CN210108271U - 荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种荧光膜片夹持装置，夹持装置包括外壳和支撑平台，外壳包括壳体和盖板，盖板盖合壳体以形成容置腔，盖板包括板体和透明玻璃片，板体呈环状，透明玻璃片设于板体的中间，透明玻璃片的上表面与板体的上表面平齐，透明玻璃片的厚度小于板体的厚度形成空腔以放置荧光膜片；支撑平台设置于容置腔内，支撑平台的上方设有环状垫片，环状垫片的中空部分为芯片放置区，用于容纳芯片，环状垫片与支撑平台间隔设置以形成基板放置区，用于容纳基板，空腔、芯片放置区和基板放置区对应并贯通连接。本申请还公开一种荧光膜片测试装置。通过上述方式，在能够实现膜片厚度测量的同时还能够测量膜片的其他参数，且夹持性能好，稳定，平稳。
Description
技术领域
本申请涉及LED技术领域，特别是涉及一种荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统。
背景技术
目前针对荧光膜片，只能通过螺旋测微仪或厚度测试仪，单纯地测量荧光膜片的厚度，不能测量膜片内荧光粉的含量、荧光粉分布的均匀度以及荧光膜的颜色参数；需要将荧光膜片制作成光源成品后才能通过测试光源参数来反推荧光膜的颜色参数等。
现有技术中，缺少能测量膜片内荧光参数的系统以及配套的夹持装置。
实用新型内容
本申请提出一种荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统，能够解决现有技术中不能检测荧光膜片其他参数的问题。
为了解决上述问题，本申请提供一种荧光膜片夹持装置，夹持装置包括：
外壳，外壳包括壳体和盖板，盖板盖合壳体以形成容置腔，盖板包括板体和透明玻璃片，板体呈环状，透明玻璃片设于板体的中间，透明玻璃片的上表面与板体的上表面平齐，透明玻璃片的厚度小于板体的厚度形成空腔以放置荧光膜片；
支撑平台，设置于容置腔内，支撑平台的上方设有环状垫片，环状垫片的中空部分为芯片放置区，用于容纳芯片，环状垫片与支撑平台间隔设置以形成基板放置区，用于容纳基板，空腔、芯片放置区和基板放置区对应并贯通连接。
其中，支撑平台与壳体通过滑块连接以使得支撑平台能够沿壳体上下滑动，支撑平台下方设置有弹簧，用于支撑支撑平台。
其中，支撑平台上方设有两个第一金属触点，支撑平台的下方连接有柔性信号线，柔性信号线与两个第一金属触点电连接。
其中，壳体的下端设有信号线接口，信号线接口与柔性信号线电连接。
其中，壳体的底部内壁设有距离感应器，用于感应支撑平台与壳体底部之间的距离。
其中，盖板和壳体铰接。
其中，基板的上表面设有两个第一金属焊盘，下表面设有两个第二金属触点，第一金属焊盘的焊盘面积与芯片的电极面积对应，两个第一金属焊盘与两个第二金属触点通过过孔电连接。
为了解决上述问题，本申请提供还一种荧光膜片测试系统，测试系统包括如前的荧光膜片夹持装置、驱动器、光收集器以及测试仪，驱动器通过第一信号线与荧光膜片夹持装置的信号线接口连接，光收集器用于收集芯片发出的光，光收集器与测试仪通过第二信号线连接。
本申请的荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统通过将荧光膜片夹持在壳体中，在能够实现膜片厚度测量的同时还能够测量膜片的其他参数，且夹持性能好，稳定，平稳。
附图说明
图1是本申请荧光膜片夹持装置一实施例的结构示意图；
图2是本申请荧光膜片夹持装置一实施例中盖板打开状态时的结构示意图；
图3是本申请荧光膜片夹持装置一实施例装设有基板和芯片时的结构示意图；
图4是本申请荧光膜片夹持装置一实施例中基板的结构示意图；
图5是本申请荧光膜片夹持装置一实施例中基板与芯片装配的结构示意图；
图6是本申请荧光膜片测试系统一实施例的结构示意图；
图7a和图7b是本申请荧光膜片测试系统一实施例测试不同荧光膜片的结构示意图。
具体实施方式
请结合参阅图1-图5，本申请的荧光膜片夹持装置包括外壳1和支撑平台2。
外壳1呈圆柱体形或长方体形，外壳1包括壳体11和盖板12，盖板12盖合壳体11以形成容置腔13，盖板12包括板体121和透明玻璃片122，板体121呈环状，透明玻璃片122设于板体121的中间，透明玻璃片122的上表面与板体121的上表面平齐，透明玻璃片122的厚度小于板体121的厚度形成空腔123以放置荧光膜片。在本实施例中，盖板12和壳体11通过铰链30铰接，但在其他实施例中，也可采用卡接等形式，本申请对此不作限定。
支撑平台2，设置于容置腔13内，支撑平台2的上方设有环状垫片14，环状垫片14的中空部分为芯片放置区15，用于容纳芯片，环状垫片14与支撑平台2间隔设置以形成基板放置区16，用于容纳基板，空腔123、芯片放置区15和基板放置区16对应并贯通连接，通过此种设置，只需要外界给基板和芯片通电，即可发光透过透明玻璃片122。
优选地，为了测试不同厚度的膜片参数，支撑平台2可滑动。具体而言，支撑平台2与壳体11通过滑块(未标示)连接以使得支撑平台2能够沿壳体11上下滑动，支撑平台2下方设置有弹簧17，用于支撑支撑平台2。当然，在其他实施例中，也可采用其他方式实现支撑平台2的滑动，在此不作扩展说明。通过这种设置，当待测膜片厚度较大时，支撑平台2可向下移动，当待测膜片厚度较小时，支撑平台2可向上移动，如此适应不同厚度膜片的测试。
进一步地，在壳体11的底部内壁设有距离感应器18，用于感应支撑平台2与壳体11底部之间的距离。通过测量支撑平台2的下降高度，从而计算出膜片的厚度。
优选地，支撑平台2上方设有两个第一金属触点23，支撑平台2的下方连接有柔性信号线19，柔性信号线19与两个第一金属触点23电连接。通过这种设置，能够外接驱动以驱动支撑平台2上的芯片发光。
同时，请参照图4，本申请的基板22的上表面设有两个第一金属焊盘221，下表面设有两个第二金属触点222，第一金属焊盘221的焊盘面积与芯片的电极面积对应，两个第一金属焊盘221与两个第二金属触点222通过过孔电连接。两个第二金属触点222与两个第一金属触点23分别电连接。芯片21与基板22通过锡膏焊接形成导电连接。需要说明的是，基板22上可焊接不同的发光器件，当更换不同的发光器件时，可用于测量不同膜片。
