CN211651999U - 一种芯片测试震动控制装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱，所述控制箱顶部的后端固定安装有测试屏，所述控制箱的顶部固定安装有测试台，测试台内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱，稳固柱的内部活动连接有两端均贯穿至测试台外部的蜗杆，蜗杆的左右两侧均固定安装有转头，所述测试台的左右两侧均滑动连接有一端与转头外表面活动连接的限位杆，所述测试台内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承，上下两个所述轴承相对一侧之间固定连接有连接杆。该芯片测试震动控制装置，整体结构简单，实现了震动控制装置夹持效果好的目的，有效避免芯片在震动测试过程中脱离固定，提高了测试的质量和效率，便于使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试震动控制装置。
背景技术
集成电路，或称微电路、微芯片和晶片/芯片，其在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，在芯片的制作过程中需要通过许多工序和步骤，其中就包括芯片的震动检测，因此需要使用有芯片测试震动控制装置，例如中国专利CN 208688762U中公开了一种芯片测试震动控制装置，包括箱体等结构，该专利结构简单，方便有效的对芯片的抗震能力进行检测，操作简单方便，但是该震动控制装置存在着芯片测试时夹持效果较差的缺点，使得芯片在震动测试过程中，还未测及芯片最高震动耐受值时，芯片本体就已脱离固定，进而对测试结果造成影响，降低了测试的质量和效率，不便于使用，故而提出一种芯片测试震动控制装置以解决上述问题。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片测试震动控制装置，具备夹持效果好等优点，解决了震动控制装置存在着芯片测试时夹持效果较差的缺点，使得芯片在震动测试过程中，还未测及芯片最高震动耐受值时，芯片本体就已脱离固定，进而对测试结果造成影响，降低了测试的质量和效率，不便于使用的问题。
(二)技术方案
为实现上述夹持效果好目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱，所述控制箱顶部的后端固定安装有测试屏，所述控制箱的顶部固定安装有测试台，测试台内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱，稳固柱的内部活动连接有两端均贯穿至测试台外部的蜗杆，蜗杆的左右两侧均固定安装有转头，所述测试台的左右两侧均滑动连接有一端与转头外表面活动连接的限位杆，所述测试台内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承，上下两个所述轴承相对一侧之间固定连接有连接杆，连接杆的外表面固定连接有蜗轮，蜗轮的正面与蜗杆啮合，所述连接杆的外表面且位于蜗轮的顶部固定安装有凸轮，所述测试台内腔的后侧壁固定安装有稳固座，稳固座内腔的左右两侧壁之间固定安装有稳固杆，稳固杆外表面的左右两侧均滑动连接有一端贯穿至测试台外部的固定杆，固定杆相背的一侧分别与左右两个凸轮活动连接，所述固定杆的底部固定安装有一端与稳固座内底壁滑动连接的滑块，所述稳固座内腔的左右两侧壁均固定连接有位于稳固杆外部的稳定弹簧，稳定弹簧相对的一侧均与固定杆固定连接，所述固定杆相对一侧的内部均滑动连接有固定板，固定板的顶部活动连接有压块，压块的顶部固定连接有一端贯穿至固定杆外部的螺栓，螺栓与固定杆螺纹连接。
优选的，所述稳固柱的数量为两个，两个所述稳固柱均为中空管状，所述测试台的左右两侧均开设有蜗杆通孔。
优选的，所述转头的外表面开设有限位槽，所述限位槽与限位杆相适配，所述测试台的左右两侧均开设有与限位杆相适配的移动槽。
优选的，所述凸轮的数量为两个，两个所述凸轮以测试台的中垂线呈对称等距分布。
优选的，所述稳固座呈U形，所述稳固座的内底壁开设有与滑块相适配的滑槽。
优选的，所述测试台的顶部开设有与固定杆相适配的移动长孔，所述固定杆相对一侧的内部均开设有与固定板相适配的固定槽，所述固定槽的顶部连通有开设在固定杆上的螺纹孔，所述螺纹孔的孔内壁上开设有与螺栓相适配的螺纹槽。
(三)有益效果
