CN211905462U - 一种半导体器件检测用四探针测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。该半导体器件检测用四探针测试仪，提高装置的稳定性，缩小装置占地面积，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性，提高测试架底板的减震效果，有效提高安装座上下移动时的平稳性。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体检测设备技术领域，具体为一种半导体器件检测用四探针测试仪。
背景技术
半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。
随着通信技术的迅速发展，半导体器件因其性能优异、体积小、重量轻等优点，在多个领域得到广泛的应用，为了确保产品性能合格、稳定可靠，因此需要对半导体器件进行检测，但是现有的半导体检测装置一般为分体式结构，占地面积较大，不方便摆放和整理，并且稳定性较差的缺点。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体器件检测用四探针测试仪，以解决上述背景技术中提出现有的半导体检测装置一般为分体式结构，占地面积较大，不方便摆放和整理，并且稳定性较差的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。
优选的，所述安装座前端依次固定连接有连接杆和测试头，所述垂直侧板内侧开设有滑动槽，所述滑动槽内滑动连接有滑动杆，所述滑动杆和另一滑动杆间固定连接有安装座。
优选的，所述测试仪本体后端和测试头间固定连接有连接线，所述测试架底板上端固定连接有测试平台，所述测试平台和测试头上下对齐，所述丝杆上端到顶板间的距离和滑动杆到滑动槽下端的距离均大于测试平台和测试头间的距离。
优选的，所述测试架底板左右两端均开设有卡槽，所述卡槽和卡块为卡合连接，且卡槽和卡块的宽度大于测试架底板宽度的一半。
优选的，所述卡块内侧开设有限位孔，所述限位孔内由内向外依次固定连接有限位弹簧和限位块，所述限位块外侧为半圆形结构，所述限位块和测试架底板为卡合连接。
优选的，所述测试仪本体前端设置有显示屏、按键和插孔。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、该半导体器件检测用四探针测试仪，通过卡块和卡槽的配合使用，便于将测试仪本体与测试架底板进行连接，提高装置的稳定性，且采用上下堆叠的方式进行摆放，缩小装置占地面积，实用性更强；
2、该半导体器件检测用四探针测试仪，测试仪本体与测试架底板为可拆卸的设计，便于根据使用的需要将测试仪本体与测试架底板进行固定或分离，实用性更强，且通过限位块的设计，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性；
3、该半导体器件检测用四探针测试仪，通过减震弹簧的设计，提高测试架底板的减震效果，且增设的滑动槽和滑动杆，有效提高安装座上下移动时的平稳性。
附图说明
图1为本实用新型立体结构示意图；
图2为本实用新型正面结构示意图；
图3为本实用新型侧面结构示意图；
图4为本实用新型俯视结构示意图。
图中：1、测试仪本体；2、减震弹簧；3、卡块；4、测试架底板；5、垂直侧板；6、顶板；7、螺纹孔；8、丝杆；9、固定座；10、安装座；11、连接杆；12、测试头；13、滑动槽；14、滑动杆；15、连接线；16、测试平台；17、卡槽；18、限位孔；19、限位弹簧；20、限位块；21、显示屏；22、按键；23、插孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体1、减震弹簧2、卡块3、测试架底板4、垂直侧板5、顶板6、螺纹孔7、丝杆8、固定座9、安装座10、连接杆11、测试头12、滑动槽13、滑动杆14、连接线15、测试平台16、卡槽17、限位孔18、限位弹簧19、限位块20、显示屏21、按键22和插孔23，测试仪本体1上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧2，测试仪本体1左右两侧上端均固定连接有卡块3，测试仪本体1上端活动连接有测试架底板4，测试架底板4上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板5，垂直侧板5和另一垂直侧板5间固定连接有顶板6，顶板6上开设有螺纹孔7，螺纹孔7内螺纹连接有丝杆8，丝杆8下端转动连接有固定座9，固定座9下端固定连接有安装座10；
