CN213022917U - 一种中子反射谱仪的光路结构 - Google Patents
一种中子反射谱仪的光路结构 Download PDFInfo
- Publication number
- CN213022917U CN213022917U CN201922196200.XU CN201922196200U CN213022917U CN 213022917 U CN213022917 U CN 213022917U CN 201922196200 U CN201922196200 U CN 201922196200U CN 213022917 U CN213022917 U CN 213022917U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- platform
- plate
- incident
- arm
- supporting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开了一种中子反射谱仪的光路结构,主要包括沿着入射中子束方向顺序依次放置在精密花岗岩地面入射臂、样品台和反射臂,所述入射臂,包括第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管、第三狭缝、第二平移台、第二平台;所述样品台,包括低温恒温器、底座、上夹板、下夹板、样品、移动板、升降机构,所述反射臂,包括反射臂工作台、第四狭缝、第一支撑柱、第三平移台、升降台,入射臂与样品台中设置有滑轮,可以使设备方便搬运,避免了搬运困难,且入射臂工作台中设置有储纳箱,可以存放维护工具,节省了维护难度,在不使用设备的时候,将反射臂工作台上的设备存放到反射臂工作台中,可以避免空气中的水分与设备发生腐蚀情况。
Description
技术领域
本发明涉及中子反射技术领域,尤其涉及一种中子反射谱仪的光路结构。
背景技术
中子反射技术是通过测量界面薄膜材料对中子的反射分析获知界面处 0.5~500nm尺度范围内结构成分等信息的先进材料表征技术,一方面,由于中子具有较强的穿透能力和不带电等独特属性,使得中子反射技术日益成为薄膜材料膜层结构的重要研究手段;另一方面,由于中子具有自旋磁矩,自旋取向单一的中子,也称之为极化中子,与磁性材料的磁矩之间的相互作用可以被反射后的中子所记录,使得中子反射技术是获取这些磁性薄膜材料的磁结构信息和测量磁性沿膜后方向深度剖面分布的有力手段,因此,如果能够分别测量非极化和极化的中子反射对于磁性薄膜材料具有非常重要的意义。
另外,中子还具有一定的静止质量,不同能量(波长)的中子在飞行一段距离后到达探测器是有先有后的,因此,通过采用中子飞行时间的办法可以实现测量数据的记录,即根据时间先后对散射或反射后的中子进行标定,这一方法特别适合中子波长不固定的散裂中子源中子谱仪,但是飞行时间法中子谱仪的精度也将取决于中子飞行距离的精度,固定的飞行距离将大大降低数据分析的难度,减少数据的误差。目前,由于时间飞行方法简化了谱仪结构的设计,在反应堆上通过设置特定的斩波器也开始得到应用。
现在的中子反射谱仪因为体积比较大,且重量较重,在搬运过程中会带来很大的困扰,而且设备在不使用的时候,总是暴露在大气当中,大气当中具有很多腐蚀成分,时间一久,容易发生腐蚀情况,而维护的时候需要事前准备好维护工具,这样子给维护人员带来了很多不便。
发明内容
一种中子反射谱仪的光路结构,主要包括沿着入射中子束方向顺序依次放置在精密花岗岩地面入射臂、样品台和反射臂,所述入射臂,包括第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管、第三狭缝、第二平移台、第二平台、第一调节旋钮、储纳箱、第一支撑脚、入射臂工作台、入射臂底座、第一平台、第一平移台、齿条、圆形套、第二调节旋钮、固定柱、调节外圈、第一气缸、滚轮,所述入射臂工作台上设置有精密花岗岩,其中入射臂底座设置在精密花岗岩表面上,入射臂底座沿着入射中子束方向的入射端设置有第一平台,入射臂底座的沿着入射中子束方向的出射端固定安装有第二平台,第一平台上设置有第一平移台,第一平移台通过滑槽与第一平台连接,第二平台上设置有第二平移台,通过滑槽与第二平台连接,且连接处均设置有第一调节旋钮,第一平移台和第二平移台上均设置有滑块,滑块上设置有支撑柱,支撑柱上设置有齿条,支撑柱上沿着入射中子束方向的入射端方向依次设置有第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管和第三狭缝;
