CN221037289U - 三坐标测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种三坐标测量装置，包括：载物平台，位于载物平台的顶部设置有一平行于Y轴的导轨，在横梁的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头的光栅尺主体，光栅尺主体的顶部一端安装有一下推块，另一端安装有一抬升块，位于下推块与抬升块之间的监测探头具有一中部开设有通孔的连接块，且该通孔的内部设置有一定位框架，该定位框架的下端与一位于连接块下方的擦拭块固定连接，且在定位框架与擦拭块之间形成一与抬升块配合的插孔。本实用新型三坐标测量装置能够实现自动清洁，减少了灰尘、污渍对测量精度的影响，提高了装置在长期使用过程中的可靠性。
Description
技术领域
本实用新型涉及三坐标测量技术领域，具体涉及一种三坐标测量装置。
背景技术
三坐标检测是检验工件的一种精密测量方法，广泛应用于机械制造业，汽车工业等现代工业中，三坐标检测就是运用三坐标测量机对工件进行形位公差的检验和测量，判断该工件的误差是不是在公差范围之内，也叫三坐标测量。三坐标测量机的测量实际上是基于空间点坐标的采集和计算。
经检索，中国专利公开号为CN201520691524.X的专利，公开了绝对式高效三坐标测量装置，包括：载物平台、主动活动臂、从动活动臂、钢带绝对光栅尺、读数头和水平桥，所述主动活动臂、从动活动臂分别设置于载物平台两侧；所述读数头包括壳体、封盖、信号处理单元和光电传感器，所述信号处理单元置在壳体内部，所述光电传感器设置在信号处理单元下方，所述壳体底板上开有扫描窗口且与光电传感器相对应；所述钢带绝对光栅尺安装于水平桥上且其与沿x向方向平行设置，所述读数头设在X轴滑块上，所述钢带绝对光栅尺与X轴滑块运动方向平行。本实用新型有效消除往复测量误差和机械配合误差，能让后续电子设备快速找到绝对参考点，有效提高工作效率。
但是，上述三坐标测量装置的光栅尺在长时间使用过程中，光栅尺刻度的表面很容易沾染各种灰尘和污渍，导致光栅尺在反射光线时容易产生误差，进而使三坐标测量装置产生监测误差，影响整体的测量精度。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种三坐标测量装置，该三坐标测量装置能够实现自动清洁，减少了灰尘、污渍对测量精度的影响，提高了装置在长期使用过程中的可靠性。
为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种三坐标测量装置，包括：载物平台，位于所述载物平台的顶部设置有一平行于Y轴的导轨，且对称设置的两个导轨均滑动连接有一立柱，且在两个立柱之间设置有一平行于X轴的横梁，且在该横梁上设置有一能够沿X轴方向滑动的滑块，所述滑块固定连接有一可沿竖直方向移动的Z轴移动机构，且该Z轴移动机构的下端连接有测头，在所述横梁的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头的光栅尺主体，且监测探头与滑块之间固定连接；
所述光栅尺主体的顶部一端安装有一下推块，另一端安装有一抬升块，位于所述下推块与抬升块之间的监测探头具有一中部开设有通孔的连接块，且该通孔的内部设置有一定位框架，该定位框架的下端与一位于连接块下方的擦拭块固定连接，且在所述定位框架与擦拭块之间形成一与抬升块配合的插孔。
上述技术方案中进一步改进的方案如下：
1. 上述方案中，位于所述抬升块相背于监测探头的一侧且靠近光栅尺主体的端部设置有一收纳盒。
2. 上述方案中，所述抬升块与光栅尺主体之间设置有一支撑板。
3. 上述方案中，所述支撑板靠近收纳盒的一侧对称设置有卡块，且所述收纳盒具有与卡块配合的挂钩。
