CN212410774U - 电路板测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电路板测试装置，包括安装部、测试部、驱动部及定位部，第一驱动组件与安装部连接，并能够驱动安装部移动，第二驱动组件与测试部连接，并能够驱动测试部移动，视觉定位元件能够检测待测元件及测试元件的位置，并向所述驱动部发送信号，以使第一驱动部对安装部进行位置调整和/或第二驱动部对测试部进行位置调整。本实施例中的电路板测试设备通过视觉定位元件对测试元件及待测元件进行位置检测，测试元件与待测元件具有较高的定位精度，保证了测试装置针对待测元件测试结果的可靠度；另外，驱动部能够根据视觉定位元件的检测数据对待测元件及测试元件的位置进行实时调整，实现自动化定位，提高电路板测试装置的测试效率。

Description

电路板测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试设备及电路板制备技术领域，尤其是涉及一种电路板测试装置。

背景技术

电路板的应用避免了人工接线易出差错的问题，并且能够实现电子元器件的自动贴装、焊接，具有较高的生产效率，并已广泛应用于通讯设备、计算机、汽车行业等领域中，为保证电路板的使用性能，在出厂之前需对电路板的各项性能进行测试。

电路板测试时需设置与待测电路板进行电导通的测试元件，传统测试装置一般采用机械定位的方式，利用安装部件的自身结构特点将测试元件与待测电路板进行对接，定位精度较低，无法保证测试元件与待测电路板的每一引脚连接，导致测试结果出现误差，严重影响电路板的测试效率及测试结果的可靠性。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种电路板测试装置，能够提高定位精度及测试结果的可靠性。

本实用新型的一个实施例提供了一种电路板测试装置，包括：

安装部，包括用于放置待测元件的第一治具；

测试部，包括用于与待测元件连接的测试元件；

驱动部，包括第一驱动组件及第二驱动组件，所述第一驱动组件与所述安装部连接，并能够驱动所述安装部移动，所述第二驱动组件与所述测试部连接，并能够驱动所述测试部移动；

定位部，包括视觉定位元件，所述视觉定位元件能够检测所述待测元件及所述测试元件的位置，并向所述驱动部发送信号，以使所述第一驱动组件对所述安装部进行位置调整和/或所述第二驱动组件对所述测试部进行位置调整。

本实用新型实施例中的电路板测试装置至少具有如下有益效果：

本实施例中的电路板测试设备通过视觉定位元件对测试元件及待测元件进行位置检测，不依赖于测试元件及待测元件的安装结构，测试元件与待测元件具有较高的定位精度，保证了测试装置针对待测元件测试结果的可靠度；另外，驱动部能够根据视觉定位元件的检测数据对待测元件及测试元件的位置进行实时调整，实现自动化定位，提高电路板测试装置的测试效率。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述测试元件包括第二治具及多个探针，所述探针呈竖直状态固定于所述第二治具上。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述探针在所述第二治具上交错排列。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第二治具上设有不少于两列的所述探针。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第一驱动组件包括沿X轴方向延伸的第一导轨及滑动连接于所述第一导轨上的第一滑块，所述第一治具能够跟随所述第一滑块移动。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第一驱动组件包括沿Y轴方向延伸的第二导轨及滑动连接于所述第二导轨上的第二滑块，所述第一导轨安装于所述第二滑块上。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第一驱动组件还包括转盘，所述转盘能够基于Z轴转动，所述第一治具安装于所述转盘上。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第一治具设有吸附孔及用于容纳所述待测元件的安装槽，所述吸附孔与所述安装槽连通。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第二驱动组件包括沿Z轴方向延伸的第三导轨及滑动连接于所述第三导轨上的第三滑块，所述测试元件能够跟随所述第三滑块移动。

