CN212872718U - 小批量探测器加电老化测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种小批量探测器加电老化测试装置，其包括：相互配合设置的第一印刷电路板和第二印刷电路板，所述第一印刷电路板上设置有多个第一正极接口和多个第一负极接口，所述第二印刷电路板上设置有多个第二正极接口和多个第二负极接口，每一所述第二正极接口还与一第一正极接口电连接，每一所述第二负极接口还与一第一负极接口电连接。本实用新型提供的小批量探测器加电老化测试装置，在进行老化处理和测试时只需使用一路直流电源即可使得所有探测器加电老化，老化结束后又可以独立对每一探测器进行老化测试，从而可以解决小批量探测器加电老化和老化后测试冲突问题，极大的降低了测试成本。

Description

小批量探测器加电老化测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种老化测试装置，特别涉及一种小批量探测器加电老化测试装置，属于测试设备技术领域。

背景技术

近年来，随着光电技术，电子技术在通信行业的迅速发展，探测器技术在不同领域中得到越来越多、越来越广泛的应用，探测器的可靠性直接影响到实际应用过程中的各产品的可靠性，提高可靠性是质量改进的重要组成部分，可靠性指产品在使用过程中出现问题或者发生故障的概率，提高产品可靠性可以减少因器件失效而造成的损失和危害，

通常光电器件的使用寿命很长，很难较快的评估它们的寿命特性，所以需要一种能够在短时间内评估产品寿命的实验方法，人们根据该目标提出了加电老化实验。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种小批量探测器加电老化测试装置，以克服现有技术中的不足。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例提供了一种小批量探测器加电老化测试装置，其包括：相互配合设置的第一印刷电路板和第二印刷电路板，其中，

所述第一印刷电路板上设置有多个第一正极接口和多个第一负极接口，所述多个第一正极接口分别与第一电连接机构电连接，所述多个第一负极接口分别与第二电连接机构电连接；

所述第二印刷电路板上设置有多个第二正极接口和多个第二负极接口，每一所述第二正极接口还与一第一正极接口电连接，每一所述第二负极接口还与一第一负极接口电连接；

所述第二印刷电路板上能够设置多个被测探测器，每一被测探测器能够与一第二正极接口、一第二负极接口电连接，且当所述第一电连接机构、第二电连接机构接通电源后，能够同时使所述多个被测探测器接入电流并进行加电老化处理和进行老化后测试。

与现有技术相比，本实用新型的优点包括：

1)本实用新型实施例提供的一种小批量探测器加电老化测试装置，结构简单，灵活度高、使用和操作方便；

2)本实用新型实施例提供的一种小批量探测器加电老化测试装置，在进行老化处理和测试时只需使用一路直流电源即可使得所有探测器(芯片)加电老化，老化结束后又可以独立对每一探测器进行老化测试，从而可以解决小批量探测器加电老化和老化后测试冲突问题，极大的降低了测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一典型实施案例中提供的一种小批量探测器加电老化测试装置的原理结构示意图；

图2是本实用新型一典型实施案例中提供的一种小批量探测器加电老化测试装置的原理结构示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本实用新型的技术方案。如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。

加电老化是指在不改变失效机理的情况下改变芯片作用条件，从而缩短实验所需的时间，提高效率，降低成本。

半导体探测器，是以半导体材料为探测介质的辐射探测器，最通用的半导体材料是锗和硅，其基本原理与气体电离室相类似，故又称固体电离室。

半导体探测器有两个电极，加有一定的偏压，当入射粒子进入半导体探测器的灵敏区时，即产生电子-空穴对，在两极加上电压后，电荷载流子就向两极作漂移运动﹐收集电极上会感应出电荷，从而在外电路形成信号脉冲；但在半导体探测器中，入射粒子产生一个电子-空穴对所需消耗的平均能量为气体电离室产生一个离子对所需消耗的十分之一左右，因此半导体探测器比闪烁计数器和气体电离探测器的能量分辨率好得多；半导体探测器的灵敏区应是接近理想的半导体材料，而实际上一般的半导体材料都有较高的杂质浓度，必须对杂质进行补偿或提高半导体单晶的纯度，通常使用的半导体探测器主要有结型、面垒型、锂漂移型和高纯锗等几种类型。