4. 上述方案中，所述收纳盒的上端靠近光栅尺主体的一侧设置有一倒角。
5. 上述方案中，位于所述光栅尺主体的上方罩设有一壳体，且在该壳体的侧壁上开设有一供收纳盒通过的窗口，且该窗口的侧壁转动安装有一遮板。
由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
本实用新型三坐标测量装置，其在横梁的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头的光栅尺主体，且监测探头与滑块之间固定连接，光栅尺主体的顶部一端安装有一下推块，另一端安装有一抬升块，位于下推块与抬升块之间的监测探头具有一中部开设有通孔的连接块，且该通孔的内部设置有一定位框架，该定位框架的下端与一位于连接块下方的擦拭块固定连接，能够沿X轴方向滑动的滑块与光栅尺主体上的监测探头固定连接，且监测探头具有与定位框架连接的连接块，需要清洁时，可以通过监测头靠近下推块，将定位框架向下按压使得擦拭块与光栅尺本体接触，在监测探头的移动过程中对光栅尺本体进行擦拭，实现对光栅尺主体的自动清洁，不需要清洁时，通过监测头靠近抬升块，抬升块插入插孔且在移动过程中将定位框架向上顶起，使得擦拭块与光栅尺主体脱离，避免了杂质重新粘附在光栅尺上的情况，减少了灰尘、污渍对测量精度的影响，提高了装置在长期使用过程中的可靠性。
附图说明
附图1为本实用新型三坐标测量装置的结构示意图；
附图2为本实用新型三坐标测量装置的局部结构示意图一；
附图3为本实用新型三坐标测量装置的局部结构示意图二；
附图4为本实用新型三坐标测量装置的局部结构分解图一；
附图5为本实用新型三坐标测量装置的局部结构分解图二。
以上附图中：1、光栅尺主体；2、监测探头；3、连接块；4、擦拭块；5、定位框架；6、支撑架；7、下推块；8、支撑板；9、抬升板；10、卡块；11、挂钩；12、收纳盒；14、通孔；15、插孔；16、第一斜面；17、第二斜面；18、载物平台；19、导轨；20、立柱；21、横梁；22、滑块；23、Z轴移动机构；24、测头；25、壳体；26、窗口；27、遮板；28、固定块；29、滑槽。
实施方式
通过下面给出的具体实施例可以进一步清楚地了解本专利，但它们不是对本专利的限定。
实施例1：一种三坐标测量装置，包括：载物平台18，位于所述载物平台18的顶部设置有一平行于Y轴的导轨19，且对称设置的两个导轨19均滑动连接有一立柱20，且在两个立柱20之间设置有一平行于X轴的横梁21，且在该横梁21上设置有一能够沿X轴方向滑动的滑块22，所述滑块22固定连接有一可沿竖直方向移动的Z轴移动机构23，且该Z轴移动机构23的下端连接有测头24，在所述横梁21的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头2的光栅尺主体1，且监测探头2与滑块22之间固定连接；
将测量物放置在载物平台上，通过立柱沿导轨移动，从而调节横梁的位置，监测探头通过固定块带动滑块在横梁上移动，从而调节Z轴移动机构的位置，并通过Z轴移动机构调节测头的高度；
所述光栅尺主体1的顶部一端安装有一下推块7，另一端安装有一抬升块9，位于所述下推块7与抬升块9之间的监测探头2具有一中部开设有通孔14的连接块3，且该通孔14的内部设置有一定位框架5，该定位框架5的下端与一位于连接块3下方的擦拭块4固定连接，且在所述定位框架5与擦拭块4之间形成一与抬升块9配合的插孔15；
监测探头的移动过程中，在监测探头带动擦拭块沿抬升块移动时，抬升板会先插入定位框架中间的通槽内，随后抬升板顶部的第二斜面与定位框架接触，随着监测探头的运动，将定位框架和擦拭块抬起，从而在监测探头向下推块方向移动过程中，擦拭块与光栅尺本体保持脱离；
