CN212749145U - 一种键盘测试模组 - Google Patents

Abstract

本实用新型旨在提供一种结构简单、产品定位精度高且不会对产品造成损害的键盘测试模组。本实用新型包括底板，所述底板上设有产品凹槽，所述产品凹槽的槽边设置有若干个弹性销，所述产品凹槽内设置有若干个定位销，所述底板上还设置有至少一个安装位，所述安装位上设置有探针测试组件，所述探针测试组件包括固定在所述安装位上的测试PCB和底座，所述底座位于所述测试PCB的上方，所述底座的后端铰接有压盖，所述压盖上设置有压块，所述压块与开设在所述底座上的压槽相适配，所述压槽内设置有硅胶针片，所述硅胶针片内设置有若干根金属探针，所述金属探针与设置在所述测试PCB上的PIN点相配合。本实用新型可应用于测试模组的技术领域。

Description

一种键盘测试模组

技术领域

本实用新型涉及测试模组的技术领域，特别涉及一种键盘测试模组。

背景技术

在计算机的使用过程中，我们必不可少使用到键盘产品，键盘是用于操作设备运行的一种指令和数据输入装置，也指经过系统安排操作一台机器或设备的一组功能键（如打字机、电脑键盘）。键盘是最常用也是最主要的输入设备，通过键盘可以将英文字母、数字、标点符号等输入到计算机中，从而向计算机发出命令、输入数据等。从第一台打印机开始直至现在的家庭电脑，键盘的使用总是密不可分的，它可以是输入指令的效率大大提高，方便人类提高工作效率，也有越来越多形状功能繁多的键盘产品被研发出来，因此对键盘产品产量要求和技术工艺要求也在逐步提高。市面上主要使用的键盘按工作原理分类分为机械键盘、塑料薄膜式键盘、导电橡胶式键盘、无接电静电电容键盘。

键盘在生产过程中需要进行多项性能测试，其主要的测试类型包括键盘电气特性测试、键盘高低温老化试验、键盘按键反应测试、键盘key feeling测试、键盘内部光源光通量测试等。其中，大部分的测试都是针对键盘里的电路板进行。目前，常用的测试方式是用探针或PCB与产品的电路板直接接触，以此实现测试结构与产品导通，从而达到检测目的。但是，若在测试时，电路板未安装固定或错位固定，就会导致测试的效果大打折扣，并且若采用探针或PCB直接与产品电路板接触，那就有可能压伤产品电路板，使得产品报废率增高，降低经济效益。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、产品定位精度高且不会对产品造成损害的键盘测试模组。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底板，所述底板上设有产品凹槽，所述产品凹槽的槽边设置有若干个弹性销，所述产品凹槽内设置有若干个定位销，所述底板上还设置有至少一个安装位，所述安装位上设置有探针测试组件，所述探针测试组件包括固定在所述安装位上的测试PCB和底座，所述底座位于所述测试PCB的上方，所述底座的后端铰接有压盖，所述压盖上设置有压块，所述压块与开设在所述底座上的压槽相适配，所述压槽内设置有硅胶针片，所述硅胶针片内设置有若干根金属探针，所述金属探针与设置在所述测试PCB上的PIN点相配合。

进一步，所述压盖的前端设有与所述压块相适配的方槽，所述压块通过压缩弹簧浮动设置在所述方槽内。

进一步，所述底座和所述压盖通过转销相铰接，所述转销上套设有扭簧，所述扭簧与所述底座及所述压盖相配合。

进一步，所述底板上还设有若干个取手位，若干个取手位分布在所述产品凹槽的前后两侧并与所述产品凹槽相连通。

进一步，所述安装位上开设有连接口，所述连接口位于所述测试PCB的下方。

进一步，所述压盖的前端开设有安装槽，所述安装槽位于所述方槽的右侧，所述方槽内设置有卡扣销，所述卡扣销上转动设置有卡扣，所述底座的前端设有让位槽，所述让位槽位于所述卡扣的下方并与所述卡扣相适配。

进一步，所述底板的左右两端均设置有防撞块。

进一步，所述弹性销包括柱形座，所述柱形座内活动设置有活动销头，所述活动销头与所述柱形座之间设置有伸缩弹簧，所述活动销头与所述柱形座均与所述伸缩弹簧相配合。

进一步，所述测试PCB左右两端均设置有导向柱，所述底座的左右两端分别设置有与所述导向柱相适配的定位孔。

进一步，所述底座上还设置有四个垫高柱，四个所述垫高柱分布在所述产品凹槽的四周。

本实用新型的有益效果是：使用时，将产品电路板放置在产品凹槽上，在放置的过程中，弹性销起到导向作用，引导产品电路板的放置并且对其进行轮廓限位，具有粗定位效果，而定位销与产品电路板上的定位孔相对应，起到精准定位的作用；测试时，仅需要将产品电路板的排线放置在压槽上然后按压压盖，使压块压住排线并令硅胶针片受压，金属探针从硅胶针片中探出，从而令产品排线与测试PCB导通，进行各项性能测试。由上述可见，本实用新型结构简单，操作方便；既能较容易放置产品，又使产品的定位精度提高；通过硅胶针片上的金属探针接触产品排线进行连接导通，不会对产品造成损害。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构示意图；

