CN206096284U - 一种电容检测设备 - Google Patents

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吴宏
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Abstract

本实用新型公开了一种电容检测设备,包括多个固定模块、导电部、PCB导电部和电容两极,固定模块中摇杆与曲柄通过第一转轴相连,摇杆与支架通过第二转轴相连,曲柄的下部通过第三转轴与竖轴相连,竖轴穿设过支架的轴套并且可沿轴套内壁上下运动,竖轴的下方与滑块通过螺纹相连,滑块与第一垫块和第二垫块间分别通过两个螺杆相连且螺杆外套设有压簧,滑块上开设有供螺杆竖直运动的通孔;两垫块的下部均连接有导电部,导电部的正下方设有PCB导电部且导电部与PCB导电部留有一定距离,导电部和PCB导电部之间设有电容两级。本实用新型提供的电容检测设备能优化电容引脚固定方式,使电极接触良好、可靠,且能适用不同尺寸的电容。

Description

一种电容检测设备
技术领域
本实用新型涉及电容技术领域,尤其是一种电容检测设备。
背景技术
通常电容生产时,要进行耐压和电流等电气性能测试,现有的测试方法比较繁琐;另外在进行测试之后电容中会储存一些电量,为了保证安全和产品品质需要就其电容中的电量进行放电处理;但现有的放电工作台设计不合理,设计主要只有两个导电端与电容器电极接触,放电慢;且电容引脚与测试装置固定方式多为插接式,这种结构固定不牢,易因电极接触不良对测试精度造成影响;或者借助螺丝锁附方式固定,这种方式操作繁琐,且易因螺丝锁附而使电容引脚变形;此外,现有方案同一个工作台只能测单个电容,甚至测试和放电还是分两个工作台进行的,工作效率比较低。
专利号为CN 201420629400.4的国家专利公开了一种电容检测台,其包括固定台、滑动台和导轨,所述固定台与导轨固定连接,滑动台与导轨滑动连接并可在导轨上移动;滑动台由绝缘台体和固定在所述绝缘台体上的左导电芯和右导电芯组成,左导电芯和右导电芯的端部各设有插片,固定台上设有可与所述插片插接配合的两个插入槽;左导电芯和右导电芯上各设有一个电容引脚插槽;固定台上设置有电压表和放电电阻,所述电压表与所述两个插入槽分别用电线连接,放电电阻的两端与所述两个插入槽分别用电线连接,所述放电电阻的一端的电线上设有开关。此技术方案存在一定的缺陷:1.此方案电容引脚固定方式不可靠,易因两极接触不良对测量精度造成影响;2.此方案易因插槽尺寸对所测电容引脚大小造成限制,工作台通用性较差;3.此方案电容引脚采用插片(图1所示部位6)顶死方式,易对电容两极造成破坏。
专利号为CN201220427819.2的国家专利公开了一种电容电压检测台,其包括固定座,固定座上一端固装有固定块,另一端上活动安装有滑块,固定块和滑块上均固装有金属支架,金属支架下端通过电线连接检测仪器上,固定座上设有长条形固定槽,滑块上设有固定螺栓与固定槽配合。此技术方案也存在一定的缺陷:1.电容安装方式较繁琐,工作效率较低;2.电容两极易因螺丝滑牙等问题锁附不牢而造成接触不良,影响精度。
实用新型内容
为解决上述问题,本实用新型提出了一种电容检测设备,能优化电容引脚固定方式,使电极接触良好、可靠,且能适用不同尺寸的电容,减少资源浪费。
本实用新型的技术方案为:一种电容检测设备,包括多个固定模块、导电部、PCB导电部和电容两极,所述每一固定模块包括摇杆、曲柄、第一转轴、第二转轴、第三转轴、竖轴、支架、螺杆、滑块、压簧、第一垫块和第二垫块,所述摇杆与曲柄通过第一转轴相连,所述摇杆与支架通过第二转轴相连,所述曲柄的下部通过第三转轴与竖轴相连,所述竖轴穿设过支架的轴套并且可沿轴套内壁上下运动,所述竖轴的下表面开设有螺孔且与滑块通过螺纹相连,所述滑块与第一垫块之间通过两个螺杆相连且螺杆外套设有至少一个压簧,所述滑块与第二垫块之间通过两个螺杆相连且螺杆外套设有至少一个压簧,所述滑块上开设有供螺杆竖直运动的通孔;所述第一垫块和第二垫块的下部均连接有导电部,所述导电部的正下方设有PCB导电部且导电部与PCB导电部留有一定距离,所述导电部和PCB导电部之间设有电容两级。
优选地,所述固定模块为12个。
优选地,所述第一垫块与第二垫块在同一平面上平行设置。
优选地,所述压簧一直处于被压缩状态。
优选地,所述导电部与PCB导电部分别通过导线与测试主板相连。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:本实用新型滑块和垫块之间由于存在一定距离,当电容两极尺寸变大时,可通过垫块向上压缩弹簧,从而完美兼容各种尺寸的引脚,减少资源浪费;由于电容两极同时与垫块导电部、PCB导电部接触,可进一步保证电容接电安全可靠,并提高检测精度。此外,电容接电采用上下两片式接触方式,增加了电容引脚接触面积,有利于提高检测时电容充、放电速度,提高检测工作效率;本实用新型电容检测设备还能同时检测多组电容,适合批量化作业;本实用新型电容检测设备通过优化结构,也避免了电容引脚预紧力过大而造成破坏。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
图2为本实用新型的固定模块主视图。
图3为本实用新型的固定模块立体图。
图4为本实用新型的原理结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图以及具体实施方式,对本实用新型做进一步说明。
如图1所示,一种电容检测设备,包括12个固定模块1,并可支持12组电容同时测试。
如图2、图3所示,每一固定模块1包括摇杆11、曲柄13、第一转轴12、第二转轴20、第三转轴14、竖轴15、支架16、螺杆17、滑块18、压簧19、第一垫块21和第二垫块22。其中摇杆11与曲柄13通过第一转轴12相连,摇杆11与支架16通过第二转轴20相连,曲柄13的下部通过第三转轴14与竖轴15 相连,竖轴15穿设过支架16的轴套并且可沿轴套内壁上下运动,竖轴15的下表面开设有螺孔且与滑块18通过螺纹相连,滑块18与第一垫块21之间通过两个螺杆17相连且螺杆17外套设有至少一个压簧19,滑块18与第二垫块22之间通过两个螺杆17相连且螺杆17外套设有至少一个压簧19,压簧19一直处于被压缩状态,第一垫块21与第二垫块22在同一平面上平行设置,滑块18上开设有供螺杆17竖直运动的通孔。
第一垫块21和第二垫块22的下部均连接有导电部41,导电部41的正下方设有PCB导电部42且导电部41与PCB导电部42留有一定距离,导电部41和PCB导电部42之间设有电容两级。导电部41与PCB导电部42分别通过导线与测试主板相连。
本实用新型工作原理:安装电容时,先将电容两极分别置于导电部41、PCB导电部42之间,并用手顺时针拨动摇杆11,摇杆11转动的同时带动曲柄13分别绕第一转轴12、第三转轴14向下转动,并使竖轴15随之向下运动(参照图4的左图)。当竖轴15带着滑块18、第一垫块21、第二垫块22整体往下运动到最低端,垫块导电部41、PCB导电部42接触到电容两极时,滑块18开始沿着螺杆17继续向下运动并压缩压簧19,直到摇杆11运动到竖直位置;此时,由于第一转轴12、第二转轴20、第三转轴14这三个绞点自上而下处在同一条直线上(如图4的右图),且各点受力均沿竖直方向,作用力与运动方向垂直,故不存在水平方向分力,曲柄13机构达到自锁状态。达到自锁状态后,滑块18也处于最低端,并持续压缩压簧19,给予电容两极最大的预紧力,从而保证电容检测过程两极接触可靠。
本实用新型滑块和垫块之间由于存在一定距离,当电容两极尺寸变大时,可通过垫块向上压缩弹簧,从而完美兼容各种尺寸的引脚,减少资源浪费;由于电容两极同时与垫块导电部41、PCB导电部42接触,可进一步保证电容接电安全可靠,并提高检测精度。此外,电容接电采用上下两片式接触方式,增加了电容引脚接触面积,有利于提高检测时电容充、放电速度,提高检测工作效率;本实用新型电容检测设备能同时检测多组电容,适合批量化作业;本实用新型电容检测设备通过优化结构,也避免了电容引脚预紧力过大而造成破坏。
上述的实施例仅为本实用新型的优选实施例,不能以此来限定本实用新型的权利范围,因此,依本实用新型申请专利范围所作的修改、等同变化、改进等,仍属本实用新型所涵盖的范围。

