CN211955670U - 用于增加静区尺寸的测量系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于增加静区尺寸的测量系统，包括：馈源、反射装置、支撑反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；馈源包括馈源天线；反射装置包括反射面；馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；并且，馈源天线为波纹天线。本实用新型中，无论被测件如何旋转，均能保证被测件处于静区范围内，进而提高了被测件测量的准确度。

Description

用于增加静区尺寸的测量系统

技术领域

本实用新型涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种用于增加静区尺寸的测量系统。

背景技术

目前，通常采用矩形喇叭天线作为紧缩场测试的馈源，将矩形喇叭天线的相位中心与反射面的曲面焦点重合，进行天线测试。但在天线测试过程中发现，测试结果并不准确。对于本领域的技术人员而言,测量结果的准确性非常重要，例如被测件天线的增益、方向图等参数，天线参数的测量结果的准确性直接影响了使用天线系统的整体性能。

实用新型内容

为至少在一定程度上解决上述问题，本实用新型提供一种用于增加静区尺寸的测量系统。

本实用新型公开了一种用于增加静区尺寸的测量系统，包括：

馈源、反射装置、支撑所述反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；

所述馈源包括馈源天线；

所述反射装置包括反射面；

所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面的曲面的焦点；

并且，所述馈源天线为波纹天线，在所述天线的内壁设置有波纹槽。

进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线形成有静区，所述静区的横截面为类圆形。

进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线与所述静区连接的路径上设置有第一吸波部；

所述第一吸波部用于阻止所述波纹天线的旁瓣能量辐射至所述静区。

进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线的后部还设置有第二吸波部；

所述第二吸波部用于吸收所述波纹天线的后瓣的能量辐射，防止能量漏射至所述静区。

进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线的还连接有第一滑轨和第二滑轨；

所述第一滑轨用于供所述波纹天线做升降运动；

所述第二滑轨用于供所述波纹天线做沿其轴线方向的前后运动；

通过所述波纹天线在所述第一滑轨和第二滑轨的相对运动调整馈源的位置，使所述馈源天线的相位中心在所述反射面的曲面的焦点。

进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线具有E面的角度-幅度关系曲线与H面的角度-幅度关系曲线；并且，所述E面的角度-幅度关系曲线与所述H面的角度-幅度关系曲线重合。

本实用新型中，采用紧缩场对被测天线进行测试，紧缩场中的馈源为波纹天线，波纹天线的E面和H面在角度和幅度关系的二维图像中，是两条基本重合的曲线，如果仍以1dB为划定静区尺寸的阈值，则波纹天线的静区的横截面接近类圆形，只要保证被测件最长尺寸小于或等于该类圆形的直径，则无论被测件如何旋转，均能保证该被测件处于静区范围内，进而提高了被测件测量的准确度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本实用新型。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。

图1为现有技术中矩形喇叭天线的方向图；

图2为现有技术采用矩形喇叭天线进行紧缩场测试时，静区空间示意图；

图3为矩形喇叭天线的静区形状示意图；

图4为本实用新型中波纹天线的方向图；

图5为波纹天线静区形状示意图；

图6为本实用新型用于增加静区尺寸的测量系统实施例的结构示意图；

图7为本实用新型用于增加静区尺寸的测量系统实施例中，波纹喇叭天线的结构示意图。

其中：

1 馈源

2 反射面

3 支撑装置

4 转台

5 被测天线

6 波纹喇叭天线

7 波纹槽

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

方向图的定义中有E面和H面之分。通常E面是指电场所在方向和辐射最大方向组成的平面，而H面指的是磁场所在方向和辐射最大方向组成的平面。在研究紧缩场测试准确度时，申请人发现：

第一、现有技术中，矩形喇叭天线的E面和H面在角度和幅度的二维图像中，是两条不重合的曲线。参照图1所示，图1为现有技术中矩形喇叭天线的方向图，可以看出E/H面方向图幅度不对称。参照图2，图2为现有技术采用矩形喇叭天线进行紧缩场测试时，静区空间QZ的示意图，图3为矩形喇叭天线的静区形状示意图，若以1dB为划定静区尺寸的阈值，则矩形喇叭天线的静区QZ的横截面为宽度小于长度的类似椭圆形，这样的静区难以测量尺寸较高的被测件。

第二、申请人对波纹天线进行测试，参照图4，图4为波纹天线的方向图，波纹天线的E面和H面在角度和幅度的二维图像中，是两条基本重合的曲线。参照图5，图5为波纹天线的静区形状示意图。如果仍以1dB为划定静区尺寸的阈值，则波纹天线的静区的横截面接近类圆形。