根据本实用新型的另一些实施例的电路板测试装置，所述第二驱动组件还包括沿X轴延伸的第四导轨及滑动连接于所述第四导轨上的第四滑块，所述第三导轨安装于所述第四滑块上。

附图说明

图1是电路板测试装置一个实施例的结构示意图；

图2是图1中第一驱动组件的结构示意图；

图3是图1中第二驱动组件的结构示意图；

图4是待测元件一个实施例的结构示意图；

图5是测试元件一个实施例的结构示意图；

图6是待测元件测试状态的结构示意图；

图7是图6中待测元件测试状态的剖视图。

具体实施方式

以下将结合实施例对本实用新型的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型实施例的描述中，如果涉及到方位描述，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型实施例的描述中，如果某一特征被称为“设置”、“固定”、“连接”、“安装”在另一个特征，它可以直接设置、固定、连接在另一个特征上，也可以间接地设置、固定、连接、安装在另一个特征上。在本实用新型实施例的描述中，如果涉及到“若干”，其含义是一个以上，如果涉及到“多个”，其含义是两个以上，如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”，均应理解为不包括本数，如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”，均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”，应当理解为用于区分技术特征，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

图1、图2、图3依次示出了电路板测试装置、第一驱动组件310及第二驱动组件320的结构示意图，参照图1至图3，本实施例中的电路板测试装置包括安装部100、测试部200、驱动部300及定位部400；安装部100包括第一治具110，第一治具110用于安装待测元件101，测试部200包括用于与待测元件101连接的测试元件210，测试元件210与待测元件101连接后形成电导通，进而可对待测元件101进行测试；驱动部300包括第一驱动组件310及第二驱动组件320，第一治具110与第一驱动组件310连接，并能够在第一驱动组件310的带动下移动，测试元件210与第二驱动组件320连接，并在第二驱动组件320的带动下移动，第一治具110与测试元件210的移动过程中实现测试元件210与待测元件101之间的相互靠近或远离，待测元件101靠近测试元件210时可与测试元件210连接并进行测试，待测元件101远离测试元件210时，可对待测元件101进行拆卸或替换；定位部400包括视觉定位元件410，视觉定位元件410能够对待测元件101及测试元件210的位置进行检测，并向驱动部300发送信号，使驱动部300能够根据待测元件101、测试元件210的实时位置对第一治具110、测试元件210进行驱动而达到对待测元件101、测试元件210位置调整的目的，实现对待测元件101、测试元件210的精确定位，降低因待测元件101定位不精准而出现测试误差的风险。

本实施例中的电路板测试设备通过视觉定位元件410对测试元件210及待测元件101进行位置检测，不依赖于测试元件210及待测元件101的安装结构，测试元件210与待测元件101具有较高的定位精度，保证了测试装置针对待测元件101测试结果的可靠度；另外，驱动部300能够根据视觉定位元件410的检测数据对待测元件101及测试元件210的位置进行实时调整，实现自动化定位，提高电路板测试装置的测试效率。

需要说明的是，视觉定位元件410中包括对待测元件101、测试元件210进行图像采集的摄像头411，摄像头411对测试元件210、待测元件101的周边环境进行光学处理，并将采集到的图像信息进行压缩，形成信号传递至视觉处理软件，再通过视觉处理系统与驱动部300控制系统进行交互，将待测元件101、测试元件210的拍摄位置与实时位置进行联系，进而通过驱动部300的驱动实现对待测元件101、测试元件210的实时定位。为提高视觉定位元件410所获取图像的清晰度，本实施例中在摄像头411的下方还设有光源412，光源412可向待测元件101及测试元件210提供照明，从而能够获取测试元件210级待测元件101的精确位置，便于对待测元件101的定位。视觉定位元件410安装于第二驱动组件320的上方，便于对待测元件101、测试元件210进行定位。

第一驱动组件310包括沿X轴方向延伸的第一导轨311及滑动连接于第一导轨311上的第一滑块312，第一治具110安装于第一滑块312上，第一治具110能够跟随第一滑块312沿第一导轨311移动。第一驱动组件310还包括沿Y轴方向延伸的第二导轨313及滑动连接于第二导轨313上的第二滑块314，第一导轨311安装于第二滑块314上，第一导轨311能够跟随第二滑块314沿第二导轨313移动，从而第一治具110能够同时沿X轴及Y轴方向进行移动，实现待测元件101在X轴、Y轴方向上的位置调整。

第二驱动组件320还包括用于向第一滑块312提供动力的第一驱动件315及用于向第二滑块314提供动力的第二驱动件316，该第一驱动件315、第二驱动就按可以是电机、丝杆的组合结构，电机、气缸的组合结构或者电机、气缸、丝杆的组合结构。

