CN211652625U - 一种x射线镀层测厚仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种X射线镀层测厚仪，包括底盘，底盘上端一侧固定连接检测箱，底盘上端滑动连接移动平台，检测箱内上端固定连接X光射线管，检测箱上端一侧固定连接OCD相机，检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器，检测箱内一侧固定连接检测器，所诉检测箱上一侧固定连接若干控制键，检测箱上靠近控制键一侧设有拉把，本实用新型的结构简单实用，通过高压电激发X光射线管，从而产生X射线，X射线通过准直器聚焦在被测物体上，从而在被测物体上通过X射线荧光光谱被检测器吸收从而进行分析，通过计算得出被测物体的属性和构成，采用的X光射线能够对物体的结构和属性进行快速测量，加快效率，并且能够更加精细和精确。

Description

一种X射线镀层测厚仪

技术领域

本实用新型涉及X射线测量技术领域，具体为一种X射线镀层测厚仪。

背景技术

镀层测量仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等（在有关国家和国际标准中称为覆层））。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

目前并没有一种X射线镀层测厚仪对小物件进行精细测量，使用镀层测量仪无法测量较小物件进行测量，测量不够精细，传统的测量方式测量的不够精细，误差较大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种X射线镀层测厚仪，以解决上述背景技术中提出的并没有一种X射线镀层测厚仪对小物件进行精细测量，传统的测量方式测量的不够精细，误差较大问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种X射线镀层测厚仪，包括底盘，所述底盘上端一侧固定连接检测箱，所述底盘上端滑动连接移动平台，所述检测箱内上端固定连接X光射线管，所述检测箱上端一侧固定连接OCD相机，所述检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器，所述检测箱内一侧固定连接检测器，所诉检测箱上一侧固定连接若干控制键，所述检测箱上靠近控制键一侧设有拉把。

优选的，所述X光射线管与准直器相适配。

优选的，所述准直器位置与检测器呈同一平面。

优选的，所述底盘下端固定连接若干支撑块，所述支撑块设有四个。

优选的，所述移动平台上设有被测物体。

与现有技术相比，本实用新型的结构简单实用，通过高压电激发X光射线管，从而产生X射线，X射线通过准直器聚焦在被测物体上，从而在被测物体上通过X射线荧光光谱被检测器吸收从而进行分析，通过计算得出被测物体的属性和构成，采用的X光射线能够对物体的结构和属性进行快速测量，加快效率，并且能够更加精细和精确。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的正视图；

图3为本实用新型的正视剖面图；

图4为本实用新型的侧视图；

图5位本实用新型的侧视剖面图。

图中：1、底盘；2、支撑块；3、移动平台；4、被测物体；5、检测箱；6、控制键；7、拉把；8、X光射线管；10、OCD相机；11、准直器；12、检测器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种X射线镀层测厚仪，包括底盘1，底盘1上端一侧固定连接检测箱5，检测箱5起到保护内部器件的作用，底盘1上端滑动连接移动平台3，移动平台3可通过丝杆电机进行横纵双向的移动，检测箱5内上端固定连接X光射线管8，检测箱5上端一侧固定连接OCD相机10，COD相机可透过相机被测物体4反应在显示器上，检测箱5靠近X光射线管8下端固定连接准直器11，检测箱5内一侧固定连接检测器12，所诉检测箱5上一侧固定连接若干控制键6，检测箱5上靠近控制键6一侧设有拉把7，便于对内部器件进行检修和维护。

准直器11位置与检测器12呈同一平面,从而使X光射线的反射能够正常运行，移动平台3上设有被测物体4，底盘1下端固定连接若干支撑块2，支撑块2起到很好的支撑作用，支撑块2设有四个，X光射线管8与准直器11相适配，便于X光射线管8将X射线照射到准直器11上。

使用时，将被测物体4放置在移动平台3上，并通过丝杆电机的控制对移动平台3进行移动控制在准直器11下端，通过高压电激发X光射线管8，从而产生X射线，X射线通过准直器11聚焦在被测物体4上，从而在被测物体4上通过X射线荧光光谱被检测器12吸收从而进行分析，通过计算得出被测物体4的属性和构成，采用的X光射线能够对物体的结构和属性进行快速测量，加快效率，并且能够更加精细和精确。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种X射线镀层测厚仪，其特征在于，包括底盘（1），所述底盘（1）上端一侧固定连接检测箱（5），所述底盘（1）上端滑动连接移动平台（3），所述检测箱（5）内上端固定连接X光射线管（8），所述检测箱（5）上端一侧固定连接OCD相机（10），所述检测箱（5）靠近X光射线管（8）下端固定连接准直器（11），所述检测箱（5）内一侧固定连接检测器（12），所诉检测箱（5）上一侧固定连接若干控制键（6），所述检测箱（5）上靠近控制键（6）一侧设有拉把（7）。

2.根据权利要求1所述的一种X射线镀层测厚仪，其特征在于：所述X光射线管（8）与准直器（11）相适配。

3.根据权利要求1所述的一种X射线镀层测厚仪，其特征在于：所述准直器（11）位置与检测器（12）呈同一平面。

4.根据权利要求1所述的一种X射线镀层测厚仪，其特征在于：所述底盘（1）下端固定连接若干支撑块（2），所述支撑块（2）设有四个。

5.根据权利要求1所述的一种X射线镀层测厚仪，其特征在于：所述移动平台（3）上设有被测物体（4）。

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