CN211826301U - 老化测试设备 - Google Patents

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范振东
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王星
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Abstract

本实用新型提供了一种老化测试设备,包括设备本体、多个老化供电模组以及测试载具,设备本体内设置有多个测试工位,各老化供电模组对应设于各测试工位上,测试载具设于老化供电模组上,其中,测试载具包括壳体以及设于壳体内的充电模组,待测试产品装设于壳体上,并与充电模组连接,且充电模组与老化供电模组连接,以使老化供电模组对待测试产品进行充电,即通过老化供电模组对测试载具上的待测试产品进行自动充电,以对待测试产品进行老化测试,从而提高老化测试设备的老化供电测试效率;并且,在进行老化测试过程中不需人工测试,即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响,使测试结果的准确性更高。

Description

老化测试设备
技术领域
本实用新型涉及老化测试领域,特别涉及一种老化测试设备。
背景技术
目前,在产品的老化供电测试领域,行业内多采用老化架或老化塔等结构,并配合适配器以及数据线与产品一对一地直连,从而对产品进行老化供电测试。但是,由于现有的老化架、老化塔等结构均为数据线插拔方式,所以必须需要人工进行产品的插拔工作以及记录时间,导致测试的效率低,且人为因素对老化供电测试结果影响很大。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种老化测试设备,旨在提高老化测试设备的测试效率以及减少人为因素对老化供电测试结果的影响。
为实现上述目的,本实用新型提出了一种老化测试设备,所述老化测试设备包括:
设备本体,所述设备本体内设置有多个测试工位;
多个老化供电模组,各所述老化供电模组对应设于各所述测试工位上;
测试载具,所述测试载具设于所述老化供电模组上;
其中,所述测试载具包括壳体以及设于所述壳体内的充电模组,待测试产品装设于所述壳体上,并与所述充电模组连接,且所述充电模组与所述老化供电模组连接,以使所述老化供电模组对所述待测试产品进行充电。
可选地,所述壳体上设有多个用于安装所述待测试产品的安装孔,所述充电模组包括充电板以及设于所述充电板上的多个充电转接头,各所述充电转接头对应设于各所述安装孔处,且所述待测试产品插设于所述充电转接头上。
可选地,所述老化供电模组包括:
支撑底板;
限位块,所述限位块连接于所述支撑底板上,且所述充电模组设于所述限位块背离所述支撑底板的一侧,其中,所述限位块与所述支撑底板围合形成容纳腔;
充电件,所述充电件设于所述容纳腔内并与所述支撑底板连接,且所述充电件与所述充电模组电连接。
可选地,所述充电件包括充电转接板以及供电探针,所述充电转接板连接于所述支撑底板上,所述供电探针的一端连接于所述充电转接板背离所述支撑底板的一侧,所述供电探针的另一端与所述充电板接触,使所述充电转接板与所述充电板导通。
可选地,所述老化供电模组还包括开关电源,所述开关电源与所述充电转接板电连接,使所述开关电源通过所述充电转接板向所述充电板供电。
可选地,所述充电转接头的外镀有一层保护膜。
可选地,多个所述老化供电模组呈多层矩阵式排列。
可选地,所述设备本体的一侧面上设有上料口,所述老化测试设备还包括上料模组,所述上料模组设于所述上料口处,且所述测试载具置于所述上料模组上,以将所述测试载具通过所述上料模组运送至所述设备本体内。
可选地,所述老化测试设备还包括设于所述设备本体内的搬运模组,所述搬运模组用于将所述上料模组上的所述测试载具搬运至所述测试工位上。
可选地,所述设备本体的另一侧面上设有下料口,所述老化测试设备还包括下料模组,所述下料模组设于所述下料口处,所述搬运模组用于将所述测试工位上的所述测试载具搬运至所述下料模组上,并通过所述下料模组将所述测试载具运送至所述设备本体外。
本实用新型提供了一种老化测试设备,所述老化测试设备包括设备本体、多个老化供电模组以及测试载具,所述设备本体内设置有多个测试工位,各所述老化供电模组对应设于各所述测试工位上,所述测试载具设于所述老化供电模组上,其中,所述测试载具包括壳体以及设于所述壳体内的充电模组,待测试产品装设于所述壳体上,并与所述充电模组连接,且所述充电模组与所述老化供电模组连接,以使所述老化供电模组对所述待测试产品进行充电。即本实用新型提供的技术方案通过所述老化供电模组对所述测试载具上的待测试产品进行自动充电,以对所述待测试产品进行老化测试,从而提高老化测试设备的老化供电测试效率;并且,在进行老化测试过程中不需人工测试,即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响,使测试结果的准确性更高。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或示例性中的技术方案,下面将对实施例或示例性描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例老化测试设备的结构示意图;