结型探测器结构类似结型半导体二极管，但用于探测粒子时要加上足够的反向偏压。这时电子和空穴背着PN结移动而形成灵敏区。结型探测器一般采用硅单晶。这是因硅具有较大的禁带宽度，可用以保证在室温下工作时有足够小的漏电流。此外它的灵敏层厚度一般只有1毫米左右，故只适于探测穿透力较小的带电粒子。

本实用新型实施例提供了一种小批量探测器加电老化测试装置，其包括：相互配合设置的第一印刷电路板和第二印刷电路板，其中，

所述第一印刷电路板上设置有多个第一正极接口和多个第一负极接口，所述多个第一正极接口分别与第一电连接机构电连接，所述多个第一负极接口分别与第二电连接机构电连接；

所述第二印刷电路板上设置有多个第二正极接口和多个第二负极接口，每一所述第二正极接口还与一第一正极接口电连接，每一所述第二负极接口还与一第一负极接口电连接；

所述第二印刷电路板上能够设置多个被测探测器，每一被测探测器能够与一第二正极接口、一第二负极接口电连接，且当所述第一电连接机构、第二电连接机构接通电源后，能够同时使所述多个被测探测器接入电流并进行加电老化处理和进行老化后测试。

进一步的，所述多个第一正极接口和多个第一负极接口依次交替设置，其中，所述多个第一正极接口并联设置，所述多个第一负极接口并联设置。

进一步的，所述第一电连接机构包括一第一连接部件和多个第二连接部件，每一所述第二连接部件的一端与所述第一连接部件电连接，另一端与一第一正极接口电连接，所述第一连接部件能够与电源的正极电连接。

进一步的，所述第二电连接机构包括一第三连接部件和多个第四连接部件，每一所述第四连接部件的一端与所述第三连接部件电连接，另一端与一第一负极接口电连接，所述第三连接部件能够与电源的负极电连接。

进一步的，所述第一电连接机构和第二电连接机构包括通过焊接或印刷的方式设置在所述第一印刷电路板上的金属连接线。

进一步的，所述第一印刷电路板上还设置有转接机构，所述转接机构包括一绝缘底座以及设置在所述绝缘底座内的两个第三电连接机构，所述两个第三电连接机构分别与所述第一电连接机构和第二电连接机构电连接，所述两个第三电连接机构还能够分别与电源的正极、负极电连接。

更进一步的，所述绝缘底座包括两个相对设置的绝缘板，所述两个绝缘板之间围合形成一收容腔，所述绝缘板朝向所述收容腔的表面还形成有凹槽结构，所述第三电连接机构设置在所述收容腔内，所述电源的局部能够被夹持固定在所述收容腔内，所述凹槽结构与所述电源相匹配，其中，所述第三电连接机构包括金属接头。

进一步的，所述多个第二正极接口和多个第二负极接口依次交替设置，其中，相邻的一个第二正极接口和一个第二负极接口形成一个电极组，每一个电极组与一被测探测器相匹配，并且，所述第一印刷电路板上的第一正极接口的数量与第二印刷电路板上的第二正极接口的数量相同，所述第一印刷电路板上的第一负极接口的数量与第二印刷电路板上的第二负极接口的数量相同。

进一步的，所述第一正极接口与第二正极接口、第一负极接口与第二负极接口通过接线端子连接。

更进一步的，所述第一印刷电路板和第二印刷电路板一体设置，所述第一正极接口和第一负极接口设置在印刷电路板的第一区域，所述第二正极接口和第二负极接口设置在印刷电路板的第二区域，所述接线端子设置在所述第一区域和第二区域之间的第三区域，其中，所述第一正极接口、第一负极接口、第二正极接口和第二负极接口为形成在印刷电路板上的插孔，所述接线端子包括通过焊接或印刷的方式设置在印刷电路板上的导体。

