CN212410778U - 一种芯片测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及充电设备领域，且公开了一种芯片测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的上端设置有支撑板，所述支撑板的外表面设置有竖向连接口，所述支撑板的一侧设置有固定结构，所述固定结构包括固定轴、转动管、上连接板、弹簧、下连接板、拉动板和限位块，所述支撑板的一侧设置有防尘外壳，所述防尘外壳的一侧外表面设置有竖向连接条，所述防尘外壳的下端设置有横向连接条。该芯片测试座，具备较为灵活方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，同时能够满足对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试的需求，解决了测试座在不使用时长时间暴露于空气中沾染灰尘的问题，从而在芯片测试领域带来更好的使用前景。

Description

一种芯片测试座

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体为一种芯片测试座。

背景技术

随和科学技术的飞速发展，人们生活水平的进步，芯片在电子方面的发展也越来越深，而芯片在出场使用前需要对芯片作出测试以避免芯片不满足使用要求造成的不必要的损失，芯片测试座因此成为芯片生产过程中必不可少的配备装置。

现有的芯片测试座在使用时存在一定的弊端，首先芯片测试座不能够较为方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，不利于测试座的调节固定，容易造成测试的不准确，其次，往往只能够对单一的对应芯片进行测试，不能够对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试，测试的范围较为单一，适用性范围较小，最后，芯片测试座不使用时用于检测的构件依然暴露于空气中，容易沾染灰尘等杂质，长此以往不利于对芯片进行检测，防尘的效果不够好，为此我们提出一种芯片测试座。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片测试座，具备较为灵活方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，同时能够满足对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试的需求，解决了测试座在不使用时长时间暴露于空气中沾染灰尘的问题。

（二）技术方案

为实现上述具备较为灵活方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，同时能够满足对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试的需求，达到避免测试座在不使用时长时间暴露于空气中沾染灰尘的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的上端设置有支撑板，所述支撑板的外表面设置有竖向连接口，所述支撑板的一侧设置有固定结构，所述固定结构包括固定轴、转动管、上连接板、弹簧、下连接板、拉动板和限位块，所述支撑板的一侧设置有防尘外壳，所述防尘外壳的一侧外表面设置有竖向连接条，所述防尘外壳的下端设置有横向连接条，所述测试座本体的上端外表面设置有外壳连接槽，所述外壳连接槽的一侧设置有连接片，所述连接片的上端外表面设置有限位口，所述限位口的一侧设置有预留口。

优选的，所述连接片的下端外表面靠近边缘拐角处设置有连接柱，所述测试座本体的上端外表面设置有柱状连接槽，所述测试座本体的前端外表面设置有红色指示灯，所述红色指示灯的一侧设置有绿色指示灯，所述测试座本体的内部设置有测试模块，所述测试模块的上端外表面设置有检测面。

优选的，所述固定轴设于测试座本体的上端外表面靠近边缘处，所述转动管设于固定轴的上端，所述上连接板设于转动管一端的下端外表面，所述下连接板设于上连接板的下端，所述弹簧设于上连接板和下连接板之间，所述拉动板设于下连接板的上端外表面靠近边缘处，所述限位块设于固定轴的内部。

优选的，所述限位块和转动管之间为固定连接，所述限位块和转动管与固定轴之间均为转动连接，所述固定轴与测试座本体之间为固定连接，所述上连接板与转动管之间为活动连接，所述弹簧与上连接板和下连接板之间均为活动连接，所述拉动板与下连接板之间为固定连接，所述弹簧的数量为四组且呈阵列分布，所述拉动板的数量为两组且呈对称排布。

优选的，所述支撑板与测试座本体之间为固定连接，所述竖向连接口的大小与竖向连接条的大小相匹配，所述竖向连接口和竖向连接条的数量均为两组且均呈对称排布。

优选的，所述防尘外壳与竖向连接条和横向连接条之间均为固定连接，所述横向连接条的大小与外壳连接槽之间相匹配。

优选的，所述连接柱的大小与柱状连接槽的大小相匹配，所述连接柱和柱状连接槽的数量均为四组且均为阵列分布。

优选的，所述测试模块与红色指示灯和绿色指示灯之间均为导电连接，所述测试模块与检测面之间为导电连接。

优选的，所述检测面为方形结构，所述防尘外壳为透明玻璃材质制成。

（三）有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种芯片测试座，具备以下有益效果：

1、该芯片测试座，通过固定结构的作用，在使用时，使用者可以通过拉动板向上拉动下连接板，下连接板挤压弹簧收缩，之后再顺时针转动转动管九十度，之后再将相应的芯片放于限位口内，之后再将转动管转动回原处，缓缓松开拉动板，弹簧挤压下连接板，下连接板加压芯片，使得芯片与检测面相贴合，从而完成对芯片的固定，之后再对芯片进行检测，较为方便。