位于上述抬升块9相背于监测探头2的一侧且靠近光栅尺主体1的端部设置有一收纳盒12。
直至定位框架与下推块接触并且沿下推块移动，下推块底部的第一斜面会与定位框架的顶部接触，随着监测探头的运动，将定位框架向下推动，使得擦拭块与光栅尺本体保持接触，从而在监测探头往抬升块移动过程中，擦拭块对光栅尺本体进行擦拭清洁，实现了对光栅尺本体的单向擦拭。
上述抬升块9与光栅尺主体1之间设置有一支撑板8。
上述收纳盒12的上端靠近光栅尺主体1的一侧设置有一倒角。
位于左端的上述下推块7为具有第一斜面16的倒梯形块，当定位框架5向左沿下推块7移动时，使得擦拭块4向下按压并与光栅尺主体1接触。
位于右端的上述抬升块9为具有第二斜面17的梯形块，当插孔15向右沿抬升块9移动时，使得擦拭块4向上顶起并与光栅尺主体1脱离。
实施例2：一种三坐标测量装置，包括：载物平台18，位于所述载物平台18的顶部设置有一平行于Y轴的导轨19，且对称设置的两个导轨19均滑动连接有一立柱20，且在两个立柱20之间设置有一平行于X轴的横梁21，且在该横梁21上设置有一能够沿X轴方向滑动的滑块22，所述滑块22固定连接有一可沿竖直方向移动的Z轴移动机构23，且该Z轴移动机构23的下端连接有测头24，在所述横梁21的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头2的光栅尺主体1，且监测探头2与滑块22之间固定连接；
能够沿X轴方向滑动的滑块与光栅尺主体上的监测探头固定连接，且监测探头具有与定位框架连接的连接块，需要清洁时，可以通过监测头靠近下推块，将定位框架向下按压使得擦拭块与光栅尺本体接触，在监测探头的移动过程中对光栅尺本体进行擦拭，实现对光栅尺主体的清洁，从而保证了装置在长期使用过程中的精度；
所述光栅尺主体1的顶部一端安装有一下推块7，另一端安装有一抬升块9，位于所述下推块7与抬升块9之间的监测探头2具有一中部开设有通孔14的连接块3，且该通孔14的内部设置有一定位框架5，该定位框架5的下端与一位于连接块3下方的擦拭块4固定连接，且在所述定位框架5与擦拭块4之间形成一与抬升块9配合的插孔15；
不需要清洁时，通过监测头靠近抬升块，抬升块插入插孔且在移动过程中将定位框架向上顶起，使得擦拭块与光栅尺主体脱离，大大降低了滑块移动的阻力，减少了杂质重新粘附在光栅尺上的情况，改善了清洁效果。
位于上述抬升块9相背于监测探头2的一侧且靠近光栅尺主体1的端部设置有一收纳盒12。
上述支撑板8靠近收纳盒12的一侧对称设置有卡块10，且上述收纳盒12具有与卡块10配合的挂钩11；
在靠近抬高块的一侧设置收纳盒，可以通过收纳盒对擦拭块推出的杂质进行收集，避免杂质四处散落导致收集困难，在收纳盒开口与光栅尺主体接触的一侧通过设置倒角使杂质更容易落入收纳盒内。
位于上述光栅尺主体1的上方罩设有一壳体25，且在该壳体25的侧壁上开设有一供收纳盒12通过的窗口26，且该窗口26的侧壁转动安装有一遮板27；
在对光栅尺主体清理后，打开壳体一侧的窗口，将收纳盒的挂扣与卡块分离，从而可以通过窗口将收纳盒从壳体内取出，便于对壳体内收集的杂质进行清理。
位于左端的上述下推块7为具有第一斜面16的倒梯形块，当定位框架5向左沿下推块7移动时，使得擦拭块4向下按压并与光栅尺主体1接触。
位于右端的上述抬升块9为具有第二斜面17的梯形块，当插孔15向右沿抬升块9移动时，使得擦拭块4向上顶起并与光栅尺主体1脱离。
上述下推块7与光栅尺主体1之间设置有一支撑架6。
上述Z轴移动机构23与监测探头2之间通过固定块28固定连接，上述壳体25的侧壁上开设有一供固定块28滑动的滑槽29。
工作原理为：
使用时，将测量物放置在载物平台上，通过立柱沿导轨移动，从而调节横梁的位置，监测探头通过固定块带动滑块在横梁上移动，从而调节Z轴移动机构的位置，并通过Z轴移动机构调节测头的高度；