如下将结合附图对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。

请参阅图1和图2，一种小批量探测器加电老化测试装置，其包括：相互配合设置的第一印刷电路板100和第二印刷电路板200，其中，

所述第一印刷电路板100上设置有多个第一正极接口110和多个第一负极接口120，多个第一正极接口110并联设置，多个第一负极接口120并联设置；所述第二印刷电路板200上设置有多个第二正极接口210和多个第二负极接口220，相邻的一个第二正极接口210和一个第二负极接口220组成一个电极接口组，每一个电极接口组与一被测探测器相匹配；并且，每一所述第二正极接口210还与一第一正极接口110电连接，每一所述第二负极接口220还与一第一负极接口220电连接；

所述第二印刷电路板200上能够设置多个被测探测器，每一被测探测器能够与同一电极接口组的一第二正极接口210、一第二负极接口220电连接，且当所述多个第一正极接口120和多个第一负极接口120接通电源后，能够同时使所述多个被测探测器接入电流并进行加电老化处理，通电老化处理后还可以进行老化测试。

具体的，所述多个第一正极接口110和多个第一负极接口120沿指定方向依次交替设置(即按照第一正极接口110、第一负极接口120、第一正极接口110、第一负极接口120如此排列设置)，所述多个第一正极接口110分别与第一电连接机构300电连接而使多个第一正极接口110之间并联设置，所述多个第一负极接口120分别与第二电连接机构400电连接而使多个第一负极接口120之间并联设置，所述第一电连接机构300、第二电连接机构400能够分别与电源700的正极、负极电性连接，而同时使多个第一正极接口110和多个第一负极接口120通电。

具体的，所述第一电连接机构300包括一第一连接部件310和多个第二连接部件320，每一所述第二连接部件320的一端与所述第一连接部件310电连接，另一端与一第一正极接口110电连接，所述第一连接部件310能够与电源700的正极电连接，所述第二电连接机构400包括一第三连接部件410和多个第四连接部件420，每一所述第四连接部件420的一端与所述第三连接部件410电连接，另一端与一第一负极接口120电连接，所述第三连接部件410能够与电源700的负极电连接。

具体的，所述多个第二连接部件320和一第一连接部件310连接形成的第一电连接机构300可以呈梳状，多个第二连接部件320依次间隔设置形成梳齿结构；同样地，所述多个第四连接部件420和一第三连接部件410连接形成的第二电连接机构400可以呈梳状，多个第四连接部件420依次间隔设置形成梳齿结构，其中，第一连接部件310、第二连接部件320、第三连接部件410、第四连接部件420均为导体，例如，所述第一连接部件310、第二连接部件320、第三连接部件410、第四连接部件420可以是通过焊接或印刷方式设置在所述第一印刷电路板100上的金属连接线。

具体的，所述第一印刷电路板100上还设置有转接机构，所述转接机构包括一绝缘底座以及设置在所述绝缘底座内的两个第三电连接机构510、520，所述两个第三电连接机构520、510分别与所述第一电连接机构300和第二电连接机构400电连接，所述两个第三电连接机构520、510还能够分别与电源700的正极、负极电连接。

具体的，所述绝缘底座包括两个相对设置的绝缘板，所述两个绝缘板之间围合形成一收容腔，所述绝缘板朝向所述收容腔的表面还形成有凹槽结构，所述第三电连接机构520、510设置在所述收容腔内，所述电源700的局部能够被夹持固定在所述收容腔内，所述凹槽结构与所述电源相匹配，其中，所述第三电连接机构520、510可以是金属接头。

