CN212514699U - 一种防压伤的pcb板测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种防压伤的PCB板测试装置，下压组件设于支架上，支架与测试台之间设置有导向组件，下压组件与导向杆连接，下压组件底部连接上测试组件，下测试组件设于测试台上，上测试组件与下测试组件之间放置待测试的PCB板，上测试组件和下测试组件分别设置有若干探针，探针包括固定头、针头、弹簧，固定头底部设置有凹槽，凹槽中设置有弹簧，弹簧与针头顶部连接，针头顶部位于凹槽中。本实用新型设置上下两个测试组件，待测试的PCB板放置在两个测试组件之间，通过下压上测试组件，使两个测试组件与PCB板连接，而测试组件的探针里面设置有弹簧，保证探针的针头与PCB板接触过程不会压坏PCB板。

Description

一种防压伤的PCB板测试装置

技术领域

本实用新型涉及PCB板测试领域，尤其涉及的是一种防压伤的PCB板测试装置。

背景技术

现有技术中，PCB板过程必须要经过测试，以保证PCB板的良品率。通常情况下为抽查测试PCB板，由于测试的量不会很大，测试治具很多都为手动操作，手动操作过程如果用力过大，容易造成PCB板被压伤，使PCB板报废，导致生产成本升高。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种结构简单、低成本的测试防压伤的PCB板测试装置。

本实用新型的技术方案如下：一种防压伤的PCB板测试装置，包括测试台、支架、下压组件、导向杆、上测试组件、下测试组件，所述支架设于测试台上，所述下压组件设于支架上，所述支架与测试台之间设置有导向组件，所述下压组件与导向杆连接，所述下压组件底部连接上测试组件，所述下测试组件设于测试台上，所述上测试组件与下测试组件之间放置待测试的PCB板；

所述上测试组件和下测试组件分别设置有若干探针，所述探针包括固定头、针头、弹簧，所述固定头底部设置有凹槽，所述凹槽中设置有弹簧，所述弹簧与针头顶部连接，所述针头顶部位于凹槽中。

采用上述技术方案，所述的防压伤的PCB板测试装置中，所述下压组件包括下压手柄结构、下压板，所述下压手柄结构设于支架上，所述下压板设于下压手柄结构底部，所述下压板与导向杆连接，所述下压板底部与上测试组件连接。

采用上述各个技术方案，所述的防压伤的PCB板测试装置中，所述上测试组件包括上探针板、两上探针组件，两上探针组件对称设于上探针板上，所述上探针板与下压板连接；

所述上探针组件包括上探针连接板、上探针PCB板、上探针固定块，所述上探针固定块设于上探针板上，所述上探针固定块中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与上探针PCB板连接，所述上探针PCB板顶部与上探针连接板连接，所述上测试组件中的探针的针头朝下并贯穿上探针板。

采用上述各个技术方案，所述的防压伤的PCB板测试装置中，所述下测试组件包括下探针板、两下探针组件，两下探针组件对称设于下探针板上，所述下探针板与测试台连接；

所述下探针板组件包括下探针连接板、下探针PCB板、下探针固定块，所述下探针固定块设于下探针板上，所述下探针固定块中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与下探针PCB板连接，所述下探针PCB板底部与下探针连接板连接，所述下测试组件中的探针的针头朝上并贯穿下探针板。

采用上述各个技术方案，所述的防压伤的PCB板测试装置中，所述下探针板中部设置有若干通孔，所述下探针板底部设置有真空吸板，所述真空吸板位于通孔下方。

采用上述各个技术方案，所述的防压伤的PCB板测试装置中，所述测试台两侧分别设置有提手。

采用上述各个技术方案，本实用新型设置上下两个测试组件，待测试的PCB板放置在两个测试组件之间，通过下压上测试组件，使两个测试组件与PCB板连接，而测试组件的探针里面设置有弹簧，保证探针的针头与PCB板接触过程不会压坏PCB板，结构简单，测试效率高，成本低。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的上测试组件和下测试组件的爆炸示意图；

图3为本实用新型的探针剖面示意图；

图4为本实用新型的上测试组件和下测试组件的位置示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。

如图1~4，本实施例提供了一种防压伤的PCB板测试装置，包括测试台1、支架2、下压组件、导向杆4、上测试组件5、下测试组件6，所述支架2设于测试台1上，所述下压组件设于支架2上，所述支架2与测试台1之间设置有导向组件，所述下压组件与导向杆4连接，所述下压组件底部连接上测试组件5，所述下测试组件6设于测试台1上，所述上测试组件5与下测试组件6之间放置待测试的PCB板。

上测试组件5与与外界的测试设备连接，下测试组件6则与测试台1连接，测试台1同样与外界的测试设备连接，当上测试组件5和下测试组件6分别与待测试的PCB板连接导通后即可开始测量。测试过程为现有技术，本实施例不做过多的赘述，本实用新型的重点在于图示的测试装置，外部的测试设备并未图示。所述上测试组件5和下测试组件6分别设置有若干探针7，所述探针7包括固定头71、针头72、弹簧73，所述固定头71底部设置有凹槽，所述凹槽中设置有弹簧73，所述弹簧73与针头72顶部连接，所述针头72顶部位于凹槽中。

如图3，探针中的针头72与弹簧73连接，针头72与待测试的PCB板接触过程中，弹簧73会起到一个缓冲的作用，放置探针与待测试的PCB板硬性连接。当然，针头72、弹簧73以及固定头71都是金属结构，互相可以导通通电。

如图1，所述下压组件包括下压手柄结构31、下压板32，所述下压手柄结构31设于支架2上，所述下压板32设于下压手柄结构31底部，所述下压板32与导向杆4连接，下压板32套下导向杆上，下压板32沿导向杆上下运动，所述下压板32底部与上测试组件5连接。下压手柄结构31为现有技术，因此不做过多的赘述。

如图2和图4，所述上测试组件5包括上探针板51、两上探针组件，两上探针组件对称设于上探针板51上，所述上探针板51与下压板32连接。所述上探针组件包括上探针连接板521、上探针PCB板522、上探针固定块523，上探针连接板521将上探针PCB板522固定在上探针固定块523上。所述上探针固定块523设于上探针板51上，所述上探针固定块523中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与上探针PCB板522连接，所述上探针PCB板522顶部与上探针连接板521连接，所述上测试组件5中的探针的针头72朝下并贯穿上探针板51。

如图2和图4，所述下测试组件6包括下探针板61、两下探针组件，两下探针组件对称设于下探针板61上，所述下探针板61与测试台1的载板11连接。所述下探针板61组件包括下探针连接板621、下探针PCB板622、下探针固定块623，下探针连接板621将下探针PCB板622固定在下探针固定块623上。所述下探针固定块623设于下探针板61上，所述下探针固定块623中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与下探针PCB板622连接，所述下探针PCB板622底部与下探针连接板621连接，所述下测试组件6中的探针的针头72朝上并贯穿下探针板61。

如图3，待测试的PCB板实际上放置在下探针板61顶部，为了保证待测试PCB板摆放的稳定，放置测试过程移位，在所述下探针板61中部设置有若干通孔63，所述下探针板61底部设置有真空吸板64，所述真空吸板64位于通孔63下方，真空吸板64可以将待测试的PCB板牢牢吸附在下探针板61上。

如图1，为了便于拿放测试台1，所述测试台1两侧分别设置有提手8。

采用上述各个技术方案，本实用新型设置上下两个测试组件，待测试的PCB板放置在两个测试组件之间，通过下压上测试组件5，使两个测试组件与PCB板连接，而测试组件的探针里面设置有弹簧73，保证探针的针头72与PCB板接触过程不会压坏PCB板，结构简单，测试效率高，成本低。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，包括测试台、支架、下压组件、导向杆、上测试组件、下测试组件，所述支架设于测试台上，所述下压组件设于支架上，所述支架与测试台之间设置有导向组件，所述下压组件与导向杆连接，所述下压组件底部连接上测试组件，所述下测试组件设于测试台上，所述上测试组件与下测试组件之间放置待测试的PCB板；

所述上测试组件和下测试组件分别设置有若干探针，所述探针包括固定头、针头、弹簧，所述固定头底部设置有凹槽，所述凹槽中设置有弹簧，所述弹簧与针头顶部连接，所述针头顶部位于凹槽中。

2.根据权利要求1所述的防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，所述下压组件包括下压手柄结构、下压板，所述下压手柄结构设于支架上，所述下压板设于下压手柄结构底部，所述下压板与导向杆连接，所述下压板底部与上测试组件连接。

3.根据权利要求2所述的防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，所述上测试组件包括上探针板、两上探针组件，两上探针组件对称设于上探针板上，所述上探针板与下压板连接；

所述上探针组件包括上探针连接板、上探针PCB板、上探针固定块，所述上探针固定块设于上探针板上，所述上探针固定块中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与上探针PCB板连接，所述上探针PCB板顶部与上探针连接板连接，所述上测试组件中的探针的针头朝下并贯穿上探针板。

4.根据权利要求1所述的防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，所述下测试组件包括下探针板、两下探针组件，两下探针组件对称设于下探针板上，所述下探针板与测试台连接；

所述下探针板组件包括下探针连接板、下探针PCB板、下探针固定块，所述下探针固定块设于下探针板上，所述下探针固定块中设置有若干并排的探针，所述探针顶部与下探针PCB板连接，所述下探针PCB板底部与下探针连接板连接，所述下测试组件中的探针的针头朝上并贯穿下探针板。

5.根据权利要求4所述的防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，所述下探针板中部设置有若干通孔，所述下探针板底部设置有真空吸板，所述真空吸板位于通孔下方。

6.根据权利要求1所述的防压伤的PCB板测试装置，其特征在于，所述测试台两侧分别设置有提手。

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