CN212905223U - 一种电子元件品质检测筛分设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子元件品质检测筛分设备，涉及电子元件检测技术领域，包括万用表，所述万用表一侧插接有一矩形块，所述矩形块上表面开设有一插孔，所述矩形块上表面开设有一贯穿插孔内壁的线槽，所述矩形块上表面开设有一矩形槽，所述矩形槽内沿矩形块长度方向滑动设置有一矩形滑动块，所述滑动块上表面开设有另一插孔和贯穿插孔内壁的线槽，所述滑动块上开设有一第二通孔。该电子元件品质检测筛分设备，通过矩形块、滑动块、螺杆、螺母之间的配合，能够调节两表笔之间的距离以适配电子元件的两触点间距，方便检测，能够提高电子元件品质检测筛分的效率；通过设置卡套使矩形块与万用表插接，使检测方法多样化。

Description

一种电子元件品质检测筛分设备

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测技术领域，具体为一种电子元件品质检测筛分设备。

背景技术

电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路。

电子元件在出厂前需要进行品质检测筛分，电子元件品质检测筛分设备种类比较多，使用万用表检测较为普遍，传统的万用表的两表笔是分开独立的，使用时需要检测人员双手或单手握持两个表笔，使笔头与待检测电子元件触点接触，进行检测筛分，然而在批量检测时，检测人员需要不断地分别使两表笔笔头对准待检测电子元件的触点，使用不够方便，检测筛分效率不高，而且两表笔间距不能固定。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电子元件品质检测筛分设备，以解决传统的电子元件品质检测筛分设备，检测人员需要不断地分别使两表笔笔头对准待检测电子元件的触点，使用不够方便，检测筛分效率低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子元件品质检测筛分设备，包括万用表，所述万用表一侧插接有一矩形块，所述矩形块上表面开设有一插孔，所述矩形块上表面开设有一贯穿插孔内壁的线槽，所述矩形块上表面开设有一矩形槽，所述矩形槽内沿矩形块长度方向滑动设置有一矩形滑动块，所述滑动块上表面开设有另一插孔和贯穿插孔内壁的线槽，所述滑动块上沿滑动方向开设有一位于插孔下方的第二通孔，所述滑动块的一侧固定连接有一与第二通孔共轴的螺母，所述矩形块上转动连接有一螺杆，所述螺杆穿过第二通孔后与螺母螺纹连接，所述螺杆的一端固定连接有一旋钮。

进一步地，所述万用表侧面固定连接有卡套，所述矩形块通过卡套插接在万用表上。

进一步地，所述矩形块远离旋钮的一侧开设有一第一通孔，所述第一通孔轮廓大于螺母的轮廓，所述螺杆的端部延伸到第一通孔内。

进一步地，所述万用表的两表笔分别插接在两插孔内。

进一步地，所述卡套底部固定连接有第一磁性条，所述矩形块底部嵌设有一与第一磁性条相配合的第二磁性条。

进一步地，所述卡套上开设有避让旋钮的缺口。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该电子元件品质检测筛分设备，通过矩形块、滑动块、螺杆、螺母之间的配合，能够调节两表笔之间的距离以适配电子元件的两触点间距，方便检测，能够提高电子元件品质检测筛分的效率；通过设置卡套使矩形块与万用表插接，矩形块及其内部部件既能够固定在万用表上，手持待检测的电子元件与表笔的笔头接触检测，同时也便于收纳，还能够从万用表上取下来，手持矩形块使表笔的笔头与待检测的电子元件触点接触检测，使检测方法多样化。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图Ⅰ；

图2为本实用新型图1中A处结构放大图；

图3为本实用新型结构正视图；

图4为本实用新型结构右视图；

图5为本实用新型结构俯视图；

图6为本实用新型结构示意图Ⅱ；

图7为本实用新型矩形块及其内部部件结构示意图；

图8为本实用新型矩形块及其内部部件结构俯视图；

图9为本实用新型矩形块及其内部部件结构剖视图。

图中：1、万用表；101、表笔；2、卡套；201、缺口；3、矩形块；301、第一通孔；4、插孔；5、线槽；6、矩形槽；7、滑动块；8、第二通孔；9、螺母；10、螺杆；11、旋钮；12、第一磁性条；13、第二磁性条。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-9，本实用新型提供一种技术方案：一种电子元件品质检测筛分设备，包括万用表1，所述万用表1一侧固定连接有卡套2，所述万用表1通过卡套2插接有一矩形块3，矩形块3能够从卡套2内取下，所述卡套2底部固定连接有第一磁性条12，所述矩形块3底部嵌设有一与第一磁性条12相配合的第二磁性条13，通过第一磁性条与12第二磁性条13间的吸附力，能够使矩形块3稳定在卡套2内。