所述第一狭缝由圆形套、第二调节旋钮、固定柱和调节外圈构成,圆形套下方设置有第二调节旋钮和固定柱,圆形套表面设置有调节外圈,调节外圈的一端与固定柱固定连接,另一端与第二调节旋钮连接;
所述样品台,包括低温恒温器、底座、上夹板、下夹板、样品、移动板、第一支撑板、第一螺杆、升降机构、第二支撑板、蜗轮、蜗杆、移动块、滑槽、第一凹槽、滑轮、第二支撑脚、第一电机、皮带、第三螺杆、冷头、第三支撑板、第二气缸,所述底座中水平设置有第三支撑板,第三支撑板下方设置有第二气缸,第二气缸下方设置有滑轮,底座下方还设置有第二支撑脚,第二支撑脚下方设置有防滑胶垫,第三支撑板上方设置有蜗杆传动结构,蜗杆传动结构由蜗杆和涡轮组成,涡轮轴心方向垂直于第三支撑板,涡轮上方连接有第二支撑板,当涡轮转动的时候,将带动第二支撑板转动,第二支撑板上设置有升降机构,升降机构上设置有第一支撑板;
所述第一支撑板上设置有下夹板,下夹板上方设置有上夹板,下夹板一侧设置有柱,柱中设置有内螺纹,上夹板一侧设置有螺栓,螺栓与柱通过螺纹配合连接,上夹板通过轴承与螺栓连接,通过旋转螺栓使上夹板夹紧样品,上夹板下方设置有冷头,冷头出口向着样品,冷头通过管道连接有低温恒温器;
所述反射臂,包括反射臂工作台、第四狭缝、第一支撑柱、第三平移台、第二凹槽、升降台、第二螺杆、定位柱、第四支撑板、第五支撑板、连接板、探测器、气浮单元、第二滑轮、第二电机、第二支撑柱、第四平移台、固定轮、钢绳、第三电机、限位块、活动轮,所述反射臂工作台为长方体结构,反射臂工作台上设置有第三平移台和第四平移台;
所述第三平移台上设置有第一支撑柱和升降台,第一支撑柱上设置有第四狭缝,第一支撑柱通过滚珠丝杆副与第三平移台连接,使支撑杆可以移动;
所述升降台设置有第二螺杆和定位柱,第二螺杆和定位柱分别穿过滑块,滑块连接有第四支撑板,第四支撑板一侧设置有滑槽,滑槽连接有连接板,连接板的另一端连接有第五支撑板,在需要增大面积的时候,分别移动第五支撑板,使第五支撑板到达第四支撑板的两端,从而增大放置面积,第二螺杆的上端设置有第二电机,通过电机使第二螺杆旋转,从而使滑块上下移动,以此调整第四支撑板的高度;
所述第四平移台上设置有第二支撑柱,第二支撑柱上设置有探测器;
所述第三平移台一侧设置有活动轮,反射臂工作台的一侧内壁上设置有第二凹槽,第二凹槽上方与下方各设置有限位块,限位块上方设置有固定轮,固定轮的一侧设置有第三电机,第三电机的输出轴设置有钢绳,钢绳经过固定轮与活动轮连接。
作为本发明进一步的方案:所述入射臂工作台下方设置有储纳箱和第一支撑脚,储纳箱中设置有设备的维护工具等,第一支撑脚设置有第一气缸。
作为本发明进一步的方案:所述聚焦导管内部由两对水平及竖直的汇聚型超镜组成,外部为不锈钢真空壳体。
作为本发明进一步的方案:所述升降机构由两条第一支撑臂、两条第二支撑臂和第一螺杆构成,第一支撑臂与第二支撑臂铰接,第一支撑臂下方铰接有第二支撑板,第二支撑臂上方铰接有第一支撑板,第一螺杆穿过第一支撑臂与第二支撑臂铰接处,通过旋转第一螺杆,使铰接处相互靠近或远离,从而控制第一支撑板上升或下降,第二支撑板上设置有第一电机,第一螺杆的一端通过皮带与第一电机连接。
作为本发明进一步的方案:所述第一支撑板上设置有两块移动板和支架,移动板中设置有第一凹槽,第一凹槽中设置有移动块,移动块为长方体结构,移动块设置有两个孔,两个孔的轴心方向呈垂直状态,移动板底面设置有滑槽,第一支撑板上设置有两个支架,调节杆穿过移动板的槽,且与移动板通过轴承连接,与移动块的孔通过螺纹连接,通过旋转调节杆,可以使两块移动板进行X轴和Y 轴方向移动,下方的移动板的调节螺杆穿过支架。
作为本发明进一步的方案:所述反射臂工作台下方设置有四个气浮单元,每两个气浮单元构成一组,气浮单元的一侧设置有气缸,气缸下方设置有第二滑轮。
作为本发明进一步的方案:述探测器为中子灵敏探测器。
作为本发明进一步的方案:所述第一气缸下方设置有滚轮。