图2为本实用新型实施例测试载具的结构示意图;
图3为本实用新型实施例充电模组的结构示意图;
图4为本实用新型实施例充电模组与老化供电模组的连接示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
如图1~4所示,本实用新型提供了一种老化测试设备。
在一实施例中,如图1所示,所述老化测试设备包括设备本体1、多个老化供电模组2以及测试载具3。其中,所述设备本体1内设置有多个测试工位(图未标注),各所述老化供电模组2对应设于各所述测试工位上,所述测试载具3设于所述老化供电模组2上。
进一步地,所述测试载具3用于安装待测试产品,上述待测试产品可以为充电盒、耳机等无线充电产品。所述老化供电模组2用于对所述测试载具3上安装的待测试产品进行老化测试。具体地,如图2和图3所示,所述测试载具3包括壳体31以及设于所述壳体31内的充电模组32,待测试产品装设于所述壳体31上,并与所述充电模组32连接,且所述充电模组32与所述老化供电模组2连接,以使所述老化供电模组2对所述待测试产品进行充电。本实施例中通过将所述测试载具3设置在所述老化供电模组2上,即可通过所述老化供电模组2对所述测试载具3上的待测试产品进行自动充电,以对所述待测试产品进行老化测试,从而提高老化测试设备的老化供电测试效率;并且,在进行老化测试过程中不需人工测试,即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响,使测试结果的准确性更高。
可选地,所述测试工位设置的数量为多个,且多个所述测试工位在所述设备本体1内部呈多层矩阵式排列。由于,所述老化供电模组2设置在所述测试工位上,即所述老化供电模组2的数量与所述测试工位的数量相同,此时,每一所述测试工位上均对应设置一所述老化供电模组2,即多个所述老化供电模组2也呈多层矩阵式排列,以提高所述设备本体1内部的空间利用率使得在相同空间的前提下,本实施例的老化测试设备相比于现有的老化架、老化塔等结构,可以增加产品的测试数量,从而提高所述老化测试设备的测试效率。
可以理解的是,在其他实施例中,所述老化供电模组2的数量少于所述测试工位的数量,即所有的所述测试工位中存在有空闲的测试工位,此时,空闲的测试工位并不进行任何的测试操作。
在本实用新型的实施例中,所述老化测试设备包括设备本体1、多个老化供电模组2以及测试载具3,所述设备本体1内设置有多个测试工位,各所述老化供电模组2对应设于各所述测试工位上,所述测试载具3设于所述老化供电模组2上,其中,所述测试载具3包括壳体31以及设于所述壳体31内的充电模组32,待测试产品装设于所述壳体31上,并与所述充电模组32连接,且所述充电模组32与所述老化供电模组2连接,以使所述老化供电模组2对所述待测试产品进行充电。即本实用新型提供的技术方案通过所述老化供电模组2对所述测试载具3上的待测试产品进行自动充电,以对所述待测试产品进行老化测试,从而提高老化测试设备的老化供电测试效率;并且,在进行老化测试过程中不需人工测试,即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响,使测试结果的准确性更高。
在一实施例中,如图3所示,所述壳体31上设有多个用于安装所述待测试产品的安装孔311,所述充电模组32包括充电板321以及设于所述充电板321上的多个充电转接头322,各所述充电转接头322对应设于各所述安装孔311处,且所述待测试产品插设于所述充电转接头322上。本实施例中,虽然需要通过人工将待测试产品插设在所述充电转接头322中,但待测试产品在老化测试设备内进行测试时,并不需要人工参与测试,即老化测试过程不需人工参与测试,从而可以通过减少人为因素对老化供电测试结果的影响,以提高测试结果的准确性。
具体地,由于所述充电模组32设于所述壳体31内且所述充电转接头322对应于所述安装孔311的位置,即在所述待测试产品装设于所述安装孔311上时,所述待测试产品插接在所述充电转接头322上,从而使所述充电转接头322于所述充电板321连接。
可选地,所述充电转接头322的外镀有一层保护膜,上述保护膜由聚丙烯材料制成,其中,聚丙烯材料为具有软质感的塑料,以在所述待测试产品插设在所述充电转接头322后,可以避免所述充电转接头322划伤待测试产品的风险,增加所述待测试产品的使用寿命。
