CN211651496U - 电子元器件金属外壳平面度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子元器件测量装置，特别涉及电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座和检测仪表，底座上安装有支架，支架顶部固定有工作台，所述的工作台中心处设有通孔，所述的检测仪表的检测杆通过螺钉安装在通孔内，检测杆顶端的检测头位于工作台上表面上方；所述的工作台的通孔周围设置有多个触点，所述的触点、检测杆顶端的检测头位于同一平面上。本实用新型先经过基准块校零，然后将产品放置在工作台上，通过销钉限位产品，检测仪表触点接触产品底平面，多点共面，直接读数平面度数值，效率高、精度高。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元器件测量装置，特别涉及电子元器件金属外壳平面度检测装置。
背景技术
电子元器件金属外壳需要对底板平面是否翘曲变形的进行检验测量，现有的检测方式是利用高度规取点测量，一个产品检测员需要多次取点，然后计算出各个点的差值来得出该产品的平面度数值，用高度规来检测产品的平面度就存在以下问题：
1.手动取点，计算差值得出平面度，效率低；
2.手动取点，取点位置不固定，平面度检测精度低。
发明内容
针对上述技术问题，本实用新型提供一种效率快、精度高的平面度检测装置。
具体的技术方案为：
电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座和检测仪表，底座上安装有支架，支架顶部固定有工作台，所述的工作台中心处设有通孔，所述的检测仪表的检测杆通过螺钉安装在通孔内，检测杆顶端的检测头位于工作台上表面上方；
所述的工作台的通孔周围设置有多个触点，所述的触点、检测杆顶端的检测头位于同一平面上。
还包括限位销钉，所述的限位销钉安装在通孔一侧，并位于触点外侧，用于对待测产品的位置限定。
所述的触点至少有四个，对称的分布在通孔周围。
在开始使用前，利用基准块对检测杆顶端的检测头进行校零操作，然后进行产品平面度的检测工作。
本实用新型提供的底板平面翘曲变形的检验测量，具有以下技术效果：
先经过基准块校零，然后将产品放置在工作台上，通过销钉限位产品，检测仪表触点接触产品底平面，多点共面，直接读数平面度数值，效率高、精度高。
附图说明
图1是本实用新型的测量状态结构示意图；
图2是本实用新型的未校零状态结构示意图；
图3是本实用新型的校零状态结构示意图。
具体实施方式
结合实施例说明本实用新型的具体实施方式。
如图1和图2所示，电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座1和检测仪表3，底座1上安装有支架2，支架2顶部固定有工作台4，所述的工作台4中心处设有通孔，所述的检测仪表3的检测杆通过螺钉6安装在通孔内，检测杆顶端的检测头8位于工作台4上表面上方；检测仪表3为高度规。
所述的工作台4的通孔周围设置有多个触点9，所述的触点9、检测杆顶端的检测头8位于同一平面上。
还包括限位销钉5，所述的限位销钉5安装在通孔一侧，并位于触点9外侧，用于对待测产品7的位置限定。
本实施例中所述的触点9有四个，对称的分布在通孔周围。
首先将检测装置按照图2组装起来，然后如图3所示，用基准块10对检测仪表3进行校零操作，然后将待测产品7放置在工作台4的触点9上，通过限位销钉5限位产品，检测杆顶端的检测头8接触待测产品7底平面，四个触点9和检测杆顶端的检测头8五点共面，直接读数平面度数值，完成产品的检测工作。
Claims (3)
1.电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座（1）和检测仪表（3），其特征在于：所述的底座（1）上安装有支架（2），支架（2）顶部固定有工作台（4），所述的工作台（4）中心处设有通孔，所述的检测仪表（3）的检测杆通过螺钉（6）安装在通孔内，检测杆顶端的检测头（8）位于工作台（4）上表面上方；
所述的工作台（4）的通孔周围设置有多个触点（9），所述的触点（9）、检测杆顶端的检测头（8）位于同一平面上。
2.根据权利要求1所述的电子元器件金属外壳平面度检测装置，其特征在于，还包括限位销钉（5），所述的限位销钉（5）安装在通孔一侧，并位于触点（9）外侧，用于对待测产品（7）的位置限定。
3.根据权利要求1或2所述的电子元器件金属外壳平面度检测装置，其特征在于，所述的触点（9）至少有四个，对称的分布在通孔周围。
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| CN201922402493.2U CN211651496U (zh) | 2019-12-27 | 2019-12-27 | 电子元器件金属外壳平面度检测装置 |
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Family Applications (1)
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2019
- 2019-12-27 CN CN201922402493.2U patent/CN211651496U/zh not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
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Granted publication date: 20201009 Termination date: 20201227 |