作为本发明进一步的方案:所述第一支撑脚底面设置有防滑胶垫。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:入射臂与样品台中设置有滑轮,可以使设备方便搬运,避免了搬运困难,且入射臂工作台中设置有储纳箱,可以存放维护工具,节省了维护难度,在不使用设备的时候,将反射臂工作台上的设备存放到反射臂工作台中,可以避免空气中的水分与设备发生腐蚀情况。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种中子反射谱仪的光路结构中入射臂的结构式示意图。
图2为一种中子反射谱仪的光路结构中第一狭缝的结构示意图。
图3为图2为一种中子反射谱仪的光路结构的右视图。
图4为图1为一种中子反射谱仪的光路结构中A处的放大剖视图。
图5为一种中子反射谱仪的光路结构中样品台的结构示意图。
图6为图5一种中子反射谱仪的光路结构中C处的放大图。
图7为一种中子反射谱仪的光路结构中移动块的结构示意图。
图8为一种中子反射谱仪的光路结构中移动板的结构示意图。
图9为图5一种中子反射谱仪的光路结构中B截面的俯视图。
图10为一种中子反射谱仪的光路结构中的反射臂的结构示意图。
图11为一种中子反射谱仪的光路结构中气浮单元的结构示意图。
图12为图10一种中子反射谱仪的光路结构中D处的放大图。
图13为图10一种中子反射谱仪的光路结构中E处截面图。
图中所示:第一狭缝101、第二狭缝102、聚焦导管103、第三狭缝104、第二平移台105、第二平台106、第一调节旋钮107、储纳箱108、第一支撑脚109、入射臂工作台110、入射臂底座111、第一平台112、第一平移台113、齿条114、圆形套115、第二调节旋钮116、固定柱117、调节外圈118、第一气缸119、滚轮120、低温恒温器201、样品台底座202、上夹板203、下夹板204、样品205、移动板206、第一支撑板207、第一螺杆208、升降机构209、第二支撑板210、蜗轮211、蜗杆212、移动块213、滑槽214、第一凹槽215、第一滑轮216、第二支撑脚217、第一电机218、皮带219、第三螺杆220、冷头221、第三支撑板 222、第二气缸223、反射臂工作台301、第四狭缝302、第一支撑柱303、第三平移台304、第二凹槽305、升降台306、第二螺杆307、定位柱308、第四支撑板309、第五支撑板310、连接板311、探测器312、气浮单元313、第二滑轮314、第二电机319、第二支撑柱320、第四平移台321、固定轮322、钢绳323、第三电机324、限位块325、活动轮326。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-图13,本发明实施例中,一种中子反射谱仪的光路结构,主要包括沿着入射中子束方向顺序依次放置在精密花岗岩地面入射臂、样品台和反射臂。
所述入射臂,包括第一狭缝101、第二狭缝102、聚焦导管103、第三狭缝 104、第二平移台105、第二平台106、第一调节旋钮107、储纳箱108、第一支撑脚109、入射臂工作台110、入射臂底座111、第一平台112、第一平移台113、齿条114、圆形套115、第二调节旋钮116、固定柱117、调节外圈118、第一气缸119、滚轮120,所述入射臂工作台110下方设置有储纳箱108和第一支撑脚 109,储纳箱108用于存放设备的维护工具等,可以方便工作人员对设备经行定期维护,第一支撑脚109设置有第一气缸119,第一气缸119下方设置有滚轮120,当需要移动设备的时候,只需要控制第一气缸119往下移动,使滚轮120与地面接触后,设备离开地面即可经行移动,方便搬运,第一支撑脚109底面设置有防滑胶垫。
所述入射臂工作台110上设置有精密花岗岩,其中入射臂底座111设置在精密花岗岩表面上,入射臂底座111沿着入射中子束方向的入射端设置有第一平台 112,入射臂底座111的沿着入射中子束方向的出射端固定安装有第二平台106,第一平台上设置有第一平移台113,第一平移台113通过滑槽与第一平台112连接,第二平台106上设置有第二平移台105,通过滑槽与第二平台106连接,且连接处均设置有第一调节旋钮107,第一平移台113和第二平移台105上均设置有滑块,滑块上设置有支撑柱,支撑柱上设置有齿条114,支撑柱上沿着入射中子束方向的入射端方向依次设置有第一狭缝101、第二狭缝102、聚焦导管103和第三狭缝104。
