CN212721170U - 塞规检定装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及仪器设备检测技术领域，尤其涉及一种塞规检定装置，包括底座、塞规支撑座、导轨、数字千分表、磁座以及铁板；所述导轨为两条分别固定在所述底座上，所述塞规支撑座的底部与所述导轨滑动配合，所述塞规支撑座的上部固定两块立板，立板上带有V形槽，待测量的量规置于V形槽内，所述铁板固定在所述底座上并位于所述导轨一侧，所述磁座吸附在所述铁板上，所述磁座上固定有立柱，所述立柱的顶部固定有夹块，所述数字千分表通过紧固螺栓固定在所述夹块的一侧。本装置结构简单，通过一个数字千分表能够对阶梯型塞规的大小端进行测量检定，检定速度快，工作效率高。

Description

塞规检定装置

技术领域

本实用新型涉及仪器设备检测技术领域，尤其涉及一种塞规检定装置。

背景技术

在机械零件的制造和检验行业中，塞规通常用于对零部件上精度要求高的孔的内径进行检验，通过简单的操作，便能够快速准确的判断出被检验孔的孔径是否符合设计要求。目前通用塞规的外形上看一般为圆柱体，中间部分(有防滑滚花)为手柄，两端凸起部位用于检验，分别以通端和止端命名。通常被检验孔的公差较小，因此用肉眼从两端的大小上不易区分出通端和止端。塞规在使用一段时间后与测量件之间相互作用会形成一定的磨损，导致后续测量不准，所以需要隔一段时间对其进行检定，对于一般圆柱塞规只需要通过卡尺测量几次外径即可，但对于阶梯型的塞规，需要先测量小端头的直径再测量大端的直径，计算出二者之间的测量差，从而判断是否合格，这种方式比较慢，测量不够精确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述技术的不足，而提供一种塞规检定装置。

本实用新型为实现上述目的，采用以下技术方案：一种塞规检定装置，其特征在于：包括底座、塞规支撑座、导轨、数字千分表、磁座以及铁板；所述导轨为两条分别固定在所述底座上，所述塞规支撑座的底部与所述导轨滑动配合，所述塞规支撑座的上部固定两块立板，立板上带有V形槽，待测量的量规置于V形槽内，所述铁板固定在所述底座上并位于所述导轨一侧，所述磁座吸附在所述铁板上，所述磁座上固定有立柱，所述立柱的顶部固定有夹块，所述数字千分表通过紧固螺栓固定在所述夹块的一侧。

优选地，所述塞规支撑座的一侧固定有挡板。

优选地，所述磁座上固定有拉把。

本实用新型的有益效果是:相对于现有技术，本装置结构简单，通过一个数字千分表能够对阶梯型塞规的大小端进行测量检定，检定速度快，工作效率高。

附图说明

图1是本实用新型的俯视图；

图2是本实用新型的主视图。

具体实施方式

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器或特征与其他器或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器被倒置，则描述为“在其他器或构造上方”或“在其他器或构造之上”的器之后将被定位为“在其他器或构造下方”或“在其他器或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

如图1和图2所示，一种塞规检定装置，包括底座1、塞规支撑座2、导轨3、数字千分表4、磁座5以及铁板6；所述导轨为两条分别固定在所述底座上，所述塞规支撑座的底部与所述导轨滑动配合，塞规支撑座能够对带动塞规在导轨上左右的滑动，为了放置塞规，所述塞规支撑座的上部固定两块立板7，立板上带有V形槽，待测量的量规置于V形槽内，V形槽内也可以放置滚轮，便于塞规转动，所述铁板固定在所述底座上并位于所述导轨一侧，所述磁座吸附在所述铁板上，磁座可以在铁板上任意的移动调节，通过磁力进行吸附固定，所述磁座上固定有立柱8，所述立柱的顶部固定有夹块9，夹块可以在立柱上上下的调节，并通过螺栓紧固，所述数字千分表通过紧固螺栓10固定在所述夹块的一侧。紧固螺栓能够便于更换数字千分表。

为了能够卡住塞规的后部，进行定位，所述塞规支撑座的一侧固定有挡板11。为了便于移动磁座，所述磁座上固定有拉把12。

使用时，将待检定的塞规13放置在V形槽内，调节数字千分表的高度和位置，使表头接触到塞规大端头的表面，也就是塞规身体的表面，将数字千分表清零，推动塞规支撑座，使塞规从导轨的左侧向右侧移动，设置几个停留点，至少三个，两端和中部，在停留点转动塞规，读取数字千分表的读数，如果读数跳动比较大，说明塞规表面出现了问题，当测量小端头时，无需调表，直接测量小端头，数字千分表会出现负读数，该负读数就是大端头和小端头之间的直径差，看这个直径差是否在规定的范围内，如果不在就为不合格，同理，测量小端头的左中右三端的位置。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (3)

1.一种塞规检定装置，其特征在于：包括底座、塞规支撑座、导轨、数字千分表、磁座以及铁板；所述导轨为两条分别固定在所述底座上，所述塞规支撑座的底部与所述导轨滑动配合，所述塞规支撑座的上部固定两块立板，立板上带有V形槽，待测量的量规置于V形槽内，所述铁板固定在所述底座上并位于所述导轨一侧，所述磁座吸附在所述铁板上，所述磁座上固定有立柱，所述立柱的顶部固定有夹块，所述数字千分表通过紧固螺栓固定在所述夹块的一侧。

2.根据权利要求1所述的塞规检定装置，其特征在于：所述塞规支撑座的一侧固定有挡板。

3.根据权利要求1所述的塞规检定装置，其特征在于：所述磁座上固定有拉把。

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