述固定探头4的一端紧配合插入一个所述支撑杆1上，所述固定探头4的另一端延伸至两个所述支撑杆1之间；所述伸缩探头5的一端采用松配合方式穿过另一个所述支撑杆1上，所述伸缩探头5的另一端延伸至两个所述支撑杆1之间；所述支撑杆1、调节杆2、固定探头4和伸缩探头5均采用不易变形的不锈钢材质制成。

本实施例中，所述支撑杆1上均开设有安装孔，所述固定探头4和伸缩探头5均为圆柱形结构，所述固定探头4的直径与所述安装孔的内径相等，所述伸缩探头5的直径小于所述安装孔的内径。

实际使用时，所述伸缩探头5与所述支撑杆1之间属于松配合对接，所述固定探头4所述支撑杆1之间属于紧配合对接，所述伸缩探头5的直径小于所述安装孔的内径，是为了实现所述伸缩探头5的伸缩滑动，方便测量人员根据结构件7的形状和尺寸对所述固定探头4和所述伸缩探头5之间的距离进行调整。

本实施例中，所述调节杆2的数量为两个，每个所述调节杆2均通过固定件3固定在所述支撑杆1上；所述调节杆2上开设有与固定件3配合的外螺纹。

实际使用时，所述固定件3选取为锁紧螺母，利用锁紧螺母和所述调节杆2上的外螺纹相配合，可对两个支撑杆1之间的距离进行调整。所述支撑杆1上开设有供所述调节杆2穿过的通孔。

本实施例中，两个所述调节杆2中，靠近所述测量探头组件的调节杆2的长度小于另一个所述调节杆2的长度。

如图2所示，所述调节杆2靠近所述结构件7时，靠近所述测量探头组件的调节杆2的长度较短，可避免因调节杆2的长度过长对结构件7造成干扰性影响，从而影响测量结果。

如图1和图2所示，本实施例中，所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端部穿过该支撑杆1。

实际使用时，所述伸缩探头5穿过所述支撑杆1的端面可与所述支撑杆1的外侧面平齐，也可超过所述支撑杆1的外侧面。

如图1和图2所示，本实施例中，所述深度卡尺6水平设置在所述支撑杆1上，所述深度卡尺6的尺座与所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端部连接。

实际使用时，所述深度卡尺6与所述伸缩探头5连接，所述深度卡尺6通过所述伸缩探头5的变化量测量所述结构件7的厚度，所述伸缩探头5移动时，固定在其端部的深度卡尺6也随之移动，在所述固定探头4和伸缩探头5之间固定好结构件7的位置后即可通过深度卡尺6上的读数得到结构件7的厚度。

本实用新型使用时，如图2所示，测量人员将所述伸缩探头5朝远离所述固定探头4的方向拉开，将需要测量的所述结构件7卡在所述固定探头4和伸缩探头5之间，当所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端面与该支撑杆1远离另一个所述支撑杆1的外侧面平齐时，h1为0，测量时所述深度卡尺6测得的数值就是所述结构件7的厚度值；当所述伸缩探头5固定在所述支撑杆1上的端部穿过该支撑杆1时，h1不为0，所述深度卡尺6测得的数值为h，所述结构件7的厚度值d＝h-h1。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型作任何限制，凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。

Claims (6)

1.一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：包括可调式测量支架、水平设置在所述可调式测量支架的端部用于夹持结构件(7)的测量探头组件、以及水平设置在所述可调式测量支架一侧用于测量所述结构件(7)厚度的深度卡尺(6)；

所述可调式测量支架包括对称设置的支撑杆(1)，两个所述支撑杆(1)的一端通过多个调节杆(2)连接，两个所述支撑杆(1)的另一端设置有所述测量探头组件；所述测量探头组件包括水平设置在一个所述支撑杆(1)上的固定探头(4)和水平设置在另一个所述支撑杆(1)上的伸缩探头(5)，所述固定探头(4)的中轴线和所述伸缩探头(5)的中轴线均布设在同一水平面内；所述结构件(7)夹持在所述固定探头(4)和所述伸缩探头(5)之间，所述固定探头(4)和所述伸缩探头(5)与所述结构件(7)的接触面均为球面。

2.根据权利要求1所述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述支撑杆(1)上均开设有安装孔，所述固定探头(4)和伸缩探头(5)均为圆柱形结构，所述固定探头(4)的直径与所述安装孔的内径相等，所述伸缩探头(5)的直径小于所述安装孔的内径。

3.根据权利要求1所述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述调节杆(2)的数量为两个，每个所述调节杆(2)均通过固定件(3)固定在所述支撑杆(1)上；所述调节杆(2)上开设有与固定件(3)配合的外螺纹。

4.根据权利要求2所述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：两个所述调节杆(2)中，靠近所述测量探头组件的调节杆(2)的长度小于另一个所述调节杆(2)的长度。

5.根据权利要求1所述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述伸缩探头(5)固定在所述支撑杆(1)上的端部穿过该支撑杆(1)。

6.根据权利要求1所述的一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置，其特征在于：所述深度卡尺(6)水平设置在所述支撑杆(1)上，所述深度卡尺(6)的尺座与所述伸缩探头(5)固定在所述支撑杆(1)上的端部连接。

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