所述聚焦导管103内部由两对水平及竖直的汇聚型超镜组成,外部为不锈钢真空壳体,所述聚焦导管103可增强入射中子通量,通过聚焦导管的聚焦作用可获得更高通量的入射中子。
所述第一狭缝101由圆形套115、第二调节旋钮116、固定柱117和调节外圈118构成,圆形套115下方设置有第二调节旋钮116和固定柱117,圆形套115 表面设置有调节外圈118,调节外圈118的一端与固定柱117固定连接,另一端与第二调节旋钮116连接,通过旋转第二调节旋钮116可以使调节外圈118半径缩小或放大,从而使圆形套115缩小或放大,从而调整第一狭缝101的大小,调节入射中子的大小。
所述样品台,包括低温恒温器201、底座202、上夹板203、下夹板204、样品205、移动板206、第一支撑板207、第一螺杆208、升降机构209、第二支撑板210、蜗轮211、蜗杆212、移动块213、滑槽214、第一凹槽215、滑轮216、第二支撑脚217、第一电机218、皮带219、第三螺杆220、冷头221、第三支撑板222、第二气缸223,所述底座202中水平设置有第三支撑板222,第三支撑板222下方设置有第二气缸223,第二气缸223下方设置有滑轮216,底座202 下方还设置有第二支撑脚217,第二支撑脚217下方设置有防滑胶垫,第三支撑板222上方设置有蜗杆传动结构,蜗杆传动结构由蜗杆212和涡轮211组成,涡轮211轴心方向垂直于第三支撑板222,涡轮211上方连接有第二支撑板210,当涡轮211转动的时候,将带动第二支撑板210转动;
所述第二支撑板210上设置有升降机构209,升降机构209由两条第一支撑臂、两条第二支撑臂和第一螺杆208构成,第一支撑臂与第二支撑臂铰接,第一支撑臂下方铰接有第二支撑板210,第二支撑臂上方铰接有第一支撑板207,第一螺杆208穿过第一支撑臂与第二支撑臂铰接处,通过旋转第一螺杆208,使铰接处相互靠近或远离,从而控制第一支撑板207上升或下降,第二支撑板210 上设置有第一电机218,第一螺杆208的一端通过皮带219与第一电机218连接。
所述第一支撑板207上设置有两块移动板206和支架,移动板206中设置有第一凹槽215,第一凹槽215中设置有移动块213,移动块213为长方体结构,移动块213设置有两个孔,两个孔的轴心方向呈垂直状态,移动板206底面设置有滑槽,第一支撑板207上设置有两个支架,调节杆穿过移动板206的槽,且与移动板206通过轴承连接,与移动块213的孔通过螺纹连接,通过旋转调节杆,可以使两块移动板进行X轴和Y轴方向移动,下方的移动板206的调节螺杆穿过支架。
所述移动板206上方设置有下夹板204,下夹板204上方设置有上夹板203,下夹板204一侧设置有柱,柱中设置有内螺纹,上夹板203一侧设置有螺栓,螺栓与柱通过螺纹配合连接,上夹板203通过轴承与螺栓连接,通过旋转螺栓使上夹板203夹紧样品205,上夹板203下方设置有冷头221,冷头221出口向着样品,冷头221通过管道连接有低温恒温器201,在进行中子反射实验的时候,可以使样品处于一个低温恒温的状态当中。
所述反射臂,包括反射臂工作台301、第四狭缝302、第一支撑柱303、第三平移台304、第二凹槽305、升降台306、第二螺杆307、定位柱308、第四支撑板309、第五支撑板310、连接板311、探测器312、气浮单元313、第二滑轮 314、第二电机319、第二支撑柱320、第四平移台321、固定轮322、钢绳323、第三电机324、限位块325、活动轮326,所述反射臂工作台301为长方体结构,反射臂工作台301上设置有第三平移台304和第四平移台321,反射臂工作台301 下方设置有四个气浮单元313,每两个气浮单元313构成一组,这种双气浮单元的结构允许左右气浮单元313与地面有不同角度的倾斜,能够更好地适应地面的不平整性以及负载的波动,气浮单元的一侧设置有气缸,气缸下方设置有第二滑轮314,第二滑轮314工作时通过气缸加压使得第二滑轮314与地面之间接触并产生向下的压力,第二滑轮通过驱动之后通过静摩擦力带动反射臂工作台301 绕着中心点旋转。
所述第三平移台304上设置有第一支撑柱303和升降台306,第一支撑柱303 上设置有第四狭缝302,第一支撑柱303通过滚珠丝杆副与第三平移台304连接,使支撑杆303可以移动;