所述矩形块3上表面开设有一插孔4，所述矩形块3上表面开设有一贯穿插孔4内壁的线槽5，所述矩形块3上表面开设有一矩形槽6，所述矩形槽6内沿矩形块3长度方向滑动设置有一矩形滑动块7，所述滑动块7上表面开设有另一插孔4和贯穿插孔4内壁的线槽5，所述万用表1的两表笔101分别插接在两插孔4内，线槽5能够让表笔101上的导线通过，滑动矩形槽6内的滑动块7能够调节两表笔101之间的距离。

所述滑动块7上沿滑动方向开设有一位于插孔4下方的第二通孔8，所述滑动块7的一侧固定连接有一与第二通孔8共轴的螺母9，所述矩形块3上转动连接有一螺杆10，所述螺杆10穿过第二通孔8后与螺母9螺纹连接，所述螺杆10的一端固定连接有一旋钮11，通过旋钮11转动螺杆10，螺杆10与螺母9通过螺纹作用能够驱动滑动块7移动，所述矩形块3远离旋钮11的一侧开设有一第一通孔301，所述第一通孔301轮廓大于螺母9的轮廓，所述螺杆10的端部延伸到第一通孔301内，设置第一通孔301能够让螺母9通过，使滑动块7的滑动行程最大化，所述卡套2上开设有避让旋钮11的缺口201。

工作原理：电子元件品质检测筛分设备有三种使用方法，方法一，可按照传统使用方法，直接将两表笔101从两个插孔4内取出来，然后检测电子元件；方法二，通过旋转旋钮11使螺杆10转动，螺杆10与螺母9通过螺纹作用使滑动块7在矩形槽6内滑动，进而调整两个表笔101笔头之间的距离与待检测电子元件两触点之间的距离相等，然后检测人员拿着检测的电子元件，使其两触点接触两表笔101的笔头，如图1-5；方法三，将矩形块3及其内部部件整体从卡套2之间的取出，通过旋转旋钮11，使两个表笔101笔头之间的距离与待检测电子元件两触点之间的距离相等，检测人员手持矩形块3，使两表笔101的笔头与电子元件的两触点接触进行检测，如图6。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种电子元件品质检测筛分设备，包括万用表(1)，其特征在于：

所述万用表(1)一侧插接有一矩形块(3)；

所述矩形块(3)上表面开设有一插孔(4)，所述矩形块(3)上表面开设有一贯穿插孔(4)内壁的线槽(5)，所述矩形块(3)上表面开设有一矩形槽(6)；

所述矩形槽(6)内沿矩形块(3)长度方向滑动设置有一矩形滑动块(7)，所述滑动块(7)上表面开设有另一插孔(4)和贯穿插孔(4)内壁的线槽(5)；

所述滑动块(7)上沿滑动方向开设有一位于插孔(4)下方的第二通孔(8)，所述滑动块(7)的一侧固定连接有一与第二通孔(8)共轴的螺母(9)；

所述矩形块(3)上转动连接有一螺杆(10)，所述螺杆(10)穿过第二通孔(8)后与螺母(9)螺纹连接，所述螺杆(10)的一端固定连接有一旋钮(11)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件品质检测筛分设备，其特征在于：所述万用表(1)侧面固定连接有卡套(2)，所述矩形块(3)通过卡套(2)插接在万用表(1)上。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件品质检测筛分设备，其特征在于：所述矩形块(3)远离旋钮(11)的一侧开设有一第一通孔(301)，所述第一通孔(301)轮廓大于螺母(9)的轮廓，所述螺杆(10)的端部延伸到第一通孔(301)内。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件品质检测筛分设备，其特征在于：所述万用表(1)的两表笔(101)分别插接在两插孔(4)内。

5.根据权利要求2所述的一种电子元件品质检测筛分设备，其特征在于：所述卡套(2)底部固定连接有第一磁性条(12)，所述矩形块(3)底部嵌设有一与第一磁性条(12)相配合的第二磁性条(13)。

6.根据权利要求2所述的一种电子元件品质检测筛分设备，其特征在于：

所述卡套(2)上开设有避让旋钮(11)的缺口(201)。

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