CN212568881U - 一种钴尖晶石晶体的导电测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，包括底座、工作台和放置台，所述底座上侧中心设置有所述工作台，所述工作台上侧中心设置有下导电电极，所述工作台上环侧设置有所述放置台。有益效果在于：本实用新型通过设置的夹紧爪、垫片和气缸，使得装置在对晶体进行测试时，不需要操作人员通过手持机械对晶体进行夹紧固定，降低操作人员疲劳感，避免晶体晃动，保证导电性测试精准性，通过设置的工作台、放置台、齿环、齿轮和旋转电机，使得晶体测试完成后，可以集中收集放置晶体，避免晶体混淆。

Description

一种钴尖晶石晶体的导电测试装置

技术领域

本实用新型钴尖晶石晶体测试领域，具体涉及一种钴尖晶石晶体的导电测试装置。

背景技术

尖晶石型化合物结构较稳定，有的可用作高温耐火材料，有的可用作电子陶瓷材料。常见的有FeAl2O4等，此外，还有B为4价阳离子的系列，如Mg2TiO4和Mn2TiO4等许多复合氧化物。一系列硫化物如FeCr2S4，Co3S4等也都被称作具有尖晶石型结构化合物。钴尖晶石晶体在使用时，需要通过导电测试装置对晶体的导电性进行检测，保证晶体满足使用要求。

现有的钴尖晶石晶体导电测试装置在使用时，晶体的导电测试过程需要操作人员通过手持机械将晶体夹紧固定进行测试，增加操作人员疲劳感，进而造成晶体晃动，影响导电性测试精准性，同时，现有的装置在测试完后，缺少集中收集放置晶体的装置，使得晶体容易混淆，因此需要一种实用新型来解决现有的问题。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

为了解决现有的钴尖晶石晶体导电测试装置在使用时，晶体的导电测试过程需要操作人员通过手持机械将晶体夹紧固定进行测试，增加操作人员疲劳感，进而造成晶体晃动，影响导电性测试精准性的问题，以及现有的装置在测试完后，缺少集中收集放置晶体的装置，使得晶体容易混淆的问题。

(二)技术方案

本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，包括底座、工作台和放置台，所述底座上侧中心设置有所述工作台，所述工作台上侧中心设置有下导电电极，所述工作台上环侧设置有所述放置台，所述工作台下侧键连接有齿环，所述齿环中心设置有转轴，所述齿环一侧啮合有齿轮，所述齿轮下侧键连接旋转电机，所述下导电电极上侧设置有夹紧爪，所述夹紧爪下端套设有垫片，所述夹紧爪之间铰接有气缸，所述夹紧爪上端铰接有固定座，所述固定座一侧设置有固定架，所述固定架下端中心设置有上导电电极。

进一步的，所述固定座上端通过旋钮压接有连杆，所述连杆远离所述固定座一端铰接有支撑座，所述支撑座一侧焊接有支撑柱。

通过采用上述技术方案，所述连杆可以将所述固定座与所述支撑座连接，保证所述固定座可以稳定移动，所述支撑柱可以将所述横杆进行支撑固定，保证所述操作面板稳定工作。

进一步的，所述支撑柱上端通过螺钉连接有横杆，所述横杆一侧边卡合连接有操作面板，所述底座下侧四角设置有支撑脚。

通过采用上述技术方案，所述支撑脚使得所述底座可以稳定放置，保证所述工作台处于水平面，进而保证所述工作台上的所述放置台转动平稳。

进一步的，所述底座与所述支撑脚通过螺钉连接，所述横杆与所述底座通过所述支撑柱连接，所述固定座与所述支撑柱通过所述连杆和所述支撑柱连接。

通过采用上述技术方案，所述支撑脚可以调节高度，进而使得所述工作台在水平平面上。

进一步的，所述上导电电极与所述固定座通过所述固定架连接，所述下导电电极与所述工作台通过螺钉连接，所述放置台与所述工作台通过螺钉连接。

通过采用上述技术方案，所述上导电电极和所述下导电电极分别与晶体上下端连接，进而使得晶体可以进行导电测试。

进一步的，所述旋转电机与所述工作台通过所述齿轮和所述齿环连接，所述工作台与所述底座通过所述转轴连接，所述转轴与所述底座通过轴承连接。

通过采用上述技术方案，所述旋转电机可以通过所述齿轮带动所述齿环转动，进而使得所述工作台水平旋转，使得所述放置台可以在水平方向上旋转，进而调节所述放置台的位置。

(三)有益效果

本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：

1、为解决现有的钴尖晶石晶体导电测试装置在使用时，晶体的导电测试过程需要操作人员通过手持机械将晶体夹紧固定进行测试，增加操作人员疲劳感，进而造成晶体晃动，影响导电性测试精准性的问题，本实用新型通过设置的夹紧爪、垫片和气缸，使得装置在对晶体进行测试时，不需要操作人员通过手持机械对晶体进行夹紧固定，降低操作人员疲劳感，避免晶体晃动，保证导电性测试精准性；

2、为解决现有的装置在测试完后，缺少集中收集放置晶体的装置，使得晶体容易混淆的问题，本实用新型通过设置的工作台、放置台、齿环、齿轮和旋转电机，使得晶体测试完成后，可以集中收集放置晶体，避免晶体混淆。