监测探头的移动过程中，在监测探头带动擦拭块沿抬升块移动时，抬升板会先插入定位框架中间的通槽内，随后抬升板顶部的第二斜面与定位框架接触，随着监测探头的运动，将定位框架和擦拭块抬起，从而在监测探头向下推块方向移动过程中，在第二磁铁与连接块的磁吸作用下，擦拭块与光栅尺本体保持脱离；
直至定位框架与下推块接触并且沿下推块移动，下推块底部的第一斜面会与定位框架的顶部接触，随着监测探头的运动，将定位框架向下推动，且在第一磁铁与连接块的磁吸作用下，使得擦拭块与光栅尺本体保持接触，从而在监测探头往抬升块移动过程中，擦拭块对光栅尺本体进行擦拭清洁，实现了对光栅尺本体的单向擦拭；
在靠近抬高块的一侧设置收纳盒，可以通过收纳盒对擦拭块推出的杂质进行收集，避免杂质四处散落导致收集困难，在收纳盒开口与光栅尺主体接触的一侧通过设置倒角使杂质更容易落入收纳盒内；
在对光栅尺主体清理后，打开壳体一侧的窗口，将收纳盒的挂扣与卡块分离，从而可以通过窗口将收纳盒从壳体内取出，便于对壳体内收集的杂质进行清理。
采用上述三坐标测量装置时，其需要清洁时，可以通过监测头靠近下推块，将定位框架向下按压使得擦拭块与光栅尺本体接触，在监测探头的移动过程中对光栅尺本体进行擦拭，实现对光栅尺主体的清洁，从而保证了装置在长期使用过程中的精度，不需要清洁时，通过监测头靠近抬升块，抬升块插入插孔且在移动过程中将定位框架向上顶起，使得擦拭块与光栅尺主体脱离，大大降低了滑块移动的阻力，减少了杂质重新粘附在光栅尺上的情况，改善了清洁效果。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种三坐标测量装置，包括：载物平台（18），位于所述载物平台（18）的顶部设置有一平行于Y轴的导轨（19），且对称设置的两个导轨（19）均滑动连接有一立柱（20），且在两个立柱（20）之间设置有一平行于X轴的横梁（21），且在该横梁（21）上设置有一能够沿X轴方向滑动的滑块（22），所述滑块（22）固定连接有一可沿竖直方向移动的Z轴移动机构（23），且该Z轴移动机构（23）的下端连接有测头（24），其特征在于：在所述横梁（21）的顶部且平行于X轴方向设置有一顶部滑动连接有监测探头（2）的光栅尺主体（1），且监测探头（2）与滑块（22）之间固定连接；
所述光栅尺主体（1）的顶部一端安装有一下推块（7），另一端安装有一抬升块（9），位于所述下推块（7）与抬升块（9）之间的监测探头（2）具有一中部开设有通孔（14）的连接块（3），且该通孔（14）的内部设置有一定位框架（5），该定位框架（5）的下端与一位于连接块（3）下方的擦拭块（4）固定连接，且在所述定位框架（5）与擦拭块（4）之间形成一与抬升块（9）配合的插孔（15）。
2.根据权利要求1所述的三坐标测量装置，其特征在于：位于所述抬升块（9）相背于监测探头（2）的一侧且靠近光栅尺主体（1）的端部设置有一收纳盒（12）。
3.根据权利要求2所述的三坐标测量装置，其特征在于：所述抬升块（9）与光栅尺主体（1）之间设置有一支撑板（8）。
4.根据权利要求3所述的三坐标测量装置，其特征在于：所述支撑板（8）靠近收纳盒（12）的一侧对称设置有卡块（10），且所述收纳盒（12）具有与卡块（10）配合的挂钩（11）。
5.根据权利要求2所述的三坐标测量装置，其特征在于：所述收纳盒（12）的上端靠近光栅尺主体（1）的一侧设置有一倒角。
6.根据权利要求1所述的三坐标测量装置，其特征在于：位于所述光栅尺主体（1）的上方罩设有一壳体（25），且在该壳体（25）的侧壁上开设有一供收纳盒（12）通过的窗口（26），且该窗口（26）的侧壁转动安装有一遮板（27）。
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