CN211669318U - 一种三极管测试设备 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种三极管测试设备。它包括测试基座、测试组件、移动座以及设置在移动座上的待测三极管,移动座上开设有与待测三极管的形状匹配的安装凹槽,待测三极管的尾部固定在安装凹槽内,测试基座上连接有第一导轨、第二导轨和检测座,测试基座上还设置有将移动座从第一导轨推送至检测座的第一推动机构和将移动座从检测座上推送至第二导轨的第二推动机构,测试基座上还设置有朝向第一推动机构的限位板。本实用新型的有益之处在于:通过第一导轨、第二导轨、第一推动机构和第二推动机构的设置,能够实现待测三极管的快速上料和下料,提高了测试效率,克服了现有技术中上下料不便,检测效率低的缺陷。

Description

一种三极管测试设备
技术领域
本实用新型涉及了电缆检测领域,具体的是一种三极管测试设备。
背景技术
随着工艺水平的提高,三极管的体积不断减小,人工对三极管的测试难度不断加大,检测效率不断降低,已经无法适应三极管的检测需求。为了提高三极管的检测效率,如申请号为CN201721103400.0的专利公开了一种三极管测试治具,包括底座,底座上安装有两根相互平行的支杆,支杆顶部安装有固定板座,固定板座下方平行设置有活动板座,支杆贯穿活动板座;固定板座两端各设置有弹性元件与活动板座两端相连;活动板座下方安装有探针测试组件,探针测试组件安装有探针;活动板座和探针测试组件固定连接。本实用新型设置独特的装配结构,操作简单,各个结构的配合可靠,测试准确,适用性强。但是这种测试方法存在以下缺陷:1、需要手工操作,检测效率低;2、上下料不便;3、精度无法保证。
发明内容
为了克服现有技术中的至少部分缺陷,本实用新型实施例提供了一种三极管测试设备,其结构简单,使用方便,检测效率高。
本申请实施例公开了:一种三极管测试设备包括测试基座、测试组件、移动座以及设置在所述移动座上的待测三极管,所述移动座上开设有与待测三极管的形状匹配的安装凹槽,所述待测三极管的尾部固定在所述安装凹槽内,所述测试基座上连接有第一导轨、第二导轨和检测座,所述测试基座上还设置有将所述移动座从所述第一导轨推送至所述检测座的第一推动机构和将所述移动座从所述检测座上推送至所述第二导轨的第二推动机构,所述测试基座上还设置有朝向所述第一推动机构的限位板,所述测试组件具有匹配所述待测三极管的引脚的测试针和驱动所述测试针沿垂直方向运动的驱动机构,所述移动座的截面为矩形,所述第一导轨和第二导轨的数量均为两根,两根所述第一导轨之间的距离不小于所述移动座的长度,两根所述第二导轨之间的距离不小于所述移动座的宽度。
进一步地,所述移动座上开设有若干个导向孔,所述测试组件具有连接在所述驱动机构上的导向杆,所述导向杆与所述导向孔匹配。
进一步地,所述测试组件还包括连接在所述测试基座上的支撑架和连接在所述支撑架上的安装板,所述驱动机构连接在所述安装板上。
进一步地,所述驱动机构包括连接在所述安装板上的下压气缸,所述下压气缸具有下压杆,所述下压杆上连接有测试板,所述测试针和所述导向杆均连接在所述测试板上。
进一步地,所述导向杆的长度大于所述测试针的长度。
进一步地,所述导向孔为通孔,在所述测试基座上连接有与所述导向孔匹配的盲孔,所述盲孔的半径不小于所述通孔的半径。
进一步地,所述第一推动机构包括第一推动气缸和连接在所述第一推动气缸上的第一推板,所述第一推板在两根所述第一导轨之间运动。
进一步地,所述第二推动机构包括第二推动气缸和连接在所述第二推动气缸上的第二推板,所述第二推板在两根所述第二导轨之间运动。
进一步地,所述第一推板上连接有弹性缓冲垫。
本实用新型的有益效果如下:本实用新型涉及的三极管测试设备包括测试基座、测试组件、移动座以及设置在所述移动座上的待测三极管,所述移动座上开设有与三极管的形状匹配的安装凹槽,所述待测三极管的尾部固定在所述安装凹槽内,所述测试基座上连接有第一导轨、第二导轨和检测座,所述测试基座上还设置有将所述移动座从所述第一导轨推送至所述检测座的第一推动机构和将所述移动座从所述检测座上推送至所述第二导轨的第二推动机构,通过第一导轨、第二导轨、第一推动机构和第二推动机构的设置,能够实现待测三极管的快速上料和下料,提高了测试效率,克服了现有技术中上下料不便,检测效率低的缺陷;另外,通过设置在测试基座上朝向所述第一推动机构的限位板的设置,能够对移动座的位置进行限制,从而提高对移动座的定位精度,进而提高对待测三极管的定位精度,进一步提高检测效率。
为让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例中的一种三极管测试设备结构示意图。
图2是图1的俯视结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
参照图1,在本实用新型一较佳实施例中的一种三极管测试设备包括测试基座1、测试组件2、移动座3以及设置在所述移动座3上的待测三极管4,所述移动座3上开设有与待测三极管4的形状匹配的安装凹槽(未图示),所述待测三极管4的尾部固定在所述安装凹槽内,所述测试基座1上连接有第一导轨11、第二导轨12和检测座13,所述测试基座1上还设置有将所述移动座3从所述第一导轨11推送至所述检测座13的第一推动机构14和将所述移动座3从所述检测座13上推送至所述第二导轨12的第二推动机构15,所述测试基座 1上还设置有朝向所述第一推动机构14的限位板16,所述测试组件2具有匹配所述待测三极管4的引脚的测试针21和驱动所述测试针21沿垂直方向运动的驱动机构22,所述移动座 3的截面为矩形,所述第一导轨11和第二导轨12的数量均为两根,两根所述第一导轨11之间的距离不小于所述移动座3的长度,两根所述第二导轨12之间的距离不小于所述移动座3 的宽度。通过第一导轨11、第二导轨12、第一推动机构14和第二推动机构15的设置,能够实现待测三极管4的快速上料和下料,提高了测试效率,克服了现有技术中上下料不便,检测效率低的缺陷;另外,通过设置在测试基座1上朝向所述第一推动机构14的限位板16 的设置,能够对移动座3的位置进行限制,从而提高对移动座3的定位精度,进而提高对待测三极管4的定位精度,进一步提高检测效率。
在上述实施例中,所述移动座3上开设有若干个导向孔(未图示),所述测试组件2具有连接在所述驱动机构22上的导向杆23,所述导向杆23与所述导向孔匹配。通过导向孔和导向杆23的设置,可以进一步提高对移动座2的定位精度,从而防止待测三极管4的位置偏移,从而提高测量结果的准确性和可靠性。
在上述实施例中,为了对驱动机构22进行有效支撑,所述测试组件2还包括连接在所述测试基座1上的支撑架24和连接在所述支撑架24上的安装板25,所述驱动机构22连接在所述安装板25上。
在上述实施例中,所述驱动机构22包括连接在所述安装板25上的下压气缸26,所述下压气缸26具有下压杆27,所述下压杆27上连接有测试板28,所述测试针21和所述导向杆 23均连接在所述测试板28上。
在上述实施例中,为了防止定位出错时损坏测试针21,所述导向杆23的长度大于所述测试针21的长度,从而使得导向杆23先与移动座3接触,降低测试针21与移动座3碰撞的几率。所述导向孔为通孔,在所述测试基座1上连接有与所述导向孔匹配的盲孔(未图示),所述盲孔的半径不小于所述通孔的半径。
在上述实施例中,所述第一推动机构14包括第一推动气缸141和连接在所述第一推动气缸141上的第一推板142,所述第一推板142在两根所述第一导轨11之间运动。所述第二推动机构15包括第二推动气缸151和连接在所述第二推动气缸151上的第二推板152,所述第二推板152在两根所述第二导轨12之间运动。
在上述实施例中,所述第一推板142上连接有弹性缓冲垫(未图示),通过设置在第一推板142上的弹性缓冲垫,可以降低上料过程中移动座3与第一推板142之间的刚性碰撞,从而提高第一推板142和移动座3的使用寿命,同时减少移动座3的位置偏移,进而提高检测的可靠性。
本实用新型中应用了具体实施例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (9)