具体的，所述多个第一正极接口110和多个第一负极接口120沿指定方向依次交替设置，所述多个第二正极接口210和多个第二负极接口220沿指定方向依次交替设置，其中，所述第一印刷电路板100上的第一正极接口110的数量与第二印刷电路板200上的第二正极接口210的数量相同，所述第一印刷电路板100上的第一负极接口120的数量与第二印刷电路板200上的第二负极接口220的数量相同，相应地，所述第一正极接口110与第二正极接口210、第一负极接口120与第二负极接口220通过接线端子600连接，该接线端子600可以是多个金属连接线。

具体的，所述第一正极接口110、第一负极接口120为形成在第一印刷电路板100上的TO插孔，所述第二正极接口210和第二负极接口220为形成在第二印刷电路板200上的TO插孔，第一印刷电路板100和第二印刷电路板200上的每一TO插孔都是独立的；第一印刷电路板100上的多个第一正极接口110、多个第一负极接口120分别并联设置，因此，该第一印刷电路板100又可以称之为并联式PCB，第二印刷电路板200可以理解为开路PCB。

具体的，接线端子60就是用于实现电气连接的一种配件产品，随着工业自动化程度越来越高和工业控制要求越来越严格、精确，接线端子的用量逐渐上涨，随着电子行业的发展，接线端子的使用范围越来越多，而且种类也越来越多，用得最广泛的除了PCB板端子外，还有五金端子，螺帽端子，弹簧端子等等。

具体的，接线端子600包括一段封在绝缘塑料里面的金属片，两端都有孔可以插入导线，有螺丝用于紧固或者松开，比如两根导线；有时需要连接，有时又需要断开，这时就可以用端子把它们连接起来，并且可以随时断开，而不必把它们焊接起来或者缠绕在一起，而且适合大量的导线互联，在电力行业就有专门的端子排，端子箱，上面全是接线端子，单层的、双层的，电流的，电压的，普通的，可断的等等，一定的压接面积是为了保证可靠接触，以及保证能通过足够的电流。

当然，所述第一印刷电路板100和第二印刷电路板200还可以一体设置，所述第一正极接口110和第一负极接口120设置在印刷电路板的第一区域，所述第二正极接口210和第二负极接口220设置在印刷电路板的第二区域，所述接线端子600设置在所述第一区域和第二区域之间的第三区域，其中，所述接线端子可以通过焊接或印刷的方式设置在印刷电路板上。

具体的，本实用新型实施例提供的一种小批量探测器加电老化测试装置所适用的被测对象为封装成TO CAN(即同轴封装)类型的探测器，封装成TO CAN类型的探测器具有正极、负极两个电极，分别可以与第二印刷电路板200上一组TO(transistor outline，晶体管外形，早期晶体管封装成这个样子滴，后来被借用到光通信中，叫TO封装，但也叫做同轴封装)插孔(该一组TO插孔即对应为相邻的一个第二正极接口和一个第二负极接口)对应并能够插入该一组TO插孔内。

具体的，所述第二印刷电路板200还设置有多个绝缘定位部件(图中未示出)，每一绝缘定位部件包括第一绝缘部件和两个相对设置的第二绝缘部件，第一绝缘部件围合形成一顶部开口的环形空间，一组TO插孔(该一组TO插孔即对应为相邻的一个第二正极接口和一个第二负极接口)位于该环形空间内，两个第二绝缘部件相对设置在第一绝缘部件的顶部，且该两个绝缘部件均为弹性部件，第一绝缘部件可以将多个TO插孔进行分隔，以防止操作时失误将被测探测器的两个电极接头插入两个同极性的TO插孔中而导致装置短路损坏的问题，同时，两个弹性的第二绝缘部件可以弹性抵触在被测探测器上，以使探测器不容易从第二印刷电路板上脱离或接触不良，其中，所述的绝缘定位部件固定结合在第二印刷电路板上，绝缘定位部件的具体尺寸等可以根据具体的测试需要进行调整，在此不作具体的限定。