进一步的，安装座10前端依次固定连接有连接杆11和测试头12，垂直侧板5内侧开设有滑动槽13，滑动槽13内滑动连接有滑动杆14，滑动杆14和另一滑动杆14间固定连接有安装座10，通过滑动杆14和滑动槽13的配合使用，提高安装座10上下滑动时的平稳性，结构简单，操作方便；
进一步的，测试仪本体1后端和测试头12间固定连接有连接线15，测试架底板4上端固定连接有测试平台16，测试平台16和测试头12上下对齐，丝杆8上端到顶板6间的距离和滑动杆14到滑动槽13下端的距离均大于测试平台16和测试头12间的距离，确保测试平台16上的半导体器件与测试头12的正常连接，保证检测工作的正常进行；
进一步的，测试架底板4左右两端均开设有卡槽17，卡槽17和卡块3为卡合连接，且卡槽17和卡块3的宽度大于测试架底板4宽度的一半，通过卡槽17和卡块3的卡合连接，确保测试架底板4和测试仪本体1间的牢固性；
进一步的，卡块3内侧开设有限位孔18，限位孔18内由内向外依次固定连接有限位弹簧19和限位块20，限位块20外侧为半圆形结构，限位块20和测试架底板4为卡合连接，对测试架底板4上端的位置进行限定，提高测试架底板4的稳定性；
进一步的，测试仪本体1前端设置有显示屏21、按键22和插孔23，通过显示屏21、按键22和插孔23的使用，便于对测试仪本体1进行操作。
工作原理：首先将测试仪本体1放在平稳的桌面上，然后根据使用的需要，将测试架底板4放在旁边的桌面上，或者放在测试仪本体1上方，将测试架底板两端的4卡槽17与测试仪本体1两端的卡块3对齐，向内推动限位块20，限位块20向内挤压限位弹簧19，同时向下推动测试架底板4，测试架底板4向下压缩减震弹簧2，直至测试架底板4低于限位块20，松开测试架底板4，卡块3插入卡槽17内，在限位弹簧19反弹力的作用，将限位块20向外推动，同时在减震弹簧2弹簧力的作用下将测试架底板4向上推动，限位块20与测试架底板4上端卡合连接，从而将测试架底板4和测试仪本体1固定，通过插孔23将测试仪本体1与电脑连接，将待检测的半导体器件放在测试平台16上，转动螺纹孔7内的丝杆8，丝杆8下端的固定座9将回转运动转化为直线运动，推动安装座10向下移动，安装座10两端的滑动杆14在滑动槽13内同步向下滑动，直至测试头12与半导体器件贴合时停止，配合显示屏21上显示的内容，通过按键22设定相应的参数，并开始检测，在电脑上显示检测的结果，最后取下半导体器件即可。
最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (6)
1.一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，其特征在于：所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用四探针测试仪，其特征在于：所述安装座前端依次固定连接有连接杆和测试头，所述垂直侧板内侧开设有滑动槽，所述滑动槽内滑动连接有滑动杆，所述滑动杆和另一滑动杆间固定连接有安装座。
3.根据权利要求2所述的一种半导体器件检测用四探针测试仪，其特征在于：所述测试仪本体后端和测试头间固定连接有连接线，所述测试架底板上端固定连接有测试平台，所述测试平台和测试头上下对齐，所述丝杆上端到顶板间的距离和滑动杆到滑动槽下端的距离均大于测试平台和测试头间的距离。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用四探针测试仪，其特征在于：所述测试架底板左右两端均开设有卡槽，所述卡槽和卡块为卡合连接，且卡槽和卡块的宽度大于测试架底板宽度的一半。
5.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用四探针测试仪，其特征在于：所述卡块内侧开设有限位孔，所述限位孔内由内向外依次固定连接有限位弹簧和限位块，所述限位块外侧为半圆形结构，所述限位块和测试架底板为卡合连接。
6.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用四探针测试仪，其特征在于：所述测试仪本体前端设置有显示屏、按键和插孔。
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