CN212539072U - 一种采光板厚度测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于厚度测量设备技术领域，提供了一种采光板厚度测量装置，包括装置台体，所述装置台体的上方设有用于承载采光板的滑动板，所述装置台体位于滑动板的下方开设有两个凹槽，两个凹槽内均固定安装有若干个用于驱动滑动板水平方向往复运动的驱动装置，若干个驱动装置均与滑动板驱动连接，所述装置台体的一侧边缘固定安装有支撑架，支撑架上固定安装有支撑板，支撑板上固定安装有用于检测采光板厚度的若干个测量组件，若干个测量组件的检测面分别对准采光板，驱动装置和若干个测量组件均与微处理器连接，微处理器连接报警器。本实用新型的一种采光板厚度测量装置，具有工作效率高的特点，便于对不合格的采光板进行筛选和及时搬运处理。
Description
技术领域
本实用新型涉及厚度测量设备技术领域，具体涉及一种采光板厚度测量装置。
背景技术
厚度测量仪用于测量金属及多种材料的厚度，可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测各种管道和压力容器进行监测在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，便于实时监测各种管道和压力容器的工作状态，以及跟中板材和零件是否满足生产的标准。
传统的厚度测量仪在进行测量时，一次只能针对一个点进行厚度测量，测量的效率较低，不能满足大规模生产过程中的检测需求。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷，本实用新型提供的一种采光板厚度测量装置，具有工作效率高的特点，便于对不合格的采光板进行筛选和及时搬运处理。
为了解决上述技术问题，本实用新型提出以下技术方案：
一种采光板厚度测量装置，包括装置台体，所述装置台体的上方设有用于承载采光板的滑动板，所述装置台体位于滑动板的下方开设有两个凹槽，两个凹槽内均固定安装有若干个用于驱动滑动板水平方向往复运动的驱动装置，若干个驱动装置均与滑动板驱动连接，所述装置台体的一侧边缘固定安装有支撑架，支撑架上固定安装有支撑板，支撑板上固定安装有用于检测采光板厚度的若干个测量组件，若干个测量组件的检测面分别对准采光板，驱动装置和若干个测量组件均与微处理器连接，微处理器连接报警器。
进一步地，所述所述滑动板的上方设有U型盖板，U型盖板的底端与所述装置台体的两侧滑动连接，U型盖板与滑动板之间形成采光板容纳腔，U型盖板上开设有长条形检测口，若干个测量组件的检测面分别对准长条形检测口。
进一步地，所述U型盖板包括盖板体，盖板体上开设有长条形检测口，盖板体下表面的两侧边缘均固定安装有滑块，滑块的数量为两个，两个滑块对称设置，所述装置台体上表面两侧均开设有滑槽，滑槽的数量为两个，两个滑槽对称设置，两个滑槽分别位于两个凹槽的外侧，滑块与滑槽滑动连接。
进一步地，所述盖板体的下表面固定安装有清洁刷，清洁刷的下端与采光板的上表面接触。
进一步地，所述驱动装置包括正反转电机，正反转电机与凹槽的侧壁固定连接，正反转电机与微控制器连接，正反转电机的输出轴上同轴连接有驱动齿轮，所述滑动板下表面的两侧均固定安装有齿条，驱动齿轮与齿条啮合。
进一步地，所述测量组件为激光测厚仪，激光测厚仪的型号为ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器，ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器与微处理器连接，微处理器的型号为STM32F103C8T6。
由上述技术方案可知，本实用新型的有益效果：将采光板置于滑动板上，通过驱动装置驱动滑动板往复运动，从而带动采光板从装置台体的一侧向另一侧运动，若干个测量组件可呈直线排列，若干个测量组件同时对采光板的列向进行厚度测量，并将若干个测量组件的测量结果发送给微处理器，微处理器将测量结构进行存储和对比，当若干个测量组件的测量结果一致，滑动板将采光板运送到装置台体的另一侧后，即可完成采光板的厚度测量，具有工作效率高的特点，然后，驱动装置带动滑动板向反方向运动，进行下一个采光板的厚度检测。如果若干个测量组件的测量结果不一致，微处理器控制报警器报警并控制驱动装置停止工作，便于对不合格的采光板进行筛选和及时搬运处理，然后，通过复位操作恢复驱动装置工作。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的右视图；
图3为图2中A处的放大图。
附图标记：
1-装置台体；
11-滑动板；12-凹槽；13-支撑架；14-支撑板；15-U型盖板；16-滑槽；
111-齿条；121-正反转电机；122-驱动齿轮；141-激光测厚仪；151-盖板体；152-滑块；153-清洁刷；154-长条形检测口。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
参阅图1-图3所示，本实施例提供的一种采光板厚度测量装置，包括装置台体1，装置台体1的上方设有用于承载采光板的滑动板11，装置台体1位于滑动板11的下方开设有两个凹槽12，两个凹槽12内均固定安装有若干个用于驱动滑动板11水平方向往复运动的驱动装置，若干个驱动装置均与滑动板11驱动连接，装置台体1的一侧边缘固定安装有支撑架13，支撑架13上固定安装有支撑板14，支撑板14上固定安装有用于检测采光板厚度的若干个测量组件，若干个测量组件的检测面分别对准采光板，驱动装置和若干个测量组件均与微处理器连接，微处理器连接报警器。