所述升降台306设置有第二螺杆307和定位柱308,第二螺杆307和定位柱 308分别穿过滑块,滑块连接有第四支撑板309,第四支撑板309一侧设置有滑槽,滑槽连接有连接板311,连接板311的另一端连接有第五支撑板310,在需要增大面积的时候,分别移动第五支撑板310,使第五支撑板310到达第四支撑板39的两端,从而增大放置面积,第二螺杆37的上端设置有第二电机319,通过电机使第二螺杆307旋转,从而使滑块上下移动,以此调整第四支撑板309 的高度。
所述第四平移台321上设置有第二支撑柱320,第二支撑柱320上设置有探测器312,探测器312为中子灵敏探测器,通过探测器的探测可获得反射中子的强度及分布等情况。
所述第三平移台304一侧设置有活动轮326,反射臂工作台301的一侧内壁上设置有第二凹槽305,第二凹槽305上方与下方各设置有限位块325,限位块 325上方设置有固定轮322,固定轮322的一侧设置有第三电机324,第三电机 324的输出轴设置有钢绳323,钢绳经过固定轮322与活动轮326连接,在第三电机324的带动下,可以使第三平移台304在反射臂工作台301中的滑槽305 上下移动,从而在不使用设备的时候,将设备存放在反射臂工作台当中,所述反射臂工作台301内设置有干燥器,可以吸收反射臂工作台301内的水分,避免设备与空气中的水分发生腐蚀情况。
所述第二狭缝、第三狭缝和第四狭缝结构与第一狭缝结构相同。
所述聚焦导管103、低温恒温器201、探测器312、滚珠丝杆副、干燥器为现有技术,在本实施例中就不过多赘述。
本发明工作原理:工作实验的时候,入射中子束依次经过第一狭缝101、第二狭缝102和第三狭缝104,通过这三台狭缝可截取出高精度高分辨率的入射中子束,之后入射中子束进入样品台区域。首先通过样品样品台的升降机构209 和移动板206调整样品位置,从而使入射中子束位置及样品相对于入射中子束的零度角位置,此时被样品透射及散射的杂散中子束首先被第四狭缝302挡住,被样品反射的反射中子束则通过第四狭缝302之后被探测器312探测到,得到高精度高分辨率的中子束以进行实验,而且入射臂与样品台中设置有滑轮,可以使设备方便搬运,且入射臂工作台中设置有储纳箱108,可以存放维护工具,节省了维护难度,在不使用设备的时候,将反射臂工作台301上的设备存放到反射臂工作台301中,可以避免空气中的水分与设备发生腐蚀情况。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (9)
1.一种中子反射谱仪的光路结构,主要包括沿着入射中子束方向顺序依次放置在精密花岗岩地面入射臂、样品台和反射臂,其特征在于,所述入射臂,包括第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管、第三狭缝、第二平移台、第二平台、第一调节旋钮、储纳箱、第一支撑脚、入射臂工作台、入射臂底座、第一平台、第一平移台、齿条、圆形套、第二调节旋钮、固定柱、调节外圈、第一气缸、滚轮,所述入射臂工作台上设置有精密花岗岩,其中入射臂底座设置在精密花岗岩表面上,入射臂底座沿着入射中子束方向的入射端设置有第一平台,入射臂底座的沿着入射中子束方向的出射端固定安装有第二平台,第一平台上设置有第一平移台,第一平移台通过滑槽与第一平台连接,第二平台上设置有第二平移台,通过滑槽与第二平台连接,且连接处均设置有第一调节旋钮,第一平移台和第二平移台上均设置有滑块,滑块上设置有支撑柱,支撑柱上设置有齿条,支撑柱上沿着入射中子束方向的入射端方向依次设置有第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管和第三狭缝;
所述第一狭缝由圆形套、第二调节旋钮、固定柱和调节外圈构成,圆形套下方设置有第二调节旋钮和固定柱,圆形套表面设置有调节外圈,调节外圈的一端与固定柱固定连接,另一端与第二调节旋钮连接;
所述样品台,包括低温恒温器、底座、上夹板、下夹板、样品、移动板、第一支撑板、第一螺杆、升降机构、第二支撑板、蜗轮、蜗杆、移动块、滑槽、第一凹槽、滑轮、第二支撑脚、第一电机、皮带、第三螺杆、冷头、第三支撑板、第二气缸,所述底座中水平设置有第三支撑板,第三支撑板下方设置有第二气缸,第二气缸下方设置有滑轮,底座下方还设置有第二支撑脚,第二支撑脚下方设置有防滑胶垫,第三支撑板上方设置有蜗杆传动结构,蜗杆传动结构由蜗杆和涡轮组成,涡轮轴心方向垂直于第三支撑板,涡轮上方连接有第二支撑板,当涡轮转动的时候,将带动第二支撑板转动,第二支撑板上设置有升降机构,升降机构上设置有第一支撑板;
