CN212059196U - 一种检测cvd钻石应力分布的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及材料科学技术领域,且公开了一种检测CVD钻石应力分布的装置,包括工作台,所述工作台的上表面固定连接有L形板、运算模块和显示器,所述工作台的上表面滑动连接有移动平台,所述L形板的上表面固定连接有光学检测机构,所述工作台的上表面固定连接有无极控制开关。本实用新型能够全面检测CVD钻石表面的应力分布,提高了CVD钻石应力分布检测的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及材料科学技术领域,尤其涉及一种检测CVD钻石应力分布的装置。
背景技术
CVD钻石,是一种由直径10到30纳米钻石晶体合成的多结晶钻石,早期的人造钻石由于空气中的氮原子进进钻石晶体而呈淡淡的糖稀颜色,经过科学家的改良制作方法,生产的人造钻石在外观上和自然钻石没有任何差异,由于天生环境的不同,人造钻石的的分子结构并不是自然钻石的完全八面体结构而是一种复杂结构,从而会产生磷光现象。
现有的CVD钻石应力分布检测设备在钻石固定后通过三轴位移台来移动钻石,但该移动防止导致钻石表面应力检测会有遗漏,使检测结果不够全面,影响CVD钻石应力分布检测的准确性。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中CVD钻石应力分布检测设备在钻石固定后通过三轴位移台来移动钻石,但该移动防止导致钻石表面应力检测会有遗漏,使检测结果不够全面,影响CVD钻石应力分布检测准确性的问题,而提出的一种检测CVD钻石应力分布的装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种检测CVD钻石应力分布的装置,包括工作台,所述工作台的上表面固定连接有L形板、运算模块和显示器,所述工作台的上表面滑动连接有移动平台,所述L形板的上表面固定连接有光学检测机构,所述工作台的上表面固定连接有无极控制开关。
优选的,所述移动平台包括与工作台上表面滑动连接的移动块,所述移动块的下表面固定连接有两个滑块,所述工作台的上表面开设有与滑块相配合的滑槽,所述移动块的上表面固定连接有U形板和减速电机,所述U形板的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁通过滚动轴承转动连接有转杆,所述转杆的顶端固定连接有四爪夹具,所述减速电机的输出端与转杆的底端固定连接,所述移动块的侧壁通过滚动轴承转动连接有螺纹杆,所述螺纹杆的杆壁螺纹套接有支撑板,所述支撑板的外壁开设有与螺纹杆相配合的螺纹孔,所述支撑板的底端与工作台的上表面固定连接。
优选的,所述光学检测机构包括与L形板的上表面固定连接的硅光电探测器,所述L形板的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁固定连接有显微镜,所述显微镜顶端目镜处固定连接有双色镜,所述显微镜的底端固定连接有激光二极管,所述移动块的上表面固定连接有连接板,所述连接板的外壁固定连接有微波天线。
优选的,所述运算模块为控制器,所述控制器的型号为80C51单片机。
优选的,所述工作台的下表面四角处均固定连接有支撑腿。
优选的,所述螺纹杆的侧壁固定连接有转盘,所述转盘的外壁转动连接有把手。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种检测CVD钻石应力分布的装置,具备以下有益效果:
该检测CVD钻石应力分布的装置,通过设置有减速电机、螺纹杆、把手和移动块,当需要对钻石样品进行检测应力分布的时候,首先把钻石样品放置在四爪夹具上固定,之后启动运算模块和光学检测机构,其中微波天线是用于产生环绕样品区域均匀的微波场,显微镜用于汇聚激光二极管的激光和钻石样品发出的荧光,而双色镜位于显微镜目镜端,是将钻石荧光反射度到硅光电探测器的探头上,最后光电探测器输出端直连运算模块的控制器,并进行初步的累加运算,最后通过显示器把磁共振信号吸收峰位置显示出目前激光聚焦到的CVD 钻石位置处的应力情况,另外,通过无极控制开关控制减速电机的转速,在转速合适的时候,工作人员通过把手和转盘使螺纹杆,螺纹杆推动移动块移动,在此过程中整块钻石的表面均被检测到,该机构能够全面检测CVD钻石表面的应力分布,提高了CVD钻石应力分布检测的准确性。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现,本实用新型能够全面检测CVD钻石表面的应力分布,提高了 CVD钻石应力分布检测的准确性。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种检测CVD钻石应力分布的装置的结构示意图;
图2为本实用新型提出的一种检测CVD钻石应力分布的装置A部分的结构示意图。
图中:1工作台、2L形板、3运算模块、4显示器、5移动平台、 51移动块、52滑块、53滑槽、54U形板、55减速电机、56转杆、 57四爪夹具、58螺纹杆、59支撑板、6光学检测机构、61硅光电探测器、62显微镜、63双色镜、64激光二极管、65连接板、66微波天线、7无极控制开关、8支撑腿、9转盘、10把手。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
参照图1-2,一种检测CVD钻石应力分布的装置,包括工作台1,工作台1的上表面固定连接有L形板2、运算模块3和显示器4,工作台1的上表面滑动连接有移动平台5,L形板2的上表面固定连接有光学检测机构6,工作台1的上表面固定连接有无极控制开关7。
移动平台5包括与工作台1上表面滑动连接的移动块51,移动块51的下表面固定连接有两个滑块52,工作台1的上表面开设有与滑块52相配合的滑槽53,移动块51的上表面固定连接有U形板54 和减速电机55,U形板54的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁通过滚动轴承转动连接有转杆56,转杆56的顶端固定连接有四爪夹具57,减速电机55的输出端与转杆56的底端固定连接,移动块51的侧壁通过滚动轴承转动连接有螺纹杆58,螺纹杆58的杆壁螺纹套接有支撑板59,支撑板59的外壁开设有与螺纹杆58相配合的螺纹孔,支撑板59的底端与工作台1的上表面固定连接,该机构能够全面检测 CVD钻石表面的应力分布,提高了CVD钻石应力分布检测的准确性。