本实用新型实施例提供的一种小批量探测器加电老化测试装置，结构简单，使用和操作方便；本实用新型实施例提供的一种小批量探测器加电老化测试装置，在进行老化处理和测试时只需使用一路直流电源即可使得所有探测器(芯片)加电老化，老化结束后又可以独立对每一探测器进行老化测试，从而可以解决小批量探测器加电老化和老化后测试冲突问题，极大的降低了测试成本。

应当理解，上述实施例仅为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于包括：相互配合设置的第一印刷电路板和第二印刷电路板，其中，

所述第一印刷电路板上设置有多个第一正极接口和多个第一负极接口，所述多个第一正极接口分别与第一电连接机构电连接，所述多个第一负极接口分别与第二电连接机构电连接；

所述第二印刷电路板上设置有多个第二正极接口和多个第二负极接口，每一所述第二正极接口还与一第一正极接口电连接，每一所述第二负极接口还与一第一负极接口电连接；

所述第二印刷电路板上能够设置多个被测探测器，每一被测探测器能够与一第二正极接口、一第二负极接口电连接，且当所述第一电连接机构、第二电连接机构接通电源后，能够同时使所述多个被测探测器接入电流并进行加电老化处理和进行老化后测试。

2.根据权利要求1所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述多个第一正极接口和多个第一负极接口依次交替设置，其中，所述多个第一正极接口并联设置，所述多个第一负极接口并联设置。

3.根据权利要求2所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第一电连接机构包括一第一连接部件和多个第二连接部件，每一所述第二连接部件的一端与所述第一连接部件电连接，另一端与一第一正极接口电连接，所述第一连接部件能够与电源的正极电连接。

4.根据权利要求2所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第二电连接机构包括一第三连接部件和多个第四连接部件，每一所述第四连接部件的一端与所述第三连接部件电连接，另一端与一第一负极接口电连接，所述第三连接部件能够与电源的负极电连接。

5.根据权利要求3或4所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第一电连接机构和第二电连接机构包括通过焊接或印刷的方式设置在所述第一印刷电路板上的金属连接线。

6.根据权利要求1所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第一印刷电路板上还设置有转接机构，所述转接机构包括一绝缘底座以及设置在所述绝缘底座内的两个第三电连接机构，所述两个第三电连接机构分别与所述第一电连接机构和第二电连接机构电连接，所述两个第三电连接机构还能够分别与电源的正极、负极电连接。

7.根据权利要求6所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述绝缘底座包括两个相对设置的绝缘板，所述两个绝缘板之间围合形成一收容腔，所述绝缘板朝向所述收容腔的表面还形成有凹槽结构，所述第三电连接机构设置在所述收容腔内，所述电源的局部能够被夹持固定在所述收容腔内，所述凹槽结构与所述电源相匹配，其中，所述第三电连接机构包括金属接头。

8.根据权利要求1所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述多个第二正极接口和多个第二负极接口依次交替设置，其中，相邻的一个第二正极接口和一个第二负极接口形成一个电极组，每一个电极组与一被测探测器相匹配，并且，所述第一印刷电路板上的第一正极接口的数量与第二印刷电路板上的第二正极接口的数量相同，所述第一印刷电路板上的第一负极接口的数量与第二印刷电路板上的第二负极接口的数量相同。

9.根据权利要求1所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第一正极接口与第二正极接口、第一负极接口与第二负极接口通过接线端子连接。

10.根据权利要求9所述的小批量探测器加电老化测试装置，其特征在于：所述第一印刷电路板和第二印刷电路板一体设置，所述第一正极接口和第一负极接口设置在印刷电路板的第一区域，所述第二正极接口和第二负极接口设置在印刷电路板的第二区域，所述接线端子设置在所述第一区域和第二区域之间的第三区域，其中，所述第一正极接口、第一负极接口、第二正极接口和第二负极接口为形成在印刷电路板上的插孔，所述接线端子包括通过焊接或印刷的方式设置在印刷电路板上的导体。

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