CN212409744U - 一种芯片测试用固定装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试用固定装置，包括工作台与芯片测试盒，所述工作台上端面左侧位置设置有固定直板，所述工作台上端面在固定直板右侧位置设置有可调节的活动直板，所述固定直板右侧端面尾部位置设置有固定夹板，所述活动直板左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板，所述芯片测试盒位于固定夹板与活动夹板之间位置，所述芯片测试盒上端面设置有芯片插槽，所述工作台上端面在活动直板右侧位置设置有矩形槽。本实用新型所述的一种芯片测试用固定装置，利用可调节位置的活动直板与活动夹板，可以有效固定芯片测试盒的位置，并针对不同规格大小的芯片测试盒进行位置调节，使芯片测试更加高效便捷。

Description

一种芯片测试用固定装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片测试用固定装置。

背景技术

在芯片生产销售的过程中，为了保证芯片的生产质量，需要通过芯片测试盒对芯片进行检测，常用的芯片测试固定装置无法对芯片测试盒进行便捷有效的固定，因此会影响芯片检测的效率以及准确性，同时，由于芯片品质、规格不一，导致芯片测试盒的大小规格也各不相同，因此常用固定装置难以针对不用规格的芯片测试盒进行固定，给生产厂家带来不便。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种芯片测试用固定装置及其工艺，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种芯片测试用固定装置，包括工作台与芯片测试盒，所述工作台上端面左侧位置设置有固定直板，所述工作台上端面在固定直板右侧位置设置有可调节的活动直板，所述固定直板右侧端面尾部位置设置有固定夹板，所述活动直板左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板，所述芯片测试盒位于固定夹板与活动夹板之间位置，所述芯片测试盒上端面设置有芯片插槽，所述工作台上端面在活动直板右侧位置设置有矩形槽，所述活动直板尾部设置有外接板，所述外接板头部设置有可调节的主圆杆，所述主圆杆头部设置有调节板，所述工作台前端面对应矩形槽中部位置设置有副圆杆，所述副圆杆头部设置有调节圆盘。

优选的，所述固定直板通过焊接固定到工作台上端面，所述固定夹板与活动夹板长度相等，所述固定夹板与活动夹板相对端面均设置有摩擦垫，所述芯片测试盒前后端连接到摩擦垫。

优选的，所述活动直板左侧端面对应活动夹板位置设置有推进滑槽，所述活动夹板位于推进滑槽顶部，所述活动夹板后端面尾部位置设置有连接板。

优选的，所述连接板右侧端面设置有限位块，所述推进滑槽一侧内壁对应限位块设置有限位滑槽，所述限位滑槽前后壁之间设置有固定柱，所述限位块中部对应固定柱设置有主圆孔，所述固定柱穿过主圆孔，所述固定柱外圈设置有主弹簧，所述主弹簧尾部连接到限位滑槽底部，所述主弹簧头部连接到限位块。

优选的，所述推进滑槽底部设置有固定孔，所述固定孔底部设置有副圆槽，所述外接板前端面设置有主圆槽，所述主圆槽头部连接到副圆槽，所述副圆槽内设置有可调节的活动圆板，所述主圆杆头部伸入副圆槽并连接到活动圆板后端面。

优选的，所述活动圆板前端面对应连接板设置有副圆孔，所述副圆孔底部设置有固定圆槽，所述固定圆槽内设置有固定圆板，所述连接板尾部伸入固定圆槽并连接到固定圆板前端面，所述固定圆板前端面在连接板外圈位置设置有若干钢珠。

优选的，所述主圆杆外圈设置有固定环，所述固定环外圈一侧位置设置有固定块，所述主圆槽一侧内壁对应固定块从前向后设置有定位滑槽，所述固定块位于定位滑槽头部，所述外接板尾部上端面位置对应固定块设置有定位卡槽。

优选的，所述矩形槽内左侧位置设置有矩形板，所述矩形板头部连接到活动直板下端面，所述矩形板上端面设置有齿条，所述工作台前端面对应副圆杆设置有定位圆槽，所述定位圆槽头部连接到矩形槽，所述副圆杆头部伸入矩形槽，并在齿条上方位置设置有对应的驱动齿轮。

优选的，所述矩形板尾部设置有间隔板，所述间隔板后端面设置有副弹簧，所述副弹簧尾部连接到矩形槽底部。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

通过在工作台上端面设置固定直板与可调节的活动直板，利用调节圆盘即可转动调节活动直板的位置，使活动直板与固定直板对芯片测试盒左右两侧进行固定，通过在活动直板内侧端面设置可调节的活动夹板，通过调节板即可调节活动夹板的位置并进行固定，从而对芯片测试盒的前后端进行固定，方便进行检测作业，并可针对不同规格大小的芯片测试盒进行固定，使用更加便捷，使检测作业更加高效。

附图说明

图1为本实用新型一种芯片测试用固定装置的俯视图；

图2为本实用新型一种芯片测试用固定装置的俯视剖面图；

图3为图2中A处的放大图；

图4为图2中B处的放大图；

图5为本实用新型一种芯片测试用固定装置的主圆槽示意图。

图中：1、工作台；2、固定直板；3、活动直板；4、外接板；5、芯片测试盒；6、固定夹板；7、芯片插槽；8、活动夹板；9、摩擦垫；10、主圆杆；11、调节板；12、矩形槽；13、副圆杆；14、调节圆盘；15、推进滑槽；16、连接板；17、限位块；18、限位滑槽；19、固定柱；20、主圆孔；21、主弹簧；22、固定孔；23、副圆槽；24、主圆槽；25、活动圆板；26、副圆孔；27、固定圆槽；28、固定圆板；29、固定环；30、固定块；31、定位滑槽；32、定位卡槽；33、矩形板；34、齿条；35、定位圆槽；36、驱动齿轮；37、间隔板；38、副弹簧；39、钢珠。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例1：

如图1-5所示，本实用新型涉及一种芯片测试用固定装置，包括工作台1与芯片测试盒5，工作台1上端面左侧位置设置有固定直板2，工作台1上端面在固定直板2右侧位置设置有可调节的活动直板3，固定直板2右侧端面尾部位置设置有固定夹板6，活动直板3左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板8，芯片测试盒5位于固定夹板6与活动夹板8之间位置，芯片测试盒5上端面设置有芯片插槽7，工作台1上端面在活动直板3右侧位置设置有矩形槽12，活动直板3尾部设置有外接板4，外接板4头部设置有可调节的主圆杆10，主圆杆10头部设置有调节板11，工作台1前端面对应矩形槽12中部位置设置有副圆杆13，副圆杆13头部设置有调节圆盘14；

固定直板2通过焊接固定到工作台1上端面，固定夹板6与活动夹板8长度相等，固定夹板6与活动夹板8相对端面均设置有摩擦垫9，芯片测试盒5前后端连接到摩擦垫9；活动直板3左侧端面对应活动夹板8位置设置有推进滑槽15，活动夹板8位于推进滑槽15顶部，活动夹板8后端面尾部位置设置有连接板16；连接板16右侧端面设置有限位块17，推进滑槽15一侧内壁对应限位块17设置有限位滑槽18，限位滑槽18前后壁之间设置有固定柱19，限位块17中部对应固定柱19设置有主圆孔20，固定柱19穿过主圆孔20，固定柱19外圈设置有主弹簧21，主弹簧21尾部连接到限位滑槽18底部，主弹簧21头部连接到限位块17；推进滑槽15底部设置有固定孔22，固定孔22底部设置有副圆槽23，外接板4前端面设置有主圆槽24，主圆槽24头部连接到副圆槽23，副圆槽23内设置有可调节的活动圆板25，主圆杆10头部伸入副圆槽23并连接到活动圆板25后端面；活动圆板25前端面对应连接板16设置有副圆孔26，副圆孔26底部设置有固定圆槽27，固定圆槽27内设置有固定圆板28，连接板16尾部伸入固定圆槽27并连接到固定圆板28前端面，固定圆板28前端面在连接板16外圈位置设置有若干钢珠39；主圆杆10外圈设置有固定环29，固定环29外圈一侧位置设置有固定块30，主圆槽24一侧内壁对应固定块30从前向后设置有定位滑槽31，固定块30位于定位滑槽31头部，外接板4尾部上端面位置对应固定块30设置有定位卡槽32；矩形槽12内左侧位置设置有矩形板33，矩形板33头部连接到活动直板3下端面，矩形板33上端面设置有齿条34，工作台1前端面对应副圆杆13设置有定位圆槽35，定位圆槽35头部连接到矩形槽12，副圆杆13头部伸入矩形槽12，并在齿条34上方位置设置有对应的驱动齿轮36；矩形板33尾部设置有间隔板37，间隔板37后端面设置有副弹簧38，副弹簧38尾部连接到矩形槽12底部。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种芯片测试用固定装置，其特征在于：包括工作台（1）与芯片测试盒（5），所述工作台（1）上端面左侧位置设置有固定直板（2），所述工作台（1）上端面在固定直板（2）右侧位置设置有可调节的活动直板（3），所述固定直板（2）右侧端面尾部位置设置有固定夹板（6），所述活动直板（3）左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板（8），所述芯片测试盒（5）位于固定夹板（6）与活动夹板（8）之间位置，所述芯片测试盒（5）上端面设置有芯片插槽（7），所述工作台（1）上端面在活动直板（3）右侧位置设置有矩形槽（12），所述活动直板（3）尾部设置有外接板（4），所述外接板（4）头部设置有可调节的主圆杆（10），所述主圆杆（10）头部设置有调节板（11），所述工作台（1）前端面对应矩形槽（12）中部位置设置有副圆杆（13），所述副圆杆（13）头部设置有调节圆盘（14）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述固定直板（2）通过焊接固定到工作台（1）上端面，所述固定夹板（6）与活动夹板（8）长度相等，所述固定夹板（6）与活动夹板（8）相对端面均设置有摩擦垫（9），所述芯片测试盒（5）前后端连接到摩擦垫（9）。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述活动直板（3）左侧端面对应活动夹板（8）位置设置有推进滑槽（15），所述活动夹板（8）位于推进滑槽（15）顶部，所述活动夹板（8）后端面尾部位置设置有连接板（16）。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述连接板（16）右侧端面设置有限位块（17），所述推进滑槽（15）一侧内壁对应限位块（17）设置有限位滑槽（18），所述限位滑槽（18）前后壁之间设置有固定柱（19），所述限位块（17）中部对应固定柱（19）设置有主圆孔（20），所述固定柱（19）穿过主圆孔（20），所述固定柱（19）外圈设置有主弹簧（21），所述主弹簧（21）尾部连接到限位滑槽（18）底部，所述主弹簧（21）头部连接到限位块（17）。

5.根据权利要求3所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述推进滑槽（15）底部设置有固定孔（22），所述固定孔（22）底部设置有副圆槽（23），所述外接板（4）前端面设置有主圆槽（24），所述主圆槽（24）头部连接到副圆槽（23），所述副圆槽（23）内设置有可调节的活动圆板（25），所述主圆杆（10）头部伸入副圆槽（23）并连接到活动圆板（25）后端面。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述活动圆板（25）前端面对应连接板（16）设置有副圆孔（26），所述副圆孔（26）底部设置有固定圆槽（27），所述固定圆槽（27）内设置有固定圆板（28），所述连接板（16）尾部伸入固定圆槽（27）并连接到固定圆板（28）前端面，所述固定圆板（28）前端面在连接板（16）外圈位置设置有若干钢珠（39）。

7.根据权利要求5所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述主圆杆（10）外圈设置有固定环（29），所述固定环（29）外圈一侧位置设置有固定块（30），所述主圆槽（24）一侧内壁对应固定块（30）从前向后设置有定位滑槽（31），所述固定块（30）位于定位滑槽（31）头部，所述外接板（4）尾部上端面位置对应固定块（30）设置有定位卡槽（32）。

8.根据权利要求1所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述矩形槽（12）内左侧位置设置有矩形板（33），所述矩形板（33）头部连接到活动直板（3）下端面，所述矩形板（33）上端面设置有齿条（34），所述工作台（1）前端面对应副圆杆（13）设置有定位圆槽（35），所述定位圆槽（35）头部连接到矩形槽（12），所述副圆杆（13）头部伸入矩形槽（12），并在齿条（34）上方位置设置有对应的驱动齿轮（36）。

9.根据权利要求8所述的一种芯片测试用固定装置，其特征在于：所述矩形板（33）尾部设置有间隔板（37），所述间隔板（37）后端面设置有副弹簧（38），所述副弹簧（38）尾部连接到矩形槽（12）底部。

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