第一驱动组件310还包括转盘317，第一治具110安装于转盘317上，转盘317能够基于Z轴转动，转盘317转动过程中能够对第一治具110进行一定范围内的角度调整，从而进一步提高待测元件101与测试元件210之间的定位精度。转盘317可通过旋转电机进行驱动；或者在转盘317的边缘设置轮齿，通过齿轮啮合进行驱动，以实现转盘317的转动。

第一治具110上设有用于安装待测元件101的安装位，待测元件101放置于该安装位处，第一治具110上还设有吸附孔111，该吸附孔111可设置多个，并连通于安装位的表面，吸附孔111处外接真空发生器，真空发生器通过吸附孔111向待测元件101施加负压，使待测元件101被固定于第一治具110上。安装槽的形状与待测元件101的形状相匹配，可在第一治具110上设置不同形状的安装槽，以满足不同类型待测元件101的测试需求。第一治具110上还安装有负压表，该负压表用于检测第一治具110与待测元件101之间的真空度，防止二者之间破真空，导致第一治具110对待测元件101的吸附力消失，导致待测元件101在第一治具110上滑动，影响待测元件101的定位。

第二驱动组件320包括沿Z轴方向延伸的第三导轨321及滑动连接于第三导轨321上的第三滑块322，测试元件210安装于第三滑块322上，第三滑块322沿第三导轨321移动时，带动测试元件210沿竖直方向移动，实现测试元件210在Z轴方向上的位置变化；通过设置第三导轨321与第三滑块322，使第三滑块322能够带动测试元件210沿竖直方向靠近或远离待测元件101，测试元件210下移后能够压制待测元件101上的引脚1011，使待测元件101与测试元件210形成导电通路。第二驱动组件320还包括沿X轴延伸的第四导轨323及滑动连接于第四导轨323上的第四滑块324，第三导轨321安装于第四滑块324上，第三导轨321能够跟随第四滑块324沿Y轴方向移动，因此测试元件210能够同时在X轴与Z轴方向上进行位置调整；通过设置第四导轨323及第四滑块324，使第四滑块324能够带动测试元件210靠近或远离测试位置，对处于位置调整中的待测元件101进行避让，以使测试元件210避开视觉定位元件410的照射视野，避免视觉定位元件410无法拍摄待测元件101的具体位置。第二驱动组件320还包括用于对第三滑块322提供动力的第三驱动件325及用于对第四滑块324提供动力的第四驱动件326，第三驱动件325与第四驱动件326可以是电机、丝杆组合结构，电机、气缸组合结构，或者电机、丝杆、气缸的组合结构。

参照图4至图7，测试元件210包括第二治具211及多个探针212，探针212成竖直状态固定于第二治具211上，探针212用于压合待测元件101上的引脚1011，实现测试元件210与待测元件101的电导通。因电路板的引脚1011之间间隔距离较小，探针212并排分布将相互干涉不能与待测元件101的引脚1011形成通路，本实施例中，探针212交错排布于第二治具211上，在保证探针212之间间距与引脚1011间距相匹配的前提下，达到探针212能够与待测元件101引脚1011压合的目的。另外，第二治具211上可设置不少于两列的探针212，不同列内的探针212的数量及间距可不同，探针212的数量及具体排布形式可根据待测元件101的具体型号合理设置；第一治具110上也可设置多行或多列的待测元件101，使第二治具211上的探针212能够同时与多个待测元件101连接，提高测试装置的测试效率；本实施例中，待测元件101的两侧均设有引脚1011，第二治具211上设有两列探针212，每列探针212的数量及排布形式与待测元件101上的引脚1011相匹配；通过调整第二治具211上探针212的个数及排布形式以及第一治具110上待测元件101的个数及排布形式，使测试装置能够满足不同规格测试元件210的测试要求，提高了测试装置的测试范围。

第二治具211上还可设置压力传感器，对探针212与待测元件101引脚1011之间压制力进行检测，避免压制力过大损坏探针212或待测元件101，或压力过小，导致探针212与待测元件101引脚1011之间不能形成通路，影响测试进程。