可以理解的是,在其他实施例中,所述充电转接头322还可以为其他的软质感的材料,在此并无限定。
进一步地,所述壳体31上设置有多个安装孔311,本实施例中所述安装孔311设置的数量为十个,即在所述壳体31上可安装十个待测试产品,且每一所述测试载具3的结构都相同,即每一所述测试载具3上均可安装十个待测试产品,并在所述老化供电模组2上同时进行自动充电操作,即通过增加每一所述测试载具3上的待测试产品,以提高老化测试设备的老化供电测试效率。
可以理解的是,在其他实施例中,所述安装孔311设置的数量还可以为其他数值,在此并无限定。
进一步地,如图4所示,所述老化供电模组2包括支撑底板21、限位块22以及充电件23,所述限位块22连接于所述支撑底板21上,且所述充电模组32设于所述限位块22背离所述支撑底板21的一侧,其中,所述限位块22与所述支撑底板21围合形成容纳腔24;所述充电件23设于所述容纳腔24内并与所述支撑底板21连接,且所述充电件23与所述充电模组32电连接。
具体地,所述限位块22上开设有通孔(图为标注),本实施例中所述限位块22固定在所述支撑底板21后,所述限位块22与所述支撑底板21围合形成容纳腔24,即所述容纳腔24位于所述通孔处,而所述容纳腔24以所述支撑底板21作为底部,此时,所述容纳腔24的腔体壁即为通孔的孔壁。由于所述充电模组32设于所述限位块22背离所述支撑底板21的一侧,即所述限位块22还用于对所述充电模组32的安装位置进行限位,以使所述容纳腔24内的所述充电件23能够与所述充电模组32导通,从而使所述充电件23对所述充电模组32进行充电操作。
进一步地,所述充电件23包括充电转接板231以及供电探针232,所述充电转接板231连接于所述支撑底板21上,所述供电探针232的一端连接于所述充电转接板231背离所述支撑底板21的一侧,所述供电探针232的另一端与所述充电板321接触,使所述充电转接板231与所述充电板321导通,从而使所述充电转接板231对所述充电板321进行充电操作。由于所述充电板321上设置用充电转接头322,且在所述充电转接头322上插设有所述待测试产品,即本实施例中所述充电转接板231对所述充电板321进行充电操作,即为所述充电转接板231对所述待测试产品进行充电操作,从而对待测试产品进行老化供电测试。本实施例中通过设置所述充电板321、所述充电转接板231以及所述供电探针232的供电模式,可以提高供电电流稳定性;并且该供电模式具备电流监控功能,一旦过程中电流值不在设定的范围内时即去启动报警,从而充分保证待测试产品所需供电条件的稳定性。
进一步地,为了能够使所述充电转接板231对所述充电板321进行充电操作,本实施例,所述老化供电模组2还包括开关电源(图为示),所述开关电源与所述充电转接板231电连接,使所述开关电源通过所述充电转接板231向所述充电板321供电,即实现所述充电转接板231对所述充电板321进行充电操作。
可以理解的是,由于所述老化供电模组2包括多个,即每一所述老化供电模组2均设置有独立的开关电源,每一开关电源独立控制所述老化供电模组2的供电。并且所有的开关电源均与老化测试设备的设备电源电连接,即所述开关电源可向上述设备电源中取电,并向通过所述充电转接板231向所述充电板321供电。
进一步地,请继续参照图1所示,所述设备本体1的一侧面上设有上料口(图为示),所述老化测试设备还包括上料模组4,所述上料模组4设于所述上料口处,且所述测试载具3置于所述上料模组4上,以将所述测试载具3通过所述上料模组4运送至所述设备本体1内,即所述上料模组4用于将所述测试载具3从所述设备本体1的外部运送至所述设备本体1的内部。
进一步地,为了能够将通过所述上料模组4运送至所述设备本体1内的待测试产品搬运至所述测试工位上。本实施例中所述老化测试设备还包括设于所述设备本体1内的搬运模组5,所述搬运模组5用于将所述上料模组4上的所述测试载具3搬运至所述测试工位上,以供所述老化供电模组2进行老化供电测试。
可选地,所述搬运模组5为三轴搬运模组,即可以在所述设备本体1内的空间沿着X轴、Y轴以及Z轴的方向移动,以可以将所述上料模组4上的所述测试载具3搬运至空置的所述测试工位上,进行老化供电测试。
可以理解的是,所述搬运模组5可以包括X轴运动组件、Y轴运动组件、Z轴运动组件以及多个拖爪等结构,其中,上述拖爪用于抓取所述测试载具3,以带动所述测试载具3在所述设备本体1内移动。至于,所述搬运模组5还可以包括其他结构,在此并不一一列举。
进一步地,所述设备本体1的另一侧面上设有下料口(图为示),所述老化测试设备还包括下料模组6,所述下料模组6设于所述下料口处,所述搬运模组5用于将所述测试工位上的所述测试载具3搬运至所述下料模组6上,并通过所述下料模组6将所述测试载具3运送至所述设备本体1外。