图2是本实用新型的正视图；

图3是图1中A部分的放大图；

图4是所述探针测试组件的分解图；

图5是图4中B部分的放大图；

图6是所述底座的俯视图；

图7是所述弹性销的剖视图；

图8是本实用新型去除所述探针测试组件和所述防撞块后的俯视图；

图中，100为产品电路板，200为电路板排线。

具体实施方式

如图1至图8所示，在本实施例中，本实用新型包括底板1，所述底板1上设有产品凹槽2，所述产品凹槽2的槽边设置有若干个弹性销3，所述产品凹槽2内设置有若干个定位销4，所述底板1上还设置有至少一个安装位5，所述安装位5上设置有探针测试组件6，所述探针测试组件6包括固定在所述安装位5上的测试PCB60和底座61，所述底座61位于所述测试PCB60的上方，所述底座61的后端铰接有压盖62，所述压盖62上设置有压块63，所述压块63与开设在所述底座61上的压槽64相适配，所述压槽64内设置有硅胶针片65，所述硅胶针片65内设置有若干根金属探针66，所述金属探针66与设置在所述测试PCB60上的PIN点67相配合。所述产品凹槽1用于产品电路板的放置，与产品电路板适配；所述弹性销3分布在所述产品凹槽2的各个槽边，用于对产品电路板起导向及定位；所述定位销4的数量为两个，设置在所述产品凹槽2内，对产品电路板起到精准定位的作用；所述安装位5用于所述探针测试组件6的安装，所述探针测试组件6用于对产品电路板进行测试；所述测试PCB60与外部测试设备导通，所述底座61与所述压盖62相铰合，所述压块63受所述压盖62的带动与所述压槽64配合，所述压槽64与产品电路板的排线适配，所述硅胶针片65设置在所述压槽64内并位于所述PIN点67的上方；所述金属探针66设置在所述硅胶针片65上，所述金属探针66的上端露出在所述硅胶针片65的上端面，下端露出在所述硅胶针片65的下端面；测试时，将产品电路板的排线放置在所述压槽64上，然后合上所述压盖62，所述压块63压住排线并向所述硅胶针片65施力，然后使得所述金属探针66的上端与排线的接触点接触，下端与所述PIN点67接触，从而使得产品电路板与所述测试PCB60实现导通，再进行测试。由上述可见，本实用新型整体结构简单，操作方便；既能较容易放置产品，又使产品的定位精度提高；通过所述硅胶针片65上的所述金属探针66接触产品排线进行连接导通，不会对产品造成损害。

在本实施例中，所述压盖62的前端设有与所述压块63相适配的方槽68，所述压块63通过压缩弹簧69浮动设置在所述方槽68内。所述压块63滑动设置在所述方槽68内，并通过所述压缩弹簧69实现浮动效果，因此所述压块63在对所述硅胶针片65进行压合时，会进行一定的缓冲，不会出现硬性压合，避免将所述金属探针66压歪或使产品排线被所述金属探针66顶出凹点，保护产品的同时也保护了金属探针66。

在本实施例中，所述底座61和所述压盖62通过转销70相铰接，所述转销70上套设有扭簧71，所述扭簧71与所述底座61及所述压盖62相配合。所述底座61和所述压盖62通过所述转销70与所述扭簧71之间的配合获得压合支撑，测试时，压合所述压盖62完成测试后，移除对压盖62的施加力后，所述压盖62会自动翻起，不再需要手动拉起，方便使用，能够节省测试时间，提高测试效率。

在本实施例中，所述底板1上还设有若干个取手位7，若干个取手位7分布在所述产品凹槽2的前后两侧并与所述产品凹槽2相连通。所述取手位7为四个，分布在所述产品凹槽2的前后两侧，通过所述取手位7，可以轻松放置和取走产品电路板，提升使用效率。

在本实施例中，所述安装位5上开设有连接口8，所述连接口8位于所述测试PCB60的下方。所述连接口8用于给所述测试PCB60让位，方便所述测试PCB60与测试设备连接导通。