优选地，壳体11的下端设有信号线接口20，信号线接口20与柔性信号线19电连接。
请参照图6、图7a以及图7b，本申请还保护一种荧光膜片测试系统。该测试系统包括上述实施例的荧光膜片夹持装置100、驱动器200、光收集器300以及测试仪400，驱动器200通过第一信号线500与荧光膜片夹持装置100的信号线接口连接，光收集器300用于收集芯片发出的光，光收集器300与测试仪400通过第二信号线600连接。驱动器200用于驱动设置在荧光膜片夹持装置100内的芯片发光，光收集器300呈近似圆形状，可收集芯片的发光，从而提供给测试仪400进行分析统计。
上面介绍了测试仪400的结构，下面说明测试系统的使用方法：
1.在荧光膜片夹持装置100中放置膜片；
2.将驱动器200与荧光膜片夹持装置100连接；
3.将荧光膜片夹持装置100放进光收集器300；
4.光收集器300与测试仪400电连接；
5.运行驱动器200，发光芯片被点亮后，光透过膜片，进入光收集器300，测试仪400对光进行统计分析。
如图7a和7b，利用该测试系统可测试荧光膜片内荧光粉的含量，相同厚度的荧光膜片，荧光粉含量不同时，可在测试仪上输出不同的数值。换句话说，因荧光粉的含量不同，光透过的量以及形状也会不同，从而能够得出不同的数值。
本申请的荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统具有以下优点：
1.通过透明玻璃片的设置，光能够通过膜片并进入光收集器，从而对膜片的荧光粉含量、分布的均匀度以及颜色等参数进行测试；
2.通过支撑平台的升降，从而计算出膜片的厚度；
3.测试系统可以在荧光膜做成成品之前进行颜色参数的测量，若参数不正确，则可以不继续进行后续工序，避免人力物力的浪费。
以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述夹持装置包括：
外壳，所述外壳包括壳体和盖板，所述盖板盖合所述壳体以形成容置腔，所述盖板包括板体和透明玻璃片，所述板体呈环状，所述透明玻璃片设于所述板体的中间，所述透明玻璃片的上表面与所述板体的上表面平齐，所述透明玻璃片的厚度小于所述板体的厚度形成空腔以放置所述荧光膜片；
支撑平台，设置于所述容置腔内，所述支撑平台的上方设有环状垫片，所述环状垫片的中空部分为芯片放置区，用于容纳芯片，所述环状垫片与所述支撑平台间隔设置以形成基板放置区，用于容纳基板，所述空腔、所述芯片放置区和所述基板放置区对应并贯通连接。
2.根据权利要求1所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述支撑平台与所述壳体通过滑块连接以使得所述支撑平台能够沿所述壳体上下滑动，所述支撑平台下方设置有弹簧，用于支撑所述支撑平台。
3.根据权利要求2所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述支撑平台上方设有两个第一金属触点，所述支撑平台的下方连接有柔性信号线，所述柔性信号线与两个所述第一金属触点电连接。
4.根据权利要求3所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述壳体的下端设有信号线接口，所述信号线接口与所述柔性信号线电连接。
5.根据权利要求2所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述壳体的底部内壁设有距离感应器，用于感应所述支撑平台与所述壳体底部之间的距离。
6.根据权利要求1所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述盖板和壳体铰接。
7.根据权利要求3所述的荧光膜片夹持装置，其特征在于，所述基板的上表面设有两个第一金属焊盘，下表面设有两个第二金属触点，所述第一金属焊盘的焊盘面积与所述芯片的电极面积对应，两个所述第一金属焊盘与两个所述第二金属触点通过过孔电连接。
8.一种荧光膜片测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如权利要求1-7任一项所述的荧光膜片夹持装置、驱动器、光收集器以及测试仪，所述驱动器通过第一信号线与所述荧光膜片夹持装置的信号线接口连接，所述光收集器用于收集芯片发出的光，所述光收集器与所述测试仪通过第二信号线连接。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201920715959.1U CN210108271U (zh) | 2019-05-15 | 2019-05-15 | 荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201920715959.1U CN210108271U (zh) | 2019-05-15 | 2019-05-15 | 荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110146026A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-08-20 | 深圳市兆驰节能照明股份有限公司 | 荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统 |
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2019
- 2019-05-15 CN CN201920715959.1U patent/CN210108271U/zh active Active
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| CN110146026A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-08-20 | 深圳市兆驰节能照明股份有限公司 | 荧光膜片夹持装置及荧光膜片测试系统 |
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