所述第一支撑板上设置有下夹板,下夹板上方设置有上夹板,下夹板一侧设置有柱,柱中设置有内螺纹,上夹板一侧设置有螺栓,螺栓与柱通过螺纹配合连接,上夹板通过轴承与螺栓连接,通过旋转螺栓使上夹板夹紧样品,上夹板下方设置有冷头,冷头出口向着样品,冷头通过管道连接有低温恒温器;
所述反射臂,包括反射臂工作台、第四狭缝、第一支撑柱、第三平移台、第二凹槽、升降台、第二螺杆、定位柱、第四支撑板、第五支撑板、连接板、探测器、气浮单元、第二滑轮、第二电机、第二支撑柱、第四平移台、固定轮、钢绳、第三电机、限位块、活动轮,所述反射臂工作台为长方体结构,反射臂工作台上设置有第三平移台和第四平移台;
所述第三平移台上设置有第一支撑柱和升降台,第一支撑柱上设置有第四狭缝,第一支撑柱通过滚珠丝杆副与第三平移台连接,使支撑杆可以移动;
所述升降台设置有第二螺杆和定位柱,第二螺杆和定位柱分别穿过滑块,滑块连接有第四支撑板,第四支撑板一侧设置有滑槽,滑槽连接有连接板,连接板的另一端连接有第五支撑板,在需要增大面积的时候,分别移动第五支撑板,使第五支撑板到达第四支撑板的两端,从而增大放置面积,第二螺杆的上端设置有第二电机,通过电机使第二螺杆旋转,从而使滑块上下移动,以此调整第四支撑板的高度;
所述第四平移台上设置有第二支撑柱,第二支撑柱上设置有探测器;所述第三平移台一侧设置有活动轮,反射臂工作台的一侧内壁上设置有第二凹槽,第二凹槽上方与下方各设置有限位块,限位块上方设置有固定轮,固定轮的一侧设置有第三电机,第三电机的输出轴设置有钢绳,钢绳经过固定轮与活动轮连接。
2.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述入射臂工作台下方设置有储纳箱和第一支撑脚,储纳箱中设置有设备的维护工具等,第一支撑脚设置有第一气缸。
3.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述聚焦导管内部由两对水平及竖直的汇聚型超镜组成,外部为不锈钢真空壳体。
4.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述升降机构由两条第一支撑臂、两条第二支撑臂和第一螺杆构成,第一支撑臂与第二支撑臂铰接,第一支撑臂下方铰接有第二支撑板,第二支撑臂上方铰接有第一支撑板,第一螺杆穿过第一支撑臂与第二支撑臂铰接处,通过旋转第一螺杆,使铰接处相互靠近或远离,从而控制第一支撑板上升或下降,第二支撑板上设置有第一电机,第一螺杆的一端通过皮带与第一电机连接。
5.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述第一支撑板上设置有两块移动板和支架,移动板中设置有第一凹槽,第一凹槽中设置有移动块,移动块为长方体结构,移动块设置有两个孔,两个孔的轴心方向呈垂直状态,移动板底面设置有滑槽,第一支撑板上设置有两个支架,调节杆穿过移动板的槽,且与移动板通过轴承连接,与移动块的孔通过螺纹连接,通过旋转调节杆,可以使两块移动板进行X轴和Y轴方向移动,下方的移动板的调节螺杆穿过支架。
6.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述反射臂工作台下方设置有四个气浮单元,每两个气浮单元构成一组,气浮单元的一侧设置有气缸,气缸下方设置有第二滑轮。
7.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述探测器为中子灵敏探测器。
8.根据权利要求2所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述第一气缸下方设置有滚轮。