与现有技术相比，本实用新型提供了一种芯片测试震动控制装置，具备以下有益效果：
1、该芯片测试震动控制装置，通过转动蜗杆带动蜗轮转动，进而实现两个连接杆和凸轮同向转动，凸轮转动的过程中，凸轮凸起部分与固定杆接触并推动固定杆朝着测试台的中心处移动，将芯片放置在两个固定杆之间，实现对不同大小芯片的夹持工作，然后下滑限位杆使之与转头卡接，实现对蜗杆位置的限定，通过设置的滑块和稳定弹簧均增加了固定杆移动的稳定性，然后转动螺栓使其带动压块下移，压块将固定板下压直至与芯片接触，从而实现对芯片的二次固定，整体结构简单，实现了震动控制装置夹持效果好的目的，有效避免芯片在震动测试过程中脱离固定，提高了测试的质量和效率，便于使用。
2、该芯片测试震动控制装置，通过转动螺栓使其带动压块上升，消除固定板对芯片的压力，然后上滑限位杆使之与转头分离，再反转蜗杆带动蜗轮反转，进而使得凸轮转动，凸轮凸起部分向相反方向移动，使得固定杆不再被凸轮顶起，受到稳定弹簧弹力影响，实现固定杆回拉，方便将芯片取出，整体结构简单，便于操作和使用。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型测试台的内部结构示意图；
图3为本实用新型图1中A处放大图；
图4为本实用新型蜗杆和蜗轮的连接结构俯视图。
图中：1控制箱、2测试屏、3测试台、4稳固柱、5蜗杆、6转头、7限位杆、8轴承、9连接杆、10蜗轮、11凸轮、12稳固座、13稳固杆、14固定杆、15滑块、16稳定弹簧、17固定板、18压块、19螺栓。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱1，控制箱1顶部的后端固定安装有测试屏2，控制箱1的顶部固定安装有测试台3，测试台3内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱4，稳固柱4的数量为两个，两个稳固柱4均为中空管状，测试台3的左右两侧均开设有蜗杆通孔，稳固柱4的内部活动连接有两端均贯穿至测试台3外部的蜗杆5，蜗杆5的左右两侧均固定安装有转头6，测试台3的左右两侧均滑动连接有一端与转头6外表面活动连接的限位杆7，限位杆7呈L形，转头6的外表面开设有限位槽，限位槽与限位杆7相适配，测试台3的左右两侧均开设有与限位杆7相适配的移动槽，测试台3内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承8，上下两个轴承8相对一侧之间固定连接有连接杆9，连接杆9的外表面固定连接有蜗轮10，蜗轮10的正面与蜗杆5啮合，连接杆9的外表面且位于蜗轮10的顶部固定安装有凸轮11，两个凸轮11均朝着测试台3的中垂线处凸出，凸轮11的数量为两个，两个凸轮11以测试台3的中垂线呈对称等距分布，测试台3内腔的后侧壁固定安装有稳固座12，稳固座12内腔的左右两侧壁之间固定安装有稳固杆13，稳固杆13外表面的左右两侧均滑动连接有一端贯穿至测试台3外部的固定杆14，测试台3的顶部开设有与固定杆14相适配的移动长孔，固定杆14相背的一侧分别与左右两个凸轮11活动连接，固定杆14的底部固定安装有一端与稳固座12内底壁滑动连接的滑块15，稳固座12呈U形，稳固座12的内底壁开设有与滑块15相适配的滑槽，稳固座12内腔的左右两侧壁均固定连接有位于稳固杆13外部的稳定弹簧16，稳定弹簧16相对的一侧均与固定杆14固定连接，固定杆14相对一侧的内部均滑动连接有固定板17，固定板17的顶部活动连接有压块18，压块18的顶部固定连接有一端贯穿至固定杆14外部的螺栓19，螺栓19与固定杆14螺纹连接，固定杆14相对一侧的内部均开设有与固定板17相适配的固定槽，固定槽的顶部连通有开设在固定杆14上的螺纹孔，螺纹孔的孔内壁上开设有与螺栓19相适配的螺纹槽。
综上所述，该芯片测试震动控制装置，通过转动蜗杆5带动蜗轮10转动，进而实现两个连接杆9和凸轮11同向转动，凸轮11转动的过程中，凸轮11凸起部分与固定杆14接触并推动固定杆14朝着测试台3的中心处移动，将芯片放置在两个固定杆14之间，实现对不同大小芯片的夹持工作，然后下滑限位杆7使之与转头6卡接，实现对蜗杆5位置的限定，通过设置的滑块15和稳定弹簧16均增加了固定杆14移动的稳定性，然后转动螺栓19使其带动压块18下移，压块18将固定板17下压直至与芯片接触，从而实现对芯片的二次固定，整体结构简单，实现了震动控制装置夹持效果好的目的，有效避免芯片在震动测试过程中脱离固定，提高了测试的质量和效率，便于使用。