具体的，本实施例中的电路板测试装置的运动过程如下：

首先将待测元件101放入第一治具110内，通过真空吸附将待测元件101固定，此过程中还可对待测元件101继续扫码标记，便于后期跟踪待测元件101的测试结果；然后第一驱动组件310动作，第二驱动件316驱动第二滑块314沿第二导轨313移动，使待测元件101在Y轴方向移动并移动至视觉定位元件410下方；视觉定位元件410拍摄待测元件101位置并得出待测元件101需要进行的位置调整数据；第一驱动组件310动作，第一驱动件315驱动第一滑块312沿第一导轨311移动，使待测元件101在X轴方向继续移动，同时转盘317可绕Z轴转动一定角度，使待测元件101同时进行X方向的平移及XY平面内的角度调整，补偿待测元件101与测试元件210测试位置之间的偏差值；第二驱动组件320动作，第四驱动件326驱动第四滑块324沿第四导轨323移动，使测试元件210沿X轴方向移动并逐渐靠近待测元件101；视觉定位元件410重新拍摄测试元件210，检测测试元件210是否移动到位，若存在偏差，可重新通过第一驱动组件310对待测元件101的位置进行调整；第二驱动组件320动作，第三驱动件325驱动第三滑块322沿第三导轨321移动，使测试元件210沿竖直方向下移并逐渐靠近待测元件101，测试元件210的探针212与待测元件101的引脚1011一一对应并接通，对待测元件101进行测试；测试完成后，第二驱动组件320动作，第三驱动件325驱动第三滑块322沿第三导轨321移动，使测试元件210沿竖直方向上移远离待测元件101，同时第四驱动件326驱动第四滑块324沿第四导轨323移动，使测试元件210沿X轴移动并远离待测元件101；第一驱动组件310动作，第二驱动件316驱动第二滑块314沿第二导轨313移动，使第二滑块314沿Y轴方向退出检测位置，可将待测元件101取出，替换为新的待测元件101，完成测试。

需要说明的是，测试元件210、待测元件101可电路板测试设备使用时装入，可不属于电路板测试装置中的既有部件，另外，测试元件210与待测元件101定位完成时，测试元件210中的每一个探针212均与待测元件101中的引脚1011一一对应连接，以保证待测元件101与测试元件210的完全电导通。

电路板测试装置上还可设置工控机，工控机能够显示驱动部300、定位部400、安装部100及测试部200的实时移动参数，或者对运动参数及运动过程进行调整。本实施例中的电路板测试装置上可外接其他检测装置，该检测装置能够测试电路板是否导通，并能够检测电路板的电压、电容、电阻或者电路板的其他性能。本实施例中所说的待测元件101可以是单面电路板、双面电路板、多层电路板、柔性电路板等。

上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明，但是本实用新型不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本实用新型的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (10)

1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：

安装部，包括用于放置待测元件的第一治具；

测试部，包括用于与待测元件连接的测试元件；

驱动部，包括第一驱动组件及第二驱动组件，所述第一驱动组件与所述安装部连接，并能够驱动所述安装部移动，所述第二驱动组件与所述测试部连接，并能够驱动所述测试部移动；

定位部，包括视觉定位元件，所述视觉定位元件能够检测所述待测元件及所述测试元件的位置，并向所述驱动部发送信号，以使所述第一驱动组件对所述安装部进行位置调整和/或所述第二驱动组件对所述测试部进行位置调整。

2.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试元件包括第二治具及多个探针，所述探针呈竖直状态固定于所述第二治具上。

3.根据权利要求2所述的电路板测试装置，其特征在于，所述探针在所述第二治具上交错排列。

4.根据权利要求2所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二治具上设有不少于两列的所述探针。

5.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一驱动组件包括沿X轴方向延伸的第一导轨及滑动连接于所述第一导轨上的第一滑块，所述第一治具能够跟随所述第一滑块移动。

6.根据权利要求5所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一驱动组件包括沿Y轴方向延伸的第二导轨及滑动连接于所述第二导轨上的第二滑块，所述第一导轨安装于所述第二滑块上。

7.根据权利要求5或6所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一驱动组件还包括转盘，所述转盘能够基于Z轴转动，所述第一治具安装于所述转盘上。

8.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一治具设有吸附孔及用于容纳所述待测元件的安装槽，所述吸附孔与所述安装槽连通。

9.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二驱动组件包括沿Z轴方向延伸的第三导轨及滑动连接于所述第三导轨上的第三滑块，所述测试元件能够跟随所述第三滑块移动。

10.根据权利要求9所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二驱动组件还包括沿X轴延伸的第四导轨及滑动连接于所述第四导轨上的第四滑块，所述第三导轨安装于所述第四滑块上。

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