1.一种三极管测试设备,其特征在于:所述三极管测试设备包括测试基座、测试组件、移动座以及设置在所述移动座上的待测三极管,所述移动座上开设有与待测三极管的形状匹配的安装凹槽,所述待测三极管的尾部固定在所述安装凹槽内,所述测试基座上连接有第一导轨、第二导轨和检测座,所述测试基座上还设置有将所述移动座从所述第一导轨推送至所述检测座的第一推动机构和将所述移动座从所述检测座上推送至所述第二导轨的第二推动机构,所述测试基座上还设置有朝向所述第一推动机构的限位板,所述测试组件具有匹配所述待测三极管的引脚的测试针和驱动所述测试针沿垂直方向运动的驱动机构,所述移动座的截面为矩形,所述第一导轨和第二导轨的数量均为两根,两根所述第一导轨之间的距离不小于所述移动座的长度,两根所述第二导轨之间的距离不小于所述移动座的宽度。
2.根据权利要求1所述的三极管测试设备,其特征在于:所述移动座上开设有若干个导向孔,所述测试组件具有连接在所述驱动机构上的导向杆,所述导向杆与所述导向孔匹配。
3.根据权利要求2所述的三极管测试设备,其特征在于:所述测试组件还包括连接在所述测试基座上的支撑架和连接在所述支撑架上的安装板,所述驱动机构连接在所述安装板上。
4.根据权利要求3所述的三极管测试设备,其特征在于:所述驱动机构包括连接在所述安装板上的下压气缸,所述下压气缸具有下压杆,所述下压杆上连接有测试板,所述测试针和所述导向杆均连接在所述测试板上。
5.根据权利要求4所述的三极管测试设备,其特征在于:所述导向杆的长度大于所述测试针的长度。
6.根据权利要求5所述的三极管测试设备,其特征在于:所述导向孔为通孔,在所述测试基座上连接有与所述导向孔匹配的盲孔,所述盲孔的半径不小于所述通孔的半径。
7.根据权利要求1所述的三极管测试设备,其特征在于:所述第一推动机构包括第一推动气缸和连接在所述第一推动气缸上的第一推板,所述第一推板在两根所述第一导轨之间运动。
8.根据权利要求1所述的三极管测试设备,其特征在于:所述第二推动机构包括第二推动气缸和连接在所述第二推动气缸上的第二推板,所述第二推板在两根所述第二导轨之间运动。
9.根据权利要求7所述的三极管测试设备,其特征在于:所述第一推板上连接有弹性缓冲垫。
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