并且，通过转动螺栓19使其带动压块18上升，消除固定板17对芯片的压力，然后上滑限位杆7使之与转头6分离，再反转蜗杆5带动蜗轮10反转，进而使得凸轮11转动，凸轮11凸起部分向相反方向移动，使得固定杆14不再被凸轮11顶起，受到稳定弹簧16弹力影响，实现固定杆14回拉，方便将芯片取出，整体结构简单，便于操作和使用，解决了震动控制装置存在着芯片测试时夹持效果较差的缺点，使得芯片在震动测试过程中，还未测及芯片最高震动耐受值时，芯片本体就已脱离固定，进而对测试结果造成影响，降低了测试的质量和效率，不便于使用的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱(1)，其特征在于：所述控制箱(1)顶部的后端固定安装有测试屏(2)，所述控制箱(1)的顶部固定安装有测试台(3)，测试台(3)内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱(4)，稳固柱(4)的内部活动连接有两端均贯穿至测试台(3)外部的蜗杆(5)，蜗杆(5)的左右两侧均固定安装有转头(6)，所述测试台(3)的左右两侧均滑动连接有一端与转头(6)外表面活动连接的限位杆(7)，所述测试台(3)内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承(8)，上下两个所述轴承(8)相对一侧之间固定连接有连接杆(9)，连接杆(9)的外表面固定连接有蜗轮(10)，蜗轮(10)的正面与蜗杆(5)啮合，所述连接杆(9)的外表面且位于蜗轮(10)的顶部固定安装有凸轮(11)，所述测试台(3)内腔的后侧壁固定安装有稳固座(12)，稳固座(12)内腔的左右两侧壁之间固定安装有稳固杆(13)，稳固杆(13)外表面的左右两侧均滑动连接有一端贯穿至测试台(3)外部的固定杆(14)，固定杆(14)相背的一侧分别与左右两个凸轮(11)活动连接，所述固定杆(14)的底部固定安装有一端与稳固座(12)内底壁滑动连接的滑块(15)，所述稳固座(12)内腔的左右两侧壁均固定连接有位于稳固杆(13)外部的稳定弹簧(16)，稳定弹簧(16)相对的一侧均与固定杆(14)固定连接，所述固定杆(14)相对一侧的内部均滑动连接有固定板(17)，固定板(17)的顶部活动连接有压块(18)，压块(18)的顶部固定连接有一端贯穿至固定杆(14)外部的螺栓(19)，螺栓(19)与固定杆(14)螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述稳固柱(4)的数量为两个，两个所述稳固柱(4)均为中空管状，所述测试台(3)的左右两侧均开设有蜗杆通孔。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述转头(6)的外表面开设有限位槽，所述限位槽与限位杆(7)相适配，所述测试台(3)的左右两侧均开设有与限位杆(7)相适配的移动槽。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述凸轮(11)的数量为两个，两个所述凸轮(11)以测试台(3)的中垂线呈对称等距分布。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述稳固座(12)呈U形，所述稳固座(12)的内底壁开设有与滑块(15)相适配的滑槽。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述测试台(3)的顶部开设有与固定杆(14)相适配的移动长孔，所述固定杆(14)相对一侧的内部均开设有与固定板(17)相适配的固定槽，所述固定槽的顶部连通有开设在固定杆(14)上的螺纹孔，所述螺纹孔的孔内壁上开设有与螺栓(19)相适配的螺纹槽。
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| CN202020587544.3U CN211651999U (zh) | 2020-04-20 | 2020-04-20 | 一种芯片测试震动控制装置 |
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|---|---|---|---|---|
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