从图5可以看出，只要保证被测件最长尺寸小于或等于类圆形的直径，则无论被测件如何旋转，均能保证该被测件处于静区范围内。

基于以上发现，为了通过增大静区尺寸使得被测件在旋转测试过程中始终处于静区内，申请人提出了本实用新型用于增加静区尺寸的测量系统和方法。

参照图6，图6为本实用新型用于增加静区尺寸的测量系统实施例的结构示意图。

本实施例用于增加静区尺寸的测量系统包括：馈源1、反射装置2、支撑反射装置2的支撑部3，以及用于承载被测件的转台4，以及，被测天线5。

馈源1包括馈源天线。反射装置2包括反射面。馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点。并且，馈源天线为波纹天线。在本实施例中，为波纹天线采用波纹喇叭天线，波纹喇叭天线的E面的角度-幅度关系曲线与H面的角度-幅度关系曲线重合；波纹天线的静区的横截面为类圆形。

参照图7，图7为本实用新型用于增加静区尺寸的测量系统实施例中，波纹喇叭天线6的结构示意图。

波纹喇叭天线6是喇叭天线的一种，是在喇叭天线6的内壁中嵌入了波纹槽7之后形成的一种天线，具有该结构的天线就具有了轴对称的方向图，各辐射面具有几乎重合的近似相位中心，较低的交叉极化电平和副瓣电平，以及旋转对称的辐射方向图。

在一个优选的实施例中，所述波纹天线与所述静区连接的路径上设置有第一吸波部；所述第一吸波部用于阻止所述波纹天线的旁瓣能量辐射至所述静区。显然，第一吸波部的设置可以更加有效的减少旁瓣能量对静区的影响，优化静区性能，提高测试精度。

进一步优选地，所述波纹天线的后部还设置有第二吸波部；所述第二吸波部用于吸收所述波纹天线的后瓣的能量辐射，防止能量漏射至所述静区。类似地，第二吸波部的设置也可以有效的减少后瓣能量对静区的影响，优化静区性能，提高测试精度。

所述波纹天线的还连接有第一滑轨和第二滑轨；所述第一滑轨用于供所述波纹天线做升降运动；所述第二滑轨用于供所述波纹天线做沿其轴线方向的前后运动；通过所述波纹天线在所述第一滑轨和第二滑轨的相对运动调整馈源的位置，使所述馈源天线的相位中心在所述反射面的曲面的焦点。

因为支持不同频率段的馈源的尺寸是不同的，相应的馈源相位中心的位置也会发生变化。因此，本实施例在波纹天线的后端配套有作为第一滑轨的升降直线滑轨、以及作为第二滑轨的前后直线滑轨，通过调节馈源在这两轴线性滑轨上的位置来优化保证馈源的相位中心在反射面的曲面焦点位置。

基于上述测量系统实施例，用于增加静区尺寸的测量方法具体包括如下步骤：

S1，搭建用于增加静区尺寸的测量系统；

其中，测量系统包括馈源、反射装置、支撑反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；馈源包括馈源天线；反射装置包括反射面；馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；并且，馈源天线为波纹天线；波纹天线E面的角度-幅度关系曲线与H面的角度-幅度关系曲线重合；波纹天线的静区的横截面为类圆形。

S2，确定测量系统的静区尺寸；

S3，在被测件的尺寸不超越静区尺寸的情况下，对被测件进行测试。

同样，基于本实施例，保证被测件最长尺寸小于或等于波纹天线类圆形静区的直径，则无论被测件如何旋转，均能保证该被测件处于静区范围内。由此，提高了被测件测试的准确度。

如上所述，保证被测件最长尺寸小于或等于波纹天线类圆形静区的直径，则无论被测件如何旋转，均能保证该被测件处于静区范围内。由此，提高了被测件测试的准确度。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (6)

1.一种用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，包括：

馈源、反射装置、支撑所述反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；

所述馈源包括馈源天线；

所述反射装置包括反射面；

所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面的曲面的焦点；

并且，所述馈源天线为波纹天线，在所述天线的内壁设置有波纹槽。

2.根据权利要求1所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，

所述波纹天线形成有静区，所述静区的横截面为类圆形。

3.根据权利要求2所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，

所述波纹天线与所述静区连接的路径上设置有第一吸波部；

所述第一吸波部用于阻止所述波纹天线的旁瓣能量辐射至所述静区。

4.根据权利要求3所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，

所述波纹天线的后部还设置有第二吸波部；

所述第二吸波部用于吸收所述波纹天线的后瓣的能量辐射，防止能量漏射至所述静区。

5.根据权利要求4所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，

所述波纹天线的还连接有第一滑轨和第二滑轨；

所述第一滑轨用于供所述波纹天线做升降运动；

所述第二滑轨用于供所述波纹天线做沿其轴线方向的前后运动；

通过所述波纹天线在所述第一滑轨和第二滑轨的相对运动调整馈源的位置，使所述馈源天线的相位中心在所述反射面的曲面的焦点。

6.根据权利要求5所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，

所述波纹天线具有E面的角度-幅度关系曲线与H面的角度-幅度关系曲线；并且，所述E面的角度-幅度关系曲线与所述H面的角度-幅度关系曲线重合。

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