在本实施例中，所述压盖62的前端开设有安装槽72，所述安装槽72位于所述方槽68的右侧，所述方槽68内设置有卡扣销73，所述卡扣销73上转动设置有卡扣74，所述底座61的前端设有让位槽75，所述让位槽75位于所述卡扣74的下方并与所述卡扣74相适配。有需要时，可以将所述卡扣74扣合在所述底座61上，使得所述压盖2不再受力翻起，从而令产品排线与所述测试PCB60保持导通状态，以便于持续对产品进行测试；解除时，只需将所述卡扣74上翻即可。

在本实施例中，所述底板1的左右两端均设置有防撞块9。当需要用气缸对所述底板1进行固定时，利用所述防撞块9与气缸的输出端进行配合即可，能够避免气缸压坏所述底板1。

在本实施例中，所述弹性销3包括柱形座31，所述柱形座31内活动设置有活动销头32，所述活动销头32与所述柱形座31之间设置有伸缩弹簧33，所述活动销头32与所述柱形座31均与所述伸缩弹簧33相配合。由于所述弹性销31具有浮动效果，因此产品电路板在放置时即使未对准位置并误压，也能够减少受到的损伤，起到一定的防护作用。

在本实施例中，所述测试PCB60左右两端均设置有导向柱76，所述底座61的左右两端分别设置有与所述导向柱76相适配的定位孔77，所述底座61通过所述定位孔77和所述导向柱77的配合能够精确地定位在所述测试PCB60上。

在本实施例中，所述底座61上还设置有四个垫高柱10，四个所述垫高柱10分布在所述产品凹槽2的四周。所述垫高柱10的高度高于所述探针测试组件6的高度，有利于整个模组的叠放。

本实用新型的工作原理是：把键盘产品的电路板放置在底板1上，通过定位销4进行精定位，通过弹性销3进行轮廓定位，将产品排线末端放在探针测试组件6的压槽64中，与硅胶针片60接触，合上压盖62，闭合卡扣74，压盖62上的压块63给产品排线一个向下的力，金属探针66受力与产品排线和测试PCB60充分接触，实现导通，进行测试。

虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (10)

1.一种键盘测试模组，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）上设有产品凹槽（2），所述产品凹槽（2）的槽边设置有若干个弹性销（3），所述产品凹槽（2）内设置有若干个定位销（4），所述底板（1）上还设置有至少一个安装位（5），所述安装位（5）上设置有探针测试组件（6），所述探针测试组件（6）包括固定在所述安装位（5）上的测试PCB（60）和底座（61），所述底座（61）位于所述测试PCB（60）的上方，所述底座（61）的后端铰接有压盖（62），所述压盖（62）上设置有压块（63），所述压块（63）与开设在所述底座（61）上的压槽（64）相适配，所述压槽（64）内设置有硅胶针片（65），所述硅胶针片（65）内设置有若干根金属探针（66），所述金属探针（66）与设置在所述测试PCB（60）上的PIN点（67）相配合。

2.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述压盖（62）的前端设有与所述压块（63）相适配的方槽（68），所述压块（63）通过压缩弹簧（69）浮动设置在所述方槽（68）内。

3.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述底座（61）和所述压盖（62）通过转销（70）相铰接，所述转销（70）上套设有扭簧（71），所述扭簧（71）与所述底座（61）及所述压盖（62）相配合。

4.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述底板（1）上还设有若干个取手位（7），若干个取手位（7）分布在所述产品凹槽（2）的前后两侧并与所述产品凹槽（2）相连通。

5.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述安装位（5）上开设有连接口（8），所述连接口（8）位于所述测试PCB（60）的下方。

6.根据权利要求2所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述压盖（62）的前端开设有安装槽（72），所述安装槽（72）位于所述方槽（68）的右侧，所述方槽（68）内设置有卡扣销（73），所述卡扣销（73）上转动设置有卡扣（74），所述底座（61）的前端设有让位槽（75），所述让位槽（75）位于所述卡扣（74）的下方并与所述卡扣（74）相适配。

7.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述底板（1）的左右两端均设置有防撞块（9）。

8.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述弹性销（3）包括柱形座（31），所述柱形座（31）内活动设置有活动销头（32），所述活动销头（32）与所述柱形座（31）之间设置有伸缩弹簧（33），所述活动销头（32）与所述柱形座（31）均与所述伸缩弹簧（33）相配合。

9.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述测试PCB（60）左右两端均设置有导向柱（76），所述底座（61）的左右两端分别设置有与所述导向柱（76）相适配的定位孔（77）。

10.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组，其特征在于：所述底座（61）上还设置有四个垫高柱（10），四个所述垫高柱（10）分布在所述产品凹槽（2）的四周。

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