9.根据权利要求2所述的一种中子反射谱仪的光路结构,其特征在于,所述第一支撑脚底面设置有防滑胶垫。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201922196200.XU CN213022917U (zh) | 2019-12-10 | 2019-12-10 | 一种中子反射谱仪的光路结构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201922196200.XU CN213022917U (zh) | 2019-12-10 | 2019-12-10 | 一种中子反射谱仪的光路结构 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN213022917U true CN213022917U (zh) | 2021-04-20 |
Family
ID=75442104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201922196200.XU Active CN213022917U (zh) | 2019-12-10 | 2019-12-10 | 一种中子反射谱仪的光路结构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN213022917U (zh) |
-
2019
- 2019-12-10 CN CN201922196200.XU patent/CN213022917U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5735055A (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of an article at a plurality of points | |
CN213239979U (zh) | 一种工业ct检测设备 | |
US4728483A (en) | Apparatus for integrated fuel assembly inspection system | |
CN107167483B (zh) | 可快速切换极化和非极化模式的中子反射谱仪光路结构 | |
CN206132664U (zh) | 测量检定平台 | |
CN108169047A (zh) | 一种用于测试薄膜材料的新型摩擦磨损试验机 | |
CN209894095U (zh) | 一种轴类零件外径快速检测装置 | |
CN213022917U (zh) | 一种中子反射谱仪的光路结构 | |
CN207132992U (zh) | 温度传感器测试工装及温度传感器测试系统 | |
CN208026213U (zh) | 一种圆柱体零件表面直线度检测装置 | |
CN111122613A (zh) | 一种中子反射谱仪的光路结构 | |
Deslattes | Single axis, two crystal x‐ray instrument | |
EP0853807B1 (en) | Apparatus for inspecting nuclear fuel assemblies | |
Aisa et al. | Mirror system of the RICH detector of the NA62 experiment | |
CN210135858U (zh) | 一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置 | |
CN216283314U (zh) | 一种二维导轨直线度和垂直度测试装置 | |
CN107228757B (zh) | 基于光测法的移动副粘滑摩擦特性动态测试系统 | |
CN112240755B (zh) | 一种用于高精度高表面底板的非接触检测载台 | |
CN212059196U (zh) | 一种检测cvd钻石应力分布的装置 | |
CN112611542B (zh) | 一种用于激光动态目标毁伤能力测试的靶标装置 | |
CN209570527U (zh) | 一种车载ct无损检测系统 | |
US4506158A (en) | Dual mode spectrometer test station | |
CN112198139A (zh) | 一种基于线激光的液体折射率测量装置 | |
CN219552229U (zh) | 一种检查色差的显微镜架台 | |
CN207650120U (zh) | 表面缺陷检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |