CN211977861U - 一种光学器件高精度组装检测的预推机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学器件高精度组装检测的预推机构，安装在一检测机上的牢固性检测工位处，包括：底座以及安装在所述底座上的：能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台、设于所述预推组件产品放置平台邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件以及用于清洗预推头的下推头清洗组件；所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件运行的预推组件控制部。本实用新型的结构检测过程，全自动快速完成，检测稳定性好，洁净度高，检测精度得到保证，大大满足生产的需求。

Description

一种光学器件高精度组装检测的预推机构

技术领域

本实用新型涉及自动化设备技术领域，具体的说是涉及一种光学器件高精度组装检测的预推机构。

背景技术

光学器件，包括摄像头镜框和镜片，摄像头镜框和镜片组装后，需要对组装后的成品结合的牢固性及组装成品高度偏移的检测。传统的检测方式是通过人工逐一在检测机上进行检测，检测效率低。

摄像头镜框和镜片组装后，需要对组装成品的牢固性检测，而传统的检测方式是人工单一检测，检测效率低。因此，有必要研发一种光学器件高精度组装检测的预推机构自动检测牢固性来解决上述技术问题。

实用新型内容

针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种光学器件高精度组装检测的预推机构，旨在提高检测效率。

为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：本实用新型的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，安装在一检测机上的牢固性检测工位处，包括：

底座以及安装在所述底座上的：能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台、设于所述预推组件产品放置平台邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件以及用于清洗预推头的下推头清洗组件；

所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件运行的预推组件控制部。

进一步的，所述底座为大理石材质的底座。

进一步的，所述预推组件产品放置平台包括：

第一安装支撑架，固立于所述底座上；

预推平台Y轴机构，设置于所述第一安装支撑架的顶端，其动力源为第一电机，第一电机的驱动端连接第一丝杆且其驱动所述第一丝杆旋转；

预推平台X轴机构，其底部的安装座滑接于两条第一直线导轨上且该安装座旋接于所述第一丝杆，所述第一丝杆旋转驱动所述预推平台X轴机构做Y轴向运动，所述预推平台X轴机构的动力源为第二电机，第二电机的驱动端连接第二丝杆且其驱动所述第二丝杆旋转；

预推平台Z轴机构，其下底座滑接于两条第二直线导轨上且该下底座旋接于所述第二丝杆，所述第二丝杆旋转驱动所述预推平台Z轴机构做X轴向移动，所述预推平台Z轴机构的动力源为第三电机，所述第三电机驱动一顶部为上斜面的第一斜块移动，所述下底座的四角通过导柱连接有平台安装板，所述平台安装板下端面设有与所述第一斜块配合的第二斜块，所述第二斜块下端设有与所述上斜面配合的下斜面，所述上斜面的移动能够驱动所述下斜面带动所述平台安装板做升降运动；

预推平台，呈梳状结构，其柄部水平安装于所述平台安装板上，其梳状部向外延伸形成悬接结构。

进一步的，所述预推上下施压测试组件包括：

第二安装支撑架，设有底板以及安装所述底板两侧相对的立板，在两个立板之间设有横向支撑板，所述底板固定在所述底座上，所述第二安装支撑架顶端安装所述预推组件控制部；

施压测试Y轴机构，设置于所述底板上，其动力源为第四电机，所述第四电机驱动一第四丝杆驱动一施压测试Z轴机构做Y轴向运动，其活动部顶端板面上设置有两条Y向并行的第三直线导轨以及设置在所述两条Y向并行的第三直线导轨外侧的四块立柱，四块立柱外侧均设置有Z向导轨；

施压测试Z轴机构，包括动力源为第五电机的驱动部，第五电机的驱动端连接第五丝杆，第五丝杆上螺接有第三斜块，所述施压测试Z轴机构还包括升降连接座，所述升降连接座的两个侧部连接有滑接在所述Z向导轨上的四个升降侧板，其下底面设有与所述第三斜块配合的第四斜块，所述第五电机驱动第五丝杆旋转带动所述第三斜块运动，所述第三斜块驱动第四斜块升降进而带动所述升降连接座做升降运动；

预推头组件，包括左中右排布且垂直于所述升降连接座上板面的导轨座和多个预压气缸，其中，左右侧的导轨座与中间的导轨座相向面设有若干相对的Z轴导轨，所述多个预压气缸设于左中右导轨座之间的间隙处，其驱动端朝上且固立于所述升降连接座上板面，各预压气缸的驱动端连接有预推头，所述预推头上端连接有力传感器，所述预推头侧滑接于所述Z轴导轨上，一压板座接于各力传感器上；

一校正板，置于所述压板上方；

多组位移传感器，通过传感座穿设在横向支撑板上，其下端连接所述校正板。

进一步的，所述下推头清洗组件包括：

第三安装支撑架，可调节的安装在所述底座上板面；

清洗气缸驱动部，包括清洗气缸、活动座组件，所述活动座组件通过两条轨道滑接于所述第三安装支撑架的顶端，其侧向连接所述清洗气缸的驱动端；

清洗机，可调节的安装在所述活动座组件上，其清洗头能够移动至预推上下施压测试组件上的预推头进行清洗。

进一步的，所述清洗机为等离子清洗机。

相对于现有技术，本实用新型的有益效果是：本实用新型的预推机构主要用于手机摄像镜头的镜框与镜片组装后牢固性及稳定性的检测。本实用新型设置了12组独立检测检测结构同时对12个组装成品镜片的检查，XYZ轴根据实际需可自动调节；接触产品的下推头Z轴方向采用伺服电机加丝杆和低摩擦气缸控制，下推头上下运行设有导轨加滑块，确保推头上下运动稳定性和平衡性。下推头设有力传感器检测侧推力的大小，下推头采用陶瓷材料，与产品接触面亮光这面，表面粗糙度达0.05mm，边缘采用倒小圆角R0.5mm。校正基板置于上方，结构采用沉头通孔式，便于位移传感器接触镜片的检测，检测精度达到±3μm；材料采用航空铝和白色塞钢，将圆环白色塞钢镶嵌于长方形铝板上的圆沉头孔内，与组装成品的镜框接触面平面度达0.005mm；为了保证检测洁净度，每次测试前都将下推头进行等离子清洗。此结构检测过程，全自动快速完成，检测稳定性好，洁净度高，检测精度得到保证，大大满足生产的需求。

附图说明

图1为本实用新型预推机构的总装图。

图2为本实用新型预推组件产品放置平台结构示意图。

图3为本实用新型预推上下施压测试组件的结构示意图。

图4为本实用新型下推头清洗组件的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。显然，本实用新型所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，下面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

实施例1：本实用新型的具体结构如下：

请参照附图1-4，本实用新型的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，安装在一检测机上的牢固性检测工位处，包括：

底座1以及安装在所述底座1上的：能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台2、设于所述预推组件产品放置平台2邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台2上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件3以及用于清洗预推头的下推头清洗组件4；

所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件3运行的预推组件控制部5。

本实施例的一种优选技术方案：所述底座1为大理石材质的底座。

本实施例的一种优选技术方案：所述预推组件产品放置平台2包括：

第一安装支撑架201，固立于所述底座1上；

预推平台Y轴机构202，设置于所述第一安装支撑架201的顶端，其动力源为第一电机，第一电机的驱动端连接第一丝杆且其驱动所述第一丝杆旋转；

预推平台X轴机构203，其底部的安装座滑接于两条第一直线导轨上且该安装座旋接于所述第一丝杆，所述第一丝杆旋转驱动所述预推平台X轴机构203做Y轴向运动，所述预推平台X轴机构203的动力源为第二电机，第二电机的驱动端连接第二丝杆且其驱动所述第二丝杆旋转；

预推平台Z轴机构204，其下底座滑接于两条第二直线导轨上且该下底座旋接于所述第二丝杆，所述第二丝杆旋转驱动所述预推平台Z轴机构204做X轴向移动，所述预推平台Z 轴机构204的动力源为第三电机，所述第三电机驱动一顶部为上斜面的第一斜块移动，所述下底座的四角通过导柱连接有平台安装板，所述平台安装板下端面设有与所述第一斜块配合的第二斜块，所述第二斜块下端设有与所述上斜面配合的下斜面，所述上斜面的移动能够驱动所述下斜面带动所述平台安装板做升降运动；

预推平台205，呈梳状结构，其柄部水平安装于所述平台安装板上，其梳状部向外延伸形成悬接结构。

本实施例的一种优选技术方案：所述预推上下施压测试组件3包括：

第二安装支撑架209，设有底板以及安装所述底板两侧相对的立板，在两个立板之间设有横向支撑板，所述底板固定在所述底座1上，所述第二安装支撑架209顶端安装所述预推组件控制部5；

施压测试Y轴机构214，设置于所述底板上，其动力源为第四电机，所述第四电机驱动一第四丝杆驱动一施压测试Z轴机构210做Y轴向运动，其活动部顶端板面上设置有两条Y向并行的第三直线导轨以及设置在所述两条Y向并行的第三直线导轨外侧的四块立柱，四块立柱外侧均设置有Z向导轨；

施压测试Z轴机构210，包括动力源为第五电机的驱动部，第五电机的驱动端连接第五丝杆，第五丝杆上螺接有第三斜块，所述施压测试Z轴机构210还包括升降连接座，所述升降连接座的两个侧部连接有滑接在所述Z向导轨上的四个升降侧板，其下底面设有与所述第三斜块配合的第四斜块，所述第五电机驱动第五丝杆旋转带动所述第三斜块运动，所述第三斜块驱动第四斜块升降进而带动所述升降连接座做升降运动；

预推头组件206，包括左中右排布且垂直于所述升降连接座上板面的导轨座和多个预压气缸，其中，左右侧的导轨座与中间的导轨座相向面设有若干相对的Z轴导轨，所述多个预压气缸设于左中右导轨座之间的间隙处，其驱动端朝上且固立于所述升降连接座上板面，各预压气缸的驱动端连接有预推头，所述预推头上端连接有力传感器，所述预推头侧滑接于所述Z轴导轨上，一压板座接于各力传感器上；

一校正板207，置于所述压板上方；

多组位移传感器208，通过传感座穿设在横向支撑板上，其下端连接所述校正板207。

本实施例的一种优选技术方案：所述下推头清洗组件4包括：

第三安装支撑架213，可调节的安装在所述底座1上板面；

清洗气缸驱动部211，包括清洗气缸、活动座组件，所述活动座组件通过两条轨道滑接于所述第三安装支撑架213的顶端，其侧向连接所述清洗气缸的驱动端；

清洗机212，可调节的安装在所述活动座组件上，其清洗头能够移动至预推上下施压测试组件3上的预推头进行清洗。

本实施例的一种优选技术方案：所述清洗机212为等离子清洗机。

实施例2：

预推组件产品放置平台2上的平台接取组装好的成品，通过XYZ轴伺服电机带动丝杆将接取产品运行到预推头组件206处，等离子清洗机对预推头进行清洗。

下置预推头Y向移动，伺服电机带动下推头清洗组件4做Y向移动，运行到平台的正下方，调整位置，气缸带动下置预推头Z向移动，将产品顶入基准板，气缸的压力控制在3N±1N；推头过压1.5mm，推头速度为0.005m/s，位置传感器将镜片的参考零点测出，推头保持不动，气缸压力控制在2.5±0.1Kgf；保压1.5s后位移传感器检测镜片的变形量来衡量镜框和镜片组装后的牢固性，之后预推平台将载已检测的产品退出。

以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种光学器件高精度组装检测的预推机构，安装在一检测机上的牢固性检测工位处，其特征在于，包括：

底座(1)以及安装在所述底座(1)上的：能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台(2)、设于所述预推组件产品放置平台(2)邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台(2)上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件(3)以及用于清洗预推头的下推头清洗组件(4)；

所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件(3)运行的预推组件控制部(5)。

2.根据权利要求1所述的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，其特征在于，所述底座(1)为大理石材质的底座。

3.根据权利要求1所述的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，其特征在于，所述预推组件产品放置平台(2)包括：

第一安装支撑架(201)，固立于所述底座(1)上；

预推平台Y轴机构(202)，设置于所述第一安装支撑架(201)的顶端，其动力源为第一电机，第一电机的驱动端连接第一丝杆且其驱动所述第一丝杆旋转；

预推平台X轴机构(203)，其底部的安装座滑接于两条第一直线导轨上且该安装座旋接于所述第一丝杆，所述第一丝杆旋转驱动所述预推平台X轴机构(203)做Y轴向运动，所述预推平台X轴机构(203)的动力源为第二电机，第二电机的驱动端连接第二丝杆且其驱动所述第二丝杆旋转；

预推平台Z轴机构(204)，其下底座滑接于两条第二直线导轨上且该下底座旋接于所述第二丝杆，所述第二丝杆旋转驱动所述预推平台Z轴机构(204)做X轴向移动，所述预推平台Z轴机构(204)的动力源为第三电机，所述第三电机驱动一顶部为上斜面的第一斜块移动，所述下底座的四角通过导柱连接有平台安装板，所述平台安装板下端面设有与所述第一斜块配合的第二斜块，所述第二斜块下端设有与所述上斜面配合的下斜面，所述上斜面的移动能够驱动所述下斜面带动所述平台安装板做升降运动；

预推平台(205)，呈梳状结构，其柄部水平安装于所述平台安装板上，其梳状部向外延伸形成悬接结构。

4.根据权利要求1所述的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，其特征在于，所述预推上下施压测试组件(3)包括：

第二安装支撑架(209)，设有底板以及安装所述底板两侧相对的立板，在两个立板之间设有横向支撑板，所述底板固定在所述底座(1)上，所述第二安装支撑架(209)顶端安装所述预推组件控制部(5)；

施压测试Y轴机构(214)，设置于所述底板上，其动力源为第四电机，所述第四电机驱动一第四丝杆驱动一施压测试Z轴机构(210)做Y轴向运动，其活动部顶端板面上设置有两条Y向并行的第三直线导轨以及设置在所述两条Y向并行的第三直线导轨外侧的四块立柱，四块立柱外侧均设置有Z向导轨；

施压测试Z轴机构(210)，包括动力源为第五电机的驱动部，第五电机的驱动端连接第五丝杆，第五丝杆上螺接有第三斜块，所述施压测试Z轴机构(210)还包括升降连接座，所述升降连接座的两个侧部连接有滑接在所述Z向导轨上的四个升降侧板，其下底面设有与所述第三斜块配合的第四斜块，所述第五电机驱动第五丝杆旋转带动所述第三斜块运动，所述第三斜块驱动第四斜块升降进而带动所述升降连接座做升降运动；

预推头组件(206)，包括左中右排布且垂直于所述升降连接座上板面的导轨座和多个预压气缸，其中，左右侧的导轨座与中间的导轨座相向面设有若干相对的Z轴导轨，所述多个预压气缸设于左中右导轨座之间的间隙处，其驱动端朝上且固立于所述升降连接座上板面，各预压气缸的驱动端连接有预推头，所述预推头上端连接有力传感器，所述预推头侧滑接于所述Z轴导轨上，一压板座接于各力传感器上；

一校正板(207)，置于所述压板上方；

多组位移传感器(208)，通过传感座穿设在横向支撑板上，其下端连接所述校正板(207)。

5.根据权利要求1所述的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，其特征在于，所述下推头清洗组件(4)包括：

第三安装支撑架(213)，可调节的安装在所述底座(1)上板面；

清洗气缸驱动部(211)，包括清洗气缸、活动座组件，所述活动座组件通过两条轨道滑接于所述第三安装支撑架(213)的顶端，其侧向连接所述清洗气缸的驱动端；

清洗机(212)，可调节的安装在所述活动座组件上，其清洗头能够移动至预推上下施压测试组件(3)上的预推头进行清洗。

6.根据权利要求5所述的一种光学器件高精度组装检测的预推机构，其特征在于，所述清洗机(212)为等离子清洗机。

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