光学检测机构6包括与L形板2的上表面固定连接的硅光电探测器61,L形板2的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁固定连接有显微镜62,显微镜62顶端目镜处固定连接有双色镜63,显微镜62的底端固定连接有激光二极管64,移动块51的上表面固定连接有连接板65,连接板65的外壁固定连接有微波天线66,微波天线66是用于产生环绕样品区域均匀的微波场,显微镜62用于汇聚激光二极管64 的激光和钻石样品发出的荧光,而双色镜63位于显微镜62目镜端,是将钻石荧光反射90度到硅光电探测器61的探头上,最后光电探测器61输出端直连运算模块3的控制器,并进行初步的累加运算,最后通过显示器4把磁共振信号吸收峰位置显示出目前激光聚焦到的 CVD钻石位置处的应力情况。
运算模块3为控制器,控制器的型号为80C51单片机,控制器的输出端与显示器4的输入端信号连接,所述控制器的输入端与硅光电探测器61的输出端固定连接。
工作台1的下表面四角处均固定连接有支撑腿8。
螺纹杆58的侧壁固定连接有转盘9,转盘9的外壁转动连接有把手10,把手10能够方便转动螺纹杆58,显示器4、硅光电探测器 61和激光二极管64通过控制开关与外部电源电性连接,减速电机55 通过无极控制开关7与外部电源电性连接,此电性连接为现有技术,且属于本领域人员惯用技术手段,因此不加以赘述。
本实用新型中,当需要对钻石样品进行检测应力分布的时候,首先把钻石样品放置在四爪夹具57上固定,之后启动运算模块3和光学检测机构6,其中微波天线66是用于产生环绕样品区域均匀的微波场,显微镜62用于汇聚激光二极管64的激光和钻石样品发出的荧光,而双色镜63位于显微镜62目镜端,是将钻石荧光反射90度到硅光电探测器61的探头上,最后光电探测器61输出端直连运算模块 3的控制器,并进行初步的累加运算,最后通过显示器4把磁共振信号吸收峰位置显示出目前激光聚焦到的CVD钻石位置处的应力情况,另外,通过无极控制开关7控制减速电机55的转速,在转速合适的时候,工作人员通过把手10和转盘9使螺纹杆58,螺纹杆58推动移动块51移动,在此过程中整块钻石的表面均被检测到,该机构能够全面检测CVD钻石表面的应力分布,提高了CVD钻石应力分布检测的准确性。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种检测CVD钻石应力分布的装置,包括工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)的上表面固定连接有L形板(2)、运算模块(3)和显示器(4),所述工作台(1)的上表面滑动连接有移动平台(5),所述L形板(2)的上表面固定连接有光学检测机构(6),所述工作台(1)的上表面固定连接有无极控制开关(7)。
2.根据权利要求1所述的一种检测CVD钻石应力分布的装置,其特征在于,所述移动平台(5)包括与工作台(1)上表面滑动连接的移动块(51),所述移动块(51)的下表面固定连接有两个滑块(52),所述工作台(1)的上表面开设有与滑块(52)相配合的滑槽(53),所述移动块(51)的上表面固定连接有U形板(54)和减速电机(55),所述U形板(54)的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁通过滚动轴承转动连接有转杆(56),所述转杆(56)的顶端固定连接有四爪夹具(57),所述减速电机(55)的输出端与转杆(56)的底端固定连接,所述移动块(51)的侧壁通过滚动轴承转动连接有螺纹杆(58),所述螺纹杆(58)的杆壁螺纹套接有支撑板(59),所述支撑板(59)的外壁开设有与螺纹杆(58)相配合的螺纹孔,所述支撑板(59)的底端与工作台(1)的上表面固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种检测CVD钻石应力分布的装置,其特征在于,所述光学检测机构(6)包括与L形板(2)的上表面固定连接的硅光电探测器(61),所述L形板(2)的上表面开设有通孔,且通孔的孔壁固定连接有显微镜(62),所述显微镜(62)顶端目镜处固定连接有双色镜(63),所述显微镜(62)的底端固定连接有激光二极管(64),所述移动块(51)的上表面固定连接有连接板(65),所述连接板(65)的外壁固定连接有微波天线(66)。
4.根据权利要求1所述的一种检测CVD钻石应力分布的装置,其特征在于,所述运算模块(3)为控制器,所述控制器的型号为80C51单片机。
5.根据权利要求1所述的一种检测CVD钻石应力分布的装置,其特征在于,所述工作台(1)的下表面四角处均固定连接有支撑腿(8)。
6.根据权利要求2所述的一种检测CVD钻石应力分布的装置,其特征在于,所述螺纹杆(58)的侧壁固定连接有转盘(9),所述转盘(9)的外壁转动连接有把手(10)。
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CN202020407474.9U CN212059196U (zh) | 2020-03-26 | 2020-03-26 | 一种检测cvd钻石应力分布的装置 |
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CN114047128A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-02-15 | 深圳市一博珠宝仪器有限公司 | 一种测定和展示钻石光学特性的方法及仪器 |
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- 2020-03-26 CN CN202020407474.9U patent/CN212059196U/zh active Active
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