Claims (5)

1.一种电容检测设备,包括多个固定模块、导电部、PCB导电部和电容两极,其特征在于:所述每一固定模块包括摇杆、曲柄、第一转轴、第二转轴、第三转轴、竖轴、支架、螺杆、滑块、压簧、第一垫块和第二垫块,所述摇杆与曲柄通过第一转轴相连,所述摇杆与支架通过第二转轴相连,所述曲柄的下部通过第三转轴与竖轴相连,所述竖轴穿设过支架的轴套并且可沿轴套内壁上下运动,所述竖轴的下表面开设有螺孔且与滑块通过螺纹相连,所述滑块与第一垫块之间通过两个螺杆相连且螺杆外套设有至少一个压簧,所述滑块与第二垫块之间通过两个螺杆相连且螺杆外套设有至少一个压簧,所述滑块上开设有供螺杆竖直运动的通孔;所述第一垫块和第二垫块的下部均连接有导电部,所述导电部的正下方设有PCB导电部且导电部与PCB导电部留有一定距离,所述导电部和PCB导电部之间设有电容两级。
2.根据权利要求1所述的一种电容检测设备,其特征在于:所述固定模块为12个。
3.根据权利要求1所述的一种电容检测设备,其特征在于:所述第一垫块与第二垫块在同一平面上平行设置。
4.根据权利要求1所述的一种电容检测设备,其特征在于:所述压簧一直处于被压缩状态。
5.根据权利要求1所述的一种电容检测设备,其特征在于:所述导电部与PCB导电部分别通过导线与测试主板相连。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN107727985A (zh) * 2017-07-14 2018-02-23 东莞市创明电池技术有限公司 一种电芯短路测试机构及测试方法
CN116727298A (zh) * 2023-06-13 2023-09-12 湖南恩智测控技术有限公司 超级电容器测试分选装置及测试分选方法

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