2、该芯片测试座，通过连接片、限位口、连接柱与柱状连接槽的共同作用，在使用前，使用者先观察限位口的大小是否与待测试芯片相匹配，如果相匹配则可以直接完成固定后进行检测，如果限位口与待测试芯片不匹配，则使用者先拉动板向上拉动下连接板，下连接板挤压弹簧收缩，之后再顺时针转动转动管至一百八十度，之后再将连接片从测试座本体上取出，之后再将与待测试芯片大小及形状的限位口的连接片取出使得其下端的连接柱对应于柱状连接槽的部位戳入放入，之后再将芯片放于限位口内，再转动转动管至原位即可开始对芯片进行测试，从而达到对一定范围内大小的芯片进行测试的目的，适用范围较大。

3、该芯片测试座，通过支撑板、竖向连接口、防尘外壳、竖向连接条、横向连接条与外壳连接槽的配合作用，在使用时，使用者握住防尘外壳并竖直向上提拉，使得竖向连接条从支撑板上的竖向连接口内取出，同时横向连接条从外壳连接槽内取出，即可开始使用该芯片测试座，测试使用完成后使用者将防尘外壳拿起将竖向连接条对应于竖向连接口的部位、横向连接条对应于外壳连接槽的部位垂直向下放入，即可完成对防尘外壳的安装，通过防尘外壳和支撑板的保护作用，从而避免在不使用芯片测试座时测试座沾染外部灰尘从而影响测试效果，防尘的效果较好。

附图说明

图1为本实用新型结构整体示意图；

图2为本实用新型结构局部结构示意图；

图3为本实用新型结构固定结构的结构示意图；

图4为本实用新型结构固定结构的局部结构正剖视图；

图5为本实用新型结构局部结构示意图；

图6为本实用新型结构局部结构正剖视图。

图中：1、测试座本体；2、支撑板；3、固定结构；31、固定轴；32、转动管；33、上连接板；34、弹簧；35、下连接板；36、拉动板；37、限位块；4、竖向连接口；5、防尘外壳；6、竖向连接条；7、横向连接条；8、外壳连接槽；9、连接片；10、限位口；11、预留口；12、连接柱；13、柱状连接槽；14、红色指示灯；15、绿色指示灯；16、测试模块；17、检测面。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-6，一种芯片测试座，包括测试座本体1，测试座本体1的上端设置有支撑板2，支撑板2的外表面设置有竖向连接口4，支撑板2的一侧设置有固定结构3，固定结构3包括固定轴31、转动管32、上连接板33、弹簧34、下连接板35、拉动板36和限位块37，支撑板2的一侧设置有防尘外壳5，防尘外壳5的一侧外表面设置有竖向连接条6，防尘外壳5的下端设置有横向连接条7，测试座本体1的上端外表面设置有外壳连接槽8，外壳连接槽8的一侧设置有连接片9，连接片9的上端外表面设置有限位口10，限位口10的一侧设置有预留口11。

连接片9的下端外表面靠近边缘拐角处设置有连接柱12，测试座本体1的上端外表面设置有柱状连接槽13，测试座本体1的前端外表面设置有红色指示灯14，红色指示灯14的一侧设置有绿色指示灯15，测试座本体1的内部设置有测试模块16，测试模块16的上端外表面设置有检测面17，利于测试座对检测结果的直观显示。

固定轴31设于测试座本体1的上端外表面靠近边缘处，转动管32设于固定轴31的上端，上连接板33设于转动管32一端的下端外表面，下连接板35设于上连接板33的下端，弹簧34设于上连接板33和下连接板35之间，拉动板36设于下连接板35的上端外表面靠近边缘处，限位块37设于固定轴31的内部，利于测试座固定结构3部件的有序布设和共同作用的效果。

限位块37和转动管32之间为固定连接，限位块37和转动管32与固定轴31之间均为转动连接，固定轴31与测试座本体1之间为固定连接，上连接板33与转动管32之间为活动连接，弹簧34与上连接板33和下连接板35之间均为活动连接，拉动板36与下连接板35之间为固定连接，弹簧34的数量为四组且呈阵列分布，拉动板36的数量为两组且呈对称排布，有利于固定结构3的转动以及固定效果。

支撑板2与测试座本体1之间为固定连接，竖向连接口4的大小与竖向连接条6的大小相匹配，竖向连接口4和竖向连接条6的数量均为两组且均呈对称排布，有利于测试座的防尘效果。

防尘外壳5与竖向连接条6和横向连接条7之间均为固定连接，横向连接条7的大小与外壳连接槽8之间相匹配，有利于测试座部分构件的连接匹配效果。

连接柱12的大小与柱状连接槽13的大小相匹配，连接柱12和柱状连接槽13的数量均为四组且均为阵列分布，有利于构件与构件之间的连接效果。

测试模块16与红色指示灯14和绿色指示灯15之间均为导电连接，测试模块16与检测面17之间为导电连接，有利于测试结果的显示。

检测面17为方形结构，防尘外壳5为透明玻璃材质制成，有利于对芯片的测试效果。

工作时，在使用时，使用者握住防尘外壳5并竖直向上提拉，使得竖向连接条6从支撑板2上的竖向连接口4内取出，同时横向连接条7从外壳连接槽8内取出，即可开始使用该芯片测试座，在使用前，使用者先观察限位口10的大小是否与待测试芯片相匹配，如果相匹配，则使用者可以通过拉动板36向上拉动下连接板35，下连接板35挤压弹簧34收缩，之后再顺时针转动转动管32九十度，之后再将相应的芯片放于限位口10内，之后再将转动管32转动回原处，缓缓松开拉动板36，弹簧34挤压下连接板35，下连接板35加压芯片，使得芯片与检测面17相贴合，从而完成对芯片的固定，之后再对芯片进行检测，而如果限位口10与待测试芯片不匹配，则使用者先拉动板36向上拉动下连接板35，下连接板35挤压弹簧34收缩，之后再顺时针转动转动管32至一百八十度，之后再将连接片9从测试座本体1上取出，之后再将与待测试芯片大小、形状相同的限位口10的连接片9取出使得其下端的连接柱12对应于柱状连接槽13的部位戳入放入，之后再将芯片放于限位口10内，再转动转动管32至原位即可开始对芯片进行测试，测试完成后，通过相应的红色指示灯14和绿色指示灯15观察出测试结果，当测试使用完成后使用者将防尘外壳5拿起将竖向连接条6对应于竖向连接口4的部位、横向连接条7对应于外壳连接槽8的部位垂直向下放入，即可完成对防尘外壳5的安装，通过防尘外壳5和支撑板2的保护作用，从而避免在不使用芯片测试座时测试座沾染外部灰尘从而影响测试效果，实用性效果较强。

综上所述，通过固定结构3的作用，转动管32的灵活转动以及拉动板36向上拉动下连接板35，下连接板35挤压弹簧34收缩，依靠弹簧34作用完成对芯片的固定作用，通过连接片9、限位口10和连接柱12以及柱状连接槽13以及固定结构3中的配合作用，从而达到便捷的对限位口10的更换，从而使得测试座能够满足对多种不同形状芯片进行测试的目的，通过支撑板2、竖向连接口4、防尘外壳5、竖向连接条6、横向连接条7与外壳连接槽8的配合效果，从而避免在不使用芯片测试座的过程中测试座沾染灰尘，从而避免对测试的结果造成影响。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种芯片测试座，包括测试座本体（1），其特征在于：所述测试座本体（1）的上端设置有支撑板（2），所述支撑板（2）的外表面设置有竖向连接口（4），所述支撑板（2）的一侧设置有固定结构（3），所述固定结构（3）包括固定轴（31）、转动管（32）、上连接板（33）、弹簧（34）、下连接板（35）、拉动板（36）和限位块（37），所述支撑板（2）的一侧设置有防尘外壳（5），所述防尘外壳（5）的一侧外表面设置有竖向连接条（6），所述防尘外壳（5）的下端设置有横向连接条（7），所述测试座本体（1）的上端外表面设置有外壳连接槽（8），所述外壳连接槽（8）的一侧设置有连接片（9），所述连接片（9）的上端外表面设置有限位口（10），所述限位口（10）的一侧设置有预留口（11）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述连接片（9）的下端外表面靠近边缘拐角处设置有连接柱（12），所述测试座本体（1）的上端外表面设置有柱状连接槽（13），所述测试座本体（1）的前端外表面设置有红色指示灯（14），所述红色指示灯（14）的一侧设置有绿色指示灯（15），所述测试座本体（1）的内部设置有测试模块（16），所述测试模块（16）的上端外表面设置有检测面（17）。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述固定轴（31）设于测试座本体（1）的上端外表面靠近边缘处，所述转动管（32）设于固定轴（31）的上端，所述上连接板（33）设于转动管（32）一端的下端外表面，所述下连接板（35）设于上连接板（33）的下端，所述弹簧（34）设于上连接板（33）和下连接板（35）之间，所述拉动板（36）设于下连接板（35）的上端外表面靠近边缘处，所述限位块（37）设于固定轴（31）的内部。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述限位块（37）和转动管（32）之间为固定连接，所述限位块（37）和转动管（32）与固定轴（31）之间均为转动连接，所述固定轴（31）与测试座本体（1）之间为固定连接，所述上连接板（33）与转动管（32）之间为活动连接，所述弹簧（34）与上连接板（33）和下连接板（35）之间均为活动连接，所述拉动板（36）与下连接板（35）之间为固定连接，所述弹簧（34）的数量为四组且呈阵列分布，所述拉动板（36）的数量为两组且呈对称排布。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述支撑板（2）与测试座本体（1）之间为固定连接，所述竖向连接口（4）的大小与竖向连接条（6）的大小相匹配，所述竖向连接口（4）和竖向连接条（6）的数量均为两组且均呈对称排布。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述防尘外壳（5）与竖向连接条（6）和横向连接条（7）之间均为固定连接，所述横向连接条（7）的大小与外壳连接槽（8）之间相匹配。

7.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述连接柱（12）的大小与柱状连接槽（13）的大小相匹配，所述连接柱（12）和柱状连接槽（13）的数量均为四组且均为阵列分布。

8.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述测试模块（16）与红色指示灯（14）和绿色指示灯（15）之间均为导电连接，所述测试模块（16）与检测面（17）之间为导电连接。

9.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述检测面（17）为方形结构，所述防尘外壳（5）为透明玻璃材质制成。

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