可选地,由于所述上料模组4、所述搬运模组5以及所述下料模组6为本领域常用的手段,在本实施例中并不对所述上料模组4、所述搬运模组5以及所述下料模组6的具体结构进行限定。
可以理解的是,所述老化测试设备还包括主控板(图为示),所述上料模组4、所述搬运模组5以及所述下料模组6均与所述主控板电连接,所述主控板控制所述上料模组4、所述搬运模组5以及所述下料模组6实现自动上、下料,以及自动搬运的效果,可以节省人力以及物力资源。
在本实用新型的实施例中,所述老化测试设备包括设备本体1、多个老化供电模组2以及测试载具3,所述设备本体1内设置有多个测试工位,各所述老化供电模组2对应设于各所述测试工位上,所述测试载具3设于所述老化供电模组2上,其中,所述测试载具3包括壳体31以及设于所述壳体31内的充电模组32,待测试产品装设于所述壳体31上,并与所述充电模组32连接,且所述充电模组32与所述老化供电模组2连接,以使所述老化供电模组2对所述待测试产品进行充电。即本实用新型提供的技术方案通过所述老化供电模组2对所述测试载具3上的待测试产品进行自动充电,以对所述待测试产品进行老化测试,从而提高老化测试设备的老化供电测试效率;并且,在进行老化测试过程中不需人工测试,即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响,使测试结果的准确性更高。
以上所述仅为本实用新型的可选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种老化测试设备,其特征在于,所述老化测试设备包括:
设备本体,所述设备本体内设置有多个测试工位;
多个老化供电模组,各所述老化供电模组对应设于各所述测试工位上;
测试载具,所述测试载具设于所述老化供电模组上;
其中,所述测试载具包括壳体以及设于所述壳体内的充电模组,待测试产品装设于所述壳体上,并与所述充电模组连接,且所述充电模组与所述老化供电模组连接,以使所述老化供电模组对所述待测试产品进行充电。
2.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述壳体上设有多个用于安装所述待测试产品的安装孔,所述充电模组包括充电板以及设于所述充电板上的多个充电转接头,各所述充电转接头对应设于各所述安装孔处,且所述待测试产品插设于所述充电转接头上。
3.根据权利要求2所述的老化测试设备,其特征在于,所述老化供电模组包括:
支撑底板;
限位块,所述限位块连接于所述支撑底板上,且所述充电模组设于所述限位块背离所述支撑底板的一侧,其中,所述限位块与所述支撑底板围合形成容纳腔;
充电件,所述充电件设于所述容纳腔内并与所述支撑底板连接,且所述充电件与所述充电模组电连接。
4.根据权利要求3所述的老化测试设备,其特征在于,所述充电件包括充电转接板以及供电探针,所述充电转接板连接于所述支撑底板上,所述供电探针的一端连接于所述充电转接板背离所述支撑底板的一侧,所述供电探针的另一端与所述充电板接触,使所述充电转接板与所述充电板导通。
5.根据权利要求4所述的老化测试设备,其特征在于,所述老化供电模组还包括开关电源,所述开关电源与所述充电转接板电连接,使所述开关电源通过所述充电转接板向所述充电板供电。
6.根据权利要求2所述的老化测试设备,其特征在于,所述充电转接头的外镀有一层保护膜。
7.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,多个所述老化供电模组呈多层矩阵式排列。
8.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备本体的一侧面上设有上料口,所述老化测试设备还包括上料模组,所述上料模组设于所述上料口处,且所述测试载具置于所述上料模组上,以将所述测试载具通过所述上料模组运送至所述设备本体内。
9.根据权利要求8所述的老化测试设备,其特征在于,所述老化测试设备还包括设于所述设备本体内的搬运模组,所述搬运模组用于将所述上料模组上的所述测试载具搬运至所述测试工位上。
10.根据权利要求9所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备本体的另一侧面上设有下料口,所述老化测试设备还包括下料模组,所述下料模组设于所述下料口处,所述搬运模组用于将所述测试工位上的所述测试载具搬运至所述下料模组上,并通过所述下料模组将所述测试载具运送至所述设备本体外。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114636915A (zh) * 2022-01-26 2022-06-17 武汉云岭光电有限公司 边发射激光器芯片级老化测试系统以及方法

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