附图说明

图1是本实用新型所述一种钴尖晶石晶体的导电测试装置的主视图；

图2是本实用新型所述一种钴尖晶石晶体的导电测试装置中A处的放大图；

图3是本实用新型所述一种钴尖晶石晶体的导电测试装置中工作台和旋转电机的主视图。

附图标记说明如下：

1、底座；2、支撑脚；3、支撑柱；4、横杆；5、操作面板；6、支撑座；7、连杆；8、固定座；9、夹紧爪；10、工作台；11、下导电电极；12、气缸；13、上导电电极；14、垫片；15、固定架；16、齿环；17、齿轮；18、旋转电机；19、转轴；20、放置台。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-图3所示，本实施例中一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，包括底座1、工作台10和放置台20，底座1上侧中心设置有工作台10，工作台10上侧中心设置有下导电电极11，工作台10上环侧设置有放置台20，工作台10下侧键连接有齿环16，齿环16中心设置有转轴19，齿环16一侧啮合有齿轮17，齿轮17下侧键连接旋转电机18，下导电电极11上侧设置有夹紧爪9，夹紧爪9下端套设有垫片14，夹紧爪9之间铰接有气缸12，夹紧爪9上端铰接有固定座8，固定座8一侧设置有固定架15，固定架15下端中心设置有上导电电极13。

固定座8上端通过旋钮压接有连杆7，连杆7远离固定座8一端铰接有支撑座6，支撑座6一侧焊接有支撑柱3，连杆7可以将固定座8与支撑座6连接，保证固定座8可以稳定移动，支撑柱3可以将横杆4进行支撑固定，保证操作面板5稳定工作。

支撑柱3上端通过螺钉连接有横杆4，横杆4一侧边卡合连接有操作面板5，底座1下侧四角设置有支撑脚2，支撑脚2使得底座1可以稳定放置，保证工作台10处于水平面，进而保证工作台10上的放置台20转动平稳。

底座1与支撑脚2通过螺钉连接，横杆4与底座1通过支撑柱3连接，固定座8与支撑柱3通过连杆7和支撑柱3连接，支撑脚2可以调节高度，进而使得工作台10在水平平面上。

上导电电极13与固定座8通过固定架15连接，下导电电极11与工作台10通过螺钉连接，放置台20与工作台10通过螺钉连接，上导电电极13和下导电电极11分别与晶体上下端连接，进而使得晶体可以进行导电测试。

旋转电机18与工作台10通过齿轮17和齿环16连接，工作台10与底座1通过转轴19连接，转轴19与底座1通过轴承连接，旋转电机18可以通过齿轮17带动齿环16转动，进而使得工作台10水平旋转，使得放置台20可以在水平方向上旋转，进而调节放置台20的位置。

本实施例的具体实施过程如下：在使用时，将晶体放置在夹紧爪9之间，气缸12带动夹紧爪9将晶体进行夹紧固定，使得晶体上端与上导电电极13接触，然后移动连杆7，使得晶体下端与下导电电极11接触，然后通过上导电电极13和下导电电极11对晶体进行导电测试，夹紧爪9的设置，使得操作人员不需要手持机械对晶体进行夹紧固定，避免操作人员出现疲劳感，保证晶体固定稳定，使得晶体的导电测试精准性得到保证，测试完的晶体可以放置在工作台10上侧的放置台20上，放置台20放置完成后，旋转电机18带动齿轮17转动，进而使得齿轮17带动齿环16转动，使得工作台10旋转，进而使得未放置晶体的放置台20旋转到夹紧爪9下侧，方便晶体的放置。

上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下，本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本实用新型的保护范围，本实用新型请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。

Claims (6)

1.一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：包括底座(1)、工作台(10)和放置台(20)，所述底座(1)上侧中心设置有所述工作台(10)，所述工作台(10)上侧中心设置有下导电电极(11)，所述工作台(10)上环侧设置有所述放置台(20)，所述工作台(10)下侧键连接有齿环(16)，所述齿环(16)中心设置有转轴(19)，所述齿环(16)一侧啮合有齿轮(17)，所述齿轮(17)下侧键连接旋转电机(18)，所述下导电电极(11)上侧设置有夹紧爪(9)，所述夹紧爪(9)下端套设有垫片(14)，所述夹紧爪(9)之间铰接有气缸(12)，所述夹紧爪(9)上端铰接有固定座(8)，所述固定座(8)一侧设置有固定架(15)，所述固定架(15)下端中心设置有上导电电极(13)。

2.根据权利要求1所述的一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：所述固定座(8)上端通过旋钮压接有连杆(7)，所述连杆(7)远离所述固定座(8)一端铰接有支撑座(6)，所述支撑座(6)一侧焊接有支撑柱(3)。

3.根据权利要求2所述的一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：所述支撑柱(3)上端通过螺钉连接有横杆(4)，所述横杆(4)一侧边卡合连接有操作面板(5)，所述底座(1)下侧四角设置有支撑脚(2)。

4.根据权利要求3所述的一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：所述底座(1)与所述支撑脚(2)通过螺钉连接，所述横杆(4)与所述底座(1)通过所述支撑柱(3)连接，所述固定座(8) 与所述支撑柱(3)通过所述连杆(7)和所述支撑柱(3)连接。

5.根据权利要求4所述的一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：所述上导电电极(13)与所述固定座(8)通过所述固定架(15)连接，所述下导电电极(11)与所述工作台(10)通过螺钉连接，所述放置台(20)与所述工作台(10)通过螺钉连接。

6.根据权利要求5所述的一种钴尖晶石晶体的导电测试装置，其特征在于：所述旋转电机(18)与所述工作台(10)通过所述齿轮(17)和所述齿环(16)连接，所述工作台(10)与所述底座(1)通过所述转轴(19)连接，所述转轴(19)与所述底座(1)通过轴承连接。

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