在实际使用中，将采光板置于滑动板11上，通过驱动装置驱动滑动板11往复运动，从而带动采光板从装置台体1的一侧向另一侧运动，若干个测量组件可呈直线排列，若干个测量组件同时对采光板的纵向进行厚度测量，并将若干个测量组件的测量结果发送给微处理器，微处理器将测量结构进行存储和对比，当若干个测量组件的测量结果一致，滑动板11将采光板运送到装置台体1的另一侧后，即可完成采光板的厚度测量，具有工作效率高的特点，然后，驱动装置带动滑动板11向反方向运动，进行下一个采光板的厚度检测。如果若干个测量组件的测量结果不一致，微处理器控制报警器报警并控制驱动装置停止工作，便于对不合格的采光板进行筛选和及时搬运处理，然后，通过复位操作恢复驱动装置工作。
在本实施例中，滑动板11的上方设有U型盖板15，U型盖板15的底端与装置台体1的两侧滑动连接，U型盖板15与滑动板11之间形成采光板容纳腔，U型盖板15上开设有长条形检测口154，若干个测量组件的检测面分别对准长条形检测口154。
在实际使用中，将采光板置于采光板容纳腔内，U型盖板15覆盖在采光板上，防止采光板上落入灰尘和碎屑，影响若干个测量组件测量的准确度；U型盖板15与装置台体1滑动连接，便于调节U型盖板15在装置台体1上的位置，从而调节长条形检测口154的位置，便于对准若干个测量组件的检测面。
在本实施例中，U型盖板15包括盖板体151，盖板体151上开设有长条形检测口154，盖板体151下表面的两侧边缘均固定安装有滑块152，滑块152的数量为两个，两个滑块152对称设置，装置台体1上表面两侧均开设有滑槽16，滑槽16的数量为两个，两个滑槽16对称设置，两个滑槽16分别位于两个凹槽12的外侧，滑块152与滑槽16滑动连接。
在实际使用中，滑块152和滑槽16滑动连接，便于调整盖板体151的位置，从而调整长条形检测口154的位置；同时，滑块152与滑槽16滑动连接，便于U型盖板15与装置台体1的安装和拆卸。
在本实施例中，盖板体151的下表面固定安装有清洁刷153，清洁刷153的下端与采光板的上表面接触，便于对采光板上落入的灰尘和碎渣进行清理，保持采光板在测量厚度之前保持清洁。
在本实施例中，驱动装置包括正反转电机121，正反转电机121与凹槽12的侧壁固定连接，正反转电机121与微控制器连接，正反转电机121的输出轴上同轴连接有驱动齿轮122，滑动板11下表面的两侧均固定安装有齿条111，驱动齿轮122与齿条111啮合。
在实际使用中，微控制器控制正反转电机121转动带动驱动齿轮122转动，通过驱动齿轮122驱动U型盖板15上的齿条111，带动U型盖板15往复运动。
在本实施例中，测量组件为激光测厚仪141，激光测厚仪141的型号为ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器，ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器与微处理器连接，微处理器的型号为STM32F103C8T6。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求和说明书的范围当中。
Claims (6)
1.一种采光板厚度测量装置，其特征在于：包括装置台体(1)，所述装置台体(1)的上方设有用于承载采光板的滑动板(11)，所述装置台体(1)位于滑动板(11)的下方开设有两个凹槽(12)，两个凹槽(12)内均固定安装有若干个用于驱动滑动板(11)水平方向往复运动的驱动装置，若干个驱动装置均与滑动板(11)驱动连接，所述装置台体(1)的一侧边缘固定安装有支撑架(13)，支撑架(13)上固定安装有支撑板(14)，支撑板(14)上固定安装有用于检测采光板厚度的若干个测量组件，若干个测量组件的检测面分别对准采光板，驱动装置和若干个测量组件均与微处理器连接，微处理器连接报警器。
2.根据权利要求1所述的一种采光板厚度测量装置，其特征在于：所述滑动板(11)的上方设有U型盖板(15)，U型盖板(15)的底端与所述装置台体(1)的两侧滑动连接，U型盖板(15)与滑动板(11)之间形成采光板容纳腔，U型盖板(15)上开设有长条形检测口(154)，若干个测量组件的检测面分别对准长条形检测口(154)。
3.根据权利要求2所述的一种采光板厚度测量装置，其特征在于：所述U型盖板(15)包括盖板体(151)，盖板体(151)上开设有长条形检测口(154)，盖板体(151)下表面的两侧边缘均固定安装有滑块(152)，滑块(152)的数量为两个，两个滑块(152)对称设置，所述装置台体(1)上表面两侧均开设有滑槽(16)，滑槽(16)的数量为两个，两个滑槽(16)对称设置，两个滑槽(16)分别位于两个凹槽(12)的外侧，滑块(152)与滑槽(16)滑动连接。
4.根据权利要求3所述的一种采光板厚度测量装置，其特征在于：所述盖板体(151)的下表面固定安装有清洁刷(153)，清洁刷(153)的下端与采光板的上表面接触。
5.根据权利要求1所述的一种采光板厚度测量装置，其特征在于：所述驱动装置包括正反转电机(121)，正反转电机(121)与凹槽(12)的侧壁固定连接，正反转电机(121)与微控制器连接，正反转电机(121)的输出轴上同轴连接有驱动齿轮(122)，所述滑动板(11)下表面的两侧均固定安装有齿条(111)，驱动齿轮(122)与齿条(111)啮合。
6.根据权利要求1所述的一种采光板厚度测量装置，其特征在于：所述测量组件为激光测厚仪(141)，激光测厚仪(141)的型号为ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器，ZTMS08激光测厚仪或OTS50激光传感器与微处理器连接，微处理器的